200537472 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關光碟裝置及其控制方法，用以記錄或再 生由例如局視域視訊資料代表之高密度資訊。更明確言之 · ，本發明係有關依據裝於該裝置上之光碟之傾斜狀態，改 善傾斜控制。而且，本發明係有關在傾斜控制中偵測傾斜 誤差信號之方法。 【先前技術】 近年來’隨使用短波雷射之光碟之記錄密度之增加， 需要在自碟之內周至外周之整個表面上，適當補償光學頭 (及其物鏡）對裝於碟驅動器上之碟之記錄表面之傾斜。 作爲傾斜補償裝置，知道傾斜控制（傾斜補償）。使用此 傾斜控制聯同對光學頭之聚焦控制及追蹤控制，達成高密 度光碟之記錄/再生。 有關傾斜控制之先前技藝在追蹤之前，執行傾斜補償 鲁 (傾斜調整）（閱專利參考文件1 :日本專利申請書 KOKAI公報2 0 0 3 -2 1 7 1 5 3號之圖13 )。在此專利參考文 件丨中，使用推挽追蹤誤差信號於傾斜補償（閱此參考文 * 件之圖 Π )。在此例中’使用藍光雷射之高視域記錄可 _ 相容之〗2 cm光碟之振幅難以自透鏡移動因數分離傾斜量 ，且不能自推挽信號偵測傾斜量。 在傾斜控制中，需知道”欲執行改正之傾斜方向，以 增加再生信號（偵測信號）之振幅”。有關此點，知道一 -4- 200537472 (2) 種所謂爬山方法’由分配傾斜角度於二正及負角度，選擇 一良好結果（閱專利參考文件2 :日本專利申請書ΚΟΚ AI 公報2 0 00-3 1 1 3 6 8號）。注意此專利參考文件2利用施行 追蹤後所獲得之再生信號（資訊）之振幅，與專利參考文 ~ 件1不同（閱該參考文件之圖4)。 g 而且，在傾斜控制中，知道自 DPD信號及推挽信號 間之差產生傾斜誤差信號之一先行技藝（閱專利參考文件 3 :曰本專利申請書ΚΟΚΑΙ公報2 00 1 - 3 073 5 9號）。注意· · DPD信號爲一位置誤差信號，由來自對角相對之光偵測器 之信號相加，比較所獲得之二信號間之相位差，及決定相 位差作爲該信號而獲得。當根據DPD信號及推挽信號間 之差產生傾斜誤差信號時’ DPD信號及推挽信號二者由於 傾斜影響引起偏置。而且，物鏡受移動影響。在專利參考 文件3中，透鏡移動影響由計算二信號間之差消除，及在 D P D信號由傾斜影響，但其影響小之假設下，偵測對該二 信號具有不同影響之僅一傾斜組成份。然而，在實際上，® 需同時偵測該二信號，且電路安排在其實施上變成相當複 雜。 目標在高密度資訊記錄之光碟（例如，使用藍光雷射 ， 之高視域記錄可相容1 2 cm光碟）難以偵測傾斜量及執行 ， 滿意之傾斜控制（傾斜補償）。此問題不限於單面/單記 錄層式碟，且在具有低雷射反射率之雙面/多記錄層式碟 更爲嚴重。 200537472 (3) 【發明內容】 顧及以上情形，達成本發明，且其目的在改善高記錄 密度光碟之傾斜控制。 在本發明之一實施例，使用追蹤誤差信號之中心値（ 作爲一例，由對4-分割光偵測器之輸出施行信號處理所 獲得之微分相位追蹤誤差信號之偏置値）執行傾斜控制（ 傾斜補償），同時不施加追蹤控制。 依據本發明之一實施例，可自指示微分相位追蹤誤差 信號之中心値是偏置於正或負之資訊，決定傾斜控制之傾 斜角度之改正方向。因此.，可執行目在傾斜補償之最佳點 上之傾斜伺服，同時使用此偏置極性資訊，觀察微分相位 追縱誤差信號之振幅。 可使用由裝置（碟驅動器）所辨認之每一碟所個別獲 得之資訊（即是，自可依安裝狀態及碟之徑向位置改變之 追蹤誤差信號中取出之資訊）修改傾斜補償順序。故此， 可實施與每一個別碟之安裝狀態相對應之適當傾斜補償。 【實施方式】 圖1爲方塊圖，用以說明本發明之一實施例之光碟裝 置（資訊記錄/再生系統）之安排。圖1示範使用具有一 或多個資訊記錄層在一表面上光碟記錄或再生資訊之系統 之槪覽。 圖1所示之光碟裝置在光碟上記錄或再生資訊，此具 有一資訊記錄層，具有螺旋或同心軌道。光碟裝置包含： -6- 200537472 (4) 一光學頭（l ο)，此經ώ物鏡5聚焦雷射光束於 資訊記綠表面上，並記錄/再生資訊於該碟上； 制器（2 2 )，此偏移物鏡5，俾聚焦雷射光束之 於碟1之資訊記錄層上；一定位單元（1 2 )，此 1 0於目標軌道上；一光偵測器（9 ; 1 02，在圖 以後說明之），此安排於光學頭1 0中，及接收 反射之光之一些部份（並分割爲多個區）；一位 測器（19 )，此由執行光偵測器9輸出之信號處 由光學頭1 0聚焦之光束點及目標軌道間之位置 傾斜致動器（6 )，此傾斜物鏡5，以改善由物| 之光束點之品質；一傾斜控制器（24，25，30三 此使用來自位置誤差偵測器1 9之信號，執行斜 之傾斜控制；及一定位控制器（2 0，1 7，2 3 )， 斜控制器（24，25，30至32 )傾斜控制傾斜致丨 ’根據來自位置誤差偵測器1 9之偵測結果，偏 元12。 以下說明圖1所示之裝置（系統）中之資訊 生模式。光碟1爲一可重寫之媒體，具有一相位 Κ乍爲資訊記錄層（或一僅讀媒體，具有由坑構 @ M3錄層），及由物鏡5聚焦之光束進行資訊記 (& Τ說明主要在假設可重寫記錄媒體下繼續） 光碟1由心軸馬達2轉動，明確言之，於資 ’採取〜ZCLV (分區恆定線性速度），以維持 線性速度。然而，在正常再生中，碟動，以維持 光碟1之 一焦點控 一光束點 置光學頭 7等上， 由光碟1 置誤差偵 理，偵測 誤差；一 i 5聚焦 ! 32 )， 致動器6 此在由傾 Ιϋ器6後 移定位單 記錄/再 改變記錄 成之一資 錄或再生 〇 訊記錄時 恆定轉動 一恆定轉 200537472 (5) 動速度，或依據碟之徑向位置轉動’以維持一恆定線 度。由心軸馬達轉動控制電路2 9控制轉動。轉動控 路29由編碼器8偵測馬達2之轉動角速度，並依偵 果，施加伺服控制於馬達之轉動。 用作記錄/再生裝置之一組成件之光學頭（拾光 ;光學頭）10由預定波長（例如65 0nm或405nm) 射光束照射光碟1之預定資訊記錄層，以獲得資訊之 (記號資訊）或再生。此記錄例如由一記號長度記錄 達成，此提供資訊於記錄記號之邊緣。 由安排於光學頭1 〇中之一雷射光束源所發射之 光束經準直成準直光，此經光學元件（未顯示）進入 改正機構8中。此光學改正機構8由中繼透鏡，液晶 等（未顯示）改正像差，俾防止形成於資訊記錄層上 束點遭受位何球面像差。由此光學改正機構8改正之 經鏡7進入物鏡5，並形成一光束點於光碟1之預定 記錄表面上。 另一方面，由光碟1之資訊記錄表面反射之光之 份光再經由鏡7進入光偵測器9。此光偵測器9具有 分割光偵測胞（例如4 -分割胞），並由此等胞之光 換處理，偵測聚焦於資訊記錄表面上之光束點之與目 置相對之位置誤差。位置誤差包含聚焦誤差，需用於 一光束點聚焦於資訊記錄表面上·，追蹤誤差（以後說 )，與碟表面對物鏡5之光軸之傾斜誤差等。 在光碟1之資訊記錄表面上，構製資訊軌道或坑 性速 制電 測結 PUH 之雷 記錄 方達 雷射 光學 元件 之光 光束 資訊 一部 多個 電變 標位 形成 明之 行列 -8- 200537472 (6) (在僅讀碟），需用於記錄/再生資訊。光束點在碟之徑 向上偏離目標軌道坑行列之位置偏差對應於追蹤誤差。傾 斜誤差爲由物鏡5聚焦之光束之光軸及光碟1之垂直線間 之偏離角度。如此角度大，則在光束點中產生彗形像差。 如此，惡化光束點品質。 在資訊記錄/再生系統，由位置誤差偵測電路1 9使 用光偵測器9，差電路（OP放大電路）1 1等偵測此等各 種位置誤差。然後，補償控制器20，3 1等計算與此等位 置誤差相對應之控制操縱量，俾一適當之光束點形成於光 碟1之資訊記錄表面上。所計算之控制操縱量輸入至焦點 機構控制電路22，細定位機構控制電路23，粗定位機構 控制電路1 7，及傾斜調整機構控制電路24。此等控制電 路驅動及控制透鏡致動器6及尋找馬達1 2，俾根據輸入 之控制操縱量，適當形成光束點於光碟1之目標位置處。 可如下進出光碟1之資料區之預定位置，此爲在一單 個資訊記錄層中開始記錄或再生所需，光束點現形成於此 〇 當進出控制電路1 8暫時打開軌道位置控制時，進出 開始，此根據由位置誤差偵測電路1 9偵得之追蹤誤差信 號執行。當打開此軌道位置控制，及粗定位機構（尋.找控 制）1 2或細定位控制機構（透鏡致動器）6接收來自其控 制電路1 7或2 3之控制操縱量時，光束點開始沿光碟1之 徑向移動（朝向進出目標軌道）。由此移動，產生一追蹤 誤差，並使用此位置誤差信號控制進出。 -9- 200537472 (7) 當相對偏差計算器（控制電路）13計算二進位追縱 誤差信號時，進出控制電路1 8可偵測光束點進出橫過之 資訊軌道之數。進出控制電路1 8根據作爲進出目標之資 訊軌道（目標軌道）之’及開始進出之資訊軌道（現軌道 )之位址，先行計算欲進出之資訊軌道之數量。自目標進 出軌道之數量減已通過軌道之數量，計算出尙餘軌道之數 量。進出控制電路1 8控制基準速度產生電路1 4 ’在此’ 提供與如此計算之尙餘軌道數量相對之一目標移動速度作 爲基準値，以產生目標速度。 另一方面，由二進位軌道位置誤差信號之領前脈波之 時間間隔分相鄰資訊軌道間之間隔，可偵測每一軌道通過 時之移動速度。此偵測由速度偵測器1 5執行。目標速度 及偵得之速度由比較電路1 4比較，俾所偵得之速度遵照 目標速度，及二速度間之差値由放大器16適當放大，並 輸入至粗定位機構控制電路1 7。而且，視目標軌道及光 束點間之位置關係而定，該差値經由進出控制電路1 8輸 入至細定位機構控制電路2 3，以驅動細定位機構（透鏡 致動器）ό。. 當光束點到達目標軌道正前之一位置時，進出控制電 路]8再度閉合軌道位置誤差控制係統（追蹤伺服”接通” )。