TW200529647A - Image reading device and signal processing method - Google Patents

Description

200529647 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本毛明係有關一種利用密貼型影像感測器（image sensor)的影像讀取裝置，以及訊號處理方法。 【先前技術】 圭在習知的影像讀取裝置中，係利用以缺漏畫素的鄰接 旦素之平均值作為插值資料（interpolation data)的方 法、使用最小平方法求取與缺漏晝素鄰接的晝素的回歸 線，而從該回歸線來計算插值資料的方法、 素:接的‘晝素求取4次式曲線，而從該4次：來 資料的方去等计异缺漏晝素的插值資料（參照例如# $ 文獻1)。 〔專利文獻1〕日本特開2G()3_1()1 724公報 第3至5圖） 月 【發明内容】 :習知的影像讀取裝置，對於密貼影像感測 兀件的間隔不均等的部分（因等同於沒有攝像元件，= 有由於構成密貼影像感測器的各攝像元件之❹： ’:：“異而無法正確進行插值的情況，使得讀取影：的 。尤其在讀取高周期性影像的場合之插值 口营發生大誤差，故使讀取的影像晝f顯著劣化。、、。果’ 本發明係為解決上述之課題而研發出者，其目的在提 3】6005 5 200529647 供一種可適切地進行包含在高 插值’而且在構成密貼影像感 特性等即使有其差異，也能夠 取裝置’以及訊號處理方法。 屈以解決誤題的手段 周期性影像中的缺漏晝素的 測裔的各個攝像元件之感度 南精度地進行插值之影像讀 _本發明所提供的影像讀取裝置，係藉由將複數個攝像 元件配置成一行而成的影像感測器來讀取影像者，具備有： .將具有複數個攝像元件的複數個感測器晶片（sens〇r ch i p )相互連接配置成一行而成之攝像部； 將攝像部所輸出的影像訊號轉換為數位（dighal)晝 素貧料之A/D(Analog /Digital，類比/數位）轉換部； 修正4述感測器晶片的攝像元件之特性差異之特性修 正部；以及 ^ 對在前述複數個感測器晶片相互的連接部發生的晝素 寅料的缺漏進行插值之插值部， 、 且在上述特性修正部將上述攝像元件之特性差異予以 1W正後在上述插值部進行上述缺漏畫素之插值處理。 效果 在依據本發明的影像讀取裝置中，因係對於 以密貼影像感測器讀取的影像資料在修正攝像元 件的固有特性差異後實施插值處理，故即使在利 用含有缺漏晝素的密貼影像感測器之情況，也能 獲得高品質的讀取影像。 336005 6 200529647 【實施方式】 第1實施形態. 第1圖係顯示依據本發明的影像讀取裝置的構成之 圖。 依據本4明的影像讀取裝置，係具備：攝像部 1、A/D轉換部2、特性修正部3、及插值部&。 攝像部1係如後述，具有呈一雉配列的複數個攝 像元件 X 、、隹地磧取影像並輸出影像訊號。a/D轉 換部2係將攝像部1所輸出的影像訊號轉換為一連串 的數位晝素貝料。晝素資料分別代表與攝像元件對應 的晝素之值。特性修正部3係對A/D轉換部2所輸 出的晝素貝料’進行攝像部1的攝像元件之特性差異 的修正，並輸出修正資料。插值部4係根據特性修 正部3所輸出的修正資料，進行缺漏晝素資料的插 值0 第2圖係顯示攝像部1之圖。圖示之攝像部1係由 密貼影像感測器5構成，密貼影像感測器5，係具有配 置在基板5 a上相互連接形成一行的複數個，例如·( 個感測為晶片6 ( 〇至6 (a)，以及光源7。 苐3圖係更加詳細顯示密貼影像感測器5的感測器晶 片6(1)，以及感測器晶片6(2)之圖。 