TW200825372A - Flatness measuring apparatus - Google Patents
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Description
200825372 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於-種量測裝置,特別是指一種平 量測裝置。 _ & 【先前技術】 • 一奴系介在置測一得測平面的平坦度時,大多使用電 子式水平儀、光學自動準直儀、雷射干涉儀等儀器進行量 測,然而,上述量測儀器的價格高昂,且量測前需要進行 的前置作業相當麻煩’而量測時所需的時間也長,量測^ 的數據還必須經由運算與繪圖以進行判讀,所以,實際的 操作步驟複雜、費時且效率差,以致於無法對大量的二 平面進行量測,只能對少數工件進行抽測。因此,對 懸速且大量測量卫件表面平坦度的卫作場合而言,現有 【發明内容】 的畺測方法與儀器無法滿足實際市場的需求。 因此,本發明之目的,即在提供一種構造簡單而價格 ^低並且可以快速量測—待測平面平坦度的平坦度量測 裝置。 ;疋本發明平坦度量測裝置是用來量測該待測平面 的平坦度’該㈣裝置包含—座體、—滑魅、—滑接單 元’及一位移感測單元。 該座體是與該待測平面呈三點接觸,該滑動座可於該 二平面上滑動,並與該待測平面呈點接觸,當該滑動座 思者該待測平面的高低而起伏’該滑動座與該座體是沿一 5 200825372 轴線相對滑動。該滑接單元是連接該座體與該滑動座,使 該滑動座與該座體可沿該軸線相對滑動,該滑接單元具有 一連接該座體與該滑動座其中一者的第一滑接部,及一連 接該座體與該滑動座另外一者的第二滑接部。該位移感測 單元是用來感測該滑動座與該座體相對移動量,且連接於 該座體與該滑動座其中一者,並具有一朝向該座體與該滑 動座另外一者的位移感測部。 【實施方式】 有關本發明之前述及其他技術内容、特點與功效,在 以下配合參考圖式之一個較佳實施例的詳細說明中,將可 清楚的呈現。 參閱圖1、2、3,本發明平坦度量測裝置i之較佳實施 例是用來量測一待測平面s的平坦度,該量測裝置i包含 -座體1〇、一滑動座2〇、一滑接單元3〇、一位移感測單元 仙、一靈敏度調整單元50、一提把6〇,及一推桿川。該座 體10具有-底板u、三設置於該底板u、該待測平面s 之間,且㈣接觸該底板u與該待測平面s的支撑微調件 7-固定於該底板“上方的塾高板13、一固定於該塾高 板13上方的上板14,及一與該上板14連接的固定板15。 該底板11具有—面向該待測平面s的底面⑴,及三 自該底面111凹陷’且非直線排列並間隔設置的螺孔112 。該等支擇微調件12分別具有一與該螺孔 段121,及一與該待測平 ㈣的螺紋 十面3呈可Μ動地點接觸的接觸段 :二個點可決定—個平面,藉由該等支#微調件12 6 200825372 的螺進、螺退,可調整該待測平面s與該底板u底面^ 的距離,直到該底板11的底面lu與該待測平面s平行。 該滑動座20可於該待測平面s上滑動,且與該待測平 面s呈點接觸,並藉由該滑接單元3〇與該座體滑接。 該滑動座20具有一面向該待測平面s的滑座底面21、一與 該滑座底面21相背設置的滑座頂面22、一二 21凹陷的螺孔23、一螺接於該螺孔23的抵接= 連接於該滑座頂面22的測鈷25〇該抵接件24具有一與該 螺孔23螺接的螺紋段241,及一與該待測平面s呈可滑動 地點接觸的接觸段242。藉由該抵接件24於該螺孔23内螺 進、螺退,可調整該滑座底面21與該待測平面s之間的距 離。 參閱圖2、3、4,該滑接單元3〇是連接該座體1〇與該 滑動座20,使該滑動座20與該座體1〇可沿一轴線l相對 β動。該滑接單το 30具有一連接該底板u的第一滑接部 31,及一位於該滑動座20且與該第一滑接部31沿該轴線L ’月接的第一滑接部32。