然後，電路1 8計算驅動細定位機構6所需之控制操 縱量，俾使用補償控制器2 〇移去追蹤誤差，並供應其至 細定位機構控制電路2 3。其後，由該系統之一信號處理 系統（系統控制器2 5 )讀出實際到達之目標軌道之位址 - 10- (8) (8)200537472 。如該位址大致等於目標資訊軌道者，則進出終止。 在圖1所示之系統安排中，傾斜信號偵測器3 〇偵測 由位置誤差偵測電路1 9所偵得之追蹤誤差信號中之傾斜 誤差信號（指示物透5之光軸與碟！之資訊記錄表面相對 之傾斜量）。由此偵測器3 0所偵得之傾斜誤差信號儲存 於傾斜補償量儲存電路3 2中。於實際記錄或再生資訊時 ，讀出儲存於此儲存電路3 2中之傾斜誤差信號之資訊（ 即是，依據碟之徑向位置改變之傾斜量之輪廓資訊）。所 讀出之.資訊經補償控制器3 1轉移至傾斜調整機構控制電 路24，以實施適.合於圖1裝置上所裝之每一碟1之傾斜 償。注意偵測追蹤誤差信號中之傾斜誤差信號之細節以後 說明。圖1之裝置上所裝之碟1之偏心狀態由偏心狀態決 定電路3 3偵測，且此偵測程序亦說明於後。 圖2用以說明由於光碟1之偏心（當一光束點在資料 區之資訊坑上追蹤時）所引起之偵得之微分相位追蹤誤差 信號之一例。當光碟1由心軸馬達2轉動，同時光束點聚 焦於碟1之系統引入區（閱圖1 )之資訊記錄表面上時， 由圖1所示之安排之信號處理自伺服信號處理電路系統（ 位置誤差偵測電路1 9 )所獲得之位置誤差信號視爲圖2 ( a )所示之波形。當光碟1裝於心軸馬達2上時’由於碟 偏心影響產生此波形。圖2 ( b )顯示光束點與碟1相對 之偏差。由於偏心影響所引起之光束點偏離碟之偏差可如 圖2 ( b )所示表示。結果，所獲得之微分相位追蹤誤差 信號變爲一週期性信號，此以光碟轉動週期重複，如顯示 -11 - (9) (9)200537472 於圖2之（a )及（b )。 傾斜及微分相位追蹤誤差信號間之關係 圖3用以說明光碟之徑向傾斜（在徑向上之傾斜）及 微分相位追蹤誤差信號間之關係之一例。當光碟表面對物 ~ 鏡5之光軸具有傾斜時，如顯示於圖3之（a3 )及（c3 ) ，圖2 ( a )之微分相位追蹤誤差信號之振幅起變化，及 該信號觀看如具有一偏置之信號（其信號波形中心値），鲁 如顯示於圖3之（a 1 )及（c 1 )。知道追蹤誤差信號具有 由於傾斜影響所引起之一偏置。然而，由於在施行追蹤中 觀看此信號，故難以分離物鏡5遵循所裝碟]之偏心時所 產生且由於傾斜影響所產生之偏置量。在普通光碟（在高 幣度碟作爲發明之目標以BU之世代之光碟）中，微分相位 追蹤誤差信號具有由光碟之傾斜所引起之小偏置量，且未 偵得由於微分相位追蹤誤差信號之偏置量所引起之傾斜量 隨近年來光碟之記錄密度之增加，.資訊記錄/再生中 所用之雷射之波長更短，且物鏡之數値孔徑NA採取更大 之値。例如，在物鏡5之N A爲0 · 6 5之條件下之光碟1 - 中’自光碟之表面至資訊錄表面之距離爲〇.6mm，及雷 . 射之波長又約爲4 0 Onm，形成於資訊記錄表面上之光束點 (圖3之1 0 0 )之直徑爲0 · 5 m或以下，及由於光碟1 之傾斜影響所引起之微分相位追蹤誤差信號明顯偏置，如 顯示於圖3之（a 1 )及（c 1 )。 -12 - 200537472 (10) 發現當滿足條件”K超過6 0 0 ”時，偏置之影響明顯出 現於微分相位追蹤誤差信號中，其中，參數Κ使用光束 點之直徑計算，與λ /ΝΑ及自光碟表面至資訊記錄表面之 距離d成比例，即是， K = d / ( λ /ΝΑ ) = ( d/ λ ) ΝΑ ( 1 ) 距離d與Κ成比例，因爲還回光由於碟傾斜所引起 之偏置量隨d之增加而增加。資訊記錄表面上之光束點大 小隨（λ /NA )之減小而變小。同時，資訊記錄表面之資 訊軌道節距變爲較小，及由於碟傾斜所引起之所產生之偏 置之影響變爲較大。爲此，（λ /N A )與Κ成反比。本發 明之實施例提出光碟1之一傾斜控制方法，此滿足等式（ 1 )之條件（K > 6 0 0 )。 圖4用以說明光碟之傾斜及微分相位追蹤誤差信號間 之關係之一例。圖5顯示依光碟之傾斜量之微分相位追蹤 誤差信號之波形之例。如顯示於圖4 ( a )，當光碟1之 表面對物鏡5之光軸具有一傾斜± α (度）時，微分相位 追蹤誤差信號之信號位準改變，如顯示於圖4 ( b )或圖5 之（a )至（d )，與傾斜角度α相對應。即使自信號之峰 至峰（ρ-ρ )値，平均値（平均），或中心値（中心）之 觀點上，同樣看到此信號改變。 在圖5中，（a )至（d )顯示微分相位追蹤誤差信號 及碟1之傾斜間之關係之試驗結果，當時物鏡5之NA爲 0.65，自光碟之表面至資訊記錄表面間之距離爲〇 6mm， 及雷射之波長λ約爲40〇nm。圖4 ( b )顯示此等試驗之 -13- ’微分相位追蹤誤差信號之 (即使α爲等於或小於〇.4 自圖5 ( d )可見，當傾斜 ，微分相位追蹤誤差信號之 之變化軔圍延伸至某一範圍 灰差fg號之中心値’且亦振 正至振幅無任何改變之狀態 爲可更精確辨認實際之傾斜 分相位追蹤誤差信號之振幅 及然後計算其中心値），更 順序 蹤誤差信號（此產生視碟1 ，同時僅施加聚焦控制於光 。在此情形，物鏡5置於中 位置。 中先施行傾斜控制，在此狀 或在追蹤方向中之自由位置 ’，關斷·，）。然後，在傾斜轉 控制透鏡致動器6 (此保持 差信號依據在光束點形成位 200537472 (11) 曲線圖。如自圖4 ( b )可見 中心値明顯依傾斜角度α偏離 之一較小傾斜量時亦然）。如 角度α變爲太大時（α =0·8 ) 振幅減小。 更明確言之，假設傾斜量 或更大時’不獨微分相位追蹤 幅改變。在此情形，在執行改 後，應觀察中心値之改變，因 量。故此，可由用以歸一化微 之程序（參考傾斜角度α =0， 精確獲得傾斜償量。 在焦點控制後執行傾斜控制之 如上述，偵測微分相位追 之傾斜而定之偏置，如上述） 學頭（PUH ) 10中所裝之物鏡 立位置或在追蹤方向中之自由 本發明之實施例在一狀態 態中，物鏡5置於一中立位置 ’無任何追縱控制（追縱伺服 動方向上（此進行傾斜補償） 物鏡5 )後，執行追蹤控制。 如上述，微分相位追蹤誤 -14- 200537472 (12) 置處之光碟1及物鏡5間之相對傾斜量偏置。當物鏡5自 進來之光軸之中心移動時，產生一相似之偏置。爲此，在 追蹤控制在”接通”之期間中，難以自追蹤誤差信號之偏置 量中僅抽出光碟及物鏡間之相對傾斜量之影響。在本發明 之實施例中，爲移去物鏡移動之影響，在施行追蹤控制之 ~ 前，自追蹤誤差信號中抽出具有與有關傾斜量高關聯性之 一信號成份。 以下說明圖1之光碟裝置（系統）中本發明之實施例 鲁 之傾斜誤差信號偵測方法及傾斜控制方法 在內周方上系統引入區中追蹤誤差信號之獲得 當光碟1由心軸馬達2轉動時，光學頭1 0由尋找馬 達12在內周方向上移動，並到達其可進出之最內周位置 。在此位置，執行位置控制，以偏移透鏡致動器6，此保 持物鏡5於光學頭10上，在與碟表面垂直之方向上，並 由物鏡5使聚焦之光束點聚焦於光碟1之資訊記錄表面上 Φ 。其後，尋找馬達1 2或保持物鏡5之透鏡致動器6受驅 動，以偏移物鏡稍至外或內周方，如此，偏移由物鏡5聚 焦於光碟1之資訊記錄表面上之光束點至外或內周方。當 > 光束點如此偏移時，光束點可到達一系統引入區（閱圖 · 11)，確保在光碟1之內周附近。注意此系統引入區由坑 行列構成。 由以上順序，當光束點已達系統引入區時，處理自光 束點回轉之光之一信號處理電路再生系統引入區之資訊。 -15- 200537472 (13) 此信號處理電路之一伺服信號處理電路由4分裂光偵測器 (光偵測器9之組成件）接收自光束點回轉之光，及位置 誤差偵測電路1 9處理自四光偵測器輸出之信號，如此偵 得一微分相位追蹤誤差信號，供追蹤伺服之用。 圖6用以說明根據4-分割光偵測器之相位差所偵得 之微分相位追蹤誤差信號之例。圖7爲方塊圖，顯示微分 相位追蹤誤差信號偵測電路之安排之例。圖8顯示由圖7 所不之偵灘電路所偵得之微分相位追縱誤差信號之例。圖 9顯不微分相位追縱誤差信號偵測電路之另一例。 如下偵測微分相位追蹤誤差信號。當光束點1 0 0通過 資訊坑1 〇 1之中心時，在光偵測器1 02上之回轉光之強度 分佈對稱，如顯示於圖6之中心部份。然而，當光束點 1 00偏離資訊坑1 0 1之中心通過時，對角相對之光偵測器 1 02 ( A至D )之回轉光強度分佈改變且變爲不對稱，如 顯示於圖6之右及左部份。由利用此點，可偵測微分相位 追蹤誤差信號。更明確言之，可由DPD方法執行此偵測 程序。 在DPD方法中，在來自對角相對之光偵測器（A至 D )之信號相加後，所獲得之二信號相比較，以獲得一相 位差，及使用該相位差作爲位置誤差信號。此DPD信號 可由圖7所示之處理電路處理。即是，由對角相對之光偵 測器A及C之輸出相加所獲得之信號之相位，及由光偵 測器B及D之輸出相加所獲得者由相位比較器CMP比較 。此相位比較結果用作微分相位追蹤誤差信號。更明確言 -16 - (14) (14)200537472 之’此微分相位追蹤誤差信號由一電路（所謂電荷泵電路 )處理’此在例如一電容器或類似者中充電及偵測信號（ A + C )及（B + D )間之相位差。 作爲與圖7不同之一方法，取代光偵測器之相加對角 組成份者，相鄰光偵測器（A及D，B及C )之偵測信號 之相位比較，及比較結果可相加，如顯示於圖9。 自系統引出區之微分相位追蹤誤差信號獲得傾斜誤差信號 之方法 圖1 〇用以說明由於光碟之偏心所引起之偵得之微分 相位追蹤誤差信號之另一例（當光束點追蹤資料區以外之 區域時）。當光學頭1 〇到達一徑向位置，光碟1之系統 引出區出現於此（閱圖1 0 ( b ))。