如圖所示，各個感測器晶片6(1)、6(2)、6 (3)係且 有複數個，例如b個攝像元件δ⑴至8(b)。各個攝 像元件δ(1)至8(b)係分別對應丨晝素。 口攝 3】6005 7 200529647 *再者，針對複數個感測器晶片全體進行共同的說明 日：，會使用符號「6」代表之，同樣地，針對複數個攝像 兀件全體進行共同的說明時，會使用符號「8」代表之。 感測器晶片6上的攝像元件8 (j)至 間隔一在直線上。而且位於相互連接的；;Π 測益晶片6的鄰接端部之攝像元件，係互相隔著距離 dw2 ° 。例如，感測器晶片6(1)的右端攝像元件8(b)與感 測器晶片6(2)的左端攝像元件8(1)的距離為dw2。 、在此，將感測器晶片配置成dw2大致為dwl的2倍， 使感測器晶片相互間存在i個缺漏晝素而進行插值處理 的=由，係因為如此可獲得高品質的插值結果，以下雖就 此丨月況加以5兄明，但本發明並不受此方式所侷限，也可因 應距離而進行插值處理。 立第4圖係顯不特性修正部3的構成，圖示之特性修 正"卩3係具有：修正攝像元件8的黑準位（1 eve 1 )的 特性’亚將經黑修正處理過的影像資料BK1予以輸出 之黑修正電路9 ;修正攝像元件8的感度5並將經感 ^修正處理過的影像資料WH1予以輸出之感度修正 包路1 〇 ’產生黑修正電路9所用的黑修正資料BC1 之黑修正貧料產生電路1 1 ;以及產生感度修正電路 10所用的感度修正資料WC1之感度修正資料產生電 路1 2。 其大，5兄明到特性修正部3為止的動作。 8 316005 200529647 密貼影像感測器5輸出的影像訊號A1，係輸入到 A/D轉換部2。密貼影像感測器5係受時序（timing)控 制訊號的控制，而決定光源7的點燈及熄燈、影& 讀取時序、及影像訊號A1的輸出時序，不過在此並 未圖示影像訊號A1以預定的時序被輸出者。再者， 密貼影像感測器5所具有的感測器晶片6(1 )至, 係對應讀取晝素數以複數個晶片朝主掃描方向連接 成-行的方式構成，影像訊號A1係藉由連續性或間 歇性地讀取從感測器晶片6(1)的攝像元件8(ι)到感測 器晶片6(a)的攝像元件8(b)之讀取晝素值，而構成i 條㈣咖）的影像訊號，而且使密貼影像感測器5朝 釗知描方向移動或使原稿移動等，而以預定的時序透 過反複讀取該i條線的影像訊號來形成二維的影像 訊號。 該二維的影像訊號，係由對應於掃描方向的水平 與對應於副掃描方向的垂直方向排列成 複數個晝素之集合所構成。 trix)狀的 部,ΓΓ中號Ai輸二A/D轉換部2,係將構成攝像 斤輪出的影像机號A1之久蚩本 (_Pllng)並轉換成數位影;: '值予以取樣 輸出的影•資料M，係輪入到:寺^ 修正Γ:Γ生Λ正部3的影像 係根據黑修·^料產生電 路π產生的黑修正資料BC1，對輸 316005 9 200529647 、行包含在影像資料D1中的各攝 的參差不齊的修正。在此所謂的黑準位的夫差， ==輸入到各攝像元件8時所輸出的 ,位之蒼至不背。黑修正資料產生電 U就準 ，先作好的1條線的晝素數份糸保持事 輸入於黑修正電路9的影像資：； 正貝广並輪出與 黑修正資料ΒΠ。若將1#線上的:晝素對應的 則對於晝素號碼P的晝素，分別以碼設為P， BKl(p)代表 （P)、BCl(p)、 由A/D轉換部2輸出的影像資料 由黑修正資料產生電路}丨 ， BC1 ； 產生的黑修正資料 於黑修正電4 9經黑修正處 _ 的話，在黑修正電路9中的修正虎 衫像貧料β κ 1 BKl(p) = Dl(p) — BCl(p) 可用下式表示。 