TW200906538A - Machine tool monitoring apparatus - Google Patents

Description

200906538 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明關於申請專利範圍第1項的引文的— 裡工具機 監視裝置。 【先前技術】 檢出單元以作 有一種習知之工具機監視裝置，具有一 材料辨識。 【發明内容】 本發明關於一種工具機監視裝置，具有—檢出單元， 該檢出單元用於利用一輻射線的光譜分析將一工具機工作 範圍中的材料種類的存在檢出，依本發明該檢出單元 個感測器單元，其具有至少一接收範圍用於在—波長範圍 將幸虽射線檢出’ 1¾波長範圍i少部分在红外線光譜中。 、如此可在一種工具機廉價地將使用，It況可靠而迅速地 境中的工具機的範圍。工具的丹《直接的環 別指該範圍的各點距工具二直：」核境的範圍-詞特 具有較小的距離’此距離最大為 一且宜最大5cm，尤宜最大2cm。 大為 :輕射線」(光束)一詞’在這方面特別指一種 :射線。由於感測器單元檢出的的輻射線&「光譜」特別 二:二線特性值的分佈，特别是輻射強度和波長、頻率及/ 關：二外，韓射線的「光譜分析」特別指It " ’、刀析結果藉著純射線的光譜特性檢出而 200906538 得到。為了達成迅速分析，光譜的特性特 範圍内積分的信號強度。 疋才曰在波長 有4C具機時達到高度安全性，該檢出單元宜 一道被感測器單元檢出的輕射線分析， =二手&用於利用該轄射線檢出工具機工 有人的組織存在。 疋占 r 1 :本：明一較佳實施例，該用於檢出存在的檢出單元 二乍檢ΓΓ到一研究物體上的轄射線的反射光譜分析 類的檢出。’達成一種基於對比檢出的有效的材料種 的檢皮t範圍為近中紅外線範圍，則可達成特別可靠 射光供一種接收範圍’它係依標的調頻到反 及分析的範圍。「近中紅外線範圍」-詞在 ^者：是指紅外線光譜的波長區間在波長15微米以 米以;之^如果用於檢出輕射線的接收範圍在波長8微 : 、‘工外光4的波長區域，則在組織與材料之間有很 「近紅外線範圍/了近紅外線範圍時，則很有利。 區門在'古具 在這方面係指紅外線光譜的波長 區域：广5…下’例如特別是在IK-A範圍的波長 範圍中。波長範圍可部分地在電磁波光譜的可見光 如果檢出單元有一發私一 該波長範圍中具有至少—種 於發射的韓射線在 號強度的分析信號。種比例，則可達成-種具有高信 200906538 在本發明另一設計中，該 *範圍及至少另-波長範圍發於連續地在該波 在所要波長II圍中產生—輻 ^如此可依標的 ^ ^ ,5 ^線，、中當利用感測器單元 仏出該射線’可省却—道繁複的 號/噪音比。如果發射單元至少固 °達成咼信 成、，时 v有—個（特別是至少有三個） 感測器手段在各一個；^ @ 产 π /皮長乾圍發射輻射線，則這點可 特別簡單地達成，該感測器丰讲+ * 只』、點了 作。此外，在二個波長範圍中「 干連續刼 逆項」發射一詞係指在筮 一波長範圍的發射和第二波長範圍的發射大致不重疊= 此，在一波長範圍中觀察，在二個波長範圍中同時發射輻 射線的這種重疊的期間要少於 你及長範圍中最小的發鼾 期間的10。/。，且宜少於5%， ^ 式係為發射過程無重疊，其中利用特別有利的^ 里豐具中利用该發射單元發射互 離的脈波。 此外，該工具機監視裝置有一光學單元，它用於確定 檢出單元的一反應範圍。檢出單元的「反應範圍」一詞特 別指一空間區域’它和一個可被檢出單元所作的過程相關 聯，此過程在該空間區域中存在著該種材料的—物體時就 起動。此反應範圍宜對應於該工具機工作範圍的至少 部分範圍。如不採此方式另外（或者除了此方式之外同時= 外）也可設有一反應範圍，它與工作機工作範圍不同。舉例 而言，此反應範圍可用於作工具機監視裝置的警告功能，1 該檢出單元宜與一個動作器（Aktorik)單元呈作用連接，其 中，在反應範圍中存在該種材料的物體時，則造成動作器 7 200906538 單元操作，例如用於工且 和-個接在感測考… 動單元停住。光學單元可 果工作機監視裝置有一 _ ^中的光學系統對應。如 不同上述方式―道輻射線，則如 接在發射單元11式外’㈣）也可另外和一個 單元，可使，安全而舒適=統該光學 反應可限制在—有限的範圍。