TW201106613A - Differential amplifier - Google Patents

Differential amplifier Download PDF

Info

Publication number
TW201106613A
TW201106613A TW099117760A TW99117760A TW201106613A TW 201106613 A TW201106613 A TW 201106613A TW 099117760 A TW099117760 A TW 099117760A TW 99117760 A TW99117760 A TW 99117760A TW 201106613 A TW201106613 A TW 201106613A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
transistor
differential amplifier
terminal
gate
input
Prior art date
Application number
TW099117760A
Other languages
English (en)
Inventor
Michimasa Yamaguchi
Kenichi Kawakami
Original Assignee
Renesas Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Electronics Corp filed Critical Renesas Electronics Corp
Publication of TW201106613A publication Critical patent/TW201106613A/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45318Indexing scheme relating to differential amplifiers the AAC comprising a cross coupling circuit, e.g. two extra transistors cross coupled
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45394Indexing scheme relating to differential amplifiers the AAC of the dif amp comprising FETs whose sources are not coupled, i.e. the AAC being a pseudo-differential amplifier
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45396Indexing scheme relating to differential amplifiers the AAC comprising one or more switches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

201106613 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於差動放大器。 本申請案根據並主張在2009年 g申請案第2__虎之優先權,其内容於=== 【先前技術】 刖,差動放大15係用在高速介面(如USB2.0)的接收電路之 器十日本^開專利公報第3_85817號揭示此】的差 動放大态之技術作為先剷技術。同時,、 體元件中,當差動放大器停止運作放^的+導 術通常用以減少電力消耗。圖12盘\7關閉技 放大器1與2之_。在日本公_ =^8目5==差, 如圖12所示,差動放大器!包括撕〇 以及電源關_關電路PDSW1。 4溫W1至MP4 ΡΜ〇Γ^ί ^刪的雜連接玲祕應·端彻, PMOS -电曰曰體廳的汲極連接至輸 ==至輸入㈣。觸電晶體_原= :體刪的没極連接至輸出端 源極連接至輸出端οτ,腹os電晶體-及芯 晶,的•連接至輸入端1丁。= 兩、, 體碰的閘極連接至輸入端ΙΒ。 SW1包括_S電晶體_1與 私曰曰體應11的汲極連接至節點N1,且NM〇s ^ 201106613 晶體MN11的源極連接至接地電壓端GN1>NM〇s電晶體_12 的汲=連接至節點N2,且NMOS電晶體_12的源極連接至接 地電壓端GND。電源關閉信號PDB輸入至NMOS電晶體MNU 與MN12、的閘極。當電源關閉信號pDB為高階,差動放大器ι係 處!!正常運作狀態。同時’當電源關信號PDB為低階,差動放 大器1係處於電源關閉狀態(待命狀態)。 如圖13所示,差動放大器2包括NMOS電晶體JVQW至 MN4,以及電源關閉開關電路pDSW2。厕〇;5電晶體應j的源 極連接至接地電壓端GND,丽〇8電晶體應丨的汲極連接至輪 出端OT,且NM0S電晶體刚^的閘極連接至輸入端汀。厕〇s 電晶體MN2的源極連接至接地電壓端GND,應〇s電晶體麵2 的没極連接讀$端電晶體謹2的問極連接 入端IB ° NMOS電晶體刚3的源極連接至輸出端〇τ,舰〇s電 曰=MSB驗極連接至節,點N3,且丽〇8電晶體刪的問極 連接至輸人端IB。NMOS電晶體MW的藤連接至輸出端〇B, Π、ί=Γ4的沒極連接至節點N4,且_s電^腦 的閘極連接至輸入端it。 電源關閉開關電路pDSW2包括PM0S電晶體刪!应 MP12。PMOS電晶體刪i的汲極連接至節點N3 曰^
