201009347 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明，係關於一種測定電子零件等工件之電氣特性 之工件特性測定裝置及工件特性測定方法’尤其是有關能 夠利用工件的電極與探針之滑動以控制工件電極所產生之 條痕大小，而且能夠提高測定精確度之工件特性測定裝置 及工件特性測定方法。 【先前技術】 以前，作爲邊搬送邊測定工件之工件特性測定裝置， 習知爲具備有收納工件之工件收納孔之搬送桌、與接觸於 工件之電極之一對探針，測定工件特性之裝置。此類之工 件特性測定裝置，係於搬送桌已經停止旋轉之狀態下使探 針之先端接觸到工件之電極而進行測定，但是在搬送桌停 止旋轉後進行測定之場合，會發生以下問題。 • 亦即，第一問題，因爲在電極表面存在氧化皮膜而使 探針之先端接觸到電極時之接觸電阻會變大，如接觸時不 充分加壓到氧化皮膜破損的程度則無法正確測定。第二問 題在於，欲解決前述第一問題，而對電極使探針充分加壓 並接觸以進行測定時，在測定後於探針之先端會讓電極表 面之金屬皮膜剝落而附著於探針。因爲這些緣故，探針先 端之電阻會增加，以後就無法正確測定。 作爲防止這些問題的方法，在測定時以使搬送桌旋轉 的狀態使探針先端接觸於電極而滑動。藉此，削取電極表 -5- 201009347 面的氧化皮膜使接觸電阻減少，同時藉由硏磨清掃探針的 先端可以防止電阻增加。但是，使用此測定方法的話，由 於與探針之相對滑動在電極上產生條痕而招致電極之傷痕 不良，或有清掃時間使得處理速度降低等問題。 爲了抑制工件的電極上產生條痕，只要減少探針滑動 於電極表面時之加壓力即可，但如此一來削取工件的電極 表面的氧化皮膜的功能或者硏磨探針先端的功能都會降低 0 如此，要尋求提高工件的測定特性，同時實現提高測 定後之工件品質，在現實中必須設定相反的條件，這種設 定是困難的。進而，隨著工件的種類不同電極的硬度也不 同，因而期待開發出藉由控制使探針滑動於電極表面時之 接觸荷重與滑動時間，而可以控制發生於電極的條痕的大 小之工件特性測定裝置。
【發明內容】 Q
[發明所欲解決之課題] 本發明係有鑑於這種課題，目的在於提供可以控制工 件的電極上產生的條痕的大小，而且可以提高測定精度之 工件特性測定裝置及工件特性測定方法。 [供解決課題之手段] 本發明係一種工件特性測定裝置，其特徵係具備：具 有複數個貫通之工件收納孔之搬送體，且在各工件收納孔 -6- 201009347 內收納具有朝向工件收納孔之貫通方向外方之一對電極之 工件之搬送體、驅動該搬送體之搬送體驅動裝置、被設在 搬送體之兩側且可以抵接在各自被收納於工件收納孔內之 工件電極之一對探針，使至少一方之探針對著工件收納孔 進退之探針驅動機構、與控制搬送體驅動裝置及探針驅動 機構而使一對探針邊滑動邊抵接於所對應之工件之電極之 控制裝置。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲控制裝置係在工 件收納孔來到一對探針面前之第1設定位置時，控制探針 驅動機構使一方之探針向工件收納孔前進，在工件收納孔 來到對應於一對探針之第2設定位置時，控制探針驅動機 構使一方之探針由工件收納孔後退。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲搬送體係由圓板 所構成。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲搬送體係由帶狀 φ 體所構成。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲搬送體驅動裝置 係具有有旋轉角檢測功能之伺服馬達。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲搬送體驅動裝置 具有脈衝馬達。