當該滑動座20、該座體同時於 該待測平面s上滑動時,該滑動座2〇的抵接件24與該待 测平面S抵接,且隨著該待測平面s的高低起伏,相對該 座體10沿該轴線L上下滑動(見圖4)。本實施例中,該第 一滑接部31實質上是一呈鳩尾狀的鳩尾槽,該第二滑接部 32實質上是一呈鳩尾狀且與該鳩尾槽配合的鳩尾塊,然而 於實際運用fcr,該瑪尾塊、鳩尾槽的位置可以互換,甚 至該滑接單元30也可採用改良式的鳩尾槽、τ型槽,或是 7 200825372 線性滑軌等構造(圖未示), 20相對滑動的功效。 來達成該座體1〇與該滑動座
上(®未示),錄_„元4G單元仍可達成感測該 滑動座20與該座體1〇相對移動量的功效。 該位移感測單元40具有一與該座體1〇固定板Μ固定 、的連接41、-與該咖25抵接的位移感測部u, 及-顯示該滑動座20與該座體1〇相對移動量的位移顯示 部43。本實施例中,該位移感測單元*是一連接於該座體 1〇上的指針式千分表頭’該位移感測部42是該千分表頭抿 接該測钻25的探測頭或探針,該位移顯示部43是該千分 表頭的-旋轉指針’實際運用時,採用數位式的千分表頭 ’或是百分表頭等都具有相同功效;此外,若該位移感測 早兀40固定於該編2〇上,且該測钻25連接於該座體 該靈敏度調整單元50包括一螺穿過該固定板15螺穿 孔151的調整件51、一與該上板14連接且位於該固定板 15與該滑動座2G之_壓板52,及—抵接於該壓板& 該滑動座20之間的彈性組件53。該壓板52具有一朝向該 固定板15且供該調整件51抵接的頂面521,及一朝向該滑 動座20的底面522。該彈性組件53實質上是一壓縮彈簧, 並具有一與該壓板52底面522抵接的第一端部531,及一 與該滑座頂面22抵接的第二端部532。 如圖5所不,當該調整件51螺進時,該調整件51抵 住並壓迫該壓板52頂面521,迫使該壓板52遠離該座體 10上板14的一端朝向該滑動座2〇方向彎曲變形,進而使 8 200825372
該壓板52底面522抵壓該彈性組件53的第一端部53i,使 該彈性組件53被壓縮儲能且頂推該滑動座20;如圖4所示 ,相反地,當該調整件51螺退時,該壓板52遠離該座體 的一端而復位,該彈性組件53釋能而放鬆該滑動座2〇 本實靶例中,若省略該壓板52,該調整件51螺穿過該固 疋板b後抵接該彈性組件53的第一端部531 (圖未示), 即該彈性組件53是位於該調整件51與該滑動座2〇之間, 則該靈敏度調整單元5〇也具有相同功效。 使用者對該待測平面s進行平坦度量測時,首先,分 别轉動該等支撐微調件12相對該底板U螺進、螺退,使該 座體ίο置於該待測平面s時,該座體ig的底面⑴平行 該待測平面S。本實施例中,藉由轉動該等支撐微調件12 杳直到該底板u底面⑴與該待測平面s平行,“,於 2運用時’也可螺退出該等支撐微調件12,使該底板U 等二 =貼觸該待測平面s(圖未示),意即省略該 座底面外,也可螺退出該抵接件24,使該滑 件以 直接貼觸該待測平面s(圖未示)而省略該抿接 =目1接著,手提該提把6G,將本發明置於待測 動或㈣將該位移感測單元40調整歸零,然後,推 該待測平面V上Γ動使該座體10、該滑動座20兩者均在 ,該滑動座2。二體::’若該待測平面s表面不平坦 離η日 ,、座體10將相對上下滑動一距離D,誃距 卩為該待測平面S表面的高低落差,該位移感測部二 9 200825372 可感測出該測鈷25移動該距離D,該位移顯示部43的指針 即可顯示該滑動座20與該座體1〇的相對移動量,即測得 該待測平面S表面的高低落差值,並藉由一警示單元(圖 未示),對於超過允收標準的待測平面S發出警告聲。