°PM0S 連接至_N4 ’ PM0S電晶體廳2的 盥MP12的Pm關閉j虎 輸至M〇S電晶體刪1 严==3:,剩閉信號簡為低階,差動放大器2係 ^ 2二产於^^時’當電源關閉信號PDB為高階,差動放 大為2係處於電源關閉狀態(待命狀態)。 為便於描述,參考符號rvDD與「GN^ 應電壓與接地電壓,並亦代表端點隸另冰」:別代表電源供 老铃%「ΤΤ ώ3「~m 代衣蜢沾名稱。另外,為便於描述,參 此外為便於^,_符號「QT」與「 從該端點輸it}的錢名稱。 彳域4名稱以及 201106613 在日士^ ^呈ΐ描緣差動放大器1的運作之時序圖。參照圖Η, 孫之月'J,因為電源關閉信號PDB為低階,声動放大哭, 係處於電源關閉狀態。在時間u眸 _白,勖放大态- 因此,差動放大器!開始正常^作時且電===咖為㈣^ 而輸出差動輸出信號〇τ與輸入信號^與 基本運作她。因此,此處省料運作制。 的 【發明内容】 參昭ίί虹ίί現差動放大器1與2具有以下描述問題。接著 多二、'回工、以差動放大器!為例說明該 1的問題之示範性簡圖。差動放大器== 及在門;祕1至娜4麵極與汲極之間具有寄生電容’以 雕=V = 1具有寄生電容。圖15呈現在每個PM0S電晶 FMU的間極與没極之間形成的每個寄生電容C1至C4。 為了簡化圖式而省略每個PM〇S電晶體刪至 MP4的閘極與源極之間的寄生電容。 懸nt圖14的時間u之前,差動放大器1係處於電源關 源關閉信號PDB為低階,所以觀08電晶體麵1
Niuno:才i。因此,沒有電流流過由雨⑽電晶體縱3與刪 盘於出0〇丁沾日1體臟1組成的第一電流路徑。所以,節點N1 ::ίί 電位實f上與電源供應電壓VDD —樣。相似地, 過ίPMC)S電晶體副*碰2以及舰⑽電晶體 杏所μ 的第二電流路徑。所以’節點N2與輪出端0B的電位 只貝上與电源供應電壓VDD —樣。 U日夺’差動放大器1係處於正常運作狀態。因為電源 關閉仏ί PDB,高階,所以丽〇S電晶體_1與丽2開啟。 口此第與第二電流路徑各自的每個運作點係由差動輸入信號 201106613 IT與IB決定。所以,;pM0S電晶體^^至Μρ#的没極電壓從電 源供應電壓VDD下降至預定電壓。亦即在pMOS電晶體mpi至 MP4的及極與閘極之間的每個寄生電容之每個汲極側電位下降。 因此,如圖15所示,產生從輸入端IT流至寄生電容C1與 C4的充電電流。pm〇S電晶體MP1與MP4的閘極電流因而增加。 所以,電流從輸入端流入,且輸入端IT的電位下降。當寄生電容 C1與C4根據鏡像電流完成充電時,輸入端订的電位回歸先前電 位。相似的現象亦發生在輸入端ffi側。 接著,在時間t2時,因為電源關閉信號PDB為低階,所以 NMOS電晶體MN11與MN12關閉。因此,沒有電流流過第一與 第二電流路徑,X節點N1與N2以及輸出端〇τ與〇B的每個電 位再次改變為實質上與電源供應電壓VDD的電位相等。所以,在 每個PMOS電晶體MP1至MP4的汲極與閘極之間的每個寄生電 容之每個汲極側電位上升。 因此,如圖16所示,放電電流從每個充電的寄生電容的閘極 侧流出。PMOS電晶體MP1與MP4的閘極電流因而增加。所以, 在輸入端IT的電流增加,且輸入端IT的電位上升。當寄生電容 C1與C4根據鏡像電流完成放電時,輸入端汀的電位回歸至 電位。相似的現象亦發生在輸入端];Β側。 圖17呈現一時序圖,其描繪如上述的PM〇s電晶體^丨 MP4以及輸入端IT與ffi之電流與電壓波形。圖17的泉 表時間與圖14相同。如圖π所示,在時間扒與^時^上 壓變化與輸域IT及m的職鋪瓶—起發生。此電壓= 造成輸入至連接差動放大器1的輸入端Ιτ與IB的其他電 號中的雜訊。包括此雜訊的輸入信號可能造成其他電二 σ 此問題亦發生於差動放大器2中,但因為其基本上鱼差 相同而省略說明。 初力又人态1 本發明的第一示範性實施態樣為一種差動放大器, -電流路徑,其在第-電源供應端與第二電源供應^ 接, 且輸出-魏輸出錢;第二電流路徑,其在第—電^^與 201106613 另-差動輸咖,其中第- 輸出信號辟—㈣端差動 一控制端;第二I日*, 〔、有接收—差動輸入信號之 連接,且具有接收:他“於f—電源供應端與第—輪出端之間 電路,其在=控制端,·以及第—開關 徑包括:第三電晶體、:、2在^_恭電日日體之間連接’第二電流路 信號的第二輸出端之間連另-差動輸出 且具有魏端之間連接, f第電源供應端與第三電晶體之: 電路的每—個之_狀態碗-鋪錢㈣。開關 根據本發明的第一示範性實 透過第-與第三電晶體的寄生電容;;=== -開關係改變為導電狀態或料電狀態。她地, j ===動輸人信號(供應至第—與第三 一輸入端產生的電位變化。 )另 根據本發明的第-示範性實施態樣之差動放大· 生於該輸人端的雜訊’並驗連接至該輸人端的其他電路ϋ靈。 【實施方式】 [第一示範性實施例] 本發明的第-示範性實施例冑參照_圖式詳細描述如 圖1係依照此示範性實施例呈現差動放大器100之組態。如圖五 所示’差動放大器100包括PMOS電晶體MpiOl至^ρ1〇4°盥 ΜΡ110,以及 NMOS 電晶體 ΜΝ110。 〇
PMOS電晶體ΜΡ110的源極連接至電源供應電壓端VDt),且 PMOS電晶體MP110的汲極連接至節點N101。電源關閉信號pD 201106613 至PMOS電晶體Mpno的閘極。pM〇 ^連接至節點刪彳⑽電晶體聰的的沒 “” 晶體谢的源極連接至輸出端 =接至接峨端㈣,且觸s電晶體==: 第-電流路徑t G、_3與则1組成 ΡΜΟ^Ϊ^ <1=,104私原極連接至電源供應電壓端伽, 電曰曰體ΜΡ104的沒極連接至輸出端〇Β,且覆〇 =的閘極連接至輸入端ΙΤ。PM〇s電晶體刪〇2的源極連g至 輸出端OB,PMOS電晶體刪02騎極連接 接
