TW200933308A - Spatial light modulating unit, illumination optical system, aligner, and device manufacturing method - Google Patents

Spatial light modulating unit, illumination optical system, aligner, and device manufacturing method

Info

Publication number
TW200933308A
TW200933308A TW097148855A TW97148855A TW200933308A TW 200933308 A TW200933308 A TW 200933308A TW 097148855 A TW097148855 A TW 097148855A TW 97148855 A TW97148855 A TW 97148855A TW 200933308 A TW200933308 A TW 200933308A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
light
spatial light
optical system
optical
incident
Prior art date
Application number
TW097148855A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Tanitsu
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Publication of TW200933308A publication Critical patent/TW200933308A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0808Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more diffracting elements
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70091Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
    • G03F7/70116Off-axis setting using a programmable means, e.g. liquid crystal display [LCD], digital micromirror device [DMD] or pupil facets
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0875Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more refracting elements
    • G02B26/0883Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more refracting elements the refracting element being a prism
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • H01L21/0271Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
    • H01L21/0273Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
    • H01L21/0274Photolithographic processes

Description

200933308 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種空間光調變單元、照明光學系統、 曝光裝置、及元件製造方法。更詳細而言,本發明係關於 一種適於以微影製程製造半導體元件、攝影元件、液晶顯 示元件、薄膜磁頭等之元件之曝光裝置的照明光學系統。 【先前技術】 於此種典型曝光裝置中,從光源射出之光束,透過作 © 為光千積分器的複眼透鏡,形成由多數個光源構成之實質 面光源的二次光源(一般而言,照明光瞳中之既定光強度分 布)。以下,將照明光曈中之光強度分布稱為「光瞳強度分 布」。又,照明光瞳,係定義在藉由照明光瞳與被照射面(曝 光裝置之情形為光罩或晶圓)之間之光學系統之作用,被照 射面成為照明光瞳之傅立葉轉換面的位置。 來自二次光源之光束,在藉由聚光透鏡聚光後,重疊 照明形成有既定圖案的光罩。透射過光罩之光係透過投影 光學系統成像於晶圓上,在晶圓上投影曝光(轉印)光罩圖 案。形成於光罩之圖案係高度集成化,為了將此微細圖案 正確轉印於晶圓上,必須於晶圓上獲得均一的照度分布。 X往揭示有不使用變焦光學系統即能連續變更光瞳 強度分布(或照明條件)的照明光學系统(參照專利文獻^。 於專利文獻1所揭示之照明光學系統中,使用由排列成陣 列狀且個別驅動控制傾斜角及傾斜方向之多數個微小反射 鏡元件構成之可動多面反射鏡,將入射光束分割成各反射 200933308 面之微小單位並使其偏向,以將光束截面轉換成所欲之形 狀或所欲之大小,進而實現所欲之光瞳強度分布。 專利文獻1 :日本特開2002 —353105號公報 【發明内容】 於專利文獻1所揭示之照明光學系統中,由於使用個 別控制姿勢之多數個微小反射鏡元件,因此關於光瞳強度 刀布之形狀及大小之變更的自由度高。然而,由於從設於 規則配置之多數個反射鏡元件之間之格子狀反射鏡框產生 之繞射光於照明光瞳面形成繞射干涉條紋,因此會有因該 繞射干涉條紋的影響而不易形成所欲之光瞳強度分布的情 形。 本發明係有鑑於上述課題而構成,其目的在於提供能 抑制例如從規則配置之多數個微小反射鏡元件之周圍產生 之繞射光的影響,以實現所欲之光曈強度分布的照明光學 系統。又,本發明之目的在於提供使用抑制繞射光的影響 而實現所欲之光瞳強度分布的照明光學系統,能在適當之 照明條件下進行良好曝光的曝光裝置。 為了解決上述課題,本發明第1形態之空間光調變單 元,其特徵在於,具備:空間光調變器,具有二維排列且 個別控制之複數個光學元件;以及角度可變手段使於各 該複數個光學元件之周圍產生繞射光之繞射光產生區域與 射入至該繞射光產生區域之入射光的相對角度變化。 本發明第2形態之照明光學系統,係根據來自光源之 光照明被照射面,其特徵在於,具備:第1形態之空間光 200933308 調變單70 ;以及分布形成光學系統,根據透射過該空間光 調變器之光束,在該照明光學系統之照明光瞳形成既定光 強度分布。 本發明第3形態之照明光學系統,係根據來自光源之 光照明被照射面,其特徵在於,具備:空間光調變器,具 有二維排列且個別控制之複數個光學元件,與於各該複數 個光學元件之周圍產生繞射光之繞射光產生區域;以及導 _ 光光學系統,將來自該光源之光導向該空間光調變器;為 了使該繞射光產生區域與射入至該繞射光產生區域之入射 光的相對角度變化,該空間光調變器與該導光光學系統之 至少一部分之至少一者之姿勢係可變。 本發明第4形態之曝光裝置,其特徵在於··具備用以 照明既定圖案之第2形態或第3形態之照明光學系統,將 該既定圖案曝光於感光性基板。 本發明第5形態之元件製造方法,其特徵在於,包含: φ 曝光步驟’使用第4形態之曝光裝置’將該既定圖案曝光 於該感光性基板;顯影步驟,使轉印有該既定圖案之該感 光性基板顯影’將對應該既定圖案之形狀之光罩層形成於 该感光性基板的表面;以及加工步驟,透過該光罩層加工 該感光性基板的表面。 於本發明之照明光學系統,根據時間經過適當改變於 空間光調變器之各複數個光學元件之周圍產生繞射光之繞 射光產生區域與射入至該繞射光產生區域之入射光的相對 角度。