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲搬送體驅動裝置 之脈衝馬達具有旋轉角檢測功能。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲探針驅動機構係 由：加壓栓、驅動加壓栓之加壓栓驅動機構等所構成。 201009347 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲一方之探針，係 位於加壓栓、與搬送體之間。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲在加壓栓與加壓 栓驅動機構之間設置彈性體。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲前述彈性體係可 以變更其剛性。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲彈性體係具有彈 簧。 ® 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲加壓栓驅動機構 係由具有旋轉角檢出功能之伺服馬達所構成。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲加壓栓驅動機構 具有脈衝馬達。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲加壓栓驅動機構 係由具有旋轉角檢出功能之脈衝馬達所構成。 本發明之工件特性測定裝置，特徵爲控制裝置係在工 件收納孔來到第2設定位置時，控制搬送體驅動裝置，使 ◎ 前述搬送體停止。 本發明之工件特性測定方法，採用前述記載之工件特 性測定裝置之工件特性測定方法，其特徵係具備：在搬送 體之工件收納孔內收納工件，利用控制裝置控制搬送體驅 軌裝置以驅動搬送體之步驟；與利用控制裝置控制探針驅 動機構使一方之探針向工件收納孔前進，使一對探針邊滑 動邊抵接於工件所對應之電極，測定工件之特性之步驟。 本發明之工件特性測定方法，特徵爲控制裝置係在工 -8 - 201009347 件收納孔來到一對探針面前之第1設定位置時，控制探針 驅動機構使一方之探針向工件收納孔前進，在工件收納孔 來到對應於一對探針之第2設定位置時，控制探針驅動機 構使一方之探針由工件收納孔後退。 本發明之工件特性測定方法，特徵爲探針驅動機構， 係中介彈性體以加壓一方之探針。 本發明之工件特性測定方法，特徵爲探針驅動機構， φ 係藉由彈性體之變形量、與彈性體之剛性之中，至少改變 其中任何一方，加壓一方之探針。 本發明之工件特性測定方法，特徵爲第1設定位置及 第2設定位置係設爲可變，藉此決定工件之一對電極與所 對應之探針之間之滑動長度。 [發明之效果] 根據本發明，可以任意控制探針與工件的電極之接觸 φ 荷重或滑動時間。因此，可以最佳地除去工件的電極表面 之氧化皮膜，確保探針與工件的電極之充分的電氣接觸。 此外可以極力減少由於探針與工件之滑動所導致的工件電 極上之傷痕，以及由於與探針之接觸而產生的工件電極之 氧化皮膜屑。 【實施方式】 第1實施型態 以下，參照圖面說明本發明之第1實施型態。 -9- 201009347 圖1至圖5及圖7係顯示根據本發明之工件特性測定 裝置之第1實施型態之圖。 如圖1至圖5所示，工件特性測定裝置1，具備：被 配置爲垂直的基台2，及被自由旋轉地設於基台2上，具 有複數貫通之工件收納孔4同時被配置爲垂直之搬送桌（ 搬送體）3，及旋轉驅動此搬送桌3同時包含第1伺服馬 達24之搬送體驅動裝置3a。 其中搬送桌3之工件收納孔4，收容著有朝向工件收 馨 納孔4的貫通方向之向外方向的一對電極Wa，Wb之電子 零件等工件W。 