TW200540751A - Liquid crystal display panel having a cell test structure and method for making the same - Google Patents

Liquid crystal display panel having a cell test structure and method for making the same Download PDF

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Description

200540751_ 五、發明說明(1) 【發明所屬之技術領域】 法 方 作: 製St 其te 及 Ti 板 '""_ 才e 面 C 一不則 顯測 晶盒 液晶 種液 -- 於行法 關進方 係便作 明方製 發種其 本一及 是板 別面 特 示 顯 晶 液 之 術 技 前 先 列來 排件 狀元 陣子 矩電 成等 用墊 利接 是轉 要、 主容 板電 面的 示當 顯適 晶合 液配 體, 晶體 電晶 膜電 薄膜 薄 的 晶污位 電射數 膜輻人 薄無個 於及、 由以腦 。少電 形量型 圖電記 的耗筆 麗、在 亮薄用 富輕應 豐型地 生外泛 產有廣 以具被 ,板此 素面因 像示, 晶顯性 液晶特 動液等 驅體染 上 品 產 訊 資 式 帶R1 C 攜之 等腦 理電 助型 勢 趨 的 器 視 監 上 桌 統 傳 代 取 漸 逐 有 已 至 甚 請參考圖一與圖二,圖一係為一液晶顯示面板的示 意圖,圖二係為圖一所示之資料線驅動晶片設置區的内 部示意圖。如圖一所示,一液晶顯示面板1 0包含有一下 基板1 2,一上基板1 4設置於下基板1 2之上方,以及一液 晶分子層(未顯示)填充於上基板1 4與下基板1 2之間,其 中上基板1 4係以虛線表示,以避免圖示產生混淆。此 外,液晶顯示面板1 0另包含有複數條掃描線1 6與複數條 資料線1 8,各掃描線1 6與各資料線1 8均係設置於下基板
第7頁
200540751 五、發明說明(2) 1 2上,而且各掃描線1 6係垂直於各資料線1 8。另一方 面’上基板1 4係為^一彩色慮光片’用來使液晶顯不面板 1 0可顯示彩色晝面。 此外,如圖一所示,下基板12之表面包含有至少一 掃描線驅動晶片設置區2 0 5用來設置一掃描線驅動晶片 (未顯示),以及複數個資料線驅動晶片設置區2 2,分別 用來設置一資料線驅動晶片(未顯示)。其中,該掃描線 驅動晶片係用來輸出開關/定址訊號至各掃描線1 6,而各 該貢料線驅動晶片則是用來輸出影像貢料訊號至各貢料 線1 8。並且,如圖二所示,各資料線驅動晶片設置區2 2 均係包含有一短路配線(s h 〇 r t i n g b a r ) 2 4以及複數個接 合墊26,其中,位於資料線驅動晶片設置.區22内之各資 料線1 8均係連接至短路配線2 4,而各接合墊2 6則是用來 貼附至各該資料線驅動晶片上的凸塊(b u m p )。另外,由 於掃描線驅動晶片設置區2 0之内部結構係與各資料線驅 動晶片設置區2 2相似,因此不再贅述。 一般而言’在各該資料線驅動晶片與該掃描線驅動 晶片貼附至各貧料線驅動晶片設置區2 2與掃描線驅動晶 片設置區2 0之前,通常會先進行一液晶盒測試於液晶顯 示面板1 0上,以先行檢查液晶顯示面板1 0是否有異常的 顏色顯示。待液晶盒測試進行完畢之後,再利用雷射來 切斷短路配線2 4與各資料線1 8之間的連線,之後再將各