第5圖係用以說明黑修正電路9 …(a)係呈現原稿面的概 取位置」的位置中遍及整 /表-為「讀 方向），黑晝素連續不斷的里c圖中之水平 呈現第5圖（a)所示「讀取位 衫像’·第5(b)圖係 第5 (c)圖係s王目也 > 订 」中的影像的赛产· 方… 現與項取影像相對的减，卜曰’ =向（主知描方向）的位置關係；帛二h曰曰片之水平 器晶片讀取的影像的亮度之資料的— ）圖係顯示感測 修正電路9輪出的修正後影像資:例如第5圖⑷係黑 】0 200529647 如第5 (d)圖所示，感測器晶片6 (i)、6 (2 )上的攝 像元件其表示黑色的資料有差異。黑修正電路9係具 有將此差異予以修正，並如第5圖（幻所示一般將讀取 黑影像時（或無光輸入到攝像元件8時）的資料予以均 一化之作用。亦即，黑修正資料產生電路丨丨係藉由 事先做好並保持無光射入各攝像元件8時的輸出資 料、而可產生黑輸出資料Bc 1。藉由將保持於黑修正 資料產生電路U的資料當作上述式子的Bci(p)供給 至黑修正電路9，即可進行以各攝像元 黑準位修正處理。 勺

抑以上係就黑修正電路9於各個攝像元件8(1晝J =位）進行修正處理時的情況加以說明，但亦可:飞 以構成：亦即先將例如8(1)與8(2)的複套 ^的攝像兀件8之黑準位的差異的平均或# 數個I:保持，錢以對應該值的1個修正資料對潜 口攝像元件8的晝素資料進行修正，藉此方 削減保持於黑修資料產 9 ^ ° BC1的數目。 貝卄屋生电路11的黑修正資乘 π衣值係為以 的拿 π〜〜必干π廷擇的其中任_ 可選擇如可選擇較大一方的數值作為代表值 向的^小—方的數值作為代表值，或選擇主掃 复側之攝像元件8的黑準位作為代表值。 阳，：V:、修正電路9輸出的修-後的影像 “知入到感度修正電路丨〇。感度修正電辟 316005 3] 200529647 H針對輪入％ f 電路12產生自如像—貝料BKl，根據感度修正資料產生 的感度的差異的感度修正資料WC卜修正各攝像元件S 像元件的輪出\在此，所謂的感度的差異係指，各攝 異，亦即從光源j號的動態範圍（dynamic ran狀）之差 輸入到各攝像、-7發出的光在白色的原稿面反射後光 未輸入時的輪：件二時的輪出訊號的準位，和光完全 況，光源7所發h丄差的不—致。在此情 含在於此所稱的感差中異所造成的影響，亦包 感度修正資料產生電路1 2，係保持事先作好的1 條線的晝素份感度修正資料，並輸出與輸入於感度修 正電路1 0的影像資料BK 1之各畫素對應的感度修正 資料WC1。將1條線上的晝素的號碼設為n，料二 J P，對於書 素號碼p的晝素，若以BKl(p)、WCl(p)、WH1(p) = 表於黑修正電路9經黑修正處理的影像資料βκι、 感度修正資料產生電路1 2所產生的感度修正資；:、 wc卜感度修正電路1 〇輸出的經感度修正處理、母 二 曰勺 像資料WH1時，感度修正電路1 0的修正處理可由 式代表之。 下 WHl(p)= BKl(p)xTG/ WCl(p) 在此，TG係代表白色的階調值。 作 為 之 的 第6圖係用以說明感度修正電路1 〇之修正重力 概念之圖。第6圖（a)係呈現原稿面的至少表示 讀取位置」的位置中遍及整個主掃描方向（圖中 3】6〇〇5 200529647 水平方向）’白晝素遠姨 圖係呈現第6圖⑷所：讀：：白:取影像；““) 6⑷圖係呈現愈讀取…二取位置的影像的亮度；第 向（主掃描方向）的位置關 千方 片讀取的影像的亮度之Μ準位圖㈣不感測器晶 ^佟正H η 2 後的資料；第6圖（e)係 \⑨路1G輸出的修正後影像資料WH1。 8二第：⑷圖所示，感測器晶片6上的各攝像元件 、有差異。感度修正電路1 0係具 白少德±八予以修正，並如第6圖（e)所示一般將讀取 =像日I的資料予以均—化之作用。