檢出早兀的 該感測器單元官Is, 一波+範圍由^ v另一接收範圍，它用於將另 、圍中的輕射線檢出，如此 的確實性更蔣古_ 牡桡出材科種類方面 呵。這些波長範圍可以重疊。成 測器單元至少有三個接收範圍，它們丄:；如果感 波長範圍中的各用於把在一不同的 μ料檢出，射達成特料確的檢出。 —種光：粒面’该檢出單元有-分析手段’用於利用至少 —種先束特性值的比例檢出一 ^ 各和-不同波長範圍的轄射線相關子’该-特性值 速檢出。―丨^ =彳_ ^此可有利地迅 、疋可不考慮一道參考光束。「光束特性值 -詞特別是指該特性值係利用入射到感測号單元二^ 檢出者。此特性值可特別為一電的特性值:、束 式，月r較佳實施例中，該波長範圍設計成狹頻帶 '員帶波長範圍」一詞在這方、^ ^ ^ 的頻帶寬度最大1〇〇奈米，且宜最別才曰5亥波長犯圍 奈米’特宜最大1〇夺米，如此 奈水’宜最大20 束的結構繁複的渡波作業。 ㈣瘤却檢出之光 卜如果工具機監視裝置有一標示單元，它用於標 200906538 示反應區域，則有利於操作舒適性。 其他的優點見於以下圖式的說明，圖式中顯示本發明 的實施例。圖式、說明、及申請專利範圍包含許多特徵的 組合。行家也可適當地將這些特徵個別看待並有利地組合 成其他組合方式。 【實施方式】 圖1顯示一設計成枱圓鋸形式的工具機（1〇)的側視圖。 工具機（10)有一設計成盤形鋸片形式的工具（12)，它在一鋸 切操作中利用一驅動單元（16)驅動旋轉，驅動單元（16)設在 一驅動器殼體（14)中且設計成馬達形式。有一鋸枱（18)設置 支持在驅動器殼體（14)上，所要加工的工作物（2〇)可放在該 鋸枱（18)上。為了保護使用者，工具機（1〇)有一護罩，它在 工具機（ίο)不操作的狀態時，將工具（12)之從鋸枱（18)突伸 出的部分完全圍位。為了將工作物加工，該工作物以習知 方式沿一工作方向（24)朝工具（12)的方向被使用者移過去， 圖中以示意方式顯示其一隻手（26) ^在此，該護罩（22)[它 支承成可繞一旋轉軸（28)轉動]經工作物（2〇)向上驅轉，如 此工具切割緣精細的設定。 為了提高操作安全性，工具機（1〇)設有一工具機監視 裝置（1〇)，工具機監視裝置（30)有一檢出單元（32)，它用於 檢出在工具機（10)的一工具機工作區域（34)中是否有人的組 織存在。圖2中的工具機（1〇)上視圖由上可看到此工具機 工作區域（34)。為了 一目了然起見，在圖2中不顯示護罩 (22) ’檢出單元（(32)有一反應範圍（36)，它和一個與驅動 200906538 單元（16)_合的動作器單元⑽配合，該 單元⑽呈作料接（見圖 $ &早疋與檢出 到在反應範圍(岣中有人的組織存果 到動作器單元（38)，它利用士 μ '動作仏號傳輸 刮用此動作信號將驅 住。反應範圍⑽對應於工具機加工 ： =’::分_工作方向設在工具二= 例子中，檢出單元⑽設在護罩（22)前區域。在—變更= 例中，可考慮檢出單元（32)設在一縫隙換、 及/或鋸括（18)上方—„上^ U㈣3 5兒a月檢出單元的功能原理圖中顯示鑛括 (18)、工作物（2〇)與檢出單元（32)的示意。為了 —目了秋起 見二圖巾殘h具（聯解（Μ)。在卫作物⑽上在、反 應範圍（36)中設有—研究物體（4())，此研究物體州可特為 為手（26)。檢出單元（32)有—發射單元（42)(圖中作示意圖 I )，它在操作時將一道光束Si發射到反應範圍幻中。此 光束（so反射到研究物體（40)，且呈光束Sr的方式被檢出 單元（32)的一感測器單元（44)(圖中作示意圖示）接收。發射 單元（46)和感測器單元（44)上游接一光學單元（46)，光學單 疋（46)有一透鏡單元（圖未示），它確定反應範圍（36)的界 限’光束（SJ在此界限中發射。此外，透鏡單元設計成將 發射單元（44)的接收限於在反應範圍（36)中反射的光束 SR°光學單元（46)有一光軸（48)。此外，工具機監視裝置（30) 有一標示單元（49)，它在圖3中示意圖示，且在檢出單元（32) 操作’藉著投影到鋸枱（18)標示檢出單元（32)的反應範圍 200906538 (3 6)。舉例而言，標示單元(49)可設計成雷射標示器形式。 如不採此方式（或除了此方式外同時另外）也可由發射單元 (42)払不反應範圍（36)，發射單元在可見光頻域中產生一道 光束成分。 