200540751_ 五、發明說明(3) 吕亥貢料線驅動晶片貼附至各貢料線驅動晶片設置區2 2 上、以及將該掃描線驅動晶片貼附至掃描線驅動晶片設 置區20上。 並且,在前述之液晶盒測試中,短路配線2 4便係用 來輸入一測試訊號給予各資料線1 8,隨後再由人工來檢 查液晶顯示面板1 0的顏色顯示,因此為使短路配線2 4可 接收到該測試訊號,短路配線2 4必須連接至一測試墊, 該測試訊號才可經由該測試墊而輸入短路配線2 4内。然 而,如圖二所示,各接合墊2 6係佔據了資料線驅動晶片 設置區2 2的大部分空間,因此資料線驅動晶片設置區2 2 之内便沒有足夠的空間來設置短路配線2 4所需之測試 .墊。此外,即使將短路配線2 4所需之測試墊設置於資料 線驅動晶片設置區2 2之外,但是由於相鄰兩接合墊2 6之 間的距離d很小,短路配線2 4也無法延長至資料線驅動晶 片設置區22之外部。 因此,請參考圖三,圖三係為習知之液晶盒.測試的 示意圖。如圖三所示,習知的液晶盒測試通常是將一導 電橡皮2 8貼覆於各短路配線2 4的表面,然後再將一測試 訊號輸入導電橡皮2 8 ’該測試訊號係經由各短路配線2 4 而輸入至各資料線1 8。不過,由於習知的液晶盒測試係 輸入同一測試訊號至各資料線1 8,因而無法對紅色像 素、綠色像素與藍色像素分別測試,進而使某些缺陷種
第9頁 200540751_ 五、發明說明(4) 類無法被檢查出來,因而無法提供完整的缺陷訊息給予 工程人員。 【發明内容】 因此,本發明的目的之一是提供一種方便進行一液 晶盒測試之液晶顯不面板,以解決前述之問題。 本發明之另一的目的是提供一種液晶顯示面板之製 造方法,以解決前述之問題。 依據本發明之目的,本發明的較佳實施例係提供一 種液晶顯示面板,其包含有一基·板,複數條第一導線與 第二導線,平行且交錯地設置於該基板上,一第一短路 配線,連接至該等第一導線,以及一第二短路配線,連 接至該等第二導線。此外,該基板之表面包含有複數個 第一驅動晶片設置區,分別用來設置一第一驅動晶片, 並且該等第一導線與第二導線係用來接收來自該等第一 驅動晶片之訊號,而且該第一短路配線與該第二短路配 線均係貫穿該等第一驅動晶片設置區。 依據本發明之另一目的,本發明的較佳實施例係提 供一種製作一液晶顯示面板的方法,首先提供一第一基 板以及一與該第一基板相對之第二基板,並且該第一基
第10頁 200540751__ 五、發明說明(5) 板之表面包含有複數條平行的第一導線以及一連接至該 等第一導線之第一短路配線,接著利用該第一短路配線 以進行一液晶盒測試,隨後進行一切割製程以切斷該第 一短路配線與該等第一導線之連線,最後將複數個第一 驅動晶片設置於該第一基板上,並利用該第一短路配線 來串接該等第一驅動晶片,其中各該第一驅動晶片係用 來輸出一訊號至該等第一導線。 由於本發明之短路配線係可用來進行液晶盒測試以 及串接該等驅動晶片,所以本發明係可減少導線之數 目,進而達到節省空間之功效。 【實施方式】 請參考圖四至圖六,圖四係為本發明第一實施例之 -液晶顯不面板的不意圖,圖五係為圖四所不之貧料線 驅動晶片設置區的内部不意圖,圖六係為圖四所不之掃 描線驅動晶片設置區的内部示意圖。如圖三所示,一液 晶顯示面板40包含有一下基板42,一上基板44,設置於 下基板4 2之上方,以及一液晶分子層(未顯示)填充於上 基板4 4與下基板4 2之間,其中上基板4 4係以虛線表示, 以避免圖示產生混淆。此外,液晶顯示面板4 0另包含有 複數條平行且交錯之掃描線4 6 a與掃描線4 6 b,各掃描線 4 6 a與4 6 b均係設置於下基板4 2上。另外,液晶顯示面板