=s電晶體刚02的間極連接至輸入端ΐβ。二sU 遠接至節點_’且NM〇S電晶體MN11G的源= =接接也电壓端GND。電源關閉信號PDB輸入至腹… 體的 =電_閉信號PDB為電源關 : W。这些m〇s電晶體廳104與刪 = MN110組成第二電流路徑。 W戰電曰曰體 路,ί ί Ξ 與_s電晶體_110可視為開關電 二ff閉信號pMPDB而控制是否引發驅動ΐ DB控制。電源關閉信號PD與PDB具有 彼此相反的她,因此可藉由使用反㈣電路等反 位而^ΐ生。電源關閉信號PD與PDB因而可視為-控°制=。
mi 見鱗差動放大器100運作之時序圖。參照圖2,在日V =s ^: 細虎PDB為低階且電源關閉信號PD為高階。 於電源關閉狀態(待^狀態^ 差動放大器100係處 有電流流過第一電流路徑,所以節點_ι盘輪出端 〇的电位貫質上與接地電壓GND 一樣。另外,因為沒有=流 201106613 過第二電流路徑,所以節點mG2與輸出 源供應電壓VDD—樣。 町电位戶'貝上與電 接著,在時間ti時,電源關閉信號PDB為高 號ro為低階。因此,PM0S電晶體嫌11〇盥麗曰ϋ閉信 =閉狀態進人開啟狀態。所以,驅動電流流過 流路從,且差動放大^購係處於正常 g 電 〇T與OB係回應輸入至差動輸入端Ιτ盥ffi之^ 號 與而從差動輸出端沉與⑽輸出。因此,第—::第二^^ ίί5:每個運作點係由差動輸入信號1T與決二:ί GND上升至齡二二Π與。3的源極電歷從接地電壓 ^衝上升至駄紐。另外,在f二電流雜巾,p 101與MP103的沒極電壓從電源供應電壓下降至預定電斤曰曰體 t2時,電测閉信號PDB為低階且電^^ ίϋ為^ 電晶體娜110與電晶體MN1K) i - 啟進人關閉狀態。因此,沒有驅動電流流過第-與第 熊)/爪路裎,且差動放大窃100再次進入電源關閉狀態(待命狀 所以’沒有電流流過第-電流路徑,且節點麵工鱼 的電位,下降至接地顆G肋。另外,沒有電流流過第二電ΐ vS,ifnN1。2與輸出端0β的電位上升至觉源供應電ϊ =>、注思在下列描财,在運作狀態從電源賴狀態改 吊運作狀態或是從正常運作狀態改變為電關雖態的: 時段稱作為「運作狀態改變期間」。 曰在此狀況中,如同相關技術的差動放大器1,每個ρμ〇§電 曰曰體在閘極與汲極之間以及閘極與源極之間具有寄生電容。 動放大器1的運作狀態改變期間,由寄生電容的充電與放電運 造成的雜訊在輸入端ΙΤ與ΙΒ產生。然而,在第一示範性實施例 的差動放大器100中,在運作狀態改變期間產生於輸入端订與茁 的雜訊可被減少。由差動放大器、100提供的雜訊縮減機制將參昭 圖式描述如下。圖3與圖4呈現描繪寄生電容的充電與放電電g 10 201106613 ,簡,,該電流產生於差動放大器100的運作狀態改變期間。為 簡化=明,閘極與汲極之間的寄生電容以及閘極與源極之間的寄 ii容中僅有-個呈現在®3觸4裡。事實上,當注意充電與 放電係由閘極與汲極之間的寄生電容以及閘極與源極之間的寄^ 1容兩者所造成。另外,圖5呈現-時序圖,其描_PM0S電晶 體MP101至mp1〇4以及輸入端Ιτ與IB之電流與電壓波形。 中的參考符號代表時間與圖2中相同。 如圖3所示,差動放大器100的PM〇s電晶體_1〇1至^刊⑽ 分別具有寄生電容C101至C104。寄生電容cl〇1與α〇3分 PMOS电日日體ΜΡίοι與ΜΡΐ〇3的閘極與源極之間的寄生電容二 ^卜’寄生電容C102與C104分別為pMOS電晶體跑〇2盥 MP104的閘極與汲極之間的寄生電容。 /、 圖3為一簡圖,其呈現當PM〇s電晶體^11()盥 晶體臟110树間tl時從關閉狀態進入開啟狀態時、,每個 電容的充電與放電電流。在此狀況中,如上所述 =接地電壓·^升,且輸出端〇B的電位從電源供應= 、*中品史ί口圖3所不’寄生電容C101與C103允許電流從閘極 j ’而寄生電容C1〇2與C1〇4允許電流從閘極流入。因此,如 命H時的圖5所示,當從輸入端側觀之,pm〇s電晶體刪01 t的閘極電流減少,而從輪入端側觀之,PM0S電晶體 MP102與MP104的閘極電流增加。 當寄生電容C101與C1〇4為關注焦點時,一電 生 且在同一時間…電流流入^電容 二,r,cl02^C103為關注焦點時,—電流從寄生電容ci03 "IL ㈤一日守間,一電流流入寄生電容C102。閘極盘輸入端 !^i=M0S電晶體腦1與議4的閘極電流之^入與流 電流相互抵銷。另外,間極與輸人端1B連接的 生=02與PM103的閘極電流之流入與流出同時發 銷。因此’如圖5所示’即使在時間u時, 運作狀贈电源關閉狀態改變為正常運作狀態,輸入端ιτ與ib 11 201106613 的$流增加與減少仍受抑制。所以,輸入端Ιτ與m的電位變化 減),且產生於輸入端IT與IB的雜訊亦可減少。 曰圖4為一簡圖’其呈現當pM0S電晶體^>11()與_〇8带 MN110麵間t2時從開啟狀態進入關閉狀態時,每個寄】 的充電與放電電流。在此狀況中,如上所述,輸出端 f,〇1的電位下降至接地電塵GND,且輸出端〇B與節點Ni〇2 的電位上升至電源供應電屋VDD。因此,如Η 4所示,寄生電容 01 /、C103允斗電流從閘極流入,而寄生電容ci〇2與ci〇4分 從閘極流出。因此,如在時間t2時的圖5所示,當從輸入 =銳之’ PMOS電晶體刪01與刪〇3的閘極電流增加,而 =輪入W則觀之’ PM0S電晶體應〇2與應〇4的閘極電流減 ☆= 寄生1容C101與C104為關注焦點時,一電流流入寄生電 —時間,—電從寄生電芬C1G4流*。