參閱圖5,當使用者轉動該靈敏度調整單元50的調整 件51,使該彈性組件53壓迫或放鬆該滑動座20,該滑動 座20因為被壓迫或放鬆,使該滑動座2〇、該座體1〇的相 對滑動阻力改變,該位移感測單元4〇感測到該滑動座2〇 相對該座體1〇的位移變化速度及數值將略有不同。實際運 用時,若省略該靈敏度調整單元5〇 ,本發明仍可達成快速 量測該待測平面S平坦度的功效。 經由以上的說明,可再將本發明的優點歸納如下: 參閱圖2、4,由於該滑動座2〇可相對該座體1〇沿該 軸線L滑動,當本發明於該待測平面s上滑動時,若該待 測平面8不平坦而有一高低落差,該滑動座20、該座體1〇 將沿該軸線L相對滑動而有該距離,再由該位移感測單元 4〇感測騎動座2G、該座體1()的雜,即可測得該待測 :面S的平坦度是否在可接受的範圍内,因此本發明不但 疋體積小、構造簡單且低成本,更可以迅速地對該 面S進行平坦度的量測與評估,且適用於任何材質工件千 例如石材裁切與研磨、機械铣切與研磨加卫後等曰 番 。 丁 —反 歸納上述,本發明之平坦度量測裝置1,是藉由該待f 平面S不平括的古彻笈M 以待測 十-的河低洛差,將使該滑動座2〇與該座體1〇 10 200825372 之間有該距離D,導致該滑動座2〇該座體1〇沿該軸線乙 相對滑動,再由該位移感測單元4〇感測該距離d,因此整 體構造簡單而成本低,所以可對大量待測工件進行快速量 測,故確實能達到發明之目的。 惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,當不 旎以此限定本發明實施之範圍,即大凡依本發明申請專利 範圍及發明說明内容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍 屬本發明專利涵蓋之範圍内。 【圖式簡單說明】 圖1是本發明平坦度量測裝置一較佳實施例的立體示 意圖; 圖2是該較佳實施例的一侧視示意圖; 圖3是一底視示意圖,說明該較佳實施例的一第_滑 接部是一鳩尾槽,一第二滑接部是一鳩尾塊; 圖4是一侧視示意圖,說明該較佳實施例的一待測平 面具有一高低落差,導致一座體與一滑動座相對滑動而有 一距離;及 圖5是一側視示意圖,說明該較佳實施例的一調整件 迫使一壓板變形而壓迫一彈性組件,進而使該彈性組件壓 制該滑動座。 11 200825372
【主要元件符號說明】 L…… •…轴線 241 …* •…螺紋段 S…… …·待測平面 242 …, •…接觸段 D…… …·距離 25…… …*測鈷 卜…· •…平坦度量測裝置 30···· …·滑接單元 10"··. •…座體 31…… -滑接部 11 ·.··. …·底板 32·.·.· •…第二滑接部 m… •…底面 40·.·.· •…位移感測單元 112… …··螺孔 41 ·.··· •…連接部 12·…. •…·支撐微調件 42*···· •…位移感測部 121 ·· …·*螺紋段^ 43····· •…位移顯示部 122… 接觸段 50··· •…靈敏度調整單元 13… ••…塾高板 51 ····· •…調整件 14·… ••…上板 52··… …·壓板 15·… ••…固定板 521… —頂面 151 ·· ••…螺穿孔 522… •…底面 20·"· •…·滑動座 53-·* •…彈性組件 21…* ••…滑座底面 531 •…第一端部 22…· 532… •…第二端部 23…· •…·螺孔 60•.… ….k把 24·… ••…抵接件 70"… •…推桿 12
Claims (1)