圖_4顯示檢出單元（32)的發射單元（42)和感測器單元 (44)的鈾視圖，其中光軸（48)和圖面相反。發射單元（A】）有 一發射手段（5〇)，它設計成LED形式。在發射手段（5〇)周 圍汉有感測器單元（44)的四個感測手段（52)，它們各設計成 光二極體形式。 感測手段（52)各有一接收範圍（54)，它用於接收不同的 ^ 長範圍 m山]，WL2 = U3，A4]，WL3 = U5U6]， 或WL4=[ Λ 7,久8]中的輻射線。這點在圖5中作示意圖示。 圖頌示感測器單元（44)的透過因數和該被感測單元（44)接 收的反射光束Sr的波長又的關係走勢圖。舉例而言，此波 長範圍WLl的中心波長為630奈米、700奈米、98〇奈米、 、，不米及1200奈米，且設計成狹頻帶式，各有約1〇奈 米的頻▼寬度。感測器單元（44)除了感測手段（52)外，可設 二:濾波構件的系統，以將接收的光束SR作狹帶式濾波， 二系、先接在感測手段（52)上游。當感測手段（52)做成選擇性 光二極體時，狹頻帶式濾波作用為系統固有者，如此，其 „構件可有利地避免，如不用此方式(或除了此方式外 同時另夕卜）也可將感測手段（52)設計成CCD或cm〇s場、 InGaAs檢出器、焦電式檢出器等方式。 波長範圍Wh、WL2、WL3、WL4係在紅外線光譜中。 11 200906538 這些波長範圍WLi、WL2、WL3、WL4特別為近紅外線光 譜IR-A的一範圍，界限值為[7〇〇奈米、ι4〇〇奈米]、波長 範圍WL1至少部分地在電磁光譜的可見光範圍。如不採此 方式（或除了此方式外同時）另外也可選用紅外線範圍1尺_及 (1.4〜3彳政米）及ir_c(3〜15微米）的波長範圍。具有發射手 段（50)的發射單元（42)產生一光束，它包含圖5所示的波長 範圍。 在檢出單元（32)的反應範圍（36)中將人纽織的存在檢出 的原理兹利用6、® 7、8說明。圖6顯示反射到研 物體（40)上被感測手段（52)檢出的光束&❶此反射光譜對 應於信號強度依光束Sr波長λ而^的分佈。感測手段⑼ 或接收範圍（54)各包含相關波長範圍叫中的反射光譜的 -部分。感測手段（52)的輸出端夹產生一光束特性值 它呈電壓形式。舉例而言，光束特性值、和該光束s的 信號強度Sl(它係在波長範圍％中積分者且在圖6 :用 陰影表不）成正比。 如圖7所示，光束特性值V】·設定到檢出單元（32)的- 分析手段（58)的輸入端。在另一 乃變更例中，可考慮將光束 特性值v;放大。在另一變更％巾，f + π 尺例干可考慮將光束特性值Vi 放大。在为析時，將這些光走极枯、， 束度值vi與一個資料庫 (Datenbank)(62)[它儲存在檢出 、 饱出早70 (32)的一儲存單元（60) 中J利用邏輯運算比例，此資粗庙+ 1》 ^ 卜 貧科庫在圖8中作示意圖示。在 第一分析策略中，所檢出的光支姓 的先束特性值Vi與儲存的值 A2、A3等比較。有一檢出變 ”各對（Vi、Α;)相關聯，該 12 200906538 檢出變數可假設為值“偽，，（F)或“真，，⑺。當值為“f” 時，在反應範圍(36)中不會存人組織存在。在一第二、變 更或附加的分析策略中利用分析手段（58)出不同之光 性值\之間的比例。這些比例與作AM、、等比較， 如上述，可確認反應範圍（36)中是否有人組織存在。藉著 求出比例可作與強度有關的檢出。此夕卜，在儲存單元⑽) 中可儲存有關感測手段（52)的光譜接收的資訊，這些資訊 可用於分析光束特性值Vi。 此處所述的檢出單元（32)為一類比式檢出單元，其中 反射光束SR的檢出或分析係只用類比方式達成。在此可根 據小的檢出時間或分析時間達成特別有效的檢出。同樣地 也可考慮將類比式及/或數位式信號處理手段組合使用或只 用數位式信號處理手段。 發射手段（50)發射一光束，其光束強度間呈恆定。在 —變更實施例中，檢出單元（32)有一變更的發射單元（64)， 發射道具可變強度的光束到反應範圍（36)中》這表示 於圖9及圖10中。圖9顯示感測器單元（64)，它產生一光 束Si ’該光束有一列脈波（68)且示於圖1〇中。圖1〇顯示 光束束S!的強度和時間t的關係走勢。一脈波（68)寬度約 100/z S。發射單元（64)用於將波長範圍WLi到WL4的光束 連續發射。