其結果,形成於照明光瞳之繞射干涉條紋之位置隨 7 200933308 時間經過而變化,藉由所々 精田所明時間平均化效果降低繞射干涉 條紋對光瞳強度分布的影響。 、方式於本發明之照明光學系統,能抑制例如從 規則配置之多數個微小反射鏡元件之周圍之繞射光產生區 域產生之繞射光的影響,以實現所欲之光瞳強度分布。又, 於本發明之曝光裝I,使用抑制繞射光的影響而實現所欲 之光曈強度分布的照日月光學纟统,能在對應光罩之圖案特 性而實現之適當之照明條件下進行良好曝光,或能製造良 好元件。 【實施方式】 根據附加圖式以說明本發明之實施形態。圖1係概略 顯示本發明之實施形態之曝光裝置的構成圖。圖1中,將 沿著感光性基板之晶圓W的法線方向設定為z軸,將在晶 圓W之曝光面内平行於圖1之紙面的方向設定為X軸將 在晶圓W之曝光面内垂直於圖1之紙面的方向設定為γ抽。 參照圖1,本實施形態之曝光裝置,沿著裝置之光轴 AX ’具備包含空間光調變單元3的照明光學系統il、支持 光罩Μ的光罩載台MS、投影光學系統PL、及支持晶圓w 的晶圓載台WS。於本實施形態之曝光裝置,使用來自光源 1之照明光(曝光用光)透過照明光學系統IL照明光罩M。 透射過光罩Μ之光,係透過投影光學系統PL將光罩]VI之 圖案像形成於晶圓W上。 根據來自光源1之光照明光罩Μ之圖案面(被照射面) 之照明光學系統IL,藉由空間光調變單元3的作用,進行 200933308 複數極照明(2極照明、4極照明等)、輪帶照明等的變形照 明。照明光·學系統IL,沿著光轴AX,從光源1側依序具備 光束送光部2、空間光調變單元3、變焦光學系統4、複眼 透鏡5、聚光光學系統6、照明視野光闌(光罩遮板)7、視野 光闌成像光學系統8。 空間光調變單元3,根據透射過光束送光部2之來自光 源1之光,於其遠視野區域(夫朗和斐繞射區域)形成所欲光 強度分布(光瞳強度分布广空間光調變單元3之構成及作用 ® 將於後述。光束送光部2,將來自光源1之入射光束轉換成 具有適當大小及形狀之截面的光束並導向空間光調變單元 3,且具有主動修正射入空間光調變單元3之光束之位置變 動及角度變動的功能。變焦光學系統4,將來自空間光調變 單元3之光聚光,導向複眼透鏡5。 複眼透鏡5,係由例如緊密排列之複數個透鏡元件構成 之波面分割型光學積分器。複眼透鏡5,將射入之光東進行 ❹ 波面分割’在其後側焦點面形成由與透鏡元件相同數目之 光源像構成的二次光源(實質面光源複眼透鏡5之入射 面,係配置於變焦光學系統4之後侧焦點位置或其附近。 作為複眼透鏡5,可使用例如圓柱形微複眼透鏡。圓柱形微 複眼透鏡之構成及作用,例如揭示於美國專利第6913373 號公報。又’作為複眼透鏡,亦可使用例如美國專利第 6741394號公報所揭示之微複眼透鏡。此處,援引美國專利 第6913373號公報及美國專利第0741394號公報以作為參 200933308 於本實施形態’以由複眼透鏡5形成之二次光源為光 源’對配置於照明光學系統IL之被照射面之光罩μ進行科 勒(Kohler)照明。因此,形成二次光源的位置係與投影光學 系統PL之孔徑光闌AS之位置光學共軛,能將二次光源的 形成面稱為照明光學系統IL之照明光曈面。典型上,相對 於照明光曈面’被照射面(配置光罩Μ的面、或考量包含投 影光學系統PL之照明光學系統之情形為配置晶圓w的面) 成為光學上的傅立葉轉換面。 此外,光瞳強度分布,係照明光學系統IL之照明光瞳 面或與該照明光瞳面共軛之面的光強度分布(亮度分布複 眼透鏡5之波面分割數較大時’形成於複眼透鏡$之入射 面之大部分光強度分布、及二次光源整體之大部分光強度 分布(光瞳強度分布)具有高的相關。因此,亦可將複眼透鏡 5之入射面及與該入射面光學共軛之面之光強度分布稱為 光瞳強度分布。 聚光光學系統6’將從複眼透鏡5射出之光聚光,重疊 照明照明視野光闌7。來自照明視野光闌7之光,係透過視 野光闌成像光學系統8,在光罩M之圖案形成區域之至少 一部分形成照明視野光闌7之孔徑部之像之照明區域。此 外,圖i中,雖省略用以弯折光軸(或光路)之光路f折鏡的 設置,但視需要亦可將光路彎折鏡適當配置於昭明光路中 在光罩載台MS沿著XY平面(例如水平面)裝載光罩 M,在晶圓載台WSMXY平面裝載晶圓w。投影光學系 統PL,根據由照明光學系統IL形成於光罩m之圖案=上 200933308 之來自照明區域的光,在晶圓 ^ s Λ/Γ , 之曝光面(投影面)上形成 先罩Μ的圖案像。以此方 风 兴知·〜先學系統PL·之光軸 ws二平面(ΧΥ平面)内,一邊二維驅動控制晶圓載台 m驅動控制晶圓w —邊進行—次曝光或掃描 曝光’以罩Μ之圖案依序^於晶之各曝光區域。 接者’參照圖2及圖3’說明空間光調變單元3之構成 及作用。® 2係概略顯示空間光調變單元3及變焦光學系 ❹
統4之構成的圖。w 3係空間光調變單元3所具備之空間 光調變器3a的部分立體圖。空間光調變單元3,如圖;所 示,具備例如由螢石般之光學材料形成的稜鏡孙、及接近 與稜鏡3b之YZ平面平行之側面加而安裝的反射型空間 光調變器3a。形成稜鏡儿之光學材料並不限於螢石,根據 光源1供應之光的波長等,可為石英亦可為其他光學材料。 稜鏡3b,具有將長方體之i個側面(與接近安裝空間光 調變器3a之側面3ba相對向的側面)取代成v字狀凹陷之側 面3bb及3bc的形態,因沿著乂2平面之截面形狀而稱為κ 稜鏡。稜鏡3b之V字狀凹陷之側面3bb及3bc,係藉由交 又成鈍角之2個平面P1及P2來規定。2個平面ρ!及p2 皆與XZ平面正交,沿著χζ平面呈v字狀。 在2個平面pi及P2之切線(延伸於γ方向之直線)p3 接觸之2個側面3bb及3bc的内面,具有反射面ri及R2 的功能。亦即’反射面R1位於平面p 1上,反射面R2位於 平面P2上,反射面R1及R2之構成角度為鈍角。舉_例而 言,能設反射面R1及R2之構成角度為120度,垂直於光 11 200933308 軸ΑΧ之稜鏡3b之入射面ip與及私而P1 a 兴汉射面R1之構成角度為6〇 度,垂直於光軸AX之稜鏡3b之射出面〇p與反射面尺2之 構成角度為60度。 於稜鏡3b ’接近安裝空間光調變器3a之側面3ba與光 轴AX平行,且反射面R1位於光源丨側(曝光裝置之上游 側.圖2中左側),反射面R2位於複眼透鏡5側(曝光裝置 之下游側.圖2中右側)。更詳細而言,反射面R丨相對光 轴AX斜向設置,反射面厌2於通過切線p3且與χγ平面平 行之面與反射面R1對稱地相對光軸Αχ斜向設置。稜鏡3b 0 之側面3ba,如後述,係與空間光調變器3a之複數個反射 鏡元件SE之排列面相對向的光學面。 棱鏡3b之反射面ri,將透過入射面ip射入之光反射 向空間光調變器3a。空間光調變器3a,係配置於反射面ri 及反射面R2之間之光路中,將經由反射面ri射入之光反 射。棱鏡3b之反射面R2’將經由空間光調變器3a射入之 光反射’透過射出面OP導向變焦光學系統4。圖2雖例示 以1個光學塊體一體形成棱鏡3t),但如後述,使用複數個 〇 光學塊體構成稜鏡3b亦可。 空間光調變器3a,對經由反射面ri射入之光,賦予對 應其入射位置之空間調變後射出。空間光調變器3a,如圖3 所示’具備二維排列之複數個微小反射鏡元件(光學元 件)SE。為了使說明及圖示簡單,圖2及圖3中雖顯示空間 光調變器3a具備4x4 = 16個反射鏡元件SE的構成例’但 實際上具備遠多於16個之複數個反射鏡元件SE。 12 200933308 參照圖2,沿著與光軸ΑΧ平行之方向射入空間光調變 單元3之光線群之中’光線L1射入複數個反射鏡元件SE 之中之反射鏡元件SEa,光線L2射入與反射鏡元件sEa不 同之反射鏡元件SEb。同樣地,光線L3射入與反射鏡元件 SEa,SEb不同之反射鏡元件SEc ’光線L4射入與反射鏡元 件SEa〜SEc不同之反射鏡元件SEd。反射鏡元件sEa〜 SEd,將對應其位置設定之空間調變賦予光L1〜L4。 於空間光調變單元3,在空間光調變器3a之所有反射