第11頁 200540751 _ 五、發明說明(6) 4|)還包含有複數條資料線48][?,設置於下基板42上並係用 來傳送二紅色影像訊號,複數條資料線4 8 G,設置於下基 板4 2上並係用來傳送一綠色影像訊號,以及複數條資料 線4 8B ’設置於下基板42上並係用來傳送一藍色影像訊 號。另一方面’上基板44係為一彩色濾光片,用來使液 晶顯示面板4 0可顯示彩色晝面。 如圖四所示,下基板4 2之表面係包含有至少一掃描 線驅動晶片設置區5 〇,用來設置一掃描線驅動晶片(尚未 貼附於下基板4 2上),以及複數個資料線驅動晶片設置區 5 2 ’分別用來設置一資料線驅動晶片(尚未貼附於下基板 4 2上)。其中,如圖五所示,資料線驅動晶片設置區5 2之 内係包含有複數個接合墊6 4以及至少兩個對準標記6 6, 並且如圖六所示,掃描線驅動晶片設置區5 〇之内係包含 有複數個接合墊6 8以及至少兩個對準標記7 〇。 除此之外’如圖四與圖五所示,液晶顯示面板4 〇另 ^含有一短路配線54a,設置於下棊板42並連接至全部的 二貝料線4 8 R,一短路配線5 4 b,設置於下基板4 2並連接至 全部的資料線4 8 G,以及一短路配線5 4 c,設置於下基板 4 2並連接至全部的資料線4 8 b。另外,如圖四所示,液晶 顯示面板40另包含有複數個測試墊56a、56b與56c,設置 於下基板42之上,並且短路配線54a、54b與5 4c之一端係 分別連接至測試墊56a、56b與56c,而短路配線54a、54b
第12頁 200540751 __ 五、發明說明(7) 與5 4 c之另一端則疋電連接至一可撓性印刷電路板5 8,由 於此時可撓性印刷電路板5 8尚未設置於下基板4 2上,所 以可撓性印刷電路板5 8係以虛線表示,此外,可撓性印 刷電路板5 8的設置位置不限於圖四所示,可撓性印刷電 路板58亦可以電連接至區域a、區域b或區域C之内的短路 配線5 4 a、5 4 b與5 4 c。此外,如圖四與圖六所示,液晶顯 示面板40另包含有一短路配線6〇a,設置於下基板42並連 接至全部的掃描線4 6 a,以及一短路配線6 0 b,設置於下 基板4 2並連接至全部的掃描線4 6 b,並且各短路配線6 〇 a 與6 Ob之一端係分別電連接至測試墊6 2a與測試墊62b。 值付注思的是’各短路配線5 4 a、5 4 b、5 4 c、6 0 a與 6〇b均/系用來進行一液晶盒測試,以先行檢.查液晶顯示面 板4 0是否有異常的顏色顯示,因此接下來將說明本發明 之液晶盒測試的測試方法。如圖四所示,首先,利用一 測試儀器(例如:探針)將一測試訊號&輸入至測試墊62a 與6 2b ’然後測試訊號Si會經由短路配線6〇a與6〇b而輸入 至各掃描線46a與46b,以開啟各掃描線46a與46b上之閘 1。同時,該測試儀器會將一測試訊號心輸入至測試墊 ,,亚且測試訊號&會經由短路配線54a而輸入至各資料 J48R以使各資料線48R上之各個紅色像素顯示顏色、, ^後刼作人貝便可檢查各個紅色像素是否有異常缺陷(例 /名!ί點或顏色異常)。接著,當液晶顯示面板4 〇之各個 、、、工色像素被檢查完畢之後,該測試儀器便會停止傳送測