搬送桌3的兩側，分別設置可以抵接於被收容於工件 收納孔4內的工件W之一對電極Wa，Wb之一對探針7,6 ’如後述般一對探針7，6之中一方之探針7成爲第1檢測 探針7’另一方之探針6成爲基本探針（base-probe) 6。 此外’第1檢測探針7，藉由探針驅動機構12A朝向 工件收納孔4前進’且由工件收納孔4後退。在此場合， 0 探針驅動機構12A具有滑動於套筒1〇內使第1檢測探針 7朝向工件收納孔4按壓之加壓栓8，及使加壓栓8透過 彈簧驅動同時包含第2伺服馬達26之加壓栓驅動機構12 。此外，第1伺服馬達24，與第2伺服馬達26，分別被 連接於各個控制裝置2 0 ’藉由此控制裝置2 0分別控制第 1伺服馬達24與第2伺服馬達26。 在此場合’控制裝置20控制第1伺服馬達24與第2 伺服馬達26,使一對探針7,6滑動於對應的工件w之電 -10- 201009347 極Wa，Wb同時使其抵接。 然而如前所述，在搬送桌3同心圓狀地貫通搬送桌3 設有複數之工件收納孔4。被收容於工件收納孔4內的工 件W，成直方體狀，個別被收納成水平。工件W之電極 Wa，Wb，形成工件W之長邊方向的兩端之對向的2面’ 電極Wa,Wb由搬送桌3之厚度方向（貫通方向）兩面往 外側露出。搬送桌3如前所述藉由第1伺服馬達24 ’對 φ 搬送桌3之基台2由相反側來看時成順時針方向（圖1之 箭頭A的方向）間歇旋轉而搬送工件W。 在接近於工件收納孔4內的基台2的部分，設有連通 未圖示的真空源之抽吸孔5，在搬送工件W時藉由從真空 源往搬送桌3之旋轉之相反方向（圖1之箭頭B的方向） 抽吸工件W，使工件W吸附於抽吸孔5的壁面而固定。 藉此，工件W之電極Wb的基台2側的端面，成爲與搬送 桌3之基台2側之面約略同平面而被搬送。 • 基本探針6係貫通基台2而設置的，第1探測探針7 對向於基本探針6而設置。基本探針6與基台2藉由絕緣 層6a絕緣，基本探針6之搬送桌3側之面，與基台2之 搬送桌3側之面約略同平面。第1檢測探針7藉由探針支 架9支撐’如可撓印刷電路板（FPC )或板狀彈簧那樣， 以可藉由外部的加壓而彈性變形抵接於工件W的電極Wb 的材料來製作。 此外探針驅動機構12A之加壓栓8，中介著第1檢測 探針7，設於搬送桌3之相反側。加壓栓8如前所述，被 201009347 收容於套筒10內，於套筒10內彈簧11之一端被固著於 加壓栓8的端部。彈簧11的另一端，被固接於與套筒10 一體化之加壓栓驅動機構12。在此場合，彈簧11使加壓 栓8按壓於由第1檢測探針7離開的方向上。加壓栓驅動 機構12具有第2伺服馬達26，具有使此第2伺服馬達26 的旋轉藉由滾珠螺桿、螺絲機構或者連桿機構變換爲直線 運動的構造。接著加壓栓驅動機構12的直線運動經由彈 簧11傳遞至加壓栓8，藉此加壓栓8可自由進退於接近 第1檢測探針的方向（圖中箭頭C的方向）以及離開第1 檢測探針7的方向（圖1之箭頭D的方向）。 連桿機構之一例於圖8顯示使用圓筒凸輪者。於圖8 ，對具有與圖1之相同功能的部分，賦予相同符號而省略 詳細說明。彈簧11c 一端被連接於套筒10，另一端被連 接於被固定的支撐台16。與套筒10 —體化的加壓栓驅動 機構12b，藉由彈簧11c而被按壓於抵接在圓筒凸輪14 的方向上。加壓栓驅動機構12b抵接於圓筒凸輪14的部 分被加工程具有高剛性的球面。圓筒凸輪14藉由第2伺 服馬達26的旋轉而旋轉於中心軸15的周圍，其旋轉運動 (圖8中之箭頭E)對抵接於圓筒凸輪14的加壓栓驅動 機構12b係作爲直線運動（圖8中之箭頭F)而被傳達。 接著，此直線運動透過彈簧11b傳達至加壓栓8(圖8中 之箭頭G)。 於測定工件W的特性時，於圖1基本探針6接觸於 工件W的電極Wb，加壓栓8移動於接近第1檢測探針7 201009347 的方向。