鏡元件SE之反射面設定成與YZ平面平行之基準狀態下, 沿著與光軸AX平行之方向射入反射面in之光線,在經過 空間光調變器3a後,藉由反射面R2反射向與光轴αχ平行 之方向。又,空間光調變單元3,係構成為從棱鏡3b之入 射面IP經過反射鏡元件SEa〜SEd至射出面〇p為止之空氣 換算長、與棱鏡3b未配置於光路中時之從相當於入射面Ip 之位置至相當於射出面OP之位置為止之空氣換算長相等。 此處’空氣換算長,係將光學系統中之光路長換算成折射 率i之空氣中之光路長者,折射率n之介質中之空氣換算 長,係將其光路長乘上1/η者。 空間光調變器3a,择酋?番μ嫩# ,組4 Α 你配置於變焦光學系統4之前侧焦 點位置或其附近。藉由办ρ卩出π嫩w 二間光調變器3a之複數個反射鏡元 件SEa〜SEd反射而賦予 叫于既疋角度分布之光,在變焦光學系 統4之後側焦點面4a形 〜 *成既疋光強度分布SP1〜SP4。亦 即,變焦光學系統4,將命„ & _ 一 所二間先調變器3a之複數個反射鏡 元件SEa〜SEd賦予射屮水 印尤之角度,轉換成空間光調變器3a 13 200933308 之遠視野區域(夫朗和斐繞射區域)之面4a上的位置。 再次參照圖1,在具有聚光光學系統之功能之變焦光學 系統4之後侧焦點面4a之位置或其附近,定位複眼透鏡5 的入射面。是以,複眼透鏡5形成之二次光源的光強度分 布(亮度分布)’係對應空間光調變器3a及變焦光學系統4 形成之光強度分布SP1〜SP4的分布。空間光調變器3a,如 圖3所示,係包含在平面形狀之反射面為上面之狀態下, 沿著1冑平面規則二維排列之多數個微小反#元件之反 射鏡元件SE的可動多面反射鏡。 各反射鏡元件SE係可動,其反射面之傾斜、亦即反射 面之傾斜角及傾斜方向,係藉由根據控制部CR(圖3中未圖 示)之指令作動之駆動部3c(圖3中未圖示)之作用而獨立控 制。各反射鏡元件SE,以與其反射面平行之二方向、且彼 此正交之二方向(Y方向及Z方向)為旋轉軸,能連續或離散 旋轉所欲之旋轉角度。亦即,能二維控制各反射鏡元件託 之反射面的傾斜。 此外,使各反射鏡元件SE之反射面離散旋轉時,將旋 轉角以複數個狀態(例如...... 2 5庠、〇 Λ 疋 度 2.〇度、…、〇 度、+0·5度、…、+2·5度、…)切換控制為佳。圖3雖顯 示外形為正方形之反射鏡元件SE,但反射鏡元件SE之^ 形形狀不限於正方形。然而,從光利用效率之觀點觀2外 亦可為可排列成反射鏡元件S E之間隙蠻少的 丨界踅夕的形狀(可最脔 填充的形狀)。又,從光利用效率之觀點 机 < 將相鄰 個反射鏡元件SE之間隔抑制在必要最小限亦可。 200933308 於本實施形態,作為空間光調變器3a,係使用分別使 二維排列之複數個反射鏡元件SE之方向連續(或離散)變化 的空間光調變器。此種空間光調變器,能使用例如日本特 表平10 — 503300號公報及與其對應之歐洲專利公開第 779530號公報、日本特開2〇〇4一 78136號公報及與其對應 之美國專利第6900915號公報、日本特表2006— 524349號 公報及與其對應之美國專利第7〇95546號公報、以及曰本 特開2006 — 1 1 3437號公報所揭示的空間光調變器。此處, 援引歐洲專利公開第779530號公報、美國專利第6900915 號公報、及美國專利第7095546號公報以作為參照。 於空間光調變器3 a,藉由根據來自控制部CR之控制訊 號而作動之驅動部3c的作用,複數個反射鏡元件se之姿 勢分別變化’各反射鏡元件SE分別設定於既定方向。藉由 空間光調變器3a之複數個反射鏡元件SE分別以既定角度 反射之光’透過變焦光學系統4,在複眼透鏡5之後側焦點 ❹ 位置或其附近之照明光瞳,形成複數極狀(2極、4極等)、 輪帶狀等的光強度分布(光曈強度分布)。此光瞳強度分布, 係藉由變焦光學系統4的作用,相似(等向)變化。 亦即,變焦光學系統4及複眼透鏡5,根據透射過空間 光調變單元3中之空間光調變器3a的光束,構成在照明光 學系統IL之照明光瞳形成既定光強度分布的分布形成光學 系統。再者’在複眼透鏡5之後側焦點位置或與其附近之 照明光曈光學共輛之另一照明光瞳位置,亦即視野光闌成 像光學系統8之光曈位置及投影光學系統Pl之光曈位置 15 200933308 (孔徑光闌AS之位置)’亦形成對應光瞳強度分布的光強度 分布。 於曝光裝置’為了將光罩Μ之圖案高精度且忠實轉印 於晶圓W ’例如在對應光罩Μ之圖案特性之適當照明條件 下進行曝光是相當重要的。於本實施形態,由於使用具備 複數個反射鏡元件SE之姿勢個別變化之空間光調變器3a 的空間光調變單元3,因此能使空間光調變器3 &之作用所 形成之光曈強度分布自在且迅速的變化。 然而’於使用空間光調變器3a之本實施形態之照明光 0 學系統IL,如後述般,從設於規則配置之複數個反射鏡元 件SE之間之格子狀之反射鏡框之上面產生的繞射光在照明 光曈面形成繞射干涉條紋。其結果,由於此繞射干涉條紋 的影響’會有不易形成所欲光瞳強度分布的情形^以下, 參照圖4 ’說明繞射干涉條紋之產生及影響。 圖4係以示意方式顯示空間光調變器之典型構成的截 面圖。如圖4所示,於空間光調變器3a之典型構成例,複 數個反射鏡元件SE係透過鉸鏈(未圖示)安裝於基座BA 〇 上,在複數個反射鏡元件SE之間設有反射鏡框FR。反射 鏡元件SE,具有例如正方形之微小反射面,且規則配置。 是以’設於反射鏡元件SE之間之反射鏡框FR的上面(圖4 中上側之面)’例如整體具有格子狀的形態。 此時’光L41(圖中以實線表示)射入反射鏡框FR之規 則配置之微小上面時,從反射鏡框FR之上面產生反射繞射 光L42(圖中以虛線表示)。此外,圖4中,為了簡化圖示, 16 200933308 僅顯示射入左端之反射鏡框FR之上面的入射光L41,但入 射光L41實際上以相同角度射入空間光調變器3a之整體。 此時’反射鏡元件SE之間距P、光之波長λ、射入反射鏡 框FR之上面的光L41的入射角0〇、及來自反射鏡框fr之 上面之Ν次繞射光之繞射角θ Ν之間,下式(1)所示的關係 會成立。 sin 0 Ν—sin θ 〇= Νχ 又/Ρ ⑴ 以此方式’於本實施形態之照明光學系統IL,獲得由 ® 複數個反射鏡元件SE所反射之所需光形成於照明光瞳之原 本的光強度分布、及從反射鏡框FR之上面產生之不需要之 光之繞射光形成於照明光瞳的光強度分布(繞射干涉條紋) 構成的光瞳強度分布。亦即,於本實施形態之照明光學系 統IL ’若不施加特別對策,由於來自反射鏡框fr之上面之 繞射光所形成的繞射干涉條紋’無法獲得所欲光瞳強度分 布。 於圖4所示之構成例’在複數個反射鏡元件se之間設 有反射鏡框FR,反射鏡框FR之上面,構成在各複數個反 射鏡元件SE之周圍產生繞射光的繞射光產生區域。此外, 即使於未設有反射鏡框之構成例,從複數個反射鏡元件SE 之微小格子狀的間隙到達基座表面之光會產生繞射光,或 在照明光瞳形成繞射干涉條紋。此時,對應複數個反射鏡 元件S E之微小間隙的格子狀基座表面區域,構成在各複數 個反射鏡元件SE之周圍產生繞射光的繞射光產生區域。 於本實施形態,使在空間光調變器3a之各反射鏡元件 17 200933308 SE之周圍產生繞射光之繞射光產生區域(圖4中反射鏡框 FR之上面)、及射入該繞射光產生區域之入射光(圖*中光 L41)之相對角度隨時間經過適當變化。其結果,於本實施形 態’形成於照明光瞳之繞射干涉條紋之位置隨時間經過而 變化,藉由所謂時間平均化效果降低繞射干涉條紋對光瞳 強度分布的影響’進而實現所欲光瞳強度分布。 以此方式’於本實施形態之照明光學系統IL,能抑制 從空間光調變器3a之規則配置之多數個微小反射鏡元件SE 之周圍之繞射光產生區域產生之繞射光的影響,以實現所 ❹ 欲之光曈強度分布。又,於本實施形態之曝光裝置(3〜 WS),使用抑制繞射光的影響而實現所欲之光瞳強度分布的 照明光學系統IL,能在對應光罩M之圖案特性而實現之適 當之照明條件下進行良好曝光。 具體而言’於本實施形態之第1方法,如圖5所示, 藉由根據來自控制部CR之控制訊號而作動之第丨可變部 3d的作用,使空間光調變器3a整體的姿勢或繞射光產生 區域之姿勢隨時間經過而變化。