相似地, 二二 2與C103為關注焦點時,一電流從寄生電容α〇2 =出’且在同-時間,—電流流人寄生電容⑽3。轉入端 電晶體娜101與聰04的閘極電流之流入與流 • τ Β產生,且该電流相互抵銷。另外,閘極盘輸入端]Β Ϊ與咖3的閘極電流之流入與流出 在時間、軍2 3流相互抵銷。因此,如圖5所示,即使 入浐了曰丁盥&’乍f、L從正常運作狀態改變為電源關閉狀態,輸 =IT與IB的電流增加與減少仍受抑制。所以 的=化^,且產生於輸入端订與Ιβ的雜訊亦可減少:、。 1在二:ΓΐΐΓ包例的差動放大器100可能減少雜訊’ ίτΐϊΐ ί 相關技術的差動放大器1之輸入端 依縣—示紐實施例,雜訊縣傳輸至與差 動放大益100的輪入端連接的其他電路 仿/、 範性實施例的差動放大器100可預防造成^ 另外,圖6呈現差動放大器1〇1 風 100 ^ MOS t ;〇1 12 201106613 。咖咖1至咖4與,以及 .PMnflQS電晶體刪1()的雜4接至電秘應賴端VDD,且 ^MOS電晶體Mp11()的汲鱗接至節點細。電 輸入至mos電晶體μριιο的閉極。跑〇8電體 極連接至節點N101,NMOS電晶體讀〇3 =
=且NMOS電晶體聰03的閑極連接至輸入:==J i曰連接至輸出端〇Τ,刪〇8電晶體麵01 ^ 接t接地電壓端GND ’且譲os電晶體聰01的閘極連 電晶雜⑽與 φ曰触ο电日日體的源極連接至節點Ν102,且NMOS 電曰曰,MN102的閘極連接至輸入端Ιβ。應 麵2 2觸S電晶體_ 雷7^二^關閉域㈣輸入至應⑽電晶體臟110的 :^電為電源關閉信號阳的反相信號。醒⑽ 电日曰^=104、應1〇2與_11〇組成第二電流路徑。 杜。ίϊίϋ中與圖1相同的參考符號代表相同或相似的元 101具有一組態’其中差動放大器100的PM0S ^ Λ 至娜104分別置換為NMOS電晶體ΜΝ101至
.=14 1因此,抑制在運作狀態改變期間產生於輸入端IT與IB 始Γ:ϋσ或減^之原則與差動放大器100中的原則相似。差動 放大益101的原則等等之詳細描述因而省略。 沾iwrL此:在差動放大器101中,即使由輸入信號ΙΤ與ΙΒ驅動 1電晶體的導電形式與差_大器相反,仍可減少輸人 IB的電位變化。另外’亦能減少產生於輸入端IT與 錄訊。所以,雜訊未傳輸至連接差動放大器皿的輸入端之其 13 201106613 他電路的信號輸入。差動放大器101可預防造成其他 如同差動放大器100。 天氣’ [第二示範性實施例] ^本發明的第二示範性實施例將參照圖式詳細描述如 係依照第二示範性實施例呈現差動放大器200之示範性組能θ 圖7所示,差動放大器200包括PM〇s電晶體_1〇1至、、 ΜΡ110與ΜΡ210,以及NMOS電晶體應丨⑴與从犯仞。 PMOS電晶體ΜΡ110的源極連接至電源供應電壓端 PMOS電晶體MPlio的没極連接至節點m〇1。電源關閉信费扣 輸入至PMOS電晶體MP110的閘極。pm〇s電晶體Mp1〇3的满 極連接至節點N1(U,PMOS電晶體ΜΡ1〇3的汲極連接至輸出端、 OT,且PM0S電晶體刪03的閘極連接至輸入端。削〇 晶,MPl^l的源極連接至輸出端〇T,pM〇s電晶體礎仙的沒 極連接至節點N201,且PMOS電晶體的閘極連接至輸入 端IT。NM〇s電晶體MN210的汲極連接至節點N2〇1,且 電晶體MN210的源極連接至接地電壓端GND。電源供應電壓 VDD輸入至NM〇S電晶體MN210的閘極。PM0S電晶體^>11〇、 MP103、與MPioi以及應⑽電晶體丽21〇組成第一電流路徑。 PMOS電晶體MP210的源極連接至電源供應電壓端,且 PMOS電晶體210的汲極連接至節點2〇2。接地電壓GND輸入至 ^MOS電晶體MP210的閘極。PMOS電晶體MP104的源極連接至 節點N202 ’ PMOS電晶體MP104 極連接至輸出端〇B,且 PMOS電晶體]νΐρι〇4的閘極連接至輸入端IT(JpM〇s電晶體 MP1=的源極連接至輸出端〇B,pM〇s電晶體嫌撤的汲極連 接至節點N102,且PM0S電晶體刪〇2的閘極連接至輸入端迅。 NM〇S电晶體μνηο的汲極連接至節點Nl〇2’,且_〇3電晶體 MN110的源極連接至接地電壓端GND。電源關閉信號pDB輸入 ^NMOS電晶體應110的閘極。電源關閉信號pDB為電源關閉 佗號PD的反相信號。PM〇s電晶體嫌21〇、^川4、與 以及NMOS電晶體議⑽組成第二電流路徑。 14 201106613 請注意圖7中與圖1相同的參考符號代表相同或相似的元 件。差動放大器200與第一示範性實施例的差動放大器1〇〇之不 同點在於:PMOS電晶體MP210在:PMOS電晶體MP104與電源 供應電壓端VDD之間連接,以及NM〇s電晶體MN210在PMOS 電晶體MP101與接地電壓端GND之間連接。 PMOS電晶體MP210的閘極電壓係箝(damp)至接地電壓 GND。另外,NM〇s電晶體MN210的閘極電壓係箝至電源供應 電壓VDD。因此’ PMOS電晶體MP210與NMOS電晶體MN210 總是處於開啟狀態。所以’差動放大器200的輸入端it與IB之 運作與雜訊縮減機制與差動放大器1〇〇相似。 ’、 假定PMOS電晶體MP110與]VIP210具有一樣的電晶體尺寸 等等。假定PMOS電晶體MP103與MP104具有一樣的電晶體尺 寸等等。假定PMOS電晶體MP101與MP102具有一樣的電晶體 尺寸等等。假定NMOS電晶體MN110與MN210具有一樣的電晶 體尺寸等等。電流路徑1與電流路徑2可設計為相對稱。因此, 電流路徑1與電流路徑2可設計為具有一樣的電氣特性。 