接著，加壓栓8與第1檢測探針7接觸時，被壓 在加壓栓8的第1檢測探針7變形而移動於工件w側， 抵接於工件W的電極Wa。藉此，藉由基本探針6與第1 檢測探針7挾持工件W，藉由未圖示的測定裝置進行關於 工件W的電氣特性之測定。 關於工件W的電氣特性的測定結束後，加壓栓8移 動於由第1檢測探針7離開的方向，第丨檢測探針7藉由 0 彈性而回復由工件W之電極Wa離開。在此場合，工件W 的長邊方向的長度，比工件收納孔4的深度T還要大一點 ，工件W位於圖1的位置時，電極Wa的端面由搬送桌3 之第1檢測探針7側之面梢微往第1檢測探針7側突出。 此時，於圖1第1檢測探針僅與工件W之電極Wa之 端面稍微離開，此並非必須條件，即使第1檢測探針7接 觸工件W的電極Wa的端面，只要沒有藉由加壓栓8使第 1檢測探針7加壓接觸於工件W之電極Wa即可。亦即， Φ 第1檢測探針7只要是未加壓接觸於工件w的電極Wa的 狀態’就不會對工件W之電極Wa施加按壓力，即使搬送 桌3旋轉第1檢測探針7也不會滑動於工件w之電極Wa ，不會在電極Wa發生滑動導致的條痕。由相同的理由， 於圖1加壓栓8僅些許離開第1檢測探針7，但此並非必 須條件’加壓栓8即使接觸於第1檢測探針7，只要沒有 藉由加壓栓8使第1檢測探針7加壓接觸於工件W之電 極Wa即可。 接著針對具有這樣的構成之本實施型態的作用，藉由 -13- 201009347 圖2(a) - (d)以及圖3(e) - (g)來進行說明。 此處，圖2 ( a )顯示於工件特性測定裝置接下來被 測定的工件W之搬送中的狀態。首先如圖2 ( a )所示， 搬送桌3藉由藉控制裝置20控制的搬送體驅動裝置3a而 於從基台2的相反側來看時順時針方向旋轉地搬送工件W 。此時，工件W由抽吸孔5被抽吸，工件W吸附於基台 2側以及工件收納孔4的抽吸孔5側壁面。 於圖2 ( a ) ，X係加壓栓8的等待位置，不進行測定 _ 時之加壓栓8停止在X之位置。Y係加壓栓8於圖2(a )中移動於接近第1檢測探針7的方向，使第1檢測探針 7充分加壓接觸於工件W的電極Wa而停止的位置，與工 件W之電極Wa之端面約略同平面。 此外，於圖2(a) ，S1係加壓栓8由等待位置X開 始往接近第1檢測探針7的方向移動之計時（timing )所 對應的第1設定位置，此第1設定位置S1係爲了對控制 加壓栓8的移動與停止之第2伺服馬達26提供指示之用 @ 而設的。此處，藉由搬送桌3的旋轉使工件W的短邊之 約略中點通過第1設定位置S1時，藉由藉控制裝置20控 制的加壓栓驅動機構12而使加壓栓8從等待位置X往接 近第1檢測探針7的方向開始移動。 其次，如圖2(b)所示，工件W之短邊的約略中點 通過第1設定位置S1。加壓栓8由等待位置X開時移動 至接近於第1檢測探針7的方向，在此時間點到達第1檢 測探針7的位置。此後，藉由加壓栓8使第1檢測探針7 -14- 201009347 被按壓至搬送桌3側，第1檢測探針7彈性變形同使抵接 於工件W的電極Wa。 其次，如圖2 ( c )所示，第1檢測探針7充分加壓 接觸於工件W的電極Wa。在此狀態，因搬送桌3旋轉， 所以第1檢測探針7對工件W的電極Wa滑動。但是此後 馬上搬送桌3之旋轉就停止，所以滑動時間極短^ 其後，工件W之短邊的約略中點來到對應於一對探 針7，6之第2設定位置S2時，搬送桌3之旋轉停止（圖2 (d) )。在此狀態，藉由基本探針6與第1檢測探針7 挾持工件W，藉由未圖示的測定裝置進行關於工件W的 電氣特性之測定。 如此進行，結束關於工件W的電氣特性之測定（圖3 (e) )。此後加壓栓8開始往離開第1檢測探針7的方 向移動。伴此，藉由加壓栓8往工件W的電極Wa側按壓 的第1檢測探針7,藉由彈性回復原狀而離開工件w的電 • 極Wa。加壓栓8由第1檢測探針7離開時，第1檢測探 針7成爲確實由工件W的電極Wa離開的狀態。