亦即感度修正資 :隹生電路12係藉由事先作成並保持對讀取作為基 〉的白色影像所得的資料施加黑準位修正處理而得 白勺影像貢料，而可' g + d 玫丁 + 生感度‘正肓料WC1。藉由將保 ' δ"忍度修正資料產生電路1 2的資料當作上述式 子的WC1(P)供給至感度修正電路1〇，即可進行以各 攝像元件8為單位的感度修正處理。 ^上係就感度修正電路1〇針對各個攝像元件8(ι 晝素皁位)進行修正處理時的情況加以說明，但亦可 以下述方式加以構成，亦即先將例如8(1)與8(㈧的 複數個相鄰接的攝像元件8之修正資料的平均或代 表值予以保持，然後以對應該值的修正資料對複數個 攝像兀件8的晝素貢料進行修正，藉此方式，可削減 保持於感度修正資料產生科12嫩修正資料 WC1的數目。 、 316005 13 200529647 代表值係為以預定的基準所選擇的 的數值，例如可選擇較大—方的數值 可選擇較小一方的數值作為代 ^ 、值，也 ^ A, 卜马代表值，或選擇主掃描方 向的-側之攝像元件8的修正資料作為代表值。 感度修正電路10輪出的影像資料WH1，係輪入 到插值部4,以進行晝素資料的插值處理，缺後^ 值部4輸出包含插值後的晝素資料之晝素資料 插值部4之插值處理概要以第7圖及第8圖 明。第7圖係模式地呈現残測哭曰 ° 哭曰y c 兄饮測裔日日片6與配置在感測 。。曰曰片6上的攝像元件8之主掃描方向的位置、盘各 位置對應的影像資料WH卜以及影像資… 關 之圖。在第7圖中，係於各個感測器晶片6配置有’8 個攝像兀件8的情況，亦即就b=8的情況加以說明。 在圖中，WH1(1)至WH1(8)係與感測器晶片6(1)的攝像 兀件吖^至吖㈧對應之晝素資料丨龍^丨㈧至龍^^) 係與感測器晶片6(2)的攝像元件8(1)至8(8)對應之 晝素資料。感測器晶片6⑴的攝像元件δ(8)與感測 器晶片6(2)的攝像元件8(1)，因係以比dwi大的dw2 間隔加以配詈，闵，卜卜士 & 士 U此/又有相當於晝素資料WH1(9)的 攝像元件。亦即影像訊號WH1係被視為缺了與晝素資 料WH1 (9)對應的晝素而加以處理。例如將廿…設為 dwl、的2倍，則視為感測器晶片6(1)的攝像元件8 與感測器晶片6(2)的攝像元件8(1)的中間缺了】個畫 素而進行處理。 3]6005 200529647 在插值部4藉由利用插值運算算中 素貢料WHl (9),而輸出插值後的影像資 一 < 貝料 I ρ 1 (9 )。 插值部4對於感測器晶片6間缺漏的所右 ^ _ 吓有晝素資料， 係错由進行該插值處理，而輸出無缺漏 料1?1。 局思素的影像資 第8圖係說明插值部4對於表示為r ^ ^ 言買立晉 的位置中從主掃描方向（圖中的水平 」 太、嘉、灸如ha π 乃向）的左邊到 右邊逐漸交焭的原稿進行插值處理時 (aM二、十、店γ 斤 才的動作。第8圖 u)i丁、刖述原稿，弟8圖（b)係顯示第8 一 > 取位置中的原稿之亮度，第8圖（c)係顯示盥貝 對的感測器晶片6之主掃描方向的位置關係:、第^目 ⑷係顯示對於第8圖⑷所示感測器晶: 像訊號，方Η/D轉換部2及特性修正 …: ^ ύ $也加雨述的 二後的影像資料WH1的亮度之圖，其 =缺漏了晝素資料WH1⑻與晝素資料如（⑺的 大恶。乐8圖（e)係顯示插值部 、 像眘斗立、隹—社处士 丁弟8圖（d)所示影 像貝枓進仃插值處理後的結果之圖，苴中 賁料IPU9)與資料iPl(17V 〜不插補了 貝枓WU9)與晝素賢料WH1(17)的狀態。 如第 8 圖, 8 (e)所不，插值部4係於攝像元件 8的間隔被加寬配置之 之位置（各感測器晶片6之間）， 播補缺漏的晝素資料。 