此等待碟1 —轉動週 期。在此情形，如裝於圖1之裝置（碟驅動器）上之光碟 遭受偏心，及一光束點通過系統之引出區，則由位置誤差 偵測電路1 9所偵得之追蹤誤差信號如圖1 0 ( a )所示。 當光束點通過系統引出區時，產生圖1 〇 ( a )所示該信號 ，即使在碟轉動週期之一部份中亦然，且如獲得中心値即 夠，則不發生問題。如獲得圖1 0 ( a )所示之追蹤誤差信 號，則傾斜信號偵測器3 0可取樣此，且可根據最大及最 小値，計算偏置量。可使用所計算之偏置量作爲傾斜誤差 信號，執行傾斜控制。 注意圖1 0 ( c )不範僅讀光碟（由坑SB錄資訊）之結 構。然而，即使在可重寫之光碟（其中，資料引出區及資 -17- 200537472 (15) 料區由陸-槽結構形成），可同樣執行”傾斜控制或傾斜補 償”用之此信號偵測。 當光碟1之整個表面爲’’坑行列所形成’自此可偵測 微分相位追蹤誤差信號’’時，上述傾斜控制信號偵測順序 可在所有徑向位置處執行，不受徑向位置之影響。而且’ 在僅一些部份爲坑行列所構成之光碟之情形，在坑行列所 形成之區域上執行傾斜控制信號偵測順序，及在對應徑向 位置處之傾斜補償量可儲存於傾斜補償量儲存電路32中 。其後，宜與其他裝置一起估計及補償在碟1之一特定區 (在此，不能執行傾斜控制及傾斜補償量之偵測）上之傾 斜補償量（例如，由估計有關徑向位置之傾斜改正量輪廓 )(此程序以後參考圖3 1等說明）。 以下說明依本發明之實施例進行傾斜控制之目標碟之 結構。 圖11顯示可用於本發明中之光碟之一例（單面/單 層式）。在如圖U所示之單面單層碟上，自內周邊方構 作一系統引入區’及構作一連接區於系統引入區外側。構 作一資料引入區於連接區外側。廣泛構作一資料區於資料 引入區外側，及構作一資料引出區於資料區外側。構作一 連接區於資料引出區外側，及構作一系統引出區於連接區 外側。 圖1 2顯示可用於本發明中之光碟之另一例（單面雙 J曾式）。在構作於較接近光學頭之面上之單面雙層碟之一 第一層（L 0層）上，如顯示於圖12 ( b )，自內周方構作 -18- 200537472 (16) 一系統引入區。構作一連接區於系統引入區外側，及構作 一資料引入區於連接區外側。廣泛構作第一層之一資料區 於資料引入區之外側·，及構作一資料中間區於資料區之外 側。構作一連接區於資料中間區之外側，及構作一系..統中 間區於連接區之外側。 在單面/雙層碟之一第二層（L1層）上，如顯示於 圖12(a)，自外周邊構作一系統中間區，並構作一連接 區於系統中間區之內側。構作一資料中間區於連接區之內 側。構作第二層之一資料區於資料中間區之內側，及構作 資料引出區於資料區之內側。構作一連接區於資料引出區 之內側，及構作一系街引出區於連接區之內側。 在圖12所示之例中，經由具有厚度〇·1至〇.6mm之 保護層（或基體）構作L 1層於碟內面上。通過具有厚度 在數//m至數10// m之一透明附著層（未顯示）構作L〇 層於L1層下方。構作具有預定厚度之一基體於L0層下 方，俾總碟厚度約爲1 .2mm。 注意圖1 2所示之結構之二層構作於具有厚度約 0.6mm之透明基體上，及製備具有相同結構之另一 〇.6mm 厚度基體。而且，此等基體可相互黏合，以形成1 · 2厚之 碟。在此情形，可形成一雙面/雙層（總共四記錄層）碟 〇 而且，作爲圖1 2所示結構之延伸，例如，可構作一” 單面/ η層碟’’於一單基體上，其上可覆蓋及構作三或更 多記錄層。 -19- (17) (17)200537472 碟結構及順序 圖1 3顯示單面/單層式僅讀光碟之記錄層之組態及 物理及邏輯扇區號數間之關係之例。如上述，在整個碟資 訊記錄表面由坑行列構成於其上之光碟1 (僅讀資訊記錄 媒體）之情形，可由傾斜控制執行傾斜補償，而不管徑向 位置如何。圖1 3顯示僅讀資訊儲存媒體之結構。構作一 系統引入區於最內周方上，並透過一連接區構作一資料引 入區於系統引入區之外側。而且，構作一資料區於資料引 入區之外側。在僅讀光碟上，由於資料區爲坑行列所構成 ，故可執行上述傾斜控制順序不獨於圖1 3所示之系統引 入區上，但亦於資料區上。 注意此資料區之物理扇區位址爲指定之號數，此自內 周方輪流單調增加。指定位址，以滿足自系統引區單調增 加至資料區及自資料區至系統引出區。注意邏輯扇區號數 僅指定給資料區，及此等自內周向外周單調增加。 在圖1 3所示之僅讀光碟之結構中，構作資料引入區 於資料區之外側’及透過連接區構作系統引出區於資料引 出區之外側。在外周部份上之此等連接區及系統引出區不 需用於傾斜控制，尤是是在僅讀光碟爲然，但此等在具有 可重寫之光碟之格式之可相容性上形成一必需之結構（以 後述之）。 構作系統引出區於自徑向位置R - L 0 _ I至R - L 0 - 0之一 區域上，如顯示於圖1 1。詳細言之，構作R - L 0 -1於在資 -20- (18) (18)200537472 料谷里上5ε.〇或更多之一位置處。在外周部份上之連接 區之寬度由R-DO-0及R-LO-0間之空間指定，且宜爲 0.3mm或以下，俾可容易進出系統引出區（以後述之）。 圖1 4顯示單面/雙層式（平行佈置）僅讀光碟之記 錄層之組態及物理及邏輯扇區號數間之關係之例。圖1 5 顯示顯示單面/雙層式（相對佈置）僅讀光碟之記錄層之 組態及物理及邏輯扇區間之關係之例。 在單面/雙層式僅讀光碟上，如顯示於圖1 4或1 5， 較接近光束點之進入表面之一 L0層及在L0層下面之L1 層具有相同之結構。注意圖1 4所示之組態採取與圖1 3所 示之單層碟結構相同之位址佈置。另一方面，在圖1 5之 組態中，L0層具有與圖1 3相同之結構，但L 1層具有一 位址佈置，其內及外周方相反。 在例如圖1 2所示之單面/雙層式組態中，構作資料 中間區於L0層之外周部份上，及透過連接區構作l〇層 之系統中間區於資料中間區之外側。在L1層上，構作L 1 層之資料中間區於資料區之外側，及系統中間區透過連接 區而出現於資料中間區之外側。而且，在L 1層上，構作 資料引出區於資料區之內側，及透過連接區構作L1.層之 系統引出區於資料引出區之內側。 在具有此結構之雙層僅讀光碟中，可在碟1之整個表 面上隨意徑向位置處執行傾斜控制。即使當L0及L1層 具有不同之傾斜補償量時，每一層之傾斜補償量儲存於傾 斜補償量儲存電路3 2中，使用一些徑向位置及層號數之 -21 - (19) 200537472 組合，俾可估計及計算在隨意徑向位置處之傾 以後參考圖25，說明此估計計算程序之槪要 光碟作爲一例。 圖16顯示單面/單層式可重寫光碟（具: )之記錄區之組態及物理及邏輯扇區號數間 1 7顯示顯示單面/單層式（平行佈置）可重 有陸-槽結構）之記錄區之組態及物理及邏輯 之關係' 單層及雙層式可重寫光碟具有圖16及17 。與僅讀光碟不同，資料引入區，資料區，及 在物理上由陸及槽區構成。在此區（陸或槽區 偵得上述微分相位追蹤誤差信號。故此，由圖 一偵測系統（以後述之）獲得一推挽追蹤誤差 2分割光偵測器之輸出間之差，如此施行追蹤ί 與微分相位追蹤誤差信號同樣，此推挽追 亦依碟之傾斜產生一偏置（如以後說明之谓 3 然而，此偏置値非常小，且具有太弱之S/N， 際控制（難以確保穩定控制所需之S/N )。故 寫之光碟，僅自”系統引入區及系統引出區”獲 量，在此，可偵測微分相位追蹤誤差信號，並 3 1所示之關係（輪廓），根據徑向位置之至 傾斜補償量，計算在隨意徑向位置處之傾斜補' 使用偏置量之傾斜誤差信號偵測 斜補償量。 ’採取單層 有陸-槽結構 之關係。圖 寫光碟（具 扇區號數間 所示之結構 資料引出區 )中，不能 3 5 所示之 信號，作爲 空制。 蹤誤差信號 7所示）。 不能用於實 此，在可重 得傾斜補償 使用例如圖 少二儲存之 ί賞量。 -22- (20) (20)200537472 本發明之實施例使用追蹤誤差信號之偏置量作爲一信 號成份，此具有與相對傾斜量高度關聯。在碟之一轉中對 由於碟之偏心影響所引起之獲得之一追蹤誤差信號取樣， 同時僅施加聚焦控制，如此獲得其中心値。結果，可獲得 一偏置量’此與光碟1及物鏡5間之相對傾斜量具有高度 ' 關聯。更明確言之，在碟之一轉之間隔中對追蹤誤差信號 取樣，自取樣値獲得最大及最小値，並決定其中間値，作 爲傾斜誤差信號。如此，可容易獲得一信號，用於傾斜控 制（傾斜補償）。 如此所獲得之傾斜誤差信號爲與光碟1之傾斜具有關 聯之一信號，如顯示於圖3至5。因而，施行傾斜控制， 在傾斜之方向上偏移透鏡致動器6，俾此傾斜誤差信號變 爲零。注意如欲偵測之傾斜誤差信號之決定週期爲碟之轉 動週期，則此傾斜控制之控制頻帶需約爲碟轉動頻率之 1/10 ° 以下使用圖1，說明一實際傾斜誤差信號偵測順序及 ® 傾斜控制順序。光碟1進行由心軸馬達轉動控制電路2 0 根據由編碼器2 8所偵得之轉動角速度信號，控制心軸馬 達2在預定轉動速度上之轉動。在此狀態，經由在聚焦機 -構控制電路22之焦控制下之物鏡在系統引入區中所獲得 . 之再生光進入光偵測器9，並經由OP放大電路1 1輸入至 位置誤差偵測電路1 9。 此位置誤差偵測電路1 9由計算偵得聚焦及追蹤誤差 。此位置誤差量在分立之時間隔，例如在2 〇 0 k Η z之取樣 -23- (21) (21)200537472 間隔輸入至補償控制器20，及補償控制器20輸入以聚焦 誤差爲基礎之相位補償之一信號至聚焦機構控制電路22 。在此狀態中所獲得之一微分相位追蹤誤差信號輸入至偏 心狀態決定電路3 3。如決定光碟1在偏心狀態中裝於心 軸2上，則傾斜信號偵測器3 0在碟之一轉中取樣該追蹤 誤差信號。如碟轉J力速度約爲2 0 Η z，則取樣1 0，0 0 0追蹤 誤差信號，此在200kH.z上取樣。 