當電流路徑1與電流路徑2如在差動放大器1〇〇或1〇ι中為 不對稱相似,分別相應電流路徑丨與2的電晶體尺寸亦變成不對 稱,以便在輸出信號〇T與0B中取得預期電壓水準。因此,很難 設計電流路徑1與電流路徑2具有一樣的電氣特性,且有設計難 度增加之問題。此可能對製造變異有顯著影響。 _如上所述,因為電流路徑1與電流路徑2為對稱,差動放大 器200強化設計之簡易並可容忍製造變異。 另外,圖8呈現差動放大器201之組態,其申圖7的差動放 士器200的M0S電晶體導電形式被反轉。如圖8所示,差動放大 器201包括電晶體_1〇1至_1〇4、 PM〇Sta«MP110^MP210〇 ” PMOS電晶體MP110的源極連接至電源供應電壓端 的_連接至節點麵。電源關閉信號] 輸入至PMOS電晶體MP110的閘極。應〇3電晶體_1〇 15 201106613 極連接至節點N101 ’ NMOS電晶體MN103的源極連接至輸出端 OT ’且NMOS電晶體MN103的閘極連接至輸入端ffi。電 晶體MN101的汲極連接至輸出端〇T,NMOS電晶體_1〇1的 源極連接至節點Ν201,且NMOS電晶體ΜΝίο〗的閘極連接至輪 入端it〇nmos電晶體_21〇的汲極連接至節點 電晶體_210的源極連接至接地電壓端GNr>。電源供應電壓 VDD輸入至NMOS電晶體_210的閘極。pm〇S電晶體ΜΡΐιο、 NMOS電晶體MN103、_1〇1與_210組成第一電流路徑。 PMOS電晶體MP210的源極連接至電源供應電壓端,且 PMOS電晶體MP210的沒極連接至節點N2〇2。接地電屢gnd輸 入至PMOS電晶體MP210的閘極。nmos電晶體丽1〇4的没^ 連接至節‘點N202 ’NMOS電晶體刪104的源極連接至輸出端 OB,且NMOS電晶體MN104的閘極連接至輸入端it。NM〇s電 晶體MN102的汲極連接至輸出端〇B,電晶體_1〇2的 源極連接至節點N102,且NM〇s電晶體_1〇2的閘極連接至輪 入端IB。NMOS電晶體ΜΝΐιο的汲極連接至節點删2,顧〇§ 電晶體MN110的源極連接至接地電壓端GND。電源關閉信號pDB 輸入至NMOS電晶體MN110的閘極。電源關閉信號pDB為電源. 關閉信號PD的反相信號。pM0S電晶體清21〇以及電晶 體MN104、MN102、與MN110組成第二電流路徑。 曰曰 —睛注思圖8中與圖1及圖6相同的參考符號代表相同或相似 的元件]差動放大器201具有一組態,其中差動放大器2〇〇的M〇s 電晶體導,形式被反轉。差動放大H 2()1與第一示範性實施例的 差動放大器101之不同點在於:PMOS電晶體MP210在NM〇s 電晶體MN104與電源供應電壓端vdD之間連接,且電晶 體MN210在NMOS電晶體1〇1與接地電壓端GND之間連接。 PMOS電晶體MP210的閘極電壓係箝至接地電壓。另 外’NMOS電晶體_210的閘極電壓係箝至電源供應電壓VDD。 因此丄PMOS電晶體]MP210與NM〇s電經體_210總是處於開 啟狀悲,如差動放大态200。所以,差動放大器2〇]的輸入端π 16 201106613 與IB之運作與雜訊縮減機制與差動放大器1〇1相似。 假定PMOS電晶體]v〇p110與Mpuo具有一樣的電晶體尺寸 等等。假定NMOS電晶體_103與_1〇4具有一樣的電晶體尺 寸等等。假定NMOS電晶體ΜΝίοι與_1〇2具有一樣的電晶體 尺寸等等。假定NMOS電晶體MN1K)與_21〇具有_樣的電晶 體尺寸等等。電流路徑1與電流路徑2可設計為相對稱。因此, 如同差動放大器200,電流路徑!與電流路徑2可設計為具有一樣 的電氣特性。因此,在差動放大器201中可強化設計之簡易。另 外,差動放大器201可容忍製造變異。 [第三示範性實施例] 一本f明的第三實施例將參照圖式詳細描述如下。圖9係依照 第二示範性貫施例呈現差動放大器3〇〇的組態之實例。如圖9所 示’差動放大裔300包括pm〇S電晶體Mpioi至Μρι〇4、mpii〇 與 MP210’NMOS 電晶體]VQsnio 與 mn21〇,電容器 C301 至 C304。 PMOS私日日體ΜΡΐιο的源極連接至電源供應電壓端VDD,且 PMOS電晶體MP110的汲極連接至節點N1〇1。電源關閉信號扣 輸入至PMOS電晶體mpiio的閘極。PM〇s電晶體刪〇3的源 ,接日至電晶體刪〇3的没極連接至輸出端 T,且PMOS电晶體mpi〇3的閘極連接輪入端IB。pM〇s電 ,MP101的源極連接至輸出端〇T,PM〇s電晶體·ι〇ι的汲極 ,接至節點麵,且PM0S電晶體·1G1 _極連接至輸入端 IT。NMOS電晶體MN210的汲極連接至節點N2〇1,且 J體MN210的源極連接至接地電壓端GNI)。電源供應電壓vdd 輸入至NMOS電晶體MN210的閘極。電容器C3〇1 ^ pM〇 晶體MP101的閘極與源極之間連接。電容器⑶ m〇s兩曰 體MP103的閘極與源極之間連接。PM〇s電晶體娜⑽、 與MP101,以及NMOS電晶體雇21〇組成第一電流路徑。 PMOS電晶體MP210的源極連接至電源供應 漏s電晶體朦210的沒極連接至節點職 入至麵電晶體觀0的·。觸電= 17 201106613 連接至即點N202,m〇S電晶體刪〇4的没極連接至輪出 OB ’且PMOS電晶體MP104的閘極連接至輸入端IT。pM〇 晶體MP102的源極連接至輸出端〇B,覆〇 才f連接至節點麵,且觸S電晶體刪G2的閘極連接至2 女而IB。NMOS電晶體_110的汲極連接至節點N1〇2,且難仍 電晶體MN110的源極連接至接地電壓端GND。電源關閉信號咖 電晶體應11()的閘極。