另外，在上述說明φ私# 上 中仏就dw2為dwl的2倍加以 6兄明，但並不限定於兮士 疋力、孩方式，亦可插值對應於dwl與 316005 15 200529647 dw2的比率之晝素數。 (插值部4的詳細說明） 以下，况明插值部4的更詳細構成與動作。 第9圖係顯示f !實施形g之插 構成之圖。 4的更呼細 圖示之插值卩4係具有：左右平均插值運算㊉ 14(0)、f 1至第n平均維持插值運算電路“(广路 1400、選擇訊號產生部15、及輸出電路13。至 號產生部！5，係具有管理電路16及評分電路"。禪訊 影像資料WHi係被輪入到左右平均插值運 14⑷及n個平均維持插值運算電路 : 插值運算電路14(1)、第9工％』Ρ弟1+均維持 14m . 弟2平均維持插值運算電路 () 、弟n平均維持插值運管雷跋彳 電路17。 值建t电路14U)，及評分 左右平均插值運算電路14(〇)係根據影像資

而輸出測試插值資# m與插值資料W 均插值運算電路][4 ( 〇 )所 工右平 輪入到评分電路17,插值資 ir' 13。 、 0係輸入到輸出電路 左右平均插值運算電路 ^ 素，例如位於缺漏書辛乂右的，係以插值對象晝 作為插值資料。再者=的鄰接晝素的值的平均值 方向並排一連串書丰日士 乂 左右」U日，水平 平一 $日可，位於插值 者。而以一連串的書丰 阻耵冢旦$的左右 " …、寸間系列資料時，位於「前 316005 16 200529647 後」的晝素即相當於左右的晝素。 第1至第η平均維持插值運算電路ι4(1)至ι4(η) 的各個’係以使位於插值對象晝素，例如缺漏晝素近 旁，包含插值對象晝素的複數個晝素的值之平均值與 不含插值對象晝素的複數個晝素的值之平均值相互 相等的方式進行插值以求取插值對象晝素的晝素資 料。例如以使包含插值對象晝素的預定數目晝素所構 成的晝素組之晝素資料的平均值，和不含插值對象晝 素的預定數目晝素所構成的晝素组之晝素資料的平 均值相互相等的方式進行插值。 的單-晝素行構成，亦可由與缺漏晝素為相同列， 及位於不同列的複數行來構成。 亦可以例如’包含插值對象晝素的預定數目查 與不含插值對象晝素的預定數： 複的方式來加以選擇。 一的 4刀相 在弟1平均維持插值運算 持插值運算電路14“)， 均 以作為指定上述預定數上r 目互重硬kw個畫素之包含插 複數個晝素之平於4 值對象旦素 素之平均相互相等的：：插值對象畫素的複數個 況，於參數式進行平均維持插值運算的 值運算的精度會變高畫素周期Pd相等時，平均維持： 3J6005 17 200529647 另外，以使互不重複之包含插值對象畫素的複數 個晝素之平均和不含插值對象晝素的複數個晝素之 平均相互相等的方式進行平均維持插值運算的情況，於 參數k和畫素周期Pd相等時，平均維持插值運算的精度會 變高。 第1平均維持插值運算電路1 4 (1 )，係根據影像資 料WH1及參數k = kl而輸出測試插值資料TD1與插值 資料D 11。從第1平均維持插值運算電路1 4 (1)所輸出 的測試插值貧料T D1 ’係輸入到評分電路1 7 ’插值貢 料D 11係輸入到輸出電路1 3。 同樣地，第2平均維持插值運算電路1 4 ( 2 )至第η 平均維持插值運算電路14(η)，係根據影像資料WH1及 各個參數k = k 2至k = k η而分別輸出測試插值資料 TD2至TDn與插值資料DI2至Din。由第2平均維持插 值運算電路14(2)至第· η平均維持插值運算‘電路14(n) 所輸出的測試插值貢料T D 2至T D π 5係輸入到評分電 路1 7，插值資料D I 2至D I η係輸入到輸出電路1 3。 評分電路17係根據影像資料WH1 (根據和影像資 料的比較），對於由左右平均插值運算電路1 4 ( 0 )所輸 出的測試插值資料TD0進行評分，並將其結果作為評 分資料Μ0予以輸出。從評分電路1 7輸出的評分資料 Μ0，係輸入到管理電路16。 再者，評分電路17對於由第1平均維持插值運算 電路14(1)至第η平均維持插值運算電路14(η)輸出的 18 316005 200529647