如此所獲得之追蹤誤差信號進行濾波處理，諸如LPF (低通濾波），此移去少許雜訊成份，並獲得追蹤誤差信 號之最大及最小値，如此獲得其中間値。此中間値輸出至 補償控.制器3 1，作爲傾斜誤差信號，且然後在進行相位 補償及增益放大後，輸出至傾斜調整機構控制電路24。 即是，施行傾斜伺服，俾此中間値變爲零。此時，如碟轉 動週期爲20Hz，及傾斜誤差信號之取樣間隔亦爲20Hz， 則控制頻帶約爲2Hz。故此，欲實施之傾斜控制爲在低頻 帶中之控制，其控制頻帶接近變爲轉動頻率之1 /1 〇。 輸入至傾斜調整機構控制電路24之傾斜操縱量輸入 至三軸透鏡致動器6之一傾斜補償線圈，如此在徑向傾斜 轉動之方向上傾斜物鏡5。 樣品點之最佳化 在”使用偏置量之傾斜誤差信號偵測”之上述順序中， 需要1 0,0 0 0樣品點來獲得一傾斜誤差信號。如光碟1之 偏心量大，則僅在聚焦控制下之光束點通過許多軌道。如 -24- 200537472 (22) 光束點通過至少一軌道，由於在原則上可側測追蹤誤差信 號之偏置値（在此情形中爲中間値），故不需要10,000 樣品點。例如，可在碟轉動週期之1 /N之時間間隔之期間 執行取樣，以獲得一中間値。注意自至少約5 0樣品點計 算一中心値，且N宜設定於2至5 0之値範圍內。如此， · 樣品點之數量隨量度中之偏心狀態改變。以下使用圖1 8 ，19，及20說明此操作。 圖1 8爲方塊圖，顯示用以偵測微分相位追蹤誤差.信 ® 號之安排（傾斜信號偵測器3 0及其周邊組成件）之例， 此包含依據光碟之偏心之波形成份（圖2等）。圖1 9顯 示由於光碟之偏心所引起之所偵得之微分相位追蹤誤差信 號及由圖1 8之·傾斜信號偵測器3 0取樣之追蹤誤差信號間 之關係之例。圖2 0用以說明由於光碟之偏心所引起之所 偵得之微分相位追蹤誤差信號（於通過軌道時所看到之波 形）。 微分相位追蹤誤差信號由圖1 8中之位置誤差偵測電 Φ 路1 9偵測，並輸入至傾斜信號偵測器3 0及偏心狀態決定 電路3 3。偏心狀態決定電路3 3根據來自心軸馬達轉動控 制電路2 9之轉動同步信號，決定偏心狀態。如偵得預定 · 之偏心量或更多，電路3 3發出一指令至傾斜信號偵測器 · 3 〇，在較碟轉動週期爲短之一週期中對信號取樣，並偵測 一傾斜誤差信號。 在傾斜信號偵測器3 0，於收到來自偏心狀態決定電 路3 3之指令時’樣品點數決定電路3 0 a決定樣品點之數 -25- (23) (23)200537472 量，及樣品保持電路3 0 b對自位置誤差偵測電路i 9輸出 之追蹤誤差信號取樣預定之次數。取樣之資料使用預定之 LPF等進行濾波，並輸入至最大/最小値偵測電路3〇c， 以偵測最大及最小値。其後，中心値偵測電路3 0 d偵測此 等最大及最小値中之一中心値。 如此偵得之中心値經補償控制器3 1輸入至傾斜調整 機構控制電路2 4，以實施傾斜伺服。在此情形，如在一 碟轉動週期中執行取樣，則取樣一微分相位追蹤誤差信號 ，如顯示於圖1 9。如在一碟轉動週期中取樣.，如顯示於 圖I 9，則可偵得微分相位追蹤誤差信號之中心値。然而 ，如偏心量大，則可取樣最大及最小値，只要可在碟轉動 週期之一部份中執行取樣即可，如顯示於圖20。偏心量 之振幅由偏心狀態決定電路3 3決定。如碟之偏心量大， 則對碟轉動週期之一部份中之資料取樣，以縮短傾斜量偵 測之取樣時間。（偏心量之振幅可根據微分相位追蹤誤差 信號之變化量，或由計算 < 越過中心値 > 次數，即碟轉動 週期內之微分相位追縱誤差信號之零越過之次數決定）。 當偏心小時 另一方面，如偏心狀態決定電路3 3決定偏心量小， 則系統控制器2 5接收該資訊，並輸出一振動操縱量經補 償控制器2 0至細定位機構控制電路2 3。 圖2 1顯不用以依據光碟之偏心偵測包含波形成份之 微分相位追蹤誤差信號之安排之另一例，以及由此安排偵 -26- 200537472 (24) 得之微分相位追蹤誤差信號之一例。圖2 2顯示由於光碟 之偏心所引起之所偵得之微分相位追蹤誤差信號及在圖 2 1所示之安排之例中之細定位機構驅動信號間之關係之 例。如顯示於圖2 1 ( a ) ’當微分相位追蹤誤差信號僅變 化預定之量或更小時’即使在碟轉動週期時間過去後’偏 心狀態決定電路3 3決定偏心量小，並施加一驅動信號， 此驅動細定位機構，以確實振動此。由施加圖22 ( a )所 示之驅動信號至細定位機構控制電路2 3，作爲細定位機 構之物鏡致動器在追蹤方向上偏移，結果，獲得圖2 2 ( b )所示之一微分相位追蹤誤差信號。 更明確言之，當不能獲得追蹤誤差信號或追蹤誤差信 號之變化量小時，即使控制根據心軸馬達2之編碼器2 8 之輸出等待一碟轉動週期後，物鏡5在追蹤方向上以例如 透鏡致動器6之本徵頻率振動。此時，如已根據心軸馬達 2之編碼器2 8之時間偵得光碟1之偏心量或相位，施加 一操縱量於細定位機構控制電路23，在與偏心相位相反 之相位上偏移物鏡，俾在追蹤方向上偏移透鏡致動器6， 如此容易獲得一微分相位追蹤誤差信號，且因而獲得一傾 斜誤差信號。 獲得由追蹤誤差信號振幅歸一化後之傾斜誤差信號 如此所獲得之微分相位追蹤誤差信號之中心値用作傾 斜誤差信號。然而，作爲傾斜誤差信號，需使用在歸一化 追蹤誤差信號之振幅値後所獲得之一偏置信號。由獲得使 -27- 200537472 (25) 用該振幅歸一化後之偏置値，可偵得具有高S/N之一傾斜 誤差信號。 如顯示於圖4(b)，當光碟1及物鏡間之相對傾斜 量增加時，追蹤誤差信號之振幅趨於減小。即是，在由增 加之相對傾斜量偏置中，追蹤誤差信號之振幅減小。故此 ，由歸一化由傾斜信號偵測器3 0所獲得之追蹤誤差信號 之振幅，可獲得更適當之偏置値。當使用此偏置値執行傾 斜控制時，可達成更足夠之傾斜調整。 圖23爲流程圖，用以說明本發明之實施例之光碟裝 置之伺服順序。此伺服順序用於控制方法，在使用光學頭 記錄或再生光碟1上之資訊時使用，此由控制系統控制， •.包'含聚焦控制，追蹤控制，及傾斜控制。在此方法中，執 行聚焦控制（步驟ST 102至ST 104 )，此聚焦自光學頭輸 出之雷射光束之光點1 〇 〇於光碟1之特定軌道上。偵測對 應於聚焦光束點1 〇 〇及目標軌道崗之位置偏差（位置誤羑 )之一追蹤誤差信號（步驟ST105 )(圖3之微分相位追 蹤誤差信號或類似者）。根據追蹤誤差之偵測結果（圖 24之步驟ST204至ST206及類似者），執行傾斜控制， 此偏移一傾斜，如光碟1及物鏡間之相對傾斜（步驟 ST106及ST107)。其後，根據追蹤誤差信號之偵測結果 ，執行追蹤控制（步驟ST108 )。 圖2 3中包含在光碟1之系統引入區中之聚焦控制， 傾斜控制，及追蹤控制之順序可槪要如下。檢查目標碟（ 裝於裝置1上之個別碟）1。或系統控制器2 5產生再生資 -28- 200537472 (26) 曰只之一資訊再生/ sH錄請求，需用於檢查所裝之碟I (步 驟S Τ 1 0 1 )。於收到此請求時，圖i中之聚焦機構控制電 路2 2偵測一聚焦誤差信號（步驟s T 1 0 2 )，調整電偏置 (步驟ST103 )，及然後實施聚焦控制（步驟ST1〇4 )。 ‘ 偵測一追蹤誤差信號，作爲系統引入區中之微分相位追蹤 -誤差信號（步驟S T 1 0 5 )，並自此信號計算傾斜誤差信號 ，以施行傾斜伺服（步驟ST 1 06 )。穩定由此傾斜伺服所 獲得一傾斜補償量，作爲一輸出値（步驟ST1 07 )，並儲鲁 存此傾斜補償量之輸出値於圖1之傾斜補償量儲存電路 3 2中。其後，施行追蹤伺服（步驟s T 1 0 8 )，及再生或記 錄在穩定狀態中之一資訊信號（步驟ST 109 )。 ' 圖24爲一流程圖，用以說明本發明之實施例之傾斜 調整順序（儲存由依碟之徑向位置施行傾斜伺服之一調整 値之例）。圖24顯示用以儲存光學頭1 〇移動時所施行之 傾斜伺服之傾斜補償量之詳細順序。 在碟1裝於圖1之裝置上後，當第一次施行傾斜伺服 鲁 時，發出一傾斜調整開始命令（圖2 3之步驟S T 1 0 6 )。 於反應此命令，開始圖2 4之程序（步驟S T 2 0 1 )。在此 程序開始後，自尋找馬達1 2之編碼器2 1讀出光學頭1.0 - 之徑向位置（步驟ST2 02 )。在施行聚焦伺服後，圖1中 . 之傾斜信號偵測器3 0自所獲得之微分相位追蹤誤差信號 中偵測微分相位追蹤誤差信號之中心値（步驟S T2 0 3 )。 使用此中心値作爲傾斜誤差信號，並輸出三軸透鏡致動器 6之傾斜線圈（未顯示）之操縱量，俾此誤差量變爲零（ -29- (27) (27)200537472 步驟ST20 5 )。結果，如微分相位追蹤誤差信號之中心値 採取一零鄰近値（在步驟S T 2 0 6中之”是”），則保持此時 之輸出値爲傾斜補償量（步驟ST207 )。同時，所保持之 傾斜補償量儲存於圖1之傾斜補償量儲存電路3 2中，與 自尋找馬達12之編碼益21之輸出合併（步驟ST208)。 另一方面，如微分相位追蹤誤差信號之中心値並不採 取零鄰近値（步驟ST2 06中之”否”），則用以獲得及調整 微分相位追蹤誤差信號之操作成爲不可或缺。在此情形， 流程回至微分相位追蹤誤差信號偵測步驟（步驟ST2 04 ) ，以再獲得一傾斜誤差信號。其後，重複步驟ST2 04至 ST206之程序，直至微分相位追蹤誤差信號之中心値採取 零鄰近値爲止。如微分相位追蹤誤差信號之中心値採取零 鄰近値，則使用此時之傾斜伺服輸出値（步驟ST207 )， 及儲存現裝於裝置上之碟1之傾斜補償資訊於傾斜補償量 儲存電路32中（步驟ST20 8 )。 本發明之實施例之單層及雙層式光碟1具有圖16及 1 7所示之結構。與僅讀光碟中不同，資料引入區，資料 區，及資料引出區在物理上由陸及槽區構成。