TW200909062A - Nozzle orifice structure with specific opening angle and manufacturing process thereof - Google Patents

Nozzle orifice structure with specific opening angle and manufacturing process thereof Download PDF

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Chun-You Lin
xian-kai Meng
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200909062 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種製作嘴孔結構之技術,特別是關於 一種具有特定開孔角度之噴孔結構及其製程。 P 、 【先前技術】 現今喷孔結構技術,廣泛被運用在於各種工業技術、 曰常生活中’如液體喷霧微細孔結構、醫藥或美容藥水之 喷霧器 '喷墨印表機之墨水Ε...#。—般魏結構在製作 的過程中’係在電鑄起始層表面塗佈光阻,藉由—具備有 透光區域與阻光區域之光罩,以利用黃光微影製程將此光 阻之透光區域的光阻完全去除,進而以電鑄製程製作微細 喷孔的製程方法。此外,如美國專利第5 , 586, 55〇號之 ^利案件,其係、揭露筛孔構件之各微細噴孔中心線與喷孔 前端(from surface)之夾角10度至20度的特定開孔角度之 【發明内容】 本發明所欲解決之技術問題: 揭示於美國專利第5,586,55〇號發明專利篩孔構件 之各微細噴孔之喷孔出口端,係聚集殘留之液體造成喷孔 出口端因較大的殘留液體而堵塞,進而影響其嗔孔出口端 之嘴出。另外,上述專利並未揭示種具有特定開孔角 又之噴孔結構之詳細製程流程’致習於此項技術者亦不能 200909062 得知其製程方法。 再者,以習知技術製作應用於喷液裝置之喷孔結構 中(CP银刻具有成本叩貴之缺點,而以高分子材製成 筛孔構件具有使用壽命較短之缺點。 先阻凸塊結構之電鑄方法製作噴孔結構,存在著具有預定 圖型光阻凸塊結構擁有水平方向尺寸精度(C出 dlmensi°n)以及垂直方向尺寸精度Ckness variation) 之問題而影響微穿結構之孔徑精度。
另外,製作應用於音頻調整及抵抗電磁波方面亦存在 之缺點’而以高分子製作喷孔結構再輔以塗佈或渗 h材料製程,亦增加製程之繁複性及耗費成本。/ 因此,本發明之第1目的即是提供—種I 二度:=構’係利用漸縮區段遠小於基體區 度,來限定其特定之開孔角度。 又(与 本發明之第2目的即县接 噴孔結構,係利用設置 a方止殘留液滴聚集之 聚集於滞留面及第二滞;殘留之液體源液滴 阻塞之狀況。 °°卩防止&留液滴聚集而產生 製= = 卩是提供-種可供實施之噴孔結構 孔製備出電鑄模板,並於!!=或黃光微影技術或雷射鑽 光阻圖型結構,再以後板之表面形成特定形狀之 角度之噴孔結構。,之電鑄製程製作出具有特定開孔 200909062 本發明解決問題之技術手段: 本發明爲解決習知技術$ > 形成預定圖型之導電基材本體之表術手段係於 = 光微影製程形成具有預定圖型之先 在導電基材本體之表面形成—噴孔結構 程序’使似結構與導電絲本體㈣。、 狀之噴孔結構所殘留之光阻層寺疋成何形 定開孔角度之喷孔結構。