z係顯示 對應於搬送桌3開始旋轉的計時之位置，此位置z，係供 使搬送桌3的移動對第1伺服馬達24指示之用而設的。 此處’加壓栓8在由第1檢測探針7離開的方向上移 動時其先端橫切位置Z時，搬送桌3開始旋轉（圖3(f ))° 測定結束之工件W，藉由搬送桌3的旋轉而被搬送至 下一步驟’接著應該進行測定的工件W伴隨著搬送桌3 -15- 201009347 的旋轉而被搬送到一對探針7,6的位置。 圖3(f)顯示加壓栓8的先端橫切位置Z後的狀態 。搬送桌開始旋轉而把工件W往下一步驟搬送。此時， 第1檢測探針7由工件W之電極Wa離開，所以第1檢測 探針7對工件W之電極Wa不會滑動》 加壓栓8進而繼續移動，到達等待位置X而停止。 此狀態顯示於圖3(g)。其後，關於電氣特性的測定結 束之工件W，藉由搬送桌3的旋轉而被搬送至下一步驟， 參 接著應該進行測定的工件W藉著搬送桌3的旋轉而被搬 送到一對探針7,6的位置。接著，成爲圖2 ( a)的狀態， 反覆前述之動作。 然而使檢測探針接觸於對象工件的電極而測定工件的 特性的場合，如從前技術所述地若欲藉由適當的接觸荷重 或滑動（擦過）而除去工件的電極表面的氧化皮膜的話， 可能會在電極上造成不能當成商品的程度的大傷痕，或是 由於其滑動產生的電極屑而附著於檢測探針側等，使得電 @ 阻變大或變得不安定等。 對此’根據本發明，可以藉由適當的選定接觸荷重或 滑動（擦過）長度，而如圖7所示，在具有電極母材30 的電極Wa抵接檢測探針7時，引起一種塑性變形的狀況 ，藉此即使除去被形成於電極母材30表面的氧化皮膜31 也不會形成屑，而會在探針的滑動方向（與工件的移動方 向相反）成爲集聚部33而聚集。亦即，於本案發明，在 圖7所示之氧化皮膜除去部32使檢測探針7接觸而進行 -16- 201009347 測定，所以接觸電阻變小而安定，進而附著於檢測探針7 側之電極屑極少再度附著於電極Wa。 此時，於本實施型態，藉由工件W的電極Wa的種類 或氧化皮膜31的厚度、工件W的大小或種類影響之電流 値、進而包括檢測探針7的硬度或表面粗糙度等，可以使 前述接觸荷重與滑動（擦過）長度隨著其狀況而改變·> 於本實施型態，（1 )使檢測探針7與工件W之電極 Wa之接觸荷重爲可變，（2)使檢測探針7與工件W之 電極Wa之滑動（擦過）長度爲可變，且於測定前按壓而 使滑動。 其次藉由圖4更詳細說明根據控制裝置20之控制方 法，亦即控制搬送體驅動裝置3 a之第1伺服馬達24、及 加壓栓驅動機構12之第2伺服馬達26，配合於搬送桌3 之旋轉藉由加壓栓8按壓第1檢測探針7之控制方法。 此處圖4顯示工件特性測定裝置之伺服馬達之方塊圖 Φ 。於圖4，MPU21係由微處理器與周邊電路所構成，藉由 軟體而動作。脈衝振盪器控制器控制裝置22藉由與 MPU2 1之資料收送而經由驅動器定位而控制伺服馬達。 其中藉由MPU2 1與脈衝振盪器控制裝置22構成控制裝置 20 = 伺服馬達與驅動器被設置2式。第1伺服馬達24設 於使搬送桌3旋轉的搬送體驅動裝置3a內，藉由第1驅 動裝置23進行與脈衝振盪器控制裝置22之間的資料收送 。第2伺服馬達26設於使加壓检8移動的加壓栓驅動裝 -17- 201009347 置12內，藉由第2驅動裝置25進行與脈衝振盪器控制裝 置22之間的資料收送。 第1伺服馬達24與第2伺服馬達26，其產生表示分 別的馬達的旋轉角之編碼訊號1以及編碼訊號2之第1編 碼器及第2編碼器是內藏的。MPU21將控制第1伺服馬 達24與第2伺服馬達26之旋轉的指令訊號i與指令訊號 2送訊至脈衝振盪器控制裝置22。 脈衝振盪器控制裝置22，接收前述指令訊號1，同時 ❹ 透過第1驅動裝置23接收第1伺服馬達24之編碼訊號1 、動作結束訊號1、警報1等，透過第2驅動裝置25接 收第2伺服馬達26之編碼訊號2'動作結束訊號2、警報 2等。 