在此陸/槽 區中，不目g偵測上述整微分相位追縱誤差信號。故此，由 圖3 5所示之偵測系統獲得一推挽追蹤誤差信號，作爲2 分割光偵測器之輸出間之差，如此施行追蹤控制。推挽追 蹤誤差信號亦依據碟之傾斜產生一偏置，如顯示於圖3 7 ，與微分相位追蹤誤差信號同樣。然而，此偏置値非常小 ，且具有太弱之S /N，不能用於實際控制。 - 30- 200537472 (28) 故此’在可重寫之光碟]中，計算”系統引入區及系 統引出區”中之傾斜補償量，在此，可偵得具有相當高 S/N之微分相位追蹤誤差信號，並使用圖3 1所示之關係 (輪廓），根據依據徑向位置之至少二所儲存之傾斜補償 量，計算隨意徑向位置之傾斜補償量。以下使用圖2，說 明此計算之計算程序之槪要，以此程序用於單層光碟，作 爲一例。 圖25爲一流程圖，用以說明本發明之另一實施例之 傾斜調整順序（儲存一碟之引入及引出區之傾斜伺服調整 値，並使用自所儲存之調整値所計算之一値於引入及引出 區間之資料區之傾斜伺服之一例）。 如圖1之系統控制器25接收一傾斜調整開始命令， 光學頭1 0移動，以形成一光束點於內周邊之系統引入區 上（步驟ST3 02 )。自尋找馬達1 2之編碼器21之輸出約 略計算光束點之碟徑向位置（步驟ST3 0 3 )，及對光碟1 (此進行心軸馬達2之轉動控制）之資訊記錄表面開始聚 焦控制（步驟ST3 04 )。結果，獲得一微分相位追蹤誤差 信號。其後，使用所獲得之微分相位追蹤誤差信號之中心 値，施行傾斜伺服（步驟ST3 05至ST3 0 7 )，以保持一輸 出（步驟ST3 0 8 )，及儲存所保持之輸出於傾斜補償量儲 存電路中（步驟ST3 0 8 a )。 其次，移動光學頭1 〇，以形成一光束點於系統引出 區上（步驟ST3 09 )。獲得一微分相位追蹤誤差信號（步 驟3 1 0及3〗1，其方式與在系統引入區中相同，並施行傾 -31 - 200537472 (29) 斜伺服，以保持一輸出（步驟s τ 3 1 2至S T 3 1 5 )，如此， 儲存所保持之輸出於傾斜補償量儲電路中（步驟ST3 1 6 ) 〇 如此，如儲存至少在二碟徑向位置處之傾斜補償量（ · 步驟ST308a及ST316)，則可由步驟ST330中之程序， · 使用自尋找馬達編碼器2 1中讀出之徑向位置，適當計算 欲記錄/再生資訊之隨意徑向位置處之傾斜補償量（步驟 ST3 1 7至ST3 1 9 )。如根據如此計算之傾斜補償量施行追· 蹤伺服（步驟ST321及ST3 22 )，則可在裝於裝置上之每 一個別高密度碟上執行精確之記錄或再生，同時避免傾斜 之影響。 注意先行執行之傾斜補償量儲存程序（步驟ST3 0 8 a 及ST3 16 )僅需對另二或更多點執行，以取代系統引入區 及系統引出區上之二點。如在僅讀光碟中，當目標碟1 一 雙層碟時，傾斜補償量儲存電路儲存每一層之傾斜補償量 ，作爲碟徑向位置及層號數之合倂，如此，估計及計算在 鲁 隨意碟徑向位置處之傾斜補償量。 圖3 6爲流程圖，用以說明本發明之又另一實施例之 傾斜調整順序（儲存碟之引入區及外周之傾斜伺服調整値 · ，及使用自儲存之調整値所計算之一値於引入區及外周間 · 之一資料區之傾斜伺服上之一例）。以下採用單層光碟1 作爲一例，說明用以估計及計算隨意徑向位置處之傾斜補 償量之程序之槪要。 如系統控制器25接收一傾斜調整開始命令，光學頭 -32 - 200537472 (30) 1 0移動，以形成一光束點於碟1之內周邊方之系統引入 區上（步驟ST4 02 )。自尋找馬達12之編碼器21之輸出 約略計算此光束點之碟徑向位置（步驟ST4 03 )，及對光 碟1 (此進行心軸馬達2之轉動控制）之資訊記錄表面開 始聚焦控制（步驟ST4 04 )。結果，獲得一微分相位追蹤· 誤差信號。使用所獲得之信號之中心値，施行傾斜伺服（ 步驟ST4 0 5至ST4〇7 )，俾在此傾斜伺服變爲穩定後，保 持所獲得之輸出（步驟ST40 8 )，及儲存所保持之輸出於 · 傾斜補償量儲存電路中（步驟ST409 )。 其次，朝外周方移動光束點（此尙未到達最外周）( 在步驟S T4 1 0中之”否”）。在此情形，朝碟之外周邊移動 • 光學頭10，以例如lmm之增量偏移光束點（步驟ST41 i )’並執行與上述相同之傾斜補償量儲存操作（步驟 ST4 1 2 至 ST4 1 7 )。 由於光束點以小步移動至碟外周，此移動至形成於系 統引入區外之資料引入區。在僅讀光碟，可自資料區獲得 ® 一微分相位追蹤誤差信號，與在系統引入區中之方式相同 ’且在相同順序中獲得一傾斜補償量。（注意系統引入區 及資料區具有相反之偵測極性，且需要改正）。 · 當光學頭朝碟外周方以增量1 mm依次移動時，且如 -決定光束點已到達最外周處之系統引出區附近之位置（（ 步驟ST41 〇中之，，是”），則傾斜補償量儲存電路32之學 習操作終止（步驟S T4 1 8 )，及光束點移動至一目標位置 ’在此’欲再生資訊（步驟S T4 1 9 )。如光束點已到達目 -33- 200537472 (31) 標位置，則讀出尋找馬達1 2之編碼器2 1之値（步驟 S T4 2 0 )，以施行聚焦控制（步驟s T 4 2 1 )，並自儲存於 傾斜補償量儲存電路3 2中之値，計算與尋找馬達編碼器 2 1之値或其相鄰値相對應之”傾斜補償量”（步驟S T4 2 2 ) ，從而執行傾斜補償。在此傾斜補償量輸出後（步驟 ST423) ’追縱控制開始（步驟ST424)。已示範說明僅 讀光碟之傾斜控制順序。 補償量儲存後之傾斜伺服及DC補償 如上述，在追蹤控制之前，使用所獲得之傾斜誤差信 號施行傾斜伺服。以下使用圖2 7所示之安排，說明此傾 '斜服順序。 圖2 7爲方塊圖，顯示使用圖2 4至2 6及類似者所示 之順序中所儲存之傾斜調整値達成傾斜調整之安排之例。 追蹤誤差偵測器E (對應於例如圖7之A1，A 2，及C Μ P )偵得一 DPD信號’作爲來自光偵測器（對應於例如圖7 之1 〇2 )之偵測輸出之微分相位追蹤誤差信號。此dpd信-號由A/D變換器F變換爲數位資料，例如在200kHz之取 樣頻率及量化數元數約爲8至I 6。 由A/D變換器F變換之數位微分相位追蹤誤差信號 之信號振幅由中心値偵測電路G以例如1 0msec之間隔取 樣。自取樣振幅資料之最大及最小値，偵測其中間値，作 爲”傾斜誤差”。此傾斜誤差信號由比較器A與傾斜伺服中 之目標値Ei (在本情形中Ei = 0 )比較。目標値Ei及傾斜 -34- 200537472 (32) 誤差（所偵得之微分相位追蹤誤差信號之中心値）間之g 由增益元件B放大，並輸入至三軸物鏡致動器6之傾斜線 圈。傾斜伺服之此封閉迴路操作施行伺服，俾微分相位追 蹤誤差信號之中心値變爲零（收歛至傾斜伺服之目標値 · Ei=0)。 . 實施該π低控制帶中之傾斜控制”，俾傾斜誤差信號（ 微分相位追蹤誤差信號之中心値）採取在零鄰近之一値。 當傾斜誤差信號採取在零鄰近之一値時，輸入至三軸物鏡鲁 致動器6之傾斜控制信號保持其操縱量。即是，如由中心 値偵測電路6決定由於中心値之變化減小，故”傾斜伺操 作穩定’’，則此時自增益元件Β輸出之操縱値（恆定値） 由輸出値儲存電路C儲存及保持。由此保持程序，在預定 徑向位置（在此執行傾斜控制）處之傾斜補償量穩定。在 此徑向位置，穩定之傾斜補償量輸入至三軸物鏡致動器6 ，作爲傾斜操縱量，除非現所裝之光碟1移離該裝置（碟 驅動器）° · 如穩定之傾斜補償量爲用於系統引入區者，則倒反其 極性，以獲得在系統引入區之徑向位置處之補償量，即是 ，對應於尋找馬達1 2之編碼器2 1之輸出之一値，且儲存 1 該値於傾斜補償量儲存電路3 2中。 在實施傾斜伺服後，如光學頭1 〇移動至此徑向位置 ，且需再施行伺服操作，則由開關S W選擇傾斜補償量儲 存電路3 2中所儲存操縱量（儲存於輸出儲存電路C中） ，並輸出至傾斜致動器6。 -35- 200537472 (33) 由圖27所示之安排之控制順序，圖1之物鏡5進行 聚焦控制及傾斜控制。在此狀態，由圖1之定位誤差偵測 電路1 9所偵得之追蹤誤差信號輸入至補償控制器2 0。然 後，補償控制器2 0輸出操縱量至細定位機構控制電路2 3 及粗定位機構控制電路1 7，此等執行在追蹤方向上之定 ‘ 位。如此，在適合追蹤控制之時刻執行軌道引入控制，及 開始追蹤控制。 在三軸透鏡致動器6之追蹤控制之期間中，除非物鏡 · 大幅偏離傾斜控制之傾斜補償量已調整處之徑向位置，否 則，由傾斜補償量儲存電路3 2保持並輸出傾斜補償量。 已說明在光碟1之內周附近所形成之系統引入區中之 聚焦控制，傾斜控制，及追蹤控制之順序。以上圖23總 括此順序。 系統引出區之進出方法 在上述之例中，一光束點需置於系統引出區中，以獲 ® 得一傾斜補償量。以下參考圖1及2 8，說明於光束點偏 移至系統引出區時，進出系統引出區之順序之例。 圖2 8爲流程圖，用以說明進出碟之最外周之系統引· 出區之順序之例。使用尋找馬達1 2執行粗進出，使光學 · 頭朝向系統引出區之徑向位置偏移。由此粗進出，光學頭 1 〇緩慢移動，同時由設置於尋找馬達1 2上之編碼器2 1 管理位置，如此朝系統引出區之稍內周方或系統引出區上 之資料區移動光束點（步驟ST5 02 )。此時，聚焦控制保 -36- (34) (34)200537472 持”接通”，及追蹤控制在’’關斷”，因爲尋找操作在進行中 〇 如控制光學頭1 0，俾由尋找馬達1 2偏移至系統引出 區之稍內周方資料區上光束點所形成處之一位置，則在適 當時刻，一追蹤誤差信號輸入至補償控制器2 0，同時觀 察由定位誤差偵測電路1 9所偵得之追蹤誤差信號，及一 操縱量輸入至細定位機構控制電路2 3及粗定位機構控制 電路1 7，以開始軌道引入控制，如此施行追蹤控制。 