第i可變部3d,能使用例❹ 如安裝於空間光調變器3a與稜鏡3b之側面3ba之間之有效 光束不會通過之區域的驅動元件(壓電元件等)。 若空間光調變器3a整體的姿勢變化,則反射鏡框FR 之上面的方向、基座BA表面的方向、及各反射鏡元件SE 之反射面的方向亦同樣地變化。另一方面,射入空間光調 變盗3a之入射光Li的方向,即使空間光調變器3a整體的 姿勢變化亦不變。此外,目5中,為了簡化圖示,僅顯示 18 200933308 射入左端之反射鏡框FR之上面的入射光Li,但入射光U 實際上以相同角度射入空間光調變器3a之整體。是以,從 反射鏡框FR之上面(或基座BA之表面)之繞射光產生區域 產生之不需要之光之繞射光Ld的方向,隨著空間光調變器 3a整體的姿勢變化而變動。 同樣地,只要不藉由驅動部化使各反射鏡元件8£之 姿勢積極變化,來自各反射鏡元件8£之反射光^的方向, 亦會隨著空間光調變器3a整體的姿勢變化而變動。其結 ® 果,藉由來自繞射光產生區域之繞射光以形成於照明光瞳 之繞射干涉條紋的位置隨時間經過變動,且藉由各反射鏡 元件SE之反射光Lr形成於照明光曈之光強度分布(原本必 需之光瞳強度分布)的位置亦隨時間經過變動。 於本實施形態之曝光裝置,使用例如準分子雷射光源 般之供應脈衝光的雷射光源時,為了獲得在照明光曈之繞 射干涉條紋的位置變動所導致之所欲平均化效果,在1次 ❿ 之一次曝光所需之脈衝數、亦即曝光脈衝數之光照射間, 使空間光調變器3 a整體例如在所欲角度範圍往返傾斜即 可。或者’在曝光脈衝數之光照射間,使空間光調變器3a 整體例如在所欲角度範圍單向傾斜即可。又,適用掃描曝 光時’在晶圓W上之每1點待照射之最小曝光脈衝數Nmin 之光照射間,使空間光調變器3a整體例如在所欲角度範圍 往返傾斜、或在最小曝光脈衝數Nmin之光照射間,使空間 光調變器3a整體例如在所欲角度範圍單向傾斜即可。此 外,最小曝光脈衝數Nmin,係再現曝光量控制所需之最低 19 200933308 限的脈衝數’例如根據預先測量之裝置常數之脈衝能量之 偏差(35之值)5H與平均脈衝能量密度H之比5h/h求 出。亦即,最小曝光脈衝數Nmin係為了將累計曝光量之偏 差抑制在既定容許值以内所需之脈衝數。是以,典型而言, 在晶圓w上之掃描曝光範圍(照射區域)内之各點每n脈衝 照射照明光IL。此外,《Nmin,則在掃描曝光範圍之 累計光量於各點大致相等,特別是即使於非掃描方向掃描 曝光範圍之累計光量分布亦大致均一,亦即其累計光量偏 差抑制在既定容許值以内。然而,即使將滿足Nmin之 ❹ N脈衝之照射光IL照射於掃描曝光範圍之各點,非掃描方 向之累計光量分布亦未均一化時,僅需將累計光量之偏差 抑制在既定容許值以内所需之脈衝數即可,亦考慮使非掃 描方向之累計光量分布均一化所需之脈衝數,來預先決定 最小曝光脈衝數Nmin亦可。 如上述,與空間光調變器3a整體的姿勢變化同步,各 反射鏡元件SE之反射光Lr形成照明光瞳之光強度分布之 位置亦會變動’但只要反射光Lr之原本的光強度分布之位 〇 置變動在容許範圍内,即使使空間光調變器3a整體的姿勢 變化’亦不需進行驅動部3c之各反射鏡元件SE之姿勢的 調整。此時,與反射光Lr之原本的光強度分布之位置變動 同樣’即使繞射光Ld之繞射干涉條紋的位置變動僅為些 微’亦可降低繞射干涉條紋對光瞳強度分布的不良影響。 另一方面’各反射鏡元件SE之反射光Lr形成照明光 瞳之光強度分布之位置變動超過容許範圍時,必須根據空 20 200933308
間光調變器3a整體的姿勢變化,藉由驅動部3c調整各反射 鏡元件SE的姿勢。此時,如圖5所示’即使空間光調變器 3a整體的姿勢變化,只要個別調整各反射鏡元件SE的姿 勢,使入射光Li與各反射鏡元件SE之反射面之相對角度(或 來自各反射鏡元件SE之反射光Lr的方向)持續保持一定即 可。亦即,即使空間光調變器3a整體的姿勢變化,藉由個 別調整各反射鏡元件SE的姿勢,使各反射鏡元件8Ε之反 射面相對空間光調變器3a之外之空間軸保持一定角度,即 可不使反射光Lr之原本的光強度分布之位置變動,而僅使 繞射光Ld之繞射干涉條紋的位置變動。 或者’即使入射光Li與各反射鏡元件SE之反射面之 相對角度(或來自各反射鏡元件SE之反射光Lr的方向)未保 持一定,亦可在每脈衝進行將各反射鏡元件SE的姿勢切換 成所欲姿勢的調整,以使來自各反射鏡元件SE之反射光 形成照明光瞳之光強度分布幾乎不變動。亦即,即使各反 射鏡το件SE之反射面相對空間光調變器3a之外之空間轴 未保持一定角度,藉由在每脈衝個別調整各反射鏡元件SE 的姿勢,使反射光Lr之原本的光強度分布靜止,即可僅使 繞射光Ld之繞射干涉條紋的位置變動。 於本實施形態之第2方法,如圖6所示,藉由根據來 自控制部⑶之控制訊號而作動之第2可變部^的作用, 使具有反射面及折射面之赫錄2 A/t A # ^ 生…… 勢’或射入繞射光產 生£域之入射光Li的方向隨時間經過而變化。第 ^能使用例如安裝於稜鏡的驅動元件(塵電元件等): 21 200933308 若棱鏡3b的姿勢變化,則射入空間光調變器3a之入射光 Li的方向會變化。另一方面,反射鏡框1;^之上面的方向、 基座BA表面的方向、及各反射鏡元件se之反射面的方向, 即使稜鏡3 b的姿勢變化亦不變。 是以’從反射鏡框FR之上面(或基座BA之表面)之繞 射光產生區域產生之不需要之光之繞射光Ld的方向及來自 各反射鏡元件SE之反射光Lr的方向,隨著稜鏡3b的姿勢 變化而變動。其結果,藉由繞射光Ld形成於照明光曈之繞 射干涉條紋的位置及藉由反射光Lr形成於照明光瞳之光強 ❹ 度分布的位置隨時間經過變動。 若來自各反射鏡元件SE之反射光Lr之光強度分布之 位置變動在谷許範圍内’即使使棱鏡3b的姿勢變化,亦不 需進行驅動部3c之各反射鏡元件SE之姿勢的調整。另一 方面,各反射鏡元件SE之反射光Lr形成照明光曈之光強 度分布之位置變動超過容許範圍時,必須根據稜鏡3b的姿 勢變化’藉由驅動部3c個別調整各反射鏡元件Se的姿勢。 此時’各反射鏡元件SE的姿勢的調整,與第!方法之調整 〇 相同。此外’稜鏡3b之反射面或折射面可視為光學面。於 此第2方法’稜鏡3b可視為導光光學系統,稜鏡之反 射面可視為導光光學系統之一部分。 於上述第2方法’藉由使稜鏡3b的姿勢變化,以使射 入繞射光產生區域之入射光Li的方向變化。然而,並不限 於此’例如圖7所示之第3方法,藉由使射入稜鏡3b之光 的方向變化,以使射入繞射光產生區域之入射光Li的方向 22 200933308 變化亦可。具體而言,於本實施形態之第3方法,藉由根 據來自控制部CR之控制訊號而作動之第3可變部1^的作 用,使例如配置於稜鏡3b之入射侧、具有構成既定角度之 2個平面(折射面)之偏角稜鏡u繞光軸Αχ旋轉。此偏角稜 鏡η之折射面可視為光學面。於此第3方法,偏角稜鏡η 可視為導光光學系統之一部分。
以此方式,藉由繞光轴ΑΧ旋轉之偏角稜鏡u的作用, 射入稜鏡3b之光的方向,或射入繞射光產生區域之入射光 Li的方向隨時間經過而變化。圖7中,作為使射入稜鏡补 之光的方向變化的手段,雖例示繞光轴Αχ旋轉之偏角稜鏡 11,但例如亦可藉由使配置於稜鏡3b之前側之光路彎折用 平面鏡振動來使射入稜鏡3b之光的方向變化。 此外上述說明中,作為具有與空間光調變器3a之複 數個反射鏡元件排列之面相對向之光學面的稜鏡構件係 使用以1個光學塊體一體形成@ κ稜鏡3b。然而,並不限 於此,藉由例如圖8所示之—對稜鏡31與32,構成具有與 稜鏡3b相同功能的稜鏡構件亦可。此時,由於光會通過 稜鏡31與32的接觸面,因此必須研磨接觸面。視情形在 稜鏡31與32之間必須要有光學接觸件。 又,藉由例如圖9所示之平行平面板33及 ,.”八 一ά 多丁 一巧仪 鏡34與35,構成具有與κ稜鏡⑪相同功能的稜鏡構件亦 可。由於三角稜鏡34與35彼此不會接觸,因此在三角稜 鏡34與35之間不須要有光學接觸件。平行平面板η及三 角稜鏡34與35彼此接觸亦可,相隔間隔亦可。