TW201307868A - 晶片燒錄檢測系統 - Google Patents

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Ying-Bin Fu
Lan-Yi Feng
ya-jun Pan
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/042—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
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Abstract

一種晶片燒錄檢測系統，用於檢測燒錄至一數位控制晶片的配置檔是否正確，其中該配置檔中包含有對應該數位控制晶片的第一標識號，該晶片燒錄檢測系統包括一控制器及一指示電路，該控制器用於獲取燒錄至該數位控制晶片內的配置檔內的第一標識號以及預訂的對應該數位控制晶片的第二標識號，該控制器還用於比較該第一及第二標識號並根據比較結果輸出相應的電平，該指示電路用於接收來自控制器的電平訊號輸出不同的提示。

Description

晶片燒錄檢測系統
本發明涉及一種晶片燒錄檢測系統。
隨著數位時代的到來，最新的Intel VR12平臺出現了使用數位控制晶片為CPU（Central Processing Unit，中央處理器）工作提供電源的主機板設計方案。該數位控制晶片具有調試方便、可編程、抗干擾力強等特點，而且在進行批量生產時，只需將已經調試好的配置檔透過上位機燒錄至該數位控制晶片內即可。然，若同時進行不同主機板設計，怎樣判斷配置檔是否已經正確燒錄至相應的數位控制晶片已成為業界急需解決的問題。
鑒於以上內容，有必要提供一種可方便判斷配置檔是否已正確燒錄至相應晶片內的晶片燒錄檢測系統。
一種晶片燒錄檢測系統，用於檢測燒錄至一數位控制晶片的配置檔是否正確，其中該配置檔中包含有對應該數位控制晶片的第一標識號，該晶片燒錄檢測系統包括：
一控制器，用於獲取燒錄至該數位控制晶片內的配置檔內的第一標識號以及預訂的對應該數位控制晶片的第二標識號，該控制器還用於比較該第一及第二標識號，當該第一標識號與第二標識號相同時，該控制器輸出一第一電平訊號，當該第一標識號與第二標識號不相同時，該控制器輸出一第二電平訊號；以及
一指示電路，用於接收來自控制器的電平訊號，並根據接收到的是第一或第二電平訊號發出不同的指示。
上述晶片燒錄檢測系統透過該控制器比較燒錄至該數位控制晶片內的第一標識號與寫入至該控制器內的第二標識號輸出相應的電平至該指示電路，如此即可方便快捷地根據該指示電路的提示來判斷燒錄至該數位控制晶片的配置檔是否正確。
請參考圖1，本發明晶片燒錄檢測系統用於檢測燒錄至一數位控制晶片10內的配置檔是否正確，該晶片燒錄檢測系統的較佳實施方式包括一控制器20及一指示電路30。本實施方式中，該數位控制晶片10為一數位脈衝控制晶片，其包含一支援SMBus（System Management Bus，系統管理匯流排）協定的匯流排界面。該控制器20為一IBMC（Integrated Baseboard Management Controller，集成基板管理控制器），該控制器20透過一SMBus的資料訊號線及時鐘訊號線與該數位控制晶片10相連。
該指示電路30包括一發光二極體D1、一電阻R1，該發光二極體D1的陰極與該控制器20相連，陽極透過該電阻R1與一電源P相連。
在進行不同的主機板設計時，只需透過一上位機對同一設計的主機板的數位控制晶片10進行調試。調試完成後，透過該上位機生成該設計的主機板的量產配置檔，同時，將用於區分不同設計主機板的一第一標識號寫入該配置檔內，如此使得當對同一設計主機板進行燒錄時，需將包含該第一標識號的配置檔燒錄至相應的數位控制晶片10內，其中，該第一標識號是唯一確定的。
當需檢測燒錄至相應的數位控制晶片10內的配置檔是否正確時，用戶透過查找該類設計的主機板的標識號，並將該標識號作為一第二標識號透過該上位機寫入該控制器20內，之後，該控制器20透過SMBus來讀取已燒錄至該數位控制晶片10的配置檔內所包含的第一標識號，並將獲得到的第一標識號與先前寫入該控制器20內的第二標識號進行對比，若第一、第二標識號一致，該控制器20輸出一低電平訊號至該指示電路30，該發光二極體D1發光，如此表明燒錄至該數位控制晶片10的配置檔正確；若第一、第二標識號不一致，該控制器20輸出一高低平訊號至該指示電路30，此時，該發光二極體D1不能發光，如此表明燒錄至該數位控制晶片10的配置檔不正確，需重新燒錄。
上述晶片燒錄檢測系統透過該控制器20比較燒錄至該數位控制晶片10內的第一標識號與寫入至該控制器20內的第二標識號，並輸出相應的電平至該指示電路30，當該第一、第二標識號一致時，該控制器20輸出低電平至該指示電路30，該發光二極體發光，否則，該控制器20輸出高電平至該指示電路30，該發光二極體不能發光，如此即可方便快捷地根據該指示電路30的發光二極體D1是否發光來判斷燒錄至該數位控制晶片10的配置檔是否正確。
綜上所述，本發明確已符合發明專利的要件，爰依法提出專利申請。惟，以上該者僅為本發明的較佳實施方式，本發明的範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝的人士援依本發明的精神所作的等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10．．．數位控制晶片
20．．．控制器
30．．．指示電路
D1．．．發光二極體
R1．．．電阻
圖1是本發明晶片燒錄檢測系統的較佳實施方式的結構圖。
10．．．數位控制晶片
20．．．控制器
30．．．指示電路
D1．．．發光二極體
R1．．．電阻

Claims (3)

  1. 一種晶片燒錄檢測系統，用於檢測燒錄至一數位控制晶片的配置檔是否正確，其中該配置檔中包含有對應該數位控制晶片的第一標識號，該晶片燒錄檢測系統包括：
    一控制器，用於獲取燒錄至該數位控制晶片內的配置檔內的第一標識號以及預訂的對應該數位控制晶片的第二標識號，該控制器還用於比較該第一及第二標識號，當該第一標識號與第二標識號相同時，該控制器輸出一第一電平訊號，當該第一標識號與第二標識號不相同時，該控制器輸出一第二電平訊號；以及
    一指示電路，用於接收來自控制器的電平訊號，並根據接收到的是第一或第二電平訊號發出不同的指示。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之晶片燒錄檢測系統，其中該指示電路包括一發光二極體及一電阻，該發光二極體的陽極透過該電阻連接與一電源，陰極連接於該控制器，當該指示電路接收到第二電平訊號時，該發光二極體發光；當該指示電路接收到第一電平訊號時，該發光二極體不發光。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之晶片燒錄檢測系統，其中該控制器透過系統管理匯流排來獲取燒錄至該數位控制晶片的配置檔內的第一標識號。
TW100128289A 2011-08-05 2011-08-09 晶片燒錄檢測系統 TW201307868A (zh)

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