第13頁 200540751^ 五、發明說明(8) 試訊號S2至測試墊5 6a,二 56b ’而且測試訊號^會=:=試訊號S3輸入至測試塾 線48G,以使各資料喰4 a路配線5 4b而輸入至各資料 並由操作人員來檢查夂 色像素顯示顏色,隨後 後,當液晶顯示面板4〇之^ ^ = t是否有異常缺陷。之 後,該測試儀哭俑么产 1U、、亲色像素被檢查完畢之 並將一測試訊號s 一 T ,运測試訊號s3至測試塾5 6b, 之藍色像素顯示顏=至最》:二:人二,杳資,線_上 像素是否有異常缺陷。必須2工來檢查各個藍色 僅是舉例說明,亦、、的疋,上述之測试順序 的測試順序係、可依據實際需要而Ϊ ^像素以及綠色像素 下列:ΐ牛ΐ圖四f示,本發明之液晶盒測試還包含有 了」β # v n該測試儀器係同時將測試訊號s輪 盘則減墊62a與62b,測試訊號\便會經由短路配線“a ^ 而輸入至各掃描線4 6 a與4 6 b,以開啟各掃描線4 6 a 46b上之閘極。然後.,該測試儀器再將測試訊號心、心 舁δ*分別輸入至測試墊56a、5613與56(:,並且測試訊號 2 與會分別經由短路配線54a、54b與54c而輸入至各 資料線48R、48G與48B,以使紅色像素、綠色像素與藍色 像素同時顯示顏色,但由於偏光板的緣故,此時的液晶 顯示面板4 0係顯示一黑色晝面,最後,操作人員便會檢 查液晶顯示面板4 0之晝面顯示。隨後,該測試儀器會停 止輸入測試訊號Si至測試墊62b,以使液晶顯示面板4〇顯
第14頁 200540751_ 五、發明說明(9) 示一灰色晝面,並且操作人員會再次地檢查液晶顯示面 板4 0之畫面顯示。最後,該測試儀器會停止輸入測試訊 號Si至測試墊62a,以使液晶顯示面板40係顯示一白色晝 面,同時操作人員會再次地檢查液晶顯示面板4 0之晝面 顯示。 值得注意的是,由於本發明之資料線4 8 R、資料線 4 8 G與資料線4 8 B係分別連接至不同的短路配線,因此本 發明係可分別檢查紅色像素、綠色像素與藍色像素之顯 色情形。另一方面,本發明係將掃描線4 6a與掃描線4 6b 分別連接至不同的短路配線,以使本發明可分別針對黑 色、灰色與白色晝面,來檢查液晶顯示面板4 0之晝面顯 示。如此一來,本發明之液晶盒測·試係可檢查出更多的 缺陷類型,以獲得更完整的缺陷資訊以供分析。 如圖五所示,當液晶盒測試進行完畢之後,接著會 進行一切割製程,該切割製程係利用對準標記6 6來進行 對位,並利用一雷射沿著虛線7 2來切斷各短路配線以及 各資料線之間的連線。相同地,如圖六所示,該切割製 程會利用對準標記7 0來進行對位,並利用一雷射沿著虛 線7 4來切斷各短路配線以及各掃描線之間的連線。 當各短路配線與各掃描線/各資料線之間的連線被切 斷後,緊接著便利用玻璃覆晶封裝(c h i p - ο η - g 1 a s s,
第15頁 200540751 五、發明說明(ίο) C 0 G )技術,以將前述之各該貢料線驅動晶片設置於各貧 料線驅動晶片設置區5 2上,亦即將各该貢料線驅動晶片 貼附於圖五所示之各接合墊6 4上。隨後,將前述之該掃 描線驅動晶片設置於掃描線驅動晶片設置區5 0上’並且 該掃描線驅動晶片是措由玻璃覆晶封裝技術而貼附於圖 六所示之各接合墊6 8上。其中,該掃描線驅動晶片係用 來輸出開關/定址訊號至各掃描線4 6 a與4 6 b,而各該資料 線驅動晶片則是用來輸出影像資料訊號至各資料線4 8 R、 4 8 G 與 4 8 B 〇 值得注意的是,當各該資料線驅動晶片貼附至各資 料線驅動晶片設置區5 2上之後’各短路配線5 4 a、5 4 b與 5 4 c便被用來串接該等資料線驅動晶片,因此可撓性印刷 電路板5 8所輸出的控制訊號,便可經由各短路配線5 4 a、 5 4 b與5 4 c而輸入至各該資料線驅動晶片,進而使各該資 料線驅動晶片可輸出影像貧料訊號至各貢料線4 8 R、4 8 G 與4 8 B。