由於平行 23 200933308 平面板33#具有空間光調變器3a之覆蓋玻璃的功能,因此 在空間光調變器3a之壽命後之更換時,僅更換平行平面板 33及空間光調變器3a即可,不需更換三角稜鏡34與35。 又’藉由例如圖1〇所示之平行平面板36及一對平面 鏡37與38,構成具有與K稜鏡讣相同功能的組裝光學元 件亦可。圖ίο之構成,係將圖9之三角稜鏡34與35取代 成平面鏡37與38。此時,與圖9之構成例相同,在空間光 調變器3a之壽命後之更換時,僅更換平行平面板36及空間 光調變器3a即可,不需更換平面鏡37與38。又,相較於❹ 圖9之構成例,可依從平面鏡37射入平行平面板%之光 的折射量,縮小射入空間光調變器3a之光的角度。 於此圖10之構成例,適用上述第2方法時,使位於空 間光調變器3a之入射侧之平面鏡37之姿勢變化即可。此 外,使平面鏡37與38之姿勢一體變化亦可。此等平面鏡 37與38之反射面可視為光學面β χ,此平面鏡37可視為 導光光學系統之一部分。 又,上述說明作為具有二維排列且個別控制之複❹ 數個光學元件的空間光調變器,係使用可個別控制二維排 列之複數個反射面之方向(角度:傾斜)的空間光調變器。然 而,並不限於此,亦可使用例如可個別控制二維排列之複 數個反射面之高度(位置)的空間光調變器。此種空間光調變 器,能使用以下所揭示之空間光調變器,例如揭示於日本 特開平6— 281869號公報及與此對應之美國專利第53ΐ25ΐ3 號公報、及日本特表2004- 52〇618號公報及與此對應之美 24 200933308 國專利第6885493號公報之圖Id。該等空間光調變器中, 藉由形成二維之高度分布,能將與繞射面同樣之作用提供 給入射光。此外,亦能將具有上述二維排列之複數個反射 面之空間光調變器依照以下所揭示之公報加以變形,例如 揭示於日本特表2006 — 513442號公報及與此對應之美國專 利第6891655號公報、或日本特表2005 — 5241 12號公報及 與此對應之美國專利公開第2005/0095749號公報。 又,上述說明中,雖使用具有複數個反射鏡元件之反 ❹ 射型空間光調變器,但並不限於此,亦可使用例如美國專 利第5229872號公報所揭示之透射型空間光調變器。 此處,援引美國專利第5312513號公報、美國專利第 6 8 85493號公報、美國專利第6891655號公報、美國專利公 開第2005/0095749號公報、及美國專利第5229872號公報 以作為參照。 此外,上述實施形態中,在使用空間光調變單元以形 成光瞳強度分布時,亦可以光瞳亮度分布測量裝置來測量 ® 光瞳強度分布,並依該測量結果來控制空間光調變單元中 之空間光調變器。此種技術已揭示於例如日本特開2006 — 54328號公報、或日本特開2003 — 22967號公報及與此對應 之美國專利公開第2003/0038225號公報。 此處,援引美國專利公開第2003/003 8225號公報以作 為參照。 又,上述實施形態中,亦可使用根據既定電子資料來 形成既定圖案的可變圖案形成裝置以取代光罩。若使用此 25 200933308 種可變圖案形成裝置,則圖案即使是縱置亦可將對同步精 度所造成之影響減少至最低限度。此外,可變圖案形成裝 置可使用例如DMD(Digital Micro-Mirror Device :數位微鏡 元件)’其係包含根據既定電子資料來驅動的複數個反射元 件。使用DMD之曝光裝置已揭示於例如日本特開2〇〇4 __ 304135號公報 '國際專利公開第2006/080285號小冊子及 與此對應之美國專利公開第2007/0296936號公報。又,除 了 DMD等非發光型反射型空間光調變器以外,亦可使用透 射型空間光調變器,或亦可使用自發光型影像顯示元.件。 ^ 此外’即使圖案面為橫置之情況下,亦可使用可變圖案形 成裝置。此處’援引美國專利公開第2007/0296936號公報 以作為參照。 此外,於上述實施形態,光學積分器雖使用複眼透鏡 5,但亦可使用内面反射型光學積分器(典型而言為棒狀積分 器)來取代之。此時,在變焦光學系統4之後側配置聚光透 鏡,以使其前側焦點位置與變焦光學系統4之後側焦點位 置一致,在此聚光透鏡之後側焦點位置或其附近配置棒狀 ◎ 積分器以定位入射端。此時,棒狀積分器之射出端成為照 明視野光闌7的位置。使用棒狀積分器時,此棒狀積分器 之下游之視野光闌成像光學系統8内之與投影光學系統pL 之孔仏光闌AS之位置光學共輛的位置,可稱為照明光瞳 面。又,由於在棒狀積分器之入射面之位置形成照明光 瞳面之一人光源的虛像,因此該位置及與該位置光學共軛 的位置’亦可稱為照明光曈面。此處,變焦光學系統4與 26 200933308 上述聚光透鏡,可視為配置於光學積分器與空間光調變器 之間之光路中的聚光光學系統,變焦光學系統4、上述聚光 透鏡、及棒狀積分器可視為分布形成光學系統。 上述實施形態之曝光裝置,係藉由組裝包含本專利申 請範圍所列舉之各構成元件的各種次系統,以能保持既定 之機械精度、電氣精度、光學精度之方式所製造。為確保 此等各種精度,於此組裝前後係對各種光學系統進行用以 ㈣光學精度之調整、對各種機㈣統進行心達成機械 © #度之調整、對各種電氣系統進行用以達成電氣精度之調 整。從各種次系統至曝光裝置之組裝製程,係包含各種次 系統彼此之機械連接、電路之配線連接、氣壓迴路之配管 連接等。當然,從各種次系統至曝光裝置之組裝製程前, 係有各次系統個別之組裝製程。當各種次系統至曝光裝置 之組裝製程結束後,即進行综合調整,以確保曝光裝置整 體之各種精度。此外,曝光裝置之製造可在溫度及真空度 等皆受到管理之無塵室進行。 其次,針對使用上述實施形態之曝光裝置的元件製造 方法作說明。圖η係表示半導體元件之製造步驟的流程 =。如圖11所示,半導體元件之製造步驟中,係將金屬膜 蒸鍍於構成半導體元件之基板的晶圓w(步驟S40),並將感 光性材料之光阻塗布於該蒸鑛後之金屬膜上(步驟S42)。接 使用上述實施形態之投影曝光裝置,將形成於光罩(標 :片)Μ之圖案轉印於晶圓%上之各照射區域(步驟s44•曝 先步驟),並進行完成該轉印後之晶圓w的顯影,亦即進行 27 200933308 轉p有圖案之光阻的顯影(步驟s46 :顯影步驟)。之後 由步驟S46以產生於晶圓w表面之光阻圖案為光罩,對曰 圓W表面進仃蝕刻等之加工(步驟s48 :加工步驟)。 此處’力阻圖t係指產生對應藉由上述實施形態之 影曝光裝置所轉印之圖案的形狀的凹凸之光阻層,:其: 部係貫通光阻層者。㈣⑽中,係透過該光阻圖案來進 面之加工。於步驟S48所進行之加工中,包含 例如晶圓w表面之㈣或金屬膜等之成媒中之至少一者。 〇 此外步驟S44中,上述實施形態之投影曝光裝置,係以 塗布有光阻之晶圓w為感光性基板亦即基板ρ來進行圖案 之轉印〇 〜 圖12係表示液晶顯示元件等液晶元件之製造步驟的流 圖12所不,液晶元件之製造步驟中,係依序進行 —、形成步驟(步驟S5〇)、濾色器形成步驟(步驟S52)、單 裝步驟(步驟S54) '以及模組組裝步驟(步驟S56)。 ❹ 拇髟步驟S50之圖案形成步驟中,係使用上述實施形態之 塗::光裝置’將電路圖案及電極圖案等既定圖案形成於 中 ^阻之玻璃基板上作為基板P。於該圖案形成步驟 ㈣包含曝光㈣,係使用上述實施形態之投影曝光裝置, 柘阻層進行圖案轉印,·顯影步驟,進行轉印有圖案之基 p的顯影亦即進行玻璃基板上之光阻層的顯影以產生 ^ 案形狀的光阻層;以及加工步驟,透過該顯影後之 且層來進行玻璃基板表面之加工。 ,驟S52之濾色器形成步驟中,係形成濾色器其係 28 200933308 將多數個對應R(Red :紅)、G(Green .蛘、n 、een ·綠)、及 B(Blue :藍) 之3個點之組排列成陣列狀,或將複數個r、g、b之3條 條紋之濾色器之組排列於水平掃描方向。 步驟S54之單元組裝步驟中,係 ^ T 保使用藉由步驟S50形 成有既定圖案之玻璃基板與藉由步驟S52所形成之濾色器 來組裝液晶面板(液晶单元)。且體而士 ,, '' )八骽而s,例如係將液晶注入 玻璃基板與滤色器之間,藉此形成液曰品此 相〜〜取收明面板。步驟S56之 Ο