脈衝振盪器控制裝置22監視這些訊號，把控制第1 伺服馬達24的旋轉之指令脈衝訊號1送訊至第丨驅動裝 置23，把控制第2伺服馬達26的旋轉之指令脈衝訊號2 送訊至第2驅動裝置25。第1驅動裝置23根據指令脈衝 ❹ 訊號1控制第1伺服馬達24的旋轉速度。同樣地，第2 驅動裝置25根據指令脈衝訊號2控制第2伺服馬達26的 旋轉速度。 此處，以下說明以搬送桌3的現在位置爲基準使加壓 栓8往第1檢測探針7接近的方向移動之控制方法。搬送 桌3，反覆進行在搬送工件W時旋轉，測定工件W的特 性時停止之動作。另一方面，加壓栓8，反覆進行在搬送 工件W時離開第1檢測探針7，而在測定工件W的特性 -18- 201009347 時使第1檢測探針7加壓接觸於工件W的電極Wa之動作 〇 此模樣顯示於圖5。圖5係以時間爲橫軸顯示各部的 狀態之時間圖。圖5之上方顯示各時刻與圖2(a)〜圖3 (g )之對應。 如圖5所示，到時刻tl爲止搬送桌3是旋轉的，加 壓栓8停止在等待位置（圖2之X)。搬送桌3的停止位 φ 置’係以工件收納孔4的工件W藉由基本探針6與第1 檢測探針7挾持而進行測定的方式預先被決定的。其時刻 於圖5係以t3表示。 亦即’ MPU21於此時刻t3以使第1伺服馬達24的旋 轉速度成爲的方式，將指令訊號1預先送訊至脈衝振盪器 控制裝置22。脈衝振盪器控制裝置22以指令訊號1爲基 準’監視由第1伺服馬達24內藏的第1編碼器所受訊的 編碼訊號1(顯示現在之第1伺服馬達24的旋轉角亦即 ® 工件收納孔4的位置），同時把控制第1伺服馬達24的 旋轉之指令脈衝訊號1送訊往第1驅動裝置23。此外， 第2伺服馬達26內藏的第2編碼器，把顯示現在的加壓 栓8的位置之編碼訊號2經由第2驅動裝置25送訊至脈 衝振盪器控制裝置22。 此處，到時刻U爲止第2伺服馬達26係停止的，加 壓栓8停止在等待位置（圖2之X)，所以編碼器訊號2 之値顯示等待位置。在此場合，編碼器訊號1顯示於第1 伺服馬達24的旋轉速度成爲〇的時刻t3之停止位置。於 -19- 201009347 圖5，於使加壓栓8往接近第1檢測探針7的方向開始移 動的時刻U顯示工件收納孔4應該存在的位置之編碼器 訊號1之値E1，於脈衝振盪器控制裝置22，藉由預先計 算而求得。 亦即，於脈衝振盪器控制裝置22比較編碼器訊號1 與編碼器訊號2，編碼器訊號1之値爲E1且編碼器訊號2 之値顯示等待位置時，使加壓栓8開始往接近第1檢測探 針7的方向移動，在第1檢測探針7加壓接觸於工件W φ 的電極Wa的位置（圖2之Y)把使其停止的指令脈衝訊 號2透過第2驅動裝置25送訊至第2伺服馬達26。此處 ，如前所述，係於圖2(a)工件W之短邊的約略中點通 過S1時，送出指令脈衝訊號2。 於圖5，時刻t2對應於此狀態。被壓在加壓栓8的第 1檢測探針7彈性變形同時抵接於工件W之電極Wa，所 以圖5之時刻“至t2之間第1檢測探針7對工件W之電 極Wa施加的壓力，因爲被加壓於檢測探針7接觸於電極 〇 Wa後也使彈簧11收縮的方向上，所以徐徐增大。因此， 對電極Wa造成的衝擊可以抑制爲很小。 於圖2(c)，因搬送桌3旋轉，所以第1檢測探針7 是在對工件W的電極Wa充分加壓的狀態下滑動。此之後 ，經過預先設定的極短時間At後，於圖5之時刻t3，工 件W到達測定進行的位置，第1伺服馬達2 4停止旋轉， 伴隨此搬送桌3的旋轉也停止。因此，此滑動時間’亦即 圖5之At = t3-t2變得極短。在此場合，藉由短時間的滑動 -20- 201009347 而可以削取被形成於工件W的電極Wa的表面之氧化皮膜 ，可以確保充分的電氣接觸。此外，工件W之電極Wa與 第1檢測探針7僅有短時間的滑動，所以產生於工件w 的電極Wa之條痕變得極小。 作爲一例，滑動時間At爲1.5ms的場合，產生於工 件W的電極Wa之條痕的長度爲〇.2mm。