換言之,本發明之短路配線5 4 a、5 4 b與5 4 c係先 用來進行液晶盒_試’待液晶盒測試進行完畢之後’短 路配線54a、54b與5 4c便可用來串接該等資料線驅動晶 片。因此,由於本發明之短路配線5 4 a、5 4 b與5 4 c係可用 來進行液晶盒測試以及串接該等資料線驅動晶片’所以 本發明係可減少導線之數目,進而節省空間。除此之 外,當各該資料線驅動晶片的運作發生問題時,各測試 墊5 6 a、5 6 b與5 6 c係可用來測試各該資料線驅動晶片,以
第16頁 200540751__________ 五、發明說明(11) 找出各該資料線驅動晶片之損壞原因。也就是說,本發 明之測試墊5 6 a、5 6 b與5 6 C係先用來進行液晶盒測試,待 液晶盒測試進行完畢之後,測試墊5 6 a、5 6 b與5 6 c便可用 來測试各该賓料線驅動晶片,如此不僅可減少測試塾之 數目,更可解決習知沒有足夠空間設置短路配線所需之 測試墊的問題。另外’由於短路配線6 〇 a與6 0 b係與短路 配線5 4 a、5 4 b與5 4 c具有相同之功能,而測試墊6 2 a與6 2 b 亦與測試墊5 6 a、5 6 b與5 6 c具有相同之功能,因此不再贅 述。 請參考圖七,圖七係為本發明第二實施例之一液晶 顯示面板的示意圖,並且為了方便說明,以下的說明係 以相同的標號來表示相同的元件。如圖七所示,液晶顯 示面板40另包含有複數個電源接合墊(power bonding p a d ) 5 5,設置於相鄰兩資料線驅動晶片設置區5 2之間並 電連接至各短路配線5 4 a、5 4 b與5 4 c。一般而言,當液晶 顯示面板4 0的尺寸越來越大時,由於各短路配線5 4 a、 5 4 b與5 4 c的等效電阻關係,可撓性印刷電路板5 8所輸出 之控制訊號的強度便會延著各短路配線54a、54b與5 4c而 遞減,因此為了避免前述現象產生,本發明之第二實施 例係可將一可撓性印刷電路板5 9貼附至區域B與區域C之 各電源接合墊5 5上,而可撓性印刷電路板5 9係可輸出控 制訊號至相對應之各該資料線驅動晶片,以補強可撓性 印刷電路板5 8所輸出之控制訊號的強度。
第17頁 200540751_ 五、發明說明(12) 此外,前述之液晶顯示面板4 0係具有一掃描線驅動 晶片設置區5 0,然而本發明並不限於此,掃描線驅動晶 片設置區5 0的數目係可依據產品需要而改變,並且前述 之資料線驅動晶片設置區5 2的相關設計亦可應用於掃描 線驅動晶片設置區5 0上。另一方面,前述之資料線驅動 晶片設置區、掃描線驅動晶片設置區、短路配線、接合 墊以及測試墊的數目與位置亦可依據產品需要而改變, 而不限於圖四與圖七所示。 相較於習知技術,由於本發明之資料線4 8 R、資料線 4 8 G與資料線4 8 B係分別電連接至不同的短路配線,因此 本發明係可分別檢查紅色像素、綠色像素與藍色像素之 顯示品質,進而可得.到完整的缺陷資訊。此外,由於本 發明之短路配線5 4 a、5 4 b與5 4 c係可用來進行液晶盒測試 以及串接該等資料線(或電源線)驅動晶片,所以本發明 係可減少導線之數目,進而達到節省空間之功效。另一 方面,由於本發明之測試墊5 6 a、5 6 b與5 6 c係可用來進行 液晶盒浪]試以及進行驅動晶片測試,如此不僅可減少測 試墊之數目,更可解決習知沒有足夠空間設置短路配線 所需之測試墊的問題。 以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申 請專利範圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明專利 之涵蓋範圍。