模組組裝步驟中’係對藉由步驟S54所組裝之液晶面板安 裝使該液晶面板進行顯示動作之電氣電路及背光等各種零 件0 又’本發明並不限於應用在半導體元件製造用之曝光 裝置’亦可廣泛應用於例如形成於方形玻璃板之液晶顯示 元件或電漿顯示器等顯示裝置用的曝光裝置、或用以製造 攝影元件(CCD等)、微型裝置、薄媒磁頭、以及dna晶片 等各種元件的曝光裝置。此外,本發明亦可應用於使用光 微影步驟來製造形成有各種元件之光罩圖案之光罩(光罩、 標線片等)時的曝光步驟(曝光裝置)。 此外,上述實施形態中,可使用ArF準分子雷射光(波 長.193nm)或KrF準分子雷射光(波長:248 nm)作為曝光用 光。又,並不限於此,對其他適當之雷射光源,例如供應 波長為157nm之雷射光的Fz雷射光源等亦可應用本發明。 又,在上述實施形態中,亦能適用所謂的液浸法,以 具有較1_1大之折射率之介質(典型為液體)充滿投影光學系 統與感光性基板間之光路中之方法。此時,作為於投影光 29 200933308 :系統與感光性基板間之光路中充滿液體之方法,能採用 揭不於國際公開第w〇99/49504料冊子之局部充滿液體 ^法、或揭示於日本特開+ 6〜124873號公報之在液槽 中使保持曝光對象之基板之載台移動之方法、或揭示於日 本特開平U)-3〇3114號公報之於載台上形成既定深度之液 體槽於其中保持基板之方法等。此處,援引國際公開第 099/49504號小冊子、日本特開平6_ 124873號公報及曰 本特開平10— 3031 14號公報以作為參照。 ❹ 又,在上述之實施形態中,亦能適用揭示於美國專利 公開第2〇06/0170901號公報及美國專利公開第 2007/0146676號公報之所謂偏光照明方法。此處,援引美 國專利公開第ZOOS/On^Oi號公報及美國專利公開第 2007/0146676號公報以作為參照。 又,上述實施形態令,雖在曝光裝置中對照明光罩之 照明光學系統應用本發明,但並不限於此,對照明光罩以 外之被照射面的一般照明光學系統亦可應用本發明。 〇 【圖式簡單說明】 圖1係概略顯示本發明實施形態之曝光裝置之構成的 圖。 圖2係概略顯示空間光調變單元及變焦光學系統之構 成的圖。 圖3係空間光調變單元所具備之空間光調變器的部分 立體圖。 圖4係以示意方式顯示空間光調變器之典型構成的截 30 200933308 面圖 圖糸說明本實施形態之第1方法的圖。 圖係說明本實施形態之第2方法的圖。 圖8係說明本實施形態之第3方法的圖。 之棱鏡構::第略=有與本實施形態…鏡相同功能 Ί〒之第1構成例的圖。 能 係概略顯示具有與本實施形態之κ稜鏡相同功 之棱鏡構件之第2構成例的圖。
圖10係概略顯示具有與本實施形態之Κ稜鏡相同功能 之組裝光學元件之構成例的圖。 圖1 1係顯示半導體元件之製程的流程圖。 圖丨2係顯示液晶顯示元件等之液晶元件之製程的流程 【主要元件符號說明】 1 光源 2 光束送光部 3 空間光調變單元 3a 空間光調變器 3b K稜鏡 3c 驅動部 4 變焦光學系統 5 複眼透鏡 6 聚光光學系統 7 照明視野光闌(光罩遮板) 31 200933308 8 視野光闌成像光學系統 IL 照明光學系統 CR 控制部 Μ 光罩 PL 投影光學系統 W 晶圓
32

Claims (1)

  1. 200933308 十、申請專利範園·· 一種空間光調變單元,其特徵在於,具備: 二間光調變器,具有二維排列且個別控制之複數個光 學元件;以及 角度可變手段,使於各該複數個光學元件之周圍產生 繞射光之繞射光產生區域與射入至該繞射光產生區域之入 射光的相對角度變化。 2. 如申請專利範圍第1項之空間光調變單元,其中,該 © 角度可變手段,具有使該繞射光產生區域之姿勢變化的第j 可變手段。 3. 如申請專利範圍第1或2項之空間光調變單元,其 中,該角度可變手段,具有使射入至該繞射光產生區域之 入射光之方向變化的第2可變手段。 4. 如申凊專利範圍第1至3項中任一項之空間光調變單 兀,其中,該空間光調變器,具有二維排列之複數個反射 鏡元件、與個別控制驅動該複數個反射鏡元件之姿勢之驅 〇 動部。 5. 如申請專利範圍第4項之空間光調變單元,其中,該 驅動部係使該複數個反射鏡元件之方向連續變化。 6. 如申晴專利範圍第4或5項之空間光調變單元,其進 步具備為了根據該角度可變手段進行之該相對角度變化 變更該複數個反射鏡元件之姿勢,而控制該驅動部的控 部。 J 7. 如申請專利範圍第4至6項中任一項之空間光調變單 33 200933308 元,其進一步具備設於該複數個反射鏡元件之光之入射側 的光學面。 8. 如申請專利範圍第7項之空間光調變單元’其中’該 第2可變手段係使該光學面之姿勢變化。 9. 如申請專利範圍第7或8項之空間光調變單元’其 中’該第2可變手段係使射入至該光學面之入射光之方向 變化。 10. 如申請專利範圍第7至9項中任一項之空間光調變 單元’其中,該光學面具備反射面或折射面。 〇 11. 如申請專利範圍第7至10項中任一項之空間光調變 單元’其進一步具備具有該光學面的稜鏡構件。 12_如申請專利範圍第4至6項中任一項之空間光調變 單元’其進一步具備具有與該複數個反射鏡元件之排列面 相對向之光學面的稜鏡構件。 13·如申請專利範圍第12項之空間光調變單元,其中, 該第2可變手段係使該稜鏡構件之姿勢變化。 14. 如申請專利範圍第12或13項之空間光調變單元, ❹ 其中,該第2可變手段係使射入至該稜鏡構件之入射光之 方向變化。 15. 種照明光學系統,係根據來自光源之光照明被照 射面’其特徵在於,具備: 申π專利範圍第1至項中任一項之空間光調變單 元;以及 刀布形成光學系統’根據透射過該空間光調變器之光 34 200933308 束’在該照明光學系統之照明光瞳形成既定光強度分布。 16.—種照明光學系統’係根據來自光源之光照明被照 射面’其特徵在於,具備·· 空間光調變器,具有二維排列且個別控制之複數個光 學元件’與於各該複數個光學元件之周圍產生繞射光之繞 射光產生區域;以及 導光光學系統,將來自該光源之光導向該空間光調變 器; 〇 . 為了使該繞射光產生區域與射入至該繞射光產生區域 之入射光的相對角度變化,該空間光調變器與該導光光學 系統之至少一部分之至少一者之姿勢係可變。 1 7·如申請專利範圍第15或1 6項之照明光學系統,其 中’該分布形成光學系統,具有光學積分器及配置於該光 學積分器與空間光調變單元之間之光路中的聚光光學系 統。 φ 18.如申請專利範圍第15至17項中任一項之照明光學 系統’其中’該複數個光學元件,係控制成該角度可變手 1又進行該相對角度變化時,該照明光瞳上之該既定光強度 分布為靜止。 19.如申請專利範圍第15至18項中任一項之照明光學 系統’其中’組合使用形成與該被照射面光學共軛之面的 才又衫光學系統,該照明光曈係與該投影光學系統之孔徑光 闌光學共軛的位置。 2〇_—種曝光裝置’其特徵在於:具備用以照明既定圖 35 200933308 案之申請專利範圍第15至19項中任一項之照明光學系 統’將該既定圖案曝光於感光性基板。 21 _、「種兀件製造方法,其特徵在於,包含: 曝光步驟,使用申請專利範圍第20項之曝光裝置,將 該既定圖案曝光於該感光性基板; 顯影步驟,使轉印有該既定圖案之該感光性基板顯 景夕’將對應該既定圖案之形狀之光罩層形成於該感光性基 板的表面;以及 加工步驟,透過該光罩層加工該感光性基板的表面。 0 十一、圖式: 如次頁 ❹
TW097148855A 2007-12-17 2008-12-16 Spatial light modulating unit, illumination optical system, aligner, and device manufacturing method TW200933308A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007324115 2007-12-17

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW200933308A true TW200933308A (en) 2009-08-01