去除,而得到-具有特 =者,噴孔結構形成—預定厚度之噴孔結構,益以— =個;貝孔基體厚度之—噴孔厚度,形成複數 之幾何中央位置與各個喷孔之内側切線角度係大 本發明對照先前技術之功效: 經由本發明所採用之技術手段,可以使得本發明之噴 孔、、+°構形成—具有特定開孔角度之噴孔結構,並以一遠小 於喷孔基體厚度之-喷孔厚度形成複數個魏,且各個嘴 ,之幾何中央位置與各個喷孔之内側切線角度係大於20 又,使得各個噴孔不會因較大殘留液體而聚集堵塞喷孔。 【實施方式】 月多閱弟1圖至第10圖,其係顯示本發明第一實施 例各步驟之結構示意圖,並請同時參閱第11圖,其係顯示 200909062 實施例製作具有特定開孔角度之噴孔結構之方 ;=。本發明將以各步驟結構示意圖及其製作方法流 明製作微穿孔噴嘴結構之方法(以下簡稱 如第1圖所示,本方法首先提供一導電基材本體 驟Ι0υ,導電基材本體1係可為軟式或硬式且有導電特= 材料所製成之基材本體。導電基更式”有導電特性 數公八r 、 电i材本肢1係可為厚度厚達 n mieter之板狀結構或厚度薄達數夺 (nanometer)之薄膜結構。 、、 如第2圖所示,本方法於真 一具有預定圖型之光阻層2(牛導=材本體1之表面形成 、采, 2 102),亦即光阻声2且古 透光區域21與阻光區域22 s -有 另—*面,在 者在冷電基材本體1之 另表面(底面)亦形成有—光阻層3。 如第3圖所示,桩牮 b⑽d,簡稱PCB)產& 印刷電路板的刪咖汕 )產業採網版印剔社 ,. 光微影技術透過光阻層2對導 $體產業之黃 (步驟1〇3)後,使光阻層 土材本體1進行银刻製程 ± m . 之透光區域21底下之導雷其士士 本體1㈣朗,”A _卜之¥電基材 I» w , ^ 成了 具有預定圖型之導電美刼太 粗U(如弟4圖所示)(步驟1〇4) 免基材本 電基材本體U之後,即 有預定圖型之導 (步驟1G5)。在導電基材 a 2與光阻層3予以去除 孔區域12。 & 3之結構中係形成複數個噴 ” ^ 5圖所示,本方法將具有财圖型之導電灵材太 姐:U固定於一不導電 m電基材本 、·’巴,.表基材11上(步驟]06),再如第 200909062 6圖所示’於導電基材本體 107),再如第7圖所_,…表面形成-鈍化膜4(步驟 la ® ® θ v ’㈣成狀®1型之導電基材本體 ^之表面再形成—光阻層5(步驟雨)。對光阻層 光微影製程,以形成且有預 仃汽 s岡邮_、 厲4預疋_之先_型結構5a(如第 8圖所不)(步驟1〇9)。 弟 la , 9圖所不’以導電基材本體
Mil 構&為電鑄模板進行電鑄製程,使導電 二狀:^表面及純化膜4之表面與側壁形成-特定幾何 形狀之賀孔基體6(步驟11〇)。 如第10圖所示,接著即可進行脫膜程序,使嘴孔其 體6與導電基材本體la分離(步驟lu),將特定幾何形ς 之贺孔基體6所殘留之総層5 Μ去除(步驟112),而得 到一具有特定開孔角度之噴孔結構(步驟113),亦即,喷孔 基體6係呈一具有複數個噴孔之微結構。 請參閱第圖及第13圖所示,本發明之噴孔基體6 之表面61 #距佈設有複數個魏7,並包括有一第一開孔 孔徑、一第二開孔孔徑72,噴孔基體ό之底面62包括 有H留區73、-第二滞留區74,係由喷孔基體6之 底面62以一垂直方向ϊ向下凸伸—預定距離,並具有一滯 留面75,亚於二相鄰第一滯留區乃之間設置第二滯留區 74,且恰位於二相鄰之噴孔7之間,各個噴孔7係自噴孔 基體6之表面61貫穿至第一滯留區73之滯留面乃。 。