第18頁 200540751__ 圖式簡單說明 圖式之簡單說明 圖一係為一液晶顯示面板的示意圖。 圖二係為圖一所示之資料線驅動晶片設置區的内部示意 圖。 圖三係為習知之液晶盒測試的示意圖。 圖四係為本發明第一實施例之一液晶顯示面板的示意 圖。 圖五係為圖四所示之資料線驅動晶片設置區的内部示意 圖。 圖六係為圖四所不之掃描線驅動晶片設置區的内部不意 圖。 .圖七係為本發明第二實施例之一液晶顯示面板的示意· 圖。 圖式之符號說明 10 液 晶 顯 示 面 板 12 下基板 14 上 基 板 16 掃描線 18 資 料 線 20 掃 描 線 驅 動 晶 片 -i-n. θ又 置區 22 資 料 線 驅 動 晶 片 a又 置區 24 短 路 配 線 26 接 合 墊 28 導電橡皮
第19頁 200540751
第20頁 圖式簡單說明 40 液 晶 顯 示 面 板 42 下 基 板 44 上 基 板 46a 掃 描 線 46b 掃 描 線 48B 資 料 線 48G 資 料 線 48R 資 料 線 50 掃 描 線 驅 動 晶 片 θ又 置區 52 資 料 線 驅 動 晶 片 -i-n. δ又 置區 54a 短 路 配 線 54b 短 路 配 線 54c 短 路 配 線 55 電 源 接 合墊 5 6a 測試 墊 56b 測試 墊 56c 測試 墊 58 可 撓 性 印 刷 電 路 板 59 可 撓 性 印 刷 電 路 板 6 0a 短 路 配 線 60b 短 路 配 線 6 2a 測 試 墊 62b 測試 墊 64 接 合 墊 66 對 準 標 記 68 接 合 墊 70 對 準 標 記 72 切 割 線 74 切 割 線

Claims (1)

  1. 200540751_ 六、申請專利範圍 1 . 一種具有一液晶盒測試結構之液晶顯示面板,其包含 有: 一基板,該基板之表面包含有複數個第一驅動晶片設 置區’分別用來設置一弟一驅動晶片, 複數條第一導線與第二導線,平行且交錯地設置於該 基板上並係用來接收來自該等第一驅動晶片之訊 號; 一第一短路配線,連接至該等第一導線並貫穿該等第 一驅動晶片設置區;以及 一第二短路配線,連接至該等第二導線並貫穿該等第 一驅動晶片設置區。 2. 如申請專利範圍第1項之液晶顯示面板,其中該基板 之表面另包含有至少一第二驅動晶片設置區,用來設置 一第二驅動晶片,且該測試結構另包含有: 複數條垂直於該等第一、第二導線之第三導線,設置 於該基板上並係用來接收來自該第二驅動晶片之 訊號;以及 一第三短路配線,連接至該等第三導線並設置於該第 二驅動晶片設置區。 3. 如申請專利範圍第2項之液晶顯示面板,其中該基板 之表面另包含有複數個測試墊,各該測試墊係分別連接 至該第一、該第二、與該第三短路配線之一端,用來輸