此時，至於傾斜控制操縱量，當在目標碟之一徑向位 置處之一傾斜補償量已儲存於傾斜控制操縱量儲存電路 3 2中時，此補償量輸出至償控制器3 1。此補償量由補償 控制器3 1進行相位補償，且輸入至傾斜調整機構控制電 路2 4。然後，透鏡致動器6置物鏡5於徑向傾斜方向上 。當無目標碟之補償量儲存於傾斜補償量儲存電路32中 時，輸出系統引入區之補償量，作爲暫時輸出。 在施行追蹤控制後，由於偵測光束點所在位置之物理 位址，故進出控制電路1 8經由補償控制器2 0控制細定位 機構控制電路2 3，使用此物理位址偏移透鏡致動器6，俾 形成一光束點於最外周軌道，或資料區之最外周軌道一軌 道前之軌道上。如此，光束點由軌道跳躍每一軌道移動（ 步驟 S Τ 5 0 3 )。 如光束點已到達資料區之最外周軌道或最外周邊軌道 前一軌道之軌道，則一 D C輸入施加於粗定位機構控制電 路1 7，以僅偏移尋找馬達1 2進一步至外周方’同時追控 -37- (35) 200537472 控制M接通π (步驟ST5 04 )。結果， 置沿追蹤方向移動至稍內周方，與由 學頭1 〇相反。調整輸入至尋找馬達 察容許物鏡5自中立位置移向內周之 位機構控制電路2 3輸入至透鏡致動 蹤操縱量之DC成份，計算及觀察此; 在如此達成該狀態（其中，物鏡 稍內周方）後，停止D C輸入至尋找 馬達12 (步驟ST5 05 )，並關斷追縱 。而且，與追蹤控制”關斷’’同時，開 測方法之偵測，作爲定位誤差偵測電 測方法（步驟ST5 07 )。此時，物鏡 圖回轉至透鏡致勘器6之本徵頻率處 光束點由調整偏移量移動至系統引入 之最外周外之周邊上。此時之偏移量 蹤方向上之最大偏移量。 一般言之，保証作爲物鏡致動器 不降低再生信號品質之偏移量最大約 點可在該偏移量內通過連接區到達系 接區（閱圖1 〇至1 2 )於〇 · 3 m m或以 當光束點已到達系統引出區時， 行列所構成，故由定位誤差偵電路1 中相同之方式獲得偵測之追蹤誤差信 。此追蹤誤差信號偏置’與光碟1及 物鏡偏移，自中立位 尋找馬達1 2移動光 1 2之D C値，同時觀 移動量。可使用細定 器6之輸出量’即追 移動量。 5自中立位置移動至 馬達1 2，以停止尋找 :控制（步驟ST5 06 ) 始上述D P D fg號偵 路1 9之追蹤誤差偵 5朝外周方偏移，企 之中立位置。即是， 區，此在於較資料區 絕不超過物鏡6在追 6之可移動範圍，而 爲0.3 m m。爲使光束 統引出區，宜設定連 下。 由於系統引出區爲坑 9以與在系統引入區 號，作爲DPD信號 物鏡5間之相對傾斜 -38- (36) (36)200537472 具有關聯。因而，傾斜信號偵測器3 0對微分相位追蹤誤 差信號取樣，以量度其偏置中心値，使用與上述相同之順 序（步驟S T5 0 8 )，從而獲得一傾斜誤差信號。當獲得此 傾斜誤差信號時，傾斜調整機構控制電路24根據此信號 執行傾斜控制，使用與上述相同之順序（步驟S T 5 0 8至 S T 5 1 0 )。保持一傾斜補償量，如在系統引出區上者（步 驟S T 5 1 1 )，並在其極性倒反後’儲存於傾斜補償量儲存 電路32中，如在系統引入區後（步驟ST5 12 )。 當無需再生系統引入區上之資訊，及僅需獲得系統引 出區上之傾斜補償量時，可僅執行以下順序，以獲得系統 引出區上之追蹤誤差信號之偏置量。 當僅在系統引出區上執行傾斜調整時，進出系統引出區之 方法 圖2 9爲流程圖，用以說明進出碟之最外周處之系統 引出區之順序之另一例。在圖2 9所示之順序中，光學頭 1 〇由尋找馬達1 2緩慢移動至外周方，同時追蹤控制”關 斷’’，且僅施行追蹤控製，物鏡置於追蹤方向中之中立位 置（步驟ST602 )。此時，如物鏡5移動至光碟1之一不 存在之徑向位置，則可能碰撞光碟1。故此，由尋找馬達 1 2之編碼器2 1所提供之目標位置宜設定於較之可進出之 最外周位置稍內之周邊處。 尋找馬達1 2朝外周方偏移光學頭，及偵測作爲鏡區 之連接區，同時通過此區（步驟S T 6 0 3 )，並切換追蹤誤 -39- 200537472 (37) 差信號偵測方法至DPD方法（步驟ST6〇4 )。如成功偵 得微分相位追蹤誤差信號（步驟S T 6 0 5中之n是’，），則停 止尋找馬達1 2之操作（步驟s T 6 0 6 )，並自偵得之微分 相位追縱無差is號I十算傾斜補償量，以開始傾斜控制。而 且，保持傾斜補償量，與系統引出區者同樣，並在其極性 倒反後，儲存於傾斜補償量儲存電路3 2中，如在系統引 入區中（步驟ST607)。 系統引出區上之追蹤控制 其後’當在系統引出區上成功偵得追蹤誤差信號時， 可使用細定位機構控制電路23及粗定位機構控制電路1 7 ，在適當之時刻開始軌道引入控制（步驟ST608 )，以執 行追蹤控制（步驟ST609 )。此時，亦再驅動尋找馬達12 ，以控制物鏡5之移動量在追蹤位置處增加。其後，可關 斷追蹤控制，且可由上述傾斜調整順序計算傾斜補償量。 在可重寫光碟之情形中進出系統引出區之詳細程序 上述進出系統引出區之控制可由圖3 2所示之處理電 路實施。明確言之，在可重寫光碟之情形中，進出系統 引出區之控制’’之處理順序如下執行。 圖3 0顯示在進出碟之最外周邊之系統引出區之期間 中，微分相位追蹤誤差信號等之改變。圖3 2爲方塊圖， 顯示進出光碟之最外周邊之系統引出區之一控制系統之安 排之例。 -40- 200537472 (38) 在可重寫光碟之情形，使用在資料區或資料引入區及 資料引出區上之一推挽追蹤誤差信號’施行追蹤控制。由 於資料引出區之外側之連接區無不平坦’且爲一所謂鏡區 ，故如一光束點在該進出方法中通過連接區而至系統引出 區，則由光偵測器之信號差所計算之推挽追蹤誤差信號及 微分相位追蹤誤差信號分別輸出零（閱圖3 0之（b )及（ e )中振幅變爲平坦之部份）。
在圖32之安排中，電路區塊12，17，18，及25在 功能上可等於圖1之電路區塊12，17，18，及25。以下 說明圖32中之其他電路區塊50- 5 8。
此推挽追蹤誤差信號（圖3 0 ( b ))由圖3 2中之切 換電路5 0選擇，並發送至追蹤誤差振幅偵測電路52。此 電路偵測追蹤誤差信號之零振幅，同時光束點通過鏡區。 根據此零偵測’連接區偵測電路54偵知光束點通過鏡區 (連接區）（圖30(c))。同時，微分相位追蹤誤差信 號偵測切換決定電路58發送用以切換追蹤誤差信號之偵 測至微分相位追蹤誤差方法（圖30 ( d ))之一命令至切 換電路5，連同焦點狀態決定電路56之輸出，此証實追 蹤誤差信號變爲零（圖5 0 ( b ))，雖聚焦控制在”接通， (圖3 0 ( a ))。其後，自圖3 〇 ( c )之信號終止偵得光 束點已通過連接區（即是，此可進出系統引出區）.，圖 32之安排根據微分相位追蹤誤差信號進入操作狀態。 圖3 1用以說明由傾斜補償量儲存電路3 2所獲得之傾 斜改正量之輪廓之—例。在可重寫之光碟，僅在系統引入 -41 - 200537472 (39) 區（碟徑向位置Ri )及系統引出區（碟徑向位置R〇 )上 獲得傾斜補償量，在此，可偵測微分相位追蹤誤差信號。 然後，自所儲存之至少二傾斜補償量依據碟徑向位置，計 算碟徑向位置及傾斜補償量間之關係（輪廓），如顯示於 圖3 1。如可獲得此輪廓，則可由估計計算碟徑向位置Ri 及R〇間之傾斜改正量（閱圖25中之步驟ST32〇 )。 圖3 3用以說明裝於光碟裝置之驅動器中之光碟之傾 斜（自轉動軸翹起及/或傾斜）之偵測方法之例。圖3 4 用以說明由傾斜補償量儲存電路3 2所獲得之傾斜改正量 (此與圖3 1不同）之輪廓之另一例。 圖3 3說明偵測具有與碟本身之翹曲關聯之信號之方 法。儲存一焦點驅動信號，同時聚焦控制”接通”，及物鏡 5在碟之徑向上移動，如此獲得碟1之一 ”翹曲輪廓”，作 爲依據碟之徑向位置之一値。結果，獲得圖34 ( a )所示 之一輪廓信號。然而，由於如此所獲得之輪廓並不包含光 碟裝置之三軸致動器（傾斜致動器）6之任何驅動敏感資 訊’故如使用此作爲傾斜補償量，則此含有誤差。在依據 在系統引入區之徑向位置Ri處之傾斜補償量及在系統引 出區之徑向位置Ro處之傾斜補償量改正此輪廓信號後， 如顯示於圖3 4 ( b )，此用作傾斜補償量，如此實施更精 確之傾斜控制（圖3 3所示之安排使用已由補斜角度之開 放迴路控制輸出240改正之一傾斜補償量）。注意可僅在 內周方之系統引入區上執行此改正。 傾斜補償量可如下改正。更明確言之，圖3 4 ( a )中 -42 - 200537472 (40) 之虛線曲線輪廓上之一些坐標値乘以圖3 1之輪廓上之對 應徑向位置處之値（計算値），如此獲得’’改正之傾斜改 正量輪廓”，如一虛線曲線，此在圖3 4 ( b )中在下彎之 方向中稍”彎下’，。 使用再生信號細調整傾斜補償量 爲依據碟徑向位置提高圖1之傾斜補償量儲存電路 3 2中所.存之傾斜補償量之精確度，使用在資料區上記鲁 錄/再生資料時之再生信號之品質，由以下順序細調整該 補償量。在僅讀光碟之情形，使用現狀之一再生信號。然 而，在可重寫光碟之情形，執行暫時測試記錄，並再生其 結果’以、獲得調整用一再生信號。 在上述傾斜調整順序中，由自追蹤誤差信號獲得一傾 斜誤差信號作爲偏置量，執行傾斜控制。然而，傾斜誤差 信號不獨受徑向傾斜，且受正切傾斜之影響。而且，傾斜 控制之伺服目的在最佳化再生信號之品質。故此，爲改正 ® 正切傾斜之影響，並在最佳再生信號品質之一點上施行傾 斜控制，使用該信號品質執行細調整。 當由尋找馬達1 2控制光束點偏移，並形成其於一預 · 定徑向位置上時，傾斜補償量儲存電路3 2中所儲存之傾 . 