TW201307852A - 探棒 - Google Patents

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TW201307852A
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TW100128260A
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Inventor
Shih-Yi Chen
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract

一種探棒，包括複數探頭、一排針及複數端子線，每一探頭包括一本體、開設於該本體一端的兩插孔及一設置於本體另一端的資料線，該資料線用於將該兩插孔接收到的訊號傳輸至示波器，該排針包括一固定支架及複數穿設於該固定支架上的插針，該等插針之間非電連接，該插針的第一端用於插接至探頭的一插孔內，每一端子線包括一導線及一導線座，該導線座內還設有一與該導線一端電連接的插接孔，該插接孔用於插接一插針的第二端，該導線的另一端用於與測試點相連接。

Description

探棒
本發明涉及一種探棒。
習知的探棒都包括兩個探針：一正極探針及一負極探針。測試時，需將一第一導線的一端焊接於探棒的正極探針，另一端焊接至一待測點，並將一第二導線的一端焊接於負極探針，另一端焊接至一個盡可能靠近該待測點周圍的接地點，即將待測點的訊號透過該探棒輸入至示波器內。然，當對多個不同的待測點同時進行測試時，則需將多個探棒的正極探針及負極探針分別透過導線焊接至待測點與該待測點周圍的接地點，如此有可能因探棒擺放的淩亂或者是一個測試點的接地點靠近於另一測試點而導致導線相互交叉，進而可能使得測試時導線短路，如此影響測試的準確性，給測試帶來極大的不便。
鑒於以上內容，有必要提供一種可方便測量的探棒。
一種探棒，包括：
複數探頭，每一探頭包括一本體、開設於該本體一端的兩插孔及一設置於本體另一端的資料線，該資料線用於將該兩插孔接收到的訊號傳輸至示波器；
一排針，包括一固定支架及複數穿設於該固定支架上的插針，該等插針之間非電連接，該插針的第一端用於插接至探頭的一插孔內；以及
複數端子線，每一端子線包括一導線座及一導線，該導線座內設一與該導線一端電連接的插接孔，該插接孔用於插接一插針的第二端，該導線的另一端用於與測試點相連接。
上述探棒透過使用排針作為探棒的探針，並通過端子線插接至該排針上，如此可保持多個探棒的整齊，避免了測試時短路的發生，進而給測試帶來便利。
請參考圖1，本發明探棒的較佳實施方式包括複數探頭10、一排針20及複數端子線30。
每一探頭10包括一本體100、開設於該本體100一端的兩插孔102及一設置於本體100的另一端的資料線104，該資料線104用於與一示波器（圖未示）相連，以將該兩插孔102接收到的正極訊號與負極訊號傳輸至該示波器。
該排針20包括一固定支架200及複數穿設於該固定支架200上的插針202，該插針202彼此之間非電連接。每一端子線30包括一導線300、一絕緣體304及一導線座306，該導線座306內設有一與該導線300一端電連接的插接孔302，該絕緣體304用於包覆於該導線300與導線座306外，該導線300遠離該插接孔302的一端用於焊接至待測點或接地點上。
請參考圖2，使用時，將該排針20的每一插針202的一端對應插接至探頭10的插孔102內，另一端對應插接至端子線30的插接孔302內，之後，將導線300的另一端焊接至測試點或接地點。如此使得測試點與接地點的訊號依次經由該導線300、插接孔302、插針202及插孔102傳輸至該資料線104，示波器即可從該資料線104上獲取測試訊號，從而完成待測點的測試。
上述探棒透過使用排針20作為探棒的探針，並透過包覆著絕緣體304的端子線30插接至該排針20上，如此可保持多個探棒的整齊以及避免了因導線300裸露而導致測試時短路的發生，進而給測試帶來便利。
綜上所述，本發明確已符合發明專利的要件，爰依法提出專利申請。惟，以上該者僅為本發明的較佳實施方式，本發明的範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝的人士援依本發明的精神所作的等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10．．．探頭
20．．．排針
30．．．端子線
100．．．本體
102．．．插孔
104．．．資料線
200．．．固定支架
202．．．插針
300．．．導線
302．．．插接孔
304．．．絕緣體
306．．．導線座
圖1是本發明探棒較佳實施方式的結構圖。
圖2是本發明探棒的測試示意圖。
10．．．探頭
20．．．排針
30．．．端子線
100．．．本體
102．．．插孔
104．．．資料線
200．．．固定支架
202．．．插針
300．．．導線
302．．．插接孔
304．．．絕緣體
306．．．導線座

Claims (2)

  1. 一種探棒，包括：
    複數探頭，每一探頭包括一本體、開設於該本體一端的兩插孔及一設置於本體另一端的資料線，該資料線用於將該兩插孔接收到的訊號傳輸至示波器；
    一排針，包括一固定支架及複數穿設於該固定支架上的插針，該等插針之間非電連接，該插針的第一端用於插接至探頭的一插孔內；以及
    複數端子線，每一端子線包括一導線座及一導線，該導線座內設一與該導線一端電連接的插接孔，該插接孔用於插接一插針的第二端，該導線的另一端用於與測試點相連接。
  2. 如申请專利範圍第1项所述之探棒，其中該端子線還包括一絕緣體，該絕緣體用於包覆該導線及導線座外。
TW100128260A 2011-08-08 2011-08-08 探棒 TW201307852A (zh)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN105388336A (zh) * 2015-10-16 2016-03-09 昆山龙腾光电有限公司 示波器探头辅助测试装置

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