Family

ID=40795342

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW097148855A TW200933308A (en) 2007-12-17 2008-12-16 Spatial light modulating unit, illumination optical system, aligner, and device manufacturing method

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20100253927A1 (zh)
EP (1) EP2233960A4 (zh)
JP (1) JPWO2009078223A1 (zh)
KR (1) KR20100105649A (zh)
TW (1) TW200933308A (zh)
WO (1) WO2009078223A1 (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011070853A1 (ja) * 2009-12-10 2011-06-16 株式会社ニコン 空間光変調器、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
WO2012060083A1 (ja) * 2010-11-05 2012-05-10 株式会社ニコン 照明装置、露光装置、プログラムおよび照明方法
JP5611016B2 (ja) * 2010-12-07 2014-10-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法
US10120283B2 (en) * 2011-06-06 2018-11-06 Nikon Corporation Illumination method, illumination optical device, and exposure device
WO2013071940A1 (en) * 2011-11-15 2013-05-23 Carl Zeiss Smt Gmbh Light modulator and illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus
WO2013094733A1 (ja) * 2011-12-22 2013-06-27 株式会社ニコン 計測方法、メンテナンス方法及びその装置
CN107144948A (zh) * 2017-06-15 2017-09-08 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种基于三角反射器的空间光调制器耦合装置

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3074843B2 (ja) * 1991-10-04 2000-08-07 株式会社ニコン 投影露光装置及び露光方法並びに回路パターン形成方法
US5229872A (en) 1992-01-21 1993-07-20 Hughes Aircraft Company Exposure device including an electrically aligned electronic mask for micropatterning
US5312513A (en) 1992-04-03 1994-05-17 Texas Instruments Incorporated Methods of forming multiple phase light modulators
JPH06124873A (ja) 1992-10-09 1994-05-06 Canon Inc 液浸式投影露光装置
RU2084941C1 (ru) 1996-05-06 1997-07-20 Йелстаун Корпорейшн Н.В. Адаптивный оптический модуль
JP3747566B2 (ja) 1997-04-23 2006-02-22 株式会社ニコン 液浸型露光装置
SE9800665D0 (sv) * 1998-03-02 1998-03-02 Micronic Laser Systems Ab Improved method for projection printing using a micromirror SLM
US6741394B1 (en) 1998-03-12 2004-05-25 Nikon Corporation Optical integrator, illumination optical apparatus, exposure apparatus and observation apparatus
AU2747999A (en) 1998-03-26 1999-10-18 Nikon Corporation Projection exposure method and system
JP2001350105A (ja) * 2000-06-08 2001-12-21 Oyokoden Lab Co Ltd 光スイッチ
SE0100336L (sv) 2001-02-05 2002-08-06 Micronic Laser Systems Ab Adresseringsmetod och apparat som använder densamma tekniskt område
JP2002353105A (ja) 2001-05-24 2002-12-06 Nikon Corp 照明光学装置,該照明光学装置を備えた露光装置,およびマイクロデバイスの製造方法
KR100576746B1 (ko) 2001-06-01 2006-05-03 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피장치, 디바이스제조방법, 그 디바이스,제어시스템, 컴퓨터프로그램, 및 컴퓨터프로그램물
US6900915B2 (en) 2001-11-14 2005-05-31 Ricoh Company, Ltd. Light deflecting method and apparatus efficiently using a floating mirror
JP4307813B2 (ja) 2001-11-14 2009-08-05 株式会社リコー 光偏向方法並びに光偏向装置及びその光偏向装置の製造方法並びにその光偏向装置を具備する光情報処理装置及び画像形成装置及び画像投影表示装置及び光伝送装置
EP1499560B1 (en) 2002-04-29 2005-12-14 Micronic Laser Systems Ab Device for protecting a chip and method for operating a chip
US20050095749A1 (en) 2002-04-29 2005-05-05 Mathias Krellmann Device for protecting a chip and method for operating a chip
JP4324957B2 (ja) 2002-05-27 2009-09-02 株式会社ニコン 照明光学装置、露光装置および露光方法
KR100480620B1 (ko) * 2002-09-19 2005-03-31 삼성전자주식회사 마이크로 미러 어레이를 구비한 노광 장치 및 이를 이용한노광 방법
US6891655B2 (en) 2003-01-02 2005-05-10 Micronic Laser Systems Ab High energy, low energy density, radiation-resistant optics used with micro-electromechanical devices