    第21頁 200540751__ 六、申請專利範圍 入一測試訊號至該第一、該第二、與該第三短路配線, 以進行一液晶盒測試。 第 圍 範 利 專 請 申 如 4 線 導二 第 該 各 與 第線 該導 各三 中第 其該 ,各 板而 面, 示線 顯料 晶資 液一 之為 項係 丨均 , 後驅 之一 畢第 完等 行該 進接 試串 測來 盒用 晶係 液均 該線 當配 且路 並短 ,二 線第 描該 掃與 1 , 為一。 係第片 均該晶 晶 液 該 中 其 板 面 示 顯 晶 液 之 項 4 第 圍: Am? 範f J含 矛 Λ 專勺 請U 申板 ο面 示 5顯 作; 來!# 用訊 別之 分片 , 晶 泉 導驅 四二 第第 之該 線自 導來 三收 第接 等並 該線 於描 行掃 平一 條為 數 複 第 該 於 置 設 並 線 導 四 第 等 該 至。 接區 連置 ,設 線片 配日Ba 路動 及短驅 以四二 第 第 圍 範 利 專 請 中 如 板 置 棊第設 該該片 中,晶 其區動 ,置驅 板設二 面片第 示晶等 顯動該 晶驅穿 液二貫 之第係 項該均 個線 數配 複路 有短 含四 包第 係該 面與 表、 G之三 亥 與 三 。 第片 該晶 , 後驅 之二 畢第 完等 行該 進接 試串 測來 盒用 晶係 液均 該線 當配 且路 並短 ,四 區第 晶 液 該 中 其 板 面 示 顯 晶 液 之 項 6 第 圍 範 利 專 請 中 如
    第22頁 200540751_ 六、申請專利範圍 顯示面板另包含有: 複數條平行於該等第一、與第二導線之第五導線,分 別用來作為一資料線並接收來自該第一驅動晶片 之訊號,並且各該第一導線係用來傳送一紅色影 像訊號,各該第二導線係用來傳送一綠色影像訊 號,而各該第五導線係用來傳送一藍色影像訊 號;以及 一第五短路配線,連接至該等第五導線並設置於該第 一驅動晶片設置區’並且當該液晶盒測試進行完 畢之後,該第五短路配線係用來_接該等第一驅 動晶片。 8. 如申請專利範圍苐3項之液晶顯示面板,其中各該第 一、與各該第二導線均係為一掃描線,而各該第三導線 均係為一資料線,並且當該液晶盒測試進行完畢之後, 該第一、與該第二短路配線均係用來串接該等第一驅動 晶片。 9. 如申請專利範圍第7項之液晶顯示面板,其中該基板 之表面係包含有複數個該第二驅動晶片設置區,該第三 短路配線均係貫穿該等第二驅動晶片設置區,並且當該 液晶盒測試進行完畢之後,該第三短路配線係用來串接 該等第二驅動晶片。
    第23頁 200540751_ 六、申請專利範圍 10. 如申請專利範圍第1項之液晶顯示面板,其中該液晶 顯示面板另包含有複數個第一接合墊,設置於兩相鄰之 該等第一驅動晶片設置區之間的該第一、與該第二短路 配線之上,用來將一第一可徺性印刷電路板電連接至兩 相鄰之該等第一驅動晶片設置區之間的該第一、與該第 二短路配線,其中各該第一可撓性印刷電路板係用來輸 入一訊號至各該第一驅動晶片。
    11. 如申請專利範圍第2項之液晶顯示面板,其中該基板 之表面係包含有複數個該第二驅動晶片設置區,並且該 液晶顯示面板另包含有複數個第二接合墊,設置於兩相 鄰之該等第二驅動晶片設置區之間的該第三短路配線之 上,用來將一第二可撓性印刷電路板電連接至兩相鄰之. 該等第二驅動晶片設置區之間的該第一、第二、第三短 路配線,其中各該第二可撓性印刷電路板係用來輸入一 訊號至各該第一驅動晶片。 12. —種具有一液晶盒測試結構之液晶顯丰面板的製作 方法,其包含有: 提供一第一基板以及一與該第一基板相對之第二基 板,並且該第一基板包含有:
    複數條第一導線,平行地設置於該第一基板 上;以及 一第一短路配線,連接至該等第一導線;