- 200825372 、 十、申請專利範圍: 1·種平坦度$測裝置,是用來量測—待測平面的平坦度 一 ’該量測裝置包含: a 座體’與該待測平面呈三點接觸; 一滑動座’可於該待測平面上滑動’並與該待測平 面呈點接觸,當該滑動座隨著該待測平面的高低而起伏 ,該滑動座與該座體是沿一軸線相對滑動; 馨一滑接單元,是連接該座體與該滑動座,使該滑動 座與該座體可沿該轴線相對滑動,該滑接單元具有一連 接該座體與該滑動座其中一者的第一滑接部,及一連接 該座體與該滑動座另外一者的第二滑接部;及 一位移感測單元,是用來感測該滑動座與該座體相 對移動量,且連接於該座體與該滑動座其中一者,並具 有一朝向該座體與該滑動座另外一者的位移感測部。 2·依據申請專利範圍第丨項所述之平垣度量測裝置,其中 • ,該座體具有一面向該待測平面的底板,及三設置於該 底板與該待測平面之間,並同時接觸該底板與該待測平 面的支撐微調件,該底板具有三個不呈直線排列且間隔 設置的螺孔供該等支撐微調件螺接,每一支撐微調件具 有一與該螺孔螺接的螺紋段,及一與該待測平面里點接 觸的接觸段,每一支撐微調件藉由於該底板的該螺孔内 螺進、螺退,調整該待測平面與該底板的距離。 3·依據申請專利範圍第1項所述之平坦度量測裝置,其中 ,該滑.動座具有一面向該待測平面的滑座底面,及一設 13 200825372 置於該滑座底面與該待測平面之間,並同時接觸該滑座 底面與該待測平面的抵接件,該滑動座具有一螺孔供該 抵接件螺接,該抵接件具有一與該螺孔螺接的螺紋段, 及一與該待測平面呈點接觸的接觸段,每一抵接件藉由 於該滑動座的該螺孔内螺進、螺退,調整該待測平面與 該滑座底面的距離。 4·依據申請專利範圍第1項所述之平坦度量測裝置,更包 含一靈敏度調整單元,該靈敏度調整單元包括一與該座 體螺接而且可螺進、螺退的調整件,及一抵接於該調整 件、該滑動座之間的彈性組件,當該調整件相對該座體 螺進時’該彈性組件被該調整件壓縮儲能而頂推該滑動 座’當該調整件相對該座體螺退時,該彈性組件釋能而 放鬆該滑動座。 5·依據申請專利範圍第4項所述之平坦度量測裝置,其中 ,該座體更具有一固定板,該靈敏度調整單元更包括一 與該座體連接且位於該固定板與該滑動座之間的壓板, 該壓板具有一朝向該固定板的頂面,及一與該頂面相背 設置且朝向該滑動座的底面,該調整件螺穿過該固定板 的'^螺穿孔後’抵接於該壓板的頂面,該彈性組件是位 於該壓板與該滑動座之間,當該調整件螺進時,該調整 件抵壓該壓板頂面,使該壓板遠離該座體的一端朝向該 滑動座方向彎曲變形,進而使該壓板底面抵壓該彈性組 件,使該彈性組件被壓縮而儲能,當該調整件螺退時, 該壓板遠離該座體的一端復位。 14 200825372 6·依據中請專利範圍第4項所述之平坦度量測裝置,其中 組件為—壓縮彈簧,並具有-抵接該調整㈣ 弟 ^ # ’及一抵接該滑動座的第二端部。 7.依據^專利範圍第1項所述之平坦度量測裝置,其中 ,該第一滑接部是連接該^,該第二滑接 接 滑動座。 運接該 8.依據申請專利範圍第7項所述之平坦度量測裝置,其中 ,該第一滑接部是一呈鳩尾狀的鳩尾槽,該第二滑接部 是一呈鳩尾狀且與該鳩尾槽配合的鳩尾塊。 9·依據申請專利範圍第1項所述之平坦度量測裝置,其中 ,該位移感測單元是一個千分表,並具有一與該座體固 定連接的連接部、與該滑動座抵接的該位移感測部,及 一顯示該滑動座與該座體相對移動量的位移顯示部。15
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Cited By (1)
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TWI610062B (zh) * | 2016-10-27 | 2018-01-01 | 財團法人工業技術研究院 | 平面度量測裝置 |
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TWI610062B (zh) * | 2016-10-27 | 2018-01-01 | 財團法人工業技術研究院 | 平面度量測裝置 |
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