測試插值資料TD1至TD W Η1 (根據和影像資料白勺^也同樣地根據影像資料 結果作為評分資料M1至J予進行評分，並分別將其 輸出的評分資料M1至Mn，/广輸出。從評分電路17 管理電路1 6係對於由評：：到官理电路1 6。 M0至Μη進行評價，並根據^路I?輸出的評分資料 由管理電路16輸出的選擇^、、、°果輸出選擇訊號C。 13。評分資、擇5孔旎C,係輸入到輸出電路 刀貝枓ί丁、例如測試插值次 ^ 小，其值侖1 貝料和影像貧料的差愈 插值資料與影像資料的差之6所有的測試晝素將測試 後的值設定為評分資料。二、、、邑_積(求取總和) 值運算電路判定為能產生最件:士將評分貧料最小的插 插值運算I& Μ w1 仫結果者，而產生選擇該 咬π电路的輸出之選擇t 輸出電路13係根攄由營。 轳C，、pe埋τ 理電路1 6輸出的選擇訊 唬t，砥擇平均維 、谭Λ 梏奸佶、w — 1星斤電路14(0)及第1平均堆 持插值運算電路u 卞叼維 14(n)m^+ ά,4 ;主弟打平均維持插值運算 w w所早別出的插值資斜d Τ η 山眘极τη 才+ 0至Din中的1個作Α於 山貝枓ΙΡ1予以輸出。 旧竹馮幸則 乐1 0圖係二維地顯示a f + ^ ^ ”、、員 ％像資料WH1之圖，楛内 仏對應於影像的水平方向… U 仏向 方向。第1 〇 g) p e§ _ & &向係對應於影像的垂直 外1 υ Μ如頭不構成1 的各列的—邻八.ρ丄息面的口Ρ刀衫像之3列 Q ^ gg ~ » 口的旦素。弟10圖中， U V〜、員不貫在的晝素（非缺塢★主 τ 晝素。 思牙、），χ (丁、代表缺漏的 316005 )9 200529647 對於缺漏畫素L· ’係將Τ1至Tm所示的非缺漏畫 素設定為測試晝素（設m = 2 k)。在此，所謂的測試畫 素’係指位於缺漏畫素近旁的非缺漏畫素，被假設性 - 地看作缺漏晝素以作為用以測試的插值對象晝素而 v 產生插值資料的晝素，又稱為測試用非缺漏晝素。第 1 0圖（a)係以缺漏晝素L為中心於主掃描方向之一雉 的方向左右兩侧分別各設k個測試晝素之例。又於本 例中，係使測試晝素的數（k)與參數k，亦即與由平 均維持插值運算求取平均值時的晝素的數目一致，但 此項作法並非必要。 測試畫素亦可相對於缺漏晝素設定成左右不均 等，亦可只設定在左右的單邊。又亦可如第1〇圖（“ 作二維的設定。亦即不僅將和缺漏晝素L位於相同列 的非缺漏晝素當作測試晝素，也將位於不同列的非缺 漏晝素當作測試晝素。

(a )，詳細說明測試晝素 電路14(0)、第1平均維 平均維持插值運算電路 利用第9圖及第1〇圖 T1至Tm之左右平均插值運算 持插值運算電路1 4 (1)至第 ^(n)以及評分電路I?的動作 電路umr 一素 勺位置，左右平均插值運算 路1 4 ( 0 )係輪出將測試晝素 而將$〆I 4 T、T1假疋性地看作缺漏 偏 田作插值對象晝t時的測試插值資啊 試插值㈣TD_]，係藉由求取2 丁左右的畫素的資料的平均而獲得。 、 316005 20 200529647 評分電路1 7係求取測試晝素Τ1的位置的影像資 料WH1 (特性修正部3的輸出）之晝素資料WH1 [ Τ1 ]與 月ί)述測試插值資料T D 0 [ Τ1 ]之差的絕對值，並以之作 為評分資料Μ 0 [ Τ1 ]而予以輸出。