    第24頁 200540751_ 六、申請專利範圍 利用該第一短路配線,以進行一液晶盒測試; 進行一切割製程,以切斷該第一短路配線與該等第 一導線之連線;以及 將複數個第一驅動晶片設置於該第一基板上,並利 用該第一短路配線來_接該等第一驅動晶片, 其中各該第一驅動晶片係用來輸出一訊號至該 等第一導線。 13. 如申請專利範圍第1 2項之方法,其中各該第一導線 均係為一第一資料線,用來傳送一紅色影像訊號。 14. 如申請專利範圍第1 3項之方法,其中該第一基板另 包含有複數條用來傳送一綠色影像訊號之第二資料線, 複數條用來傳送一藍色影像訊號之第三資料線,一連接 至該等第二資料線之第二短路配線,以及一連接至該等 第三資料線之第三短路配線。 15. 如申請專利範圍第1 4項之方法,丼中該第一基板另 包含有複數條平行且交錯之第一掃描線與第二掃描線, 一連接至該等第二掃描線之第四短路配線,以及一連接 至該等第二掃描線之第五短路配線。 16. 如申請專利範圍第1 5項之方法,其中該液晶盒測試 包含有下列步驟:
    第25頁 900S407S1__ 六、申請專利範圍 同時輸入一第一測試訊號至該第四短路配線與該第 五短路配線; 輸入一第二測試訊號至該第一短路配線、該第二短 路配線與該第三短路配線其中之一;以及 檢查該液晶顯示面板之晝面顯示。 17. 如申請專利範圍第1 5項之方法,其中該液晶盒測試 包含有下列步驟:
    分別將一第三測試訊號、一第四測試訊號與一第五 測試訊號輸入至該第一短路配線、該第二短路 配線與該第三短路配線;以及 檢查該液晶顯示面板之晝面顯示。 18. 如申請專利範圍第1 7項之方法,其中該液晶盒測試 另包含有輸入一第六測試訊號至該第四短路配線。 19. 如申請專利範圍第1 8項之方法,其中該液晶盒測試 另包含有輸入該第六測試訊號至該.第五短路配線。 2 0. 如申請專利範圍第1 5項之方法,其中該切割製程另 包含有:
    切斷該第二短路配線與該等第二資料線之連線; 切斷該第三短路配線與該等第三資料線之連線; 切斷該第四短路配線與該等第一掃描線之連線;以
    第26頁 200540751_ 六、申請專利範圍 及 切斷該第五短路配線與該等第二掃描線之連線。 2 1. 如申請專利範圍第2 0項之方法,其中當該切割製程 進行完畢之後,該第二、與該第三短路配線均係用來串 接該等弟一驅動晶片。 程 並等 含 第印晶 製 ,該 包 該性動 割 上至 另 、撓驅 切板號 法 一可一 該 基訊 方 第一第 當一一 .該 該第.該 中第出 中 至該各 其該輸 其 接且至 , 於來 , 連並號 法:置用 法 電,訊 方有設係。 方 板線一 之含片片線 之 路配入 項包晶晶描 項 電路輸 21另動動掃15刷短來 第法驅驅二 第 印三用 圍方二二第 圍 性第係 範該第第與.範 撓該板 利,個該、 利 可與路 專後一各一 專 一、電。 請之少且第 請 第二刷片 申畢至 申一 如完將 如將 ·#: 2 Μ 3 穿 2 ^ 2 _
    另晶 板動。 基驅上一一之 第第線 談等配 中該路 其之短 ,鄰三 法相第 方兩該 之於與 項置、 • · 第27頁 200540751 六、申請專利範圍 25. 如申請專利範圍第2 4項之方法,其中該方法另包含 有: 將一第二可撓性印刷電路板貼附至兩相鄰之該等第 一驅動晶片之間的該等接合墊,其中各該第二 可撓性印刷電路板係用來輸入一訊號至各該第 一驅動晶片。
    第28頁
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