貧孔基體6之表面61延伸至第一滯留區73之滯留面 75形成一基體總區段Η,並於噴孔基體6之表面6丨向内 漸紐至第一開孔孔徑71之接近幾何中心處形成一漸縮區段 200909062 h’且孔徑大小係自第—開孔· 71漸小至第二開孔孔徑 72 ’第-開孔孔控71及第二開孔孔徑72之間包括一喷孔 側壁.76 ’形成-漏斗狀之噴孔結構,第二開孔孔徑η之 ㈣中心與噴孔側壁76係形成有-切線角度Θ,較佳的, 错由漸縮區段h之厚度遠小於基體總區段h之厚度,使得 切線角度β大於20度’且足夠大之基體總區段Η厚戶以 保持噴孔基體6強度而不致於在操作時產生破裂。- ,上所述,當各個噴孔7注入一液體源“夺,液體源 L由弟-開孔孔徑71流經第二開孔孔徑7 通 過第一滯留區73之滯留而7ς卩士 ^ 於逍 於滞留面75,而藉::;,=留之液滴W聚集 相岫之第一滯留區73所 二液滴W㈣’形成較大之液滴w聚集^第二;留區 =得液體Μ在喷出形成液❹時,不會因液滴% U而造成嘴孔結構發生阻塞之現象(如第Μ圖所示)。 请參閱第15圖至第18圖,其係顯示本發明第 =步驟之結構示意圖,並請_參㈣Μ圖, 實施例製作具有料開孔角度之噴孔結構^ 本方法亦首先提供一導雷就44丄Μ 基材本體導電 基材本體。導電基材本㉟1係可:严所製成之 (centime㈣之板狀結構或厚度太數公分 膜結構。 不未(nan〇meter)之薄 在導電基材本體1選定欲執行雷射鑽孔· 10 200909062 (步驟202) ’然後以雷射 1之選定區域進行雷射鑽孔或:二之導電基材本體 材本體i形成有°Η步‘ 203),以在導電基 基材本體】b(步驟綱Γ在執及^個噴孔區域】2之導電 時,係以雷射光源產生裝置發射:::::或切割之技術 本體】之選定區域進行雷射鑽孔%射Μ ’對導電基材 後,==嘴孔區域12之導電基材本體lb之 1 -立m ^ 、月]只知弟6圖至第1()圖所示之,士 同。其後續步驟包括有:將 二 =材本“固定於一不導電之絕緣基材 = 205),於導電基材本體ib 上(入驟 鮮於形成預定圖型之導電基;本:==驟 Γ層(步驟2〇7)。對光阻層進行黃光微影製程= 有預定圖型之光阻圖型結構(步驟2G8)。以導電基材二 ^及光阻圖型結構為電鎊模板進行電轉製程 ^ 本體lb表面及鈍化膜之表面與側壁形成定幾:开=材 噴孔基體6(步驟期)。接著即可進行顧程序7 2 體6與導電基材本體分離(步驟叫,將特定幾何形狀之 孔基體6所殘留之光阻層予以去除(步驟 男 ... ) 而得到—0 有特定開孔角度之噴孔結構(步驟212)。 /、 請參閱第20圖至第24圖,其係顯示本發明第二 例各步驟之結構示意圖,並請同時參 —貝匕 』不A J團,其传顧 本發明第三實施例製作具有特定開孔角度之# 〜’ 法流程圖。 貝、〜構之方 200909062 在此—實施例中,本方法係以金屬沉積技術以及以印 刷電路板產業,採網版印刷技術或半導體產業之黃光微影 技術:在基材本體8形成一具有預定圖型及複數個噴孔區 域,本方法亦首先提供一基材本體8(步驟301),基材本體 8係可為軟式或硬式基材,在基材本體8上首先以金屬沉 積技術(例如以習用物理氣相沉積pvD或化學氣相沉積 CVD等金屬沉積技術)沉積一層金屬薄膜%步驟3〇2)。 接著以網版印刷技術或黃光微影技術,在金屬薄膜9 之表面形成-具有預定圖型之光阻層1〇(步驟狗,亦即 光阻層10具有透光區域10a與阻光區域1〇b,透過光阻層 10對金屬薄膜9進行關製程(步,驟3〇4)後,使光阻層 之透光區域1〇a底下之金屬薄膜9受到钱刻,而形成了 — 具有預定圖型之金屬薄膜lc(步驟3〇5)。在形成具有預定 =之金屬薄膜丨。之後’即可將光阻層予以去除(步驟 ,在形成具有複數個噴孔區域12之金屬薄膜L之後, 其後續之步驟即與前-實施第6圖至第1()圖所示之 意圖相同。其後續步驟包括有:於金屬_ ie —=化膜(步驟利,於形成狀_之導電基材本體1 制再形成一光阻層(步驟3〇8)。