在此，在一列四個先後相隨的脈波（68丨）〜（68句 中’脈波各和一不同的波長範圍WL广WL4相關聯。脈波（68) 對應於在不同之波長範圍發射的光束。為此，發射單 有多數發射手段（66.1)〜（66.4) ’它們各用於在不同波 13 200906538 長範圍WLj WL4發射。在此，脈波（681)的一發射手段（66i) 對應於波長範圍WLi等等。舉例而言，發射手段（66)可設 十成 £〇开^式’藉著在不同波長範圍中作連續的發 射，可省却該檢出之反射光束SR的繁複的濾波作業。 【圖式簡單說明】 圖1係具有一檢出單元的一個枱圓鋸的側視圖； 圖2係具有檢出單元的一反應區域的枱圓鋸的由上看 的上視圖； >圖3係檢出單凡的一示意圖，具有一發射單元以在反 心色圍心射光束，並有一感測器單元及一研究物體； 圖4係發射單元的發射手段及感測器單元的感測手段 的前視圖； 圖5係感測器單元的傳輸因數對波長的關係的走勢 圖； 圖6係反射到反射物體上的光束的反射光譜和波長 的關係； 圖7係；^出單元的内部電路； 圖8係儲存在檢出單元中的一資料庫； ^ 係用於產生脈波的檢出單元的另一變更之發射單 元； 圖1〇係一道由圖9的發射單元產生的光束的強度 【主要元件符號說明】 (10) 工具機 工具 14 (12) 200906538 (14) 驅動器殼體 (16) 驅動單元 (18) 鑛枱 (20) 工作物 (22) 護罩 (24) 工作方向 (26) 手 (28) 旋轉軸 (30) 工具機監視裝置 (32) 檢出單元 (34) 工具機工作區域 (36) 反應範圍 (38) 動作器單元 (40) 研究物體 (42) 發射單元 (44) 感測器單元 (46) 光學單元 (49) 標示單元 (50) 發射手段 (52) 感測手段 (54) 接收範圍 (54.1)-(54.4) 接收範圍 (58) 分析手段 (60) 儲存單元 15 200906538 (62) 資料庫 (64) 發射單元 (66.1)(66.4) 發射手段 (68) 脈波 (68·1)〜(68·4)脈波 Vi 光束特性值 Sr 光束 Si 光束 16

Claims (1)

1. 200906538 十、申請專利範面： 抑1· 一種工具機監視裝置，具有一檢出單元（32)，該檢 出單元用於利用一輻射線（SP)的光譜分析將一工具機工作 範圍（34)中的材料種類的存在檢出，其中：該檢出單元⑽ 有一個感測器單元(44)，其具有至少-接收範圍(54.2)用於 在波長範圍（WL2)將幸5射線檢出，該波長範圍至少部分 在紅外線光譜中。 2.如申請專利範圍第1項之工具監視裝置，其中： 該用於檢出存在的單元（32)藉著將一道反射到一研究 物體(40)上的輻射線(Sr)的反射光譜分析而檢出材料種類的 存在。 士申明專利範圍第1或第2項之工具監視裝置，其 中： /、 該波長範圍（WL2)為一近中紅外線範圍。 4·如申凊專利範圍第丨或第2項之工具監視裝置，其 中： 忒檢出單元（32)有一發射單元（42)(64)，用於發射一輻 射線，該輕射、線具至少一個在波長範圍（乳2)中的成份。 5·如申請專利範圍第4項之工具監視裝置，其中： |該發射單元用於發射連續在波長範圍（WL2)中及在至 少另—波長範圍（WLl) (WL3) (WL4)中的輻射線。 6·如申請專利範圍第丨或第2項之工具監視裝置，其 中： 有一光學單元（46)，用於確定檢出單元（32)的一反應範 17 200906538 圍（36) 〇 7. 如申請專利範圍第1或第2項之工具監視裝置，其 中： 該感測器單元（44)至少有另一接收範圍 (54·1)(54_3)(5 4·4)’該範圍用於將另一波長範圍（WL!) (WL3) (WL4)的輻射線檢出。 8. 如申請專利範圍第1項之工具監視裝置，其中： 【該檢出單元（32)有一分析手段（5 8)，用於利用至少二個 光束特性值（Vl) (V2) (V3) (V4)的比例將材料種類的存在檢 出，該特性值各和不同波長範圍（WL^WL^WL^WI^)中 的一輻射成份相關聯。 9. 如申凊專利範圍第1或第2項之工具監視裝置，其 中： ’、 該波長範圍（WL2)設計成狹頻帶式。 _ 10·種工具機，特別是切削工具機，具有申請專利範 《 圍第1項的工具機監視装置。 十一、圖式： 如次頁 18