電源關信號pDB為電 關閉信號PD的反相信號。電容器C3〇2在pM〇s電晶體騰ι〇2 的間極與源極之間連接。電容器㈣在pM〇s電晶體刪〇 閘極與源極之間連接。PM0S電晶體娜21〇、MPKM與娜1〇2 以及電晶體MN110組成第二電流路徑。 請注意® 9巾與圖7相同的參考符號代表相同或相似的元 件。差動放大器300與第二示範性實施例的差動放大器2〇〇之不 同點在於電容器C301至C304分別在PMOS電晶體MP101至 MP104的閘極與源極之間連接。 至 因為電容器C301至C304分別與pm〇S電晶體ΜΡίοι至 MP104的閘極連接,所以可抑制在運作狀態改變期間產生於 電,體聰〇1至題〇4的問極電流之快速變化。舉例來 說,當在第一與第二示範性實施例中發生閘極電流的快速變化 時,在相應的寄生電容中流入與流出電流可能不足以相互抵銷電 ,在第三實施例中,電容器C301至C304預防閘極電流 白、、化’幫助上述的電流相互抵鎖。所以,相較於第一與第 二不範性實施例’輸入端it與m的電位變化減少。因此,可進 一步減少產生於輸入端IT與IB的雜訊。另外,能以非常小的電 容值(例如約5〇f[F]至100取])設計這些電容器C30〗至C304。因 此,電路面積的增加對於安置差動放大器3〇〇的半導體積體 晶片的影響报小。 此外產生的雜5孔里可此根據輸入信號IT與的輸入電壓 =同而有所差異。然而,在第三示範性實施例的差動放大器3〇〇 中,產生於輪入端IT與EB的雜訊量可藉由調整電容器C301至 18 201106613 C304的電容值而減少。圖10呈現輸入端汀的電壓值, 此時電容器C303與C304的電容值改變為G阴、5〇 與雇 辆。请注意輸入端IT的電壓值中的雜訊量可藉由進· 容器C301與C302㈣容值而更加減少。因此,使產生於】 it與ro的雜訊量最小之最佳電容值可藉由改變電容器c紐至 C304的電容值而獲得。再者,即使僅連接電容器c則至c刪 的至少其巾-個,仍可達賴少雜訊的有益蘭。糊來說,告 ^至輸,IB的信號固定至接地電壓GND或電源供應電; ,且輸入至輸入端IT的信號振幅改變時,僅 恭哭 =〇1。調,電容器C3G1的電容值可能減少在輸人端汀的^壓^ 中的雜訊量。再者,可相似地連接電容器C3〇1與C3〇4。 容登C301與C3。4的電容值可能減少在輸入端Ιτ的電壓值中的】 另外® 11呈現差動放大杰301之組態,其中圖9的差動放 大,3〇0的MOS電晶體導電形式被反轉。如圖u所示,差動放 大益301包括NMOS電晶體應肌至應取、麵則盥 MN210 ’ PMOS電晶體MP110與赠1〇,電容器α〇ι至c姻: PMOS電晶體MP11㈣源極連接至電源供應電壓端 PMOS電晶體MPiio的汲極連接至節點刪卜 ==r _110的閉極。_電== ’且NM〇S電晶體顧G3的_連接至輸人賴妾應 曰曰體MN101的沒極連接至輸出端〇τ,顧⑽電晶體應二 源極連接至節‘點Ν201,且nM〇S電晶體麵〇1 於 電晶體刪。的汲極連接至節點咖,且顧盔 電晶體MN21G的源極連接至接地電壓端咖。 VDD輸入至NM〇s電晶體丽210的閘極。電容器C3〇1、在^^ 電晶體MN101的閘極與源極之間連接。電容器C3〇3在刪〇 晶體MN1G3 _極與源極之間連接。pM〇 ^ NMOS電晶體咖3、麵i與顧〇組成第與 19 201106613 ΡΜ〇ς^°Β VDD^ 入5 崎及極連接至節·點N202。接地電壓GND輸 、查電曰曰體赠10的間極。驗⑺電晶體丽104的汲極 ,接至郎點N202 ’ NMOS電晶體_1〇4的源 3 電晶體画綱的間極連接至輸入端^電
j =02,的沒極連接至輪出端〇Β,廟〇s電晶體麵〇2的 源極連接至即點N1G2,且NM〇S電晶體麵搬㈣極連接至輸 NMOS電阳體麵⑽的汲極連接至節點N1〇2,且觀〇s ,晶體MN110的祕賴至接地龍端GND。電源關信號pDB 電晶體丽11G的·。關錢PDB為電源 ,P^s號PD的反相信^電容器⑽在應⑽電晶體讓搬 '閘極與源極之間連接。電晶體€3〇4在丽〇3電晶體丽1〇4的 閘極與源極之間連接。PM0S電晶體_21〇、_1〇4、與碰1〇2, 以及NMOS電晶體ΜΝΐιο組成第二電流路徑。 請注意圖11中與圖8及圖9相同的參考符號代表相同或相似 、元件。差動放大器301具有一組態,其中差動放大器3〇〇的 PM0S電晶體刪01至聰〇4分別置換為麵〇s電晶體碰舰 至。MN104。另外’差動放大器3〇1與第二示範性實施例的差動放 大益201之不同點在於:電容器α〇1至C3〇4分別在電晶 體MN101至讀1〇4的閘極與源極之間連接。 因為這些電容器C301至C304分別與NMOS電晶體MN101 至MN104的閘極連接’所以可抑制在運作狀態改變期間產生的 PMOS電晶體刪01至贿〇4的閑極電流之快速變化。變化受 制之閘極電流允許相應的寄生電容相互抵銷流入電流與流出電 肌,如同第一與第二示範性實施例所述。所以,如同差動放大器 =〇 ’相較於於第一與第二示範性實施例,輸入端汀與J3的電位 變化減少。因此,產生於輸入端Ιτ與ro的雜訊亦可減少。其他 效應亦與差動放大器3〇〇相似。 意本發明不限於上述示範性實施例、且可在未偏離本發 明的靶疇下以各種方式修改。舉例來說,在第三示範性實施例中, 20 201106613 可以僅設置電容器C301與C302。或者,可以僅設置電容器C3〇3 與C304於第三示範性實施例中。在第一示範性實施例之组離中, 電容器C301至C304可在PM0S電晶體碰1〇1至娜刚^閘極 與源極之間連接,如同第三示範性實施例。另外,電容器C301至 =04可在閘極與汲極之間連接。