亦即使彈簧1 1 的剛性爲一定時，藉由調整工件W之電極Wa與第1檢測 • 探針7之滑動時間，由前述手法可知，可以控制條痕的長 度。 又’此處說明根據滑動時間來控制條痕長度，但隨著 工件W的電極Wa的種類或氧化皮膜的厚度或第檢測探針 7的硬度或表面粗糙度等之不同，可以調整使加壓栓8移 動時之彈簧11的變形量及彈簧11的剛性之中至少一方。 藉此可以控制對工件W的電極Wa之加壓量之接觸荷重。 其次，以下說明以加壓栓8的現在位置爲基準使搬送 # 桌3開始移動的控制方法。於圖5，如前所述在時刻t3搬 送桌3的旋轉停止時，於其後的時刻t4，藉由加壓栓8按 壓彈性變形之第1檢測探針7到達對工件W的電極Wa加 壓接觸的位置（圖2之Y) ’第2伺服馬達26停止旋轉 。藉此，加壓栓8停止。 在此狀態進行工件W之電氣特性測定。 於圖5加壓栓8的停止時刻14與搬送桌3的停止旋 轉時刻h之關係，係“比h更後，亦即滿足t4_t3g 〇即可。 如圖5所示’於時刻ts，第2伺服馬達26開始旋轉 -21 - 201009347 ’接著開放彈簧11後，加壓栓8由圖2之位置Y開始往 離開第1檢測探針7的方向移動。藉此，藉由加壓栓8按 壓的第1檢測探針7，藉由彈性回復原狀而離開工件W的 電極Wa (圖3 ( e ))。伴隨此，第1檢測探針7對工件 W的電極Wa之壓力徐徐變小。於時刻t6加壓栓8成爲由 第1檢測探針7離開的狀態時，第1檢測探針7成爲確實 由工件W的電極Wa離開（圖3(f))。此時，第1伺 服馬達24開始旋轉，藉此搬送桌3開始旋轉（圖3 (g) )。藉此第1檢測探針7不會滑動於工件W的電極Wa， 在工件W的電極Wa不會發生由於滑動導致的條痕。 如圖5所示，到時刻t6爲止加壓栓8移動往離開第1 檢測探針7的方向，搬送桌3是停止的。移動的加壓栓8 ，停止在等待位置（圖2之X )。其時刻於圖5係以t7表 示。亦即，MPU21於此時刻t7以使第2伺服馬達26的旋 轉速度成爲〇的方式，將指令訊號2預先送訊至脈衝振盪 器控制裝置22，脈衝振盪器控制裝置22以指令訊號2爲 基準，監視由第2伺服馬達26內藏的第2編碼器所受訊 的編碼訊號2(顯示現在之第22伺服馬達26的旋轉角亦 即加壓栓8的位置），同時把控制第2伺服馬達26的旋 轉之指令脈衝訊號2送訊往第2驅動裝置25。此外，第1 伺服馬達24內藏的第1編碼器，把顯示現在的工件收納 孔4的位置之編碼訊號1經由第1驅動裝置23送訊至脈 衝振盪器控制裝置22。 在此場合，直到時刻t6搬送桌3是停止的，編碼器 -22- 201009347 訊號1之値顯示停止位置。編碼器訊號2，在第2伺服馬 達26的旋轉速度成爲0的時刻t7顯示停止位置，所以於 圖5在使搬送桌3開始旋轉的時刻t6顯示加壓栓8應該 存在的位置之編碼器訊號2之値E2，係於脈衝振盪器控 制裝置22藉由預先計算而求得。亦即，於脈衝振盪器控 制裝置22比較編碼器訊號1與編碼器訊號2，編碼器訊 號2之値爲E2且編碼器訊號1之値顯示停止位置時，使 Φ 搬送桌3開始旋轉，在下一個工件收納孔內的工件來到工 件測定裝置時使其停止的指令脈衝訊號1透過第1驅動裝 置23送訊至第1伺服馬達24。於本實施型態，於圖3(e )，加壓栓8在由第1檢測探針7離開的方向上移動時其 先端橫切位置Z時，第1伺服馬達24開始旋轉。 第2實施型態 其次’藉由圖6說明本發明之第2實施型態。圖6所 〇 示之第2實施型態’係使檢測探針與加壓栓一體化而對搬 送桌之工件收納孔進退者’其他的構成與圖1至圖5所示 之第1實施型態約略相同。 於圖6’針對與圖1至圖5所示之第1實施型態相同 的部分賦予同一符號省略詳細的說明。 如6圖所示，第2檢測探針13被固著於加壓栓8之 一端’第2檢測探針13與加壓栓8 —體化。加壓栓8被 收容於套筒10內’於套筒10內彈簧11之一端被固著於 加壓栓8的端部。