對光阻層進行黃光微与 二:形成具有預定圖型之光阻圖型結構(步驟309)。: 至屬4膜I c及光阻圖型纟士槿為雪铉y 導電基材本η表面及:==行電物’使 純化胲之表面與側壁形成一牯宏幽 可形狀之似錢6(步驟3iG)。接著即可進行脫膜程序,、 12 200909062 使喷孔基體6與基材本體分離(步驟川),將特定幾何形狀 之贺孔基體6所殘留之光阻層予以去除(步驟312),而得到 一具有特定開孔角度之噴孔結構(步驟313)。 请參閱第26圖至第川同 ^ 圖,其係顯示本發明第四實施 二二Ϊ之:構不意圖’並請同時參閱第30圖,其係顯示 法流程圖。 有特疋開孔角度之,孔結構之方 本實施例亦可以類似坌-电 法直接在金屬薄膜加工。本; :驟:),,基材本體8係可為軟式或硬式基材基::: 削戈金屬沉輪(例如以習用物理氣相沉積 上沉積-層金輪二屬沉積技術)在基材本體8 驟欲執行_孔或切割之區域(步 …、俊以田射鑽孔或切割 定區域進行雷射鑽孔或切割(步驟4叫,而i成/ 2選 定圖型之金屬薄膜ld(步驟4〇5)。)^成了一具有預 形成具有複數個噴孔區域12之 後續之步驟即與前―實 轉1d之後,其 圖相同。其後續步 θ #i〇圖所示之結構示意 純倾㈣,::於__之表面形成一 表面再形成-光型之_材本體1£|之 程,《形成具有預定Ηφ|丄對光阻層遥行黃光微影製 屬薄膜】d及光阻圓1 / ®㈣構(步驟彻《金 。構為電铸模板進行電鑄製程,使導 13 200909062 電基材本體〗d表面及鈍化膜之表面與側壁形成—特定幾何 =狀P孔基體6(步驟·P接著即可進行賴程序,使 體6與絲本财離(步驟),料^何形狀之 i 土 : 6所殘留之光阻層予以去除(步驟川),而得到一 ”有特定開孔角度之喷孔結構(步驟412)。 明,之實施例說明’僅爲本發明之較佳實施例說 而作-他依據本發明之上述實施例說明 所作^種稽^ 化。然而這些依據本發明實施例 定之專利範_。 自仍屬於本發明之發明精神及界 【圖式簡單說明】 第1圖=;10圖係顯示本發明第一實施例各步驟之結構示 第11圖係顯示本發明第一齒 喷孔結構之方_作具料Μ孔角度之 第12 7顯示本發明具有特定開孔角度之嘴孔結構之立體 第13 7顯示本發明具有特定開孔角度之纽結構之斷面 之脅孔結構之液體 弟14圖係顯示本發明具有特定開孔角户 聚集示意圖; 第15圖至第18 示意圖; 圖係顯示本發明第二實施例各步 驟之結構 14 200909062 第20.圖至第24 示意圖; 圖係顯示本發明第三實施例各步 驟之結構 第 之 驟之結構 第26圖至第29圖係顯示本發明第四實施例各步 示意圖; v 第30圖_示本發明第四實施例製作具 喷孔結構之方法流程圖。 、 開孔角度 之 【主要元件符號說明】 1 導電基材本體 la 導電基材本體 lb 導電基材本體 lc 金屬薄膜 Id 金屬薄膜 11 不導電之絕緣基材 12 喷孔區域 2 光阻層 21 透光區域 22 阻光區域 3 光阻層 4 鈍化膜 200909062 5 光阻層 5a 光阻圖型結構 6 噴孔基體 61 表面 62 底面 7 噴孔 71 第一開孔孔徑 72 第二開孔孔徑 73 第一滯留區 74 第二滯留區 75 滯留面 76 噴孔側壁 8 基材本體 9 金屬薄膜 10 光阻層 10a 透光區域 10b 阻光區域 H 基體總區段 h 漸縮區段 I 垂直方向 L 液體源 W 液滴 Θ 切線角度 16

Claims (1)