JP2004304135A (ja) 2003-04-01 2004-10-28 Nikon Corp 露光装置、露光方法及びマイクロデバイスの製造方法
WO2004094301A1 (en) 2003-04-24 2004-11-04 Metconnex Canada Inc. A micro-electro-mechanical-system two dimensional mirror with articulated suspension structures for high fill factor arrays
US7095546B2 (en) 2003-04-24 2006-08-22 Metconnex Canada Inc. Micro-electro-mechanical-system two dimensional mirror with articulated suspension structures for high fill factor arrays
SG110196A1 (en) * 2003-09-22 2005-04-28 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method
TWI360837B (en) 2004-02-06 2012-03-21 Nikon Corp Polarization changing device, optical illumination
JP2006054328A (ja) 2004-08-12 2006-02-23 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP4335114B2 (ja) 2004-10-18 2009-09-30 日本碍子株式会社 マイクロミラーデバイス
TWI453796B (zh) 2005-01-21 2014-09-21 尼康股份有限公司 偏光變更單元以及元件製造方法
KR101240130B1 (ko) 2005-01-25 2013-03-07 가부시키가이샤 니콘 노광 장치, 노광 방법, 및 마이크로 디바이스 제조 방법
US7532378B2 (en) * 2006-02-21 2009-05-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser irradiation apparatus, method of laser irradiation, and method for manufacturing semiconductor device
JP2007258691A (ja) * 2006-02-21 2007-10-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd レーザ照射装置、レーザ照射方法、及び半導体装置の作製方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100105649A (ko) 2010-09-29
US20100253927A1 (en) 2010-10-07
WO2009078223A1 (ja) 2009-06-25
EP2233960A1 (en) 2010-09-29
EP2233960A4 (en) 2012-01-25
JPWO2009078223A1 (ja) 2011-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI510868B (zh) An optical unit, an illumination optical device, an exposure device, and an element manufacturing method
JP5326259B2 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
TW200937138A (en) Spatial light modulator, illumination optical system, aligner, and device manufacturing method
WO2009125511A1 (ja) 空間光変調ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
TW201727392A (zh) 照明光學系統
CN108107685B (zh) 曝光装置、曝光方法、器件制造方法及评价方法
TW200933308A (en) Spatial light modulating unit, illumination optical system, aligner, and device manufacturing method
JP5365982B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5884871B2 (ja) 照明光学装置、照明方法、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
WO2011074319A1 (ja) デフォーマブルミラー、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
TWI470366B (zh) 照明光學系統、曝光裝置以及元件製造方法
JPWO2009078224A1 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
WO2011070853A1 (ja) 空間光変調器、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2011114041A (ja) 光束分割装置、空間光変調ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
TW201109861A (en) Optical lighting system, exposure device and device manufacturing method
JP5532213B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2011228556A (ja) 可変スリット装置、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
WO2013042679A1 (ja) 照明光学装置、光学系ユニット、照明方法、並びに露光方法及び装置
JP2011222841A (ja) 空間光変調ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2010141091A (ja) 偏光制御ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5327715B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP6761574B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2011029596A (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5682799B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
WO2014073548A1 (ja) 空間光変調光学系、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法