斜補償量輸出至傾斜信號偵測器3 0 ’作爲依據由尋找馬 達之編碼器2 1 ( T A C :編碼器）所偵測之徑向位置之一値 ，並經由傾斜調整機構控制電路2 4輸入至透鏡致動器6 ，作爲傾斜操縱量。即是，進一步施行D C傾斜控制，同 ~ 43 _ 200537472 (41) 時聚焦控制”接通”。在此狀態，開始追蹤控制，以獲得一 再生信號。當此再生信號由圖3 8之信號處理電路（以後 述之）處理時，可獲得一大致之誤差率或估計之約略誤差 率。 在獲得此誤差率（此後稱爲第一誤差率ER 1 )之期間 中，依據來自系統控制器2 5之一指令執行以下操作。即 是，再施加電壓+Vc[V]於欲自傾斜信號偵測器30輸出至 補償控制器3 1之傾斜補償量上，俾物鏡5在徑向上轉動+ α °，致具有傾斜補償量Vd[V]儲存於圖1之傾斜補償量 儲存電路3 2中作爲中心。 在此狀態，量度一誤差率（此後稱爲第二誤差率ER2 )。然後，施加電壓-Vo[V]於所儲存之傾斜補償量，俾使 物鏡5在徑向上輸流轉動-α °。如此，物鏡5在與額外 施加+ V c [ V ]時相反之方向上轉動。亦在此動態，量度在預 定時間週期中之一誤差率（此後稱爲第三誤差率ER3 )。 在以上程序中，系統控制器2 5分別比較由圖2 0所示 之信號處理電路所量得之誤差率ER1，ER2，及ER3。如 ER1 > ER2或 ER3，則欲儲存之傾斜補償量設定於 Vd + Vo[V]或 Vd-Vo[V]。注意如 ER1<ER2 或 ER3，則決 定於獲得E R 1時之傾斜補償量爲最佳量，如此終止調整 〇 圖3 5用以說明由推挽法偵測追蹤誤差之一例。當在 圖7或9所示之安排不能偵得微分相位追蹤誤差信號之情 形中獲得追蹤控制之推挽追蹤誤差信號時，可採用此方法 -44- (42) (42)200537472 注意V 〇宜約爲可施加作爲細定位機構控制電路之輸 出之最大電壓之1 /1 0，以滿足搜索一最佳點，且更明確言 之，宜設定於0.2V或以下。 依據光碟修改調整順序 如上述，使用微分相位追蹤誤差信號之偏置之中心値 執行傾斜控制。注意在一些情形，不能依據目標碟1自資 料區上之追蹤誤差信號獲得傾斜誤差信號。在此情形，檢 查由心軸馬達2轉動之光碟1之型式，並依碟之型式採用 不同之傾斜控制順序（閱以後說明之圖3 6之程序）。 如目標光碟1爲僅讀碟，則可在碟1之整個表面上獲 得傾斜誤差信號。然而，在可重寫碟之情形，軌道結構並 非根據上述之坑行列。爲此，不能在碟1之整個區域上偵 得具有高 S /Ν之傾斜誤差信號。使用一資訊信號（閱圖 3 4 ( a ))校準並使用該傾斜誤差信號，此與由另一偵測 方法所偵得之碟本身之翹曲有關聯’參考在系統引入區上 所獲得之傾斜補償量（閱圖3 4 ( b ))。 圖3 6爲流程圖，用以說明包含本發明之實施例之傾 斜調整之程序之流程（自安裝R〇M或RAM時至再生及/ 或記錄開始之程序流程）。 當一 ROM或RAM裝於裝置（碟驅動器）上時（步驟 S T 1 〇 〇 1 )，焦點伺服接通（步驟S T 1 0 0 2 )至光學頭〗0， 以移動光束點至內周方上之引入區（步驟ST 1 003 )。在 -45- (43) (43)200537472 此引入區上，使用DPD信號，執行封閉迴路之粗傾斜調 整（步驟 ST 1 0 04 )。由於粗傾斜調整之結果，習知碟之 內周上之一相對傾斜量，並儲存其於圖1之傾斜補償量儲 存電路3 2中。其後使用所儲存之相對傾斜量於一開放迴 路之傾斜補償上。在儲存碟之內周上之相對傾斜量後，追 蹤伺服接通（步驟ST 1 00 5 )，並檢查現所裝之碟1之型 式（β卩ROM或RAM碟或類似者）（步驟ST 1 006 )。此 檢查程序可由讀出現所裝碟1之引入區中之資訊獲得。 如現所裝之碟1爲一 ROM碟（步驟ST 1 007中之”是” )，則移動光束點至目標軌道（步驟 ST 1 008 )，使用 DPD信號之偏置執行封閉迴路之粗傾斜調整（步驟 ST 1 00 9 )。在TAC (圖1中之編碼器21 )尋找（透鏡移 動==小）之期間中，或在軌道引入控制前，執行此粗傾斜 控制。其後，追蹤伺服接通（步驟S T 1 01 0 )，以執行細 傾斜調整（步驟ST1 01 1 )，如此，開始ROM上之資訊之 再生（步驟ST1012)。 注意可由執行圖3 9所示之爬山調整，執行步驟 S T 1 0 1 1中之細傾斜調整，同時觀察再生RF信號之誤差率 (SbER )，並供應一 D C驅動信號至傾斜致動器6。 如現所裝之碟1爲一 RAM碟（步驟ST 1 007中之”否” )，則由TAC (編碼器21 )尋找（步驟1 〇 1 3 ) —碟傾斜 輪廓（碟徑向中之傾斜補償量之平均輪廓）。或在RAM 碟之外周驅動測試區之一槽區上執行測試記錄，及觀察其 再生RF信號之振幅（峰至峰：PP )。然後，執行上述之 -46 - 200537472 (44) 爬山調整，同時觀察再生RF信號之誤差率（SbER)，並 供應一 D C驅動信號至傾斜致動器6。如此，習知碟之外 周上之一相對傾斜値，及習知結果儲存於圖1之傾斜補償 量儲存電路31中（步驟ST1019)。 在獲得碟傾斜輪廓（平均碟輪廓）（步驟ST 1 (H 3 ) 後，或如習知碟之外周上之相對傾斜値（步驟S T 1Ό1 9 ) ，移動光束點至目標軌道（步驟S T 1 0 I 4 )，以執行粗傾 斜調整（步驟 ST 1 01 6 )。在此粗傾斜調整中，根據在歩 驟ST 1 004中所獲知之引入區上之傾斜資訊，及/或在步 驟 S T 1 0 1 9中所習知之碟之外周邊上之傾斜資訊，改正在 步驟S T 1 0 1 3中所獲得之碟輪廓（閱圖3 4 ( b ))。 在此各種粗傾斜調整中，如現所裝RAM碟1爲一無 記錄之空白碟（步驟ST 1 0 1 6中之”是”），則接通追蹤伺 月H (步驟ST1017 )，以開始記錄（步驟ST101 8 )。另一 方面，如現所裝之 RAM碟 1爲一部份記錄碟（步驟 ST1016中之”否”），則執行細傾斜調整（步驟ST 1 020 ) ，及接通追蹤伺服（步驟ST1021 )，如此開始RAM碟1 之記錄或再生（步驟ST1022)。注意在步驟ST1020中之 細傾斜調整可由執行上述爬山調整執行，同時觀察追蹤誤 差（TE )信號之振幅値，並供應一 DC驅動信號至傾斜致 動器6。 如顯示於圖3 6，在可重寫碟之情形，需視欲進行資 訊記錄之目標軌道是在未記錄或已記錄區內而定，採取不 同之細調整。而且，需視碟在記錄資訊時之反射率增加或 -47- 200537472 (45) 減少而定，採取不同之細調整方法。 當碟於記錄資訊時反射率增加，且資訊已記錄於目標 軌道位置上時’推挽追縱誤差柄號之S / S較高。爲此，電 壓+ V ο [ V ]額外施加於自傾斜信號偵測器3 0輸出至補償控 制器3 1之傾斜補償量上，俾物鏡在徑向上轉動+ α。，使 所儲存之傾斜補償量Vd[V]作爲中心。 如顯示於圖36之步驟ST1019，在可重寫碟】之情形 ，可使用確保於碟之外周附近之資料引出區中之一驅動測 試區，有效記錄資訊，並再生所記錄之資訊，以獲得再生 信號，如此執行細調整。在此情形，宜記錄及再生一軌道 上之信號，在此，可輸出由陸-槽結構所形成之資料引出 區之陸或槽部份之一較強之再生信號。更明確言之，由於 可自槽部份輸出較強之再生信號，故圖3 6由槽部份上之 測試記錄採取細調整順序。 如上述，由本發明之傾斜控制信號獲得方法及傾斜控 制方法，由自所獲得之追蹤誤差信號計算偏置之中心値， 獲得一傾斜誤差信號，同時聚焦控制”接通’’，並使用此傾 斜誤差信號施行傾斜控制。此傾斜制之控制頻帶爲一低頻 帶，低至約爲轉動頻率之1 /1 0。每次獲得作爲傾斜控制信 號之傾斜誤差信號時，輸入一操縱量至透鏡致動器，由加 進一改正量在徑向傾斜方向上轉動物鏡。儲存傾斜補償操 縱量於傾斜補償量儲存電路中，作爲依據碟徑向位置之傾 斜補償量。所儲存之傾斜補償量由由尋找馬達1 2之編碼 器2 1約略計算在預定徑向位置之光束點之資訊取出’及 -48 - 200537472 (46) 一操縱量輸入至透鏡致動器6， 在移動期間中自追蹤誤差信號偵測傾斜誤差信號 當自已在系統引入區上進行追蹤控制之光束點讀出預 定之資訊時，光束點移動至系統引入區之外側所形成之資 料引入區。由尋找控制移動至資料引入區，此控制同時計 算欲由偏移物鏡5通過之軌道數，俾沿外周方向移動一光 束點。在此尋找控制中，由於追蹤控制暫時”關斷”，故物 鏡在外周方向上偏移，同時聚焦控制及傾斜控制”接通”。 例如，當僅讀碟裝於心軸馬達2上時，資料引入區亦 爲坑行列所形成。爲此，當由偏移找馬達1 2取代透鏡致 動器6達成此移動時，光學頭1 0上之透鏡致動器6近乎 在追蹤方向中之中立位置，及追蹤誤差信號之一偏置成份 與碟1及物鏡5間之一相對傾斜量具有關聯。由於一光束 點在移動期間中自動通過軌道，故可獲得追蹤誤差信號之 最大及最小値。爲此，可由與系統引入區上之傾斜調整順 序相同之順序，自追蹤誤差信號之偏置獲得資料引入區上 之傾斜誤差信號。當光束點在移動期間中移動更接近目標 位置時，施行傾斜控制，以置此傾斜誤差信號於零，如此 獲得一傾斜操縱量。在此順序中，開始追蹤控制，同時輸 出此傾斜操縱量至傾斜調整機構控制電路24。 注意與光碟及物鏡間之相對傾斜關聯之極性在系統引 入區及資料引入區中倒反。爲此，在資料區上之傾斜補償 量之極性與在系統引入區上者不同。當系統引入區上之傾 - 49 - 200537472 (47) 斜操縱量反轉，並儲存於傾斜補償量儲存電路中，作爲在 系統引入區之徑向位置處之補償量時，可在碟之整個表面 上管理資料引入區上之傾斜補償量，而不反轉傾斜操量之 極性。 圖3 7用以說明推挽法之追蹤誤差信號及一碟之傾斜 (徑向傾斜）間之關係（圖3 7中a，b，及c中之傾斜方 向分別對應於圖3之A，B，及C )。