  1. 200909062 十、申請專利範圍: 1.-種具特定開孔角度之噴孔結構,係於—噴孔基體之表 面等距佈&有複數個噴孔,且各個噴孔係自該嗔孔基體 之表面貝牙至S亥噴孔基體之底面,各個喷孔包括有: —第一開孔孔徑; —第二開孔孔徑; 一第一滯留區,其係由該噴孔基體之底面以一垂直方向 向下凸伸一預定距離,並具有一滯留面; —第二滯留區,其係位於二相鄰第一滯留區之間,且恰 位於該二相鄰之噴孔之間; —基體總區段,其係由該喷孔基體之表面延伸至該第一 滯留區之滯留面; 漸縮區#又,其係由該噴孔基體之表面向内漸縮至該第 —開孔孔徑之接近幾何中心處,且孔徑大小係自第一 開孔孔徑漸小至該第二開孔孔徑。 2.如申請專利範圍第丨項所述之具特定開孔角度之喷孔結 構其中5亥各個喷孔係自該噴孔基體之表面貫穿至亨第 ―滯留區之滯留面。 ο •如申請專利範圍第丨項所述之具特定開孔角度之喷孔結 構,其中该第一開孔孔徑及第二開孔孔徑之間包括一噴 孔側壁,且呈一漏斗狀之噴孔結構。 17 200909062 4·:°申請專利範圍帛3項所述之具特定開孔角度之喷孔結 、〃中。亥第一開孔孔徑之幾何中心與該噴孔側壁係形 成有一切線角度。 5.=申請專利範„ 4項所述之具特定開孔角度之喷孔結 霉’其中該切線角度係大於2〇度。 申請專利範㈣!項所述之具特定開孔角度之喷孔結 籌’其中該漸㈣段之厚度係遠小於縣體總區段之厚 不里兵符疋開孔角度之噴孔製程 (a)提供一導電基材本體; / . 巴枯下列步,丨 * <χ> Ί /十、fijyj 9 ⑻::導=材本體之表面以網版印刷技術或黃光微影 技術,形成一具有預定圖型之光限層,並具有至小一 透光區域與阻光區域; 夕 総層對基材本體進行_製程,以形 成”有預定圖型及複數個噴孔區域 ⑷將光阻料財除; ^基材本體; ⑷於導電基材本體之表面再形成—光阻層; ⑴以黃光微影技術以形成具有^之 構; 回生之光阻圖型結 (g)以該導電基材本體及光阻 口 土。偁為電_模板進行電 200909062 鑄製程,以在該莫φ甘 導電基材本體及光阻圖型結構之表面 形成一特疋幾何形狀之喷孔結構; (h)進行脫膜程序,传 、 “ 貝孔、、·口構與該導電基材本體分 離,亚除去所殘留之光 . 角度之喷孔結構。層’而付到-具有特定開孔 8.如申請專利範圍第 程’其中步驟(b)中 光阻層。 員所述之具特定開孔角度之嘴孔製 该導電基材本體之底面亦形成有一 士申。月專利fe圍第7項所述之具特定開孔角度之喷孔製 程 '其中該導電基材本體係'以雷射鑽孔之技術在選定區 域形成具有預定圖型及複數個嗔孔區域之導電基材本 _申請專利範圍第7項所述之具特定開孔角度之喷孔製 私’其中步驟⑷之後更包括—於該導電基材本體之表面 形成一鈍化膜之步驟。 丨1.—種具特定開孔角度之噴孔製程,包括下列步驟: (a) 提供一基材本體; (b) 以金屬沉積技術在該基材本體上沉積一層金屬薄膜; (c) 以網版印刷技術或黃光微影技術,在該金屬薄膜之表 面形成一具有預定圖型之光阻層,並具有至少一透光 19 200909062 區域與阻光區域; (d) 透過該光阻層對該金屬 .^ 萄,専無進仃蝕刻製程,以形成具 -有預疋圖型及複數個噴孔區域之金屬薄膜; (e) 將光阻層予以去除; 、 ⑴於導電基材本體之表面再形成—光阻層, · ⑻以黃光«彡技術以形成具有財圖型之光阻圖型結 構; _該金制膜及光阻圖型結構為輯模板進行電鱗製 2,以在該金屬薄膜及光阻圖型結構之表面形成一特 定幾何形狀之噴孔結構; (1)進仃脫膜程序,使該喷孔結構與該金屬薄膜分離,並 除去所殘留之光阻層,而得到一具有特定開孔角度之 噴孔結構。 X 12.如申請專利範圍第11項所述之具特定開孔角度之噴孔 製程,其中步驟⑷之後更包括一於該金屬薄獏之表面形 成—鈍化膜之步驟。 7 20
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