雖然在第一與第二示^生實施例 中,第一與第二電流路徑係由MOS電晶體組成,然而M〇s雷曰 體可置換為雙極電晶體。 电日日 +雖然本發明已透過多種示範性實施例描述之,然而熟悉此技 藝f當知本發明可在隨附申請專利範圍的精神與範疇内以各式修 改實行’且本發明不限於上述的實例。 ° " 另外’申凊專利範圍之範缚不限於上述的示範性實施例。 此外,請注意即使於曰後申請過程中有所變更,申請者之竟 圖為包含所有申請專利範圍元素之均等物。 思 第一至第三示範性實施例可由此技藝的一般技術者隨i炒 而結合。 八I主 【圖式簡單說明】 上述及其他實施態樣、優點與特點隨前述特定示範性實 之說明與隨附圖式當可更加明白,其中: 貝施例 圖1係依照本發明的第一實施例呈現差動放大器之組態; 圓2係依照本發明的第一實施例呈現差動放大器運作之時 圖; 、 μ圖3係依照本發明的第一實施例說明差動放大器的有益效應 之簡圖; 〜 圖4係依照本發明的第一實施例說明差動放大器的有益效施 之簡圖; m 圖5係依照本發明的第一實施例說明差動放大器的有益效庵 之時序圖; 您 圖6係依照本發明的第一實施例呈現差動放大器之另一組態; 圖7係依照本發明的第二實施例呈現差動放大器之組態;… 21 201106613 圖8係依照本發明的第二實施例呈現差動放大器之另一組態; 圖9係依照本發明的第三實施例呈現差動放大器之組態; 圖10係依照本發明的第三實施例說明差動放大器的有益效應 之時序圖; 圖11係依照本發明的第三實施例呈現差動放大器之另一 態; 、、且 圖12係依照相關技術呈現差動放大器之組態; 圖13係依照相關技術呈現差動放大器之組態; 圖14係依照相關技術呈現差動放大器的運作之時序圖; 圖15係說明依照相關技術的差動放大器的問題之簡圖; 圖16係§兒明依照相關技術的差動放大器的問題之簡圖· 圖17係說明依照相關技術的差動放大器的問題之時序圖。 【主要元件符號說明】 1、2、100、101、200、201、300、301 差動放大器 C101-C104 寄生電容 C301-C304 電容器 MM ' MN2、MN11、MN12 NMOS 電晶體 MN110、MN101-MN104、MN210 NMOS 電晶體 MP1-MP4 PMOS 電晶體 MP110、MP101-MP104、MP210 PMOS 電晶體 N1-N4 節點 N101 > N102 > N201 > N202 節點 PDSW1 > PDSW2 電源關閉開關電路 GND電源接地電壓(端) PD、PDB 電源關閉信號 .. IB、IT 輸入端、輸入信號 OB、OT輸出端、輸出信號 VDD電源供應電壓(端) 22

Claims (1)

  1. 201106613 七、申請專利範圍: i 一種差動放大器,包含: • 第一電流路徑,其在第, .連接,且輸出—差動輸出信號;電源供應端之間 源供應端與第二電源供應端=第—^路徑,其在第-電 號,其中 ]連接,且輸出另一差動輸出信 第一電流路徑包括: r—======= 接’且差;⑽端之間連 連接; 电路,、在苐—電源供應端與第-電晶體之間 第二電流路徑包括: 接’且具出端之間連 連接,且開關电路’其在第二電源供應端與第三電晶體之間 號控制。帛與第—開關電路的每—個之驅動狀祕由一控制信 為第一導,差動放大器’其中第一至第四電晶體 23 3. 201106613 弟五電日日體在第— 有接收該控制_1“ fu私日日體之間連接,且具 端, °相彳§號與一反相信號之一者的一控制 CSS,一個第二導電形式的第六電晶體,以及 收該供應端與第三電晶體之間連接,且具有接 收彻】域的麵目信號與該反相域之另一者的一控制^接 4.如—申請專利範圍第3項之差動放大器,直中 包括—個第二導電形式的第七電晶體, 控,晶體之間連接’且具有- 控制端,其以第二供應端的電壓供應之。 - ’、有 5. 如申請專利範圍第4項之差動放大器,其中 第七電晶_尺寸實質讀第六電晶體、 第八電晶體的尺寸實質上與第五電晶體/及 6. 如申請專利範圍第1項之差動放大器 的至少一個連接至一電容器,該電容器係在該ί少 -端及另-端其中-個、與—控制端之間連接。夕個電曰曰體的 7. 如申請專利範圍第6項之差動放大器, 100f[F]或更小的電容值。 八电奋盗具有 八、圖式: 24
TW099117760A 2009-07-31 2010-06-02 Differential amplifier TW201106613A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009178960A JP5266156B2 (ja) 2009-07-31 2009-07-31 差動増幅器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201106613A true TW201106613A (en) 2011-02-16

Family

ID=43526424

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW099117760A TW201106613A (en) 2009-07-31 2010-06-02 Differential amplifier

Country Status (3)

Country Link
US (2) US8125274B2 (zh)
JP (1) JP5266156B2 (zh)