一推挽追蹤誤差信 號產生依據碟傾斜之一偏置（唯此甚弱），如顯示於圖 3 7，與微分相位追蹤誤差信號之方式相同。 圖3 8爲方塊圖，顯示用以計算再生信號誤差率之安 排之一例。來自光偵測器之一再生信號由再生信號波形等 化電路70等化，並輸入至再生信號誤差率計算電路74。 此再生信號誤差率計算電路74經組態，以先行計算一誤 差率，此可能以後在一解碼器中（未顯示）根據輸入信號 產生。可如以下實施此計算。電路74具有欲隨機解碼之 信號之預期値（由先行檢查此等），並輸出此預期値及實 際信號間之一誤差成份，作爲誤差動力。明確言之，由加 權圖案設定電路74，以增加誤差偵測之靈敏度，此容易 使誤差具有誤差動力之較高增益。電路74能約赂計算誤 差率ER1，ER2，及ER3，此等已在”使用再生信號細調整 傾斜補償量’’中說明。 圖3 9爲流程圖，用以說明傾斜調整順序之一修改。 此傾斜調整處理常式例如在聚焦伺服’’接通”之後，及在追 蹤伺服”接通’’之前執行。偵測一追蹤誤差信號（步騾 -50- 200537472 (48) S T 8 0 5 )，及偵測追蹤誤差信號之振幅値（步驟S τ 8 0 6 ) 。其後’由± V 〇變化傾斜改正量，以檢查追蹤誤差信號 之振幅如何變化（步驟S Τ 8 0 7 )。如由於由土 V 〇變化傾斜 改正量之結果，追蹤誤差信號之振幅變大（步驟ST8 10中 之”是π )，則選擇”具有大振幅之傾斜改正量（+Vo或-Vo · )”（步驟S T 8 0 8 )，且流程回至追蹤誤差信號之振幅値 偵測程序（步驟S T 8 0 6 )。. 如即使在傾斜改正量由重複步驟S T 8 0 6至S T 8 1 0之 ® 程序由± V 〇改變後，追蹤誤差信號之振幅並不增加（步 驟ST8 1 0中之”否”），則選擇與迄此所執行之追蹤誤差信 號振幅値偵測程序（步驟ST8 06 )中最大追蹤誤差信號相 對應之一傾斜改正量（步驟ST8 1 1 )，並使用所選之傾斜 改正量決定傾斜調整（步驟S T8 1 2 )，如此，圖3 9之傾 斜調整順序終止。 在本發明之實施例中，使用僅在坑區上所產生之微分 相位追蹤誤差信號取代由具有陸-槽結構之光碟所獲得之 鲁 推挽信號，執行傾斜伺服。此爲本發明之實施例一特色。 或本發明之實施例之一特色在於執行傾斜補償·（改正）， 同時使用微分相位追蹤誤差信號取代難以達成傾斜偵測（ - 由於S /N等問題）之推挽法’檢查欲調整之極性。在此情 — 形中，可提高S/N，以執行調整（圖3 9等），以最大化 微分相位追蹤誤差ig號之振幅。明確言之，在傾向於具有 較小信號位準之單面/多層碟中，可實施可靠之傾斜控制 -51 - (49) (49)200537472 注意本發明並不限於上述實施例本身，且可由需要各 種修改之構成元件具體表現，而不脫離本發明實施時之範 圍。例如’用於傾斜偵測之追蹤誤差信號可由參考圖3 6 所述之推挽方法取代DPD方法獲得，只要可確保充分高 · 之信號S/N即可。傾斜信號偵測器中之偵測程序可包含用 · 以獲得微分相位追蹤誤差信號之P V (峰至峰電壓）中心 値之程序，或用以獲得一平均値（平均）之程序。然而， 如樣品點數不足，則不能獲得精確之偏置量。如偏心度大 φ ，樣品點數可少，因爲可監視一軌道橫過。自系統引入區 移動至資料引入區之移動方法可使用由透鏡致動器6偏移 物鏡5之，同時計算軌道數之方法，或由僅尋找馬達1 2 進出而不使用透鏡致動器6之方法。傾斜致動器不限於使 用三軸透鏡致動器6之安排，且可採用傾斜碟驅動器底座 之一致動器，或傾斜光碟1及心軸馬達2之一致動器。 而且，各種發明可由適當合倂實施例中所述多個所需 之組成元件構成。例如，實施例中所述之所有所需之組成 ® 元件中可刪除一些所需之組成元件。而且，不同實施例中 之所需之組成元件可視需要合倂。 【圖式簡單說明】 · 圖1爲方塊圖，用以說明本發明之一實施例之光碟裝 置之安排； 圖2用以說明由於光碟偏心（當光束點追蹤資料區之 資訊坑時）所引起之所偵得之微分相位追蹤誤差信號； -52 - 200537472 (50) 圖3用以說明光碟之徑向傾斜（徑方向上之傾斜）及 微分相位追蹤誤差信號間之關係之例； 圖4用以說明光碟之傾斜及微分相位追蹤誤差信號間 之關聯之例；； 圖5用以說明隨光碟之傾斜量而定之微分相位追蹤誤 差信號之波形， 圖6用以說明當光束點在軌道上時，由於4-分割光 偵測器之相位差所引起之所偵得之微分相位追蹤誤差信號 之例； 圖7爲方塊圖，顯、示微分相位追蹤誤差信號測電路之 安排之例； 圖8顯示由圖7所示之偵測電路所偵得之微分相位追 蹤誤差信號之例； 圖9爲方塊圖，顯示微分相位追蹤誤差信號偵測電路 之另一例； 圖1 〇用以說明（當光束點追蹤資料區以外之一區時 )由於光碟之偏心所引之所偵得之微分相位追蹤誤差信號 之另一例； 圖11顯示可用於本發明之光碟（單面/單層式）之 --例； 圖1 2顯示可用於本發明之光碟（單面/雙層式）之 一例； 圖1 3顯示單面/單層式僅讀光碟之記錄區之組態及 -53- 200537472 (51) 物理及邏輯扇區號數間之關係之一例。 圖1 4顯示單面/雙層式（平行佈置）僅讀光碟記錄 區之組態及之物理及邏輯扇區號數間之關係之一例。 圖1 5顯示單面/雙層式（相對佈置）僅讀光碟之記 錄區之組態及物理及邏輯扇區號數間之關係之一例。 圖16顯示單面/單層式可重寫光碟（具有陸·槽結構 )之記錄區之組態及物理及邏輯扇區數間之關係之一例。 圖1 7顯示單面/雙層式（平行佈置）可重寫光碟（ 具有陸-槽結構）之記錄區之組態及物理及邏輯扇區數間 .之關係之一例。 圖1 8爲方塊圖，顯示用以偵測依據光碟之偏心之微 分相位追蹤誤差信號（此包含圖2等之波形成件）之安排 (傾斜信號偵測器3 0及其周邊組成件）之一例； 圖1 9顯示由於光碟之偏心所引起之所偵得之微分相 位追蹤誤差信號及由圖1 8之傾斜信號偵測器3 0所取樣之 追蹤誤差信號間之關係之例； 圖2 0用以說明由於光碟之偏心所引起之所偵得之微 分相位追蹤誤差信號（於通過軌道時所看到之波形）； 圖2 1顯示用以偵測依據光碟之偏心之微分相位追蹤 誤差信號（此包含波形成份）之安排之例，及由此安排所 偵得之微分相位追蹤誤差信號之例； 圖22顯示圖2 1所示之安排之例中由於光碟之偏心所 引起之所偵得之微分相位追蹤誤差信號及細定位機構驅動 信號間之關係之例； -54- (52) (52)200537472 圖2 3爲流程圖’用以說明本發明之實施例之光碟裝 置之伺服順序； 圖2 4爲流程圖，用以說明本發明之實施例之傾斜調 整順序（由依據碟之徑向立置施行傾斜伺服儲存調整値之 例）； 圖2 5爲流程圖’用以說明本發明之另一賓施例之傾 斜調整順序（儲存碟之弓丨入及弓丨出區之傾斜伺服調整値’ 及使用自所儲存之調整値所計算之一値於引入區及引出區 間之資料區之傾斜伺服之例）； 圖2 6爲流程圖，用以說明本發明之又另一實施例之 傾斜調整順序（儲存碟之引入區及外周之傾斜伺服調整値 ，及使用所儲存之調整値所計算之一値於引入區及外周間 之資料區之傾斜伺服之例）； 圖27爲方塊圖，顯示使用圖24至26等所示之順序 中所儲存之傾斜調整値獲得傾斜斜調整之例； 圖2 8爲流程圖，用以說明進出碟之最外周處之系統 引入區之順序之例； 圖2 9爲流程圖，用以說明進出碟之最外周處之系統 引出區之順序之例； 圖3 0顯示在進出碟之最外周處之系統引出區之期間 中，微分相位追縱誤差信號等之改變； 圖3 1用以說明由傾斜補償量儲存電路所獲得之傾斜 改正量之輪廓之例； 圖3 2爲方塊圖，顯示進出碟之最外周處之系統引出 -55- 200537472 (53) 區之控制系統之安排之例； 圖3 3用以說明偵測裝於光碟裝置之驅動器中之光碟 之傾斜（自碟之轉動軸翹曲及/或傾斜）之方法之例； 圖3 4用以說明由傾斜補償量儲存電路3 2所獲得之傾 斜改正量（此與圖1 3不同）之輪廓之另一例； ^ 圖3 5用以說明由推挽法偵測追蹤誤差之例； 圖3 6爲流程圖，用以說明程序之流程，包含依據本 發明之實施例調整傾斜（自裝上ROM或RAM碟畤至再生 鲁 及/或記錄開始之程序之流程）； 圖3 7用以說明由推挽法追蹤誤差信號及碟之傾斜（ 徑向傾斜）（分別對應於圖3之A，B，及C之圖3 7之a ，b，c之領斜方向）間之關係； 圖3 8爲方塊圖，顯示用以計算再生信號誤差率之安 排之例；及 圖3 9爲流程圖，用以說明傾斜調整順序之修改。 【主要元件符號說明】 1 光碟 2 心軸馬達 、 5 物鏡 ， 6 傾斜致動器 6 透鏡致動器 8 光學改正機構 9,102 光偵測器 -56 - 200537472 (54) 1 0 12 12 14 15 16 1 7 18 19 19 20.1 7,23 20,3 1 2 1 22 22 23 24 24.2 5,3 0- 3 1 25 28 29 30 3 0a 30b 光學頭 位置單元 尋找馬達 基準速度產生電路 速度偵測器 放大器 粗定位機構控制電路 進出控制電路 位置誤差偵測器 位置誤差偵測電路 定位控制器 補償控制器 編碼器 焦點控制器 焦點機構控制電路 細定位機構控制電路 傾斜調整機構控制電路 傾斜控制器 系統控制器 編碼器 心軸馬達轉動控制電路 傾斜信號偵測器 樣品點數決定電路 S / Η電路
-57- 200537472 (55) 3 0c 最 大 / 最 小 値 3 0d 中 心 値 偵 測 電 3 1 補 償 控 制 器 32 傾 斜 補 償 量 儲 33 偏 心 狀 態 決 定 1 00 光 束 點 :點 10 1 資 訊 坑 1 02 光 偵 測 器 145 比 較 電 路 偵測電路 路 存電路 電路 * -58-