彈簧11的另—端，被固接於與套筒1〇 -23- 201009347 一體化之加壓栓驅動機構12。彈簧11使第2檢測探針13 往離開工件W的電極Wa的方向按壓。加壓栓驅動機構 12具有使第2伺服馬達26的旋轉藉由滾珠螺桿、螺絲機 構或者連桿機構變換爲直線運動的構造，此直線運動經由 彈簧11而傳送至第2檢測探針13。藉此，第2檢測探針 13可自由進退於接近工件w的電極Wa的方向（圖5之 箭頭C的方向）及離開工件w之電極Wa的方向（圖5 箭頭D的方向）。在此場合，藉由套筒1〇內的加壓栓8 、彈簧11、加壓栓驅動機構12而構成探針驅動機構12A 〇 於測定工件W的特性時，於圖6所示之狀態，基本 探針6接觸於工件W的電極Wb，第2檢測探針13移動 於接近工件W的電極Wa的方向而抵接於工件w的電極 Wa。藉此’藉由基本探針6與第2檢測探針13挾持工件 W ’藉由未圖示的測定裝置進行測定。測定結束後第2檢 測探針移動於由工件W的電極Wa離開的方向。 關於搬送桌3之旋轉與第2檢測探針13之移動的控 制方法，與關於第1實施型態之搬送桌3的旋轉與加壓栓 8之移動的控制方法約略相同。 又，於前述各實施型態，針對搬送體驅動裝置3a及 加壓栓驅動機構12個別具有伺服馬達24,26的場合加以 說明，但搬送體驅動裝置3a以及加壓栓驅動機構12亦可 藉由馬達的旋轉而使搬送桌或加壓栓、檢測探針或連桿機 構等移動’而藉由馬達的旋轉角檢測功能來控制這些。 201009347 此外，前述各實施型態有以高精度的控制爲目的的場 合，對象工件很大的場合等進行低精度的控制的場合，搬 送體驅動裝置3a以及加壓栓驅動機構12使用脈衝馬達或 步進馬達亦可。 於前述各實施型態，係針對搬送桌3被設置爲垂直的 場合來說明，但搬送桌3亦可設置爲水平，亦可傾斜設置 〇 0 進而’加壓栓與加壓栓驅動機構之間所設的彈性體係 以彈簧1 1來說明，但只要能夠維持長時間安定的特性（ 例如塑性變形跨長期間也可以忽視者），亦可使用橡膠。 此外接觸於工件W的電極Wa，Wb之一對探針7,6之 中’針對僅移動1根探針7的場合進行說明，但移動一對 探針7,6雙方而接觸於工件w的電極Wa，Wb，挾持工件 W而進行.測定亦可。 此外’搬送體係說明由搬送桌3所構成之例，但搬送 # 體亦可由帶狀之搬送帶來構成。 【圖式簡單說明】 圖1係顯示本發明之工件特性測定裝置之第〗實施型 態之圖。 圖2 ( a ) - ( d )係顯示根據本發明之工件特性測定裝 置之動作。 圖3 ( e ) - ( g )係圖示根據本發明之工件特性測定裝 置之動作。 -25- 201009347 圖4係圖示根據本發明之工件特性測定裝置之動作控 制方塊圖。 圖5係根據本發明之工件特性測定裝置之動作時間圖 圖6係圖示根據本發明之工件特性測定裝置之第2實 施型態。 圖7係顯示根據本發明之測定後之工件之電極之剖面 ❹ 圖。 圖8係圖示由連動機構所構成之加壓栓驅動機構。 主要元件符號說明】 1 :工件特性測定裝置 2 :基台 3 :搬送桌 3a:搬送體驅動裝置 ❿ 4 :工件收納孔 5 :抽吸孔 6 :基本探針 6 a :絕緣層 7 :第1檢測探針 8 :加壓栓 9 __探針支架（holder ) 1〇 :套筒 11 :彈簧 -26- 201009347 1 lb :彈簧 1 1 c :彈簧 1 2 :加壓栓驅動機構 12A :探針驅動機構 12b :加壓栓驅動機構 13 :第2檢測探針 14:圓筒凸輪（cam) φ 1 5 :中心軸 16 :支撐台 21 : MPU (微處理器） 22 :脈衝振盪器控制裝置 23 :第1驅動裝置 24 :第1伺服馬達 25 :第2驅動裝置 26 :第2伺服馬達 # 30 :電極母材 3 1 :氧化皮膜 32 :氧化皮膜除去部 33 :集聚部 W :工件
Wa、Wb :電極 -27-