TW (1) TW201106613A (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9166638B2 (en) * 2014-02-14 2015-10-20 Rafael Microelectronics, Inc. Integrated circuit chip for receiver collecting signals from satellites
BR112015029099A2 (pt) * 2014-12-19 2017-07-25 Intel Ip Corp embalagem de dispositivo semicondutor em pilha, método de produção da mesma e dispositivo de computação
CN114079449B (zh) * 2020-08-18 2024-08-02 瑞昱半导体股份有限公司 信号输出装置及方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2690060B2 (ja) 1989-08-29 1997-12-10 富士通株式会社 半導体回路
JP2713182B2 (ja) * 1994-09-26 1998-02-16 日本電気株式会社 レシーバ装置
JP2773692B2 (ja) * 1995-07-28 1998-07-09 日本電気株式会社 入力バッファ回路
US6980055B2 (en) * 2003-08-11 2005-12-27 Texas Instruments Incorporated CMOS differential buffer circuit
JP4230881B2 (ja) * 2003-10-23 2009-02-25 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路、及びレベル変換回路
US20080246511A1 (en) * 2005-04-28 2008-10-09 Satoshi Miura Differential Drive Circuit and Electronic Apparatus Incorporating the Same

Also Published As

Publication number Publication date
US8125274B2 (en) 2012-02-28
JP5266156B2 (ja) 2013-08-21
JP2011035597A (ja) 2011-02-17
US20120126894A1 (en) 2012-05-24
US20110025416A1 (en) 2011-02-03
US8384480B2 (en) 2013-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI358202B (en) Level shifter with low leakage current
TW565855B (en) Output circuit
TWI267809B (en) Display device
TW200837774A (en) A memory device and method of performing write operations in such a memory device
TW200425641A (en) Level shift circuit
US7793130B2 (en) Mother/daughter switch design with self power-up control
CN103456721A (zh) 静电放电强度输入输出驱动电路
TW200840211A (en) Charge pump circuit
JP2010257554A (ja) 半導体記憶装置
CN108233896A (zh) 一种低功耗灵敏放大器型d触发器
TW200805884A (en) Signal gate oxide level shifters
TW201106613A (en) Differential amplifier
TW200913480A (en) Apparatus and method for preventing current leakage when a low voltage domain is powered down
KR101341734B1 (ko) 전압 부스팅 기법을 이용한 cmos 차동 로직 회로
CN102280872A (zh) 防静电保护电路
TW200945782A (en) Inverter circuit
CN102064694B (zh) 输入电路
JP2010183269A (ja) 半導体装置
TW201318339A (zh) 電壓開關電路
CN102290097A (zh) 一种sram存储器
TWI253742B (en) A circuit and method for detecting a status of an electrical fuse
TW200836081A (en) Semiconductor integrated circuit designing method, semiconductor integrated circuit device, and electronic device
CN103117051A (zh) 一种用于智能电网的液晶驱动电路
CN1855311B (zh) 移位寄存器,显示器件和电子设备
KR101397302B1 (ko) 메모리 스트랩 셀의 배치