評分資料μ 0 [ Τ1 ]係 成為： Μ〇[Τ1]= | TD0[T1]- WH1[T1] | 而於評分資料Μ 0 [ Τ1 ]較小的情況，顯示測試插值資 料接近輸入影像，亦即對於測試畫素Τ1，左右平均插 值運异電路1 4 ( 〇 )的運算處理適切。相反地，在評分 資料Μ 0 [ Τ1 ]較大的情況，顯示對於測試晝素τ 1，左 右平均插值運算電路14(〇)的運算處理不適切。也就^ 說，評分資料Μ0[Τ1]係代表對於測試晝素T1之左 右平均插值運算電路1 4 ( 0 )的適切性。 其次，對於測試晝素T2，左右平均插值運算電路 |4(0)也是一樣輸出將測試晝素T2假定性地視作缺 漏而將之备作插值對象畫素時的測試插值資料 。評分電路i 7係求取測試晝素τ2綱的影 差之晝素資料WHUT2]與前述測試插值資料 而予以二出對值，並以之作為評分資料㈣⑴] 而予以輛出。評分資料M〇[T2]係成為： M〇[T2] - | TD0[T2] - WH1[T2] | 而評分資料^[Τ2]，係代表對於測試晝素了2之 平均插值運异電路1 4 ( 0 )的適切性。 丁 丄 左右平均插值運算電路14(°)對於其餘的測試晝素 316005 2] 200529647 T3至Tm，也同樣輸出測試插值資料TD0[T3]至 TD0 [ Tm ]。評分電路1 7係求取前述測試插值資料 TD0[T3]至TD0[Tm]與對應各個測試插值資料的影 像資料WH1之資料WH1[T3]至WHl[Tm]的差的絕對 值，並以之作為評分資料M0[T3]至M0[Tm]而予以輪 出。評分資料M0[T3]至M0[Tm]係成為： M0[T3] = | TDQ[T3] - WH1[T3] | 至

M0[Tm]= | TD0[Tm] —WHl[Tm] | T3 評分資料MO [T3]至MO [Tm]，係代表對於測試晝素 至Tm之左右平均插值運算電路14(〇)的適切性。 電路 資料 如此，砰分電路1 7取得與左右平均插值運】 1 4 ( 0 )針對測試書素τ 3至T m所發山λα 一 1 m所知出的測試插伯 對應之評分資料。 在測試晝素T1的位置 攸1 " 1、U β 丨〜哗付描值連算雷 路14(1)也疋一樣，輸出將 ％ 处、昆心时 丄 旦京Τ1假定性地視竹 缺漏而將之當作插值對象晝素 乍 仰1[川。第！平均維持插值運算電路=插值資料 z= k 1個查丰λ+· 口式旦素 Τ1白勺 k kH固旦素的值的平均值，與不 k =kl個晝素的值的 3式晝素ΊΊ的k 定測V〜:千均值相互相等的方式，藉由争 疋劂忒旦素的值之運算進行插值。 稽田决 評分電路17係求取測試 料WH1之書n # wu w 11的位置的影像資 貝科WH1[T1]與前述測試插值資料 3J6005 22 200529647 [τ 1 ]之差的纟巴對值，並以之作為評分資料[ 而予以輸出。評分資料Μ1[Τ1]係成為：、

Ml[Τ1 ] = | TD1[Tl] - WH1[T1] | 而評分資料M1[T1]，係代表對於測試晝素n之第工 平均維持插值運算電路i 4 (丨）的適切性。 查第1平均維持插值運算電路14(1)對於其餘的測試 ,、 至T m 也同樣輸出測試插值資料了 d 1 [ T 2 ]至 TD1 [ Tm ]"平分電路1 7係求取前述測試插值資料 TD1[T2]至TDl[Tm]與對應各個測試插值資料的影像 資料WH1之資料龍1[1[2]至WH1[Tm]的差的絕對值， 並以之作為評分資料Ml [T2]至Ml [Tm]而予以輸出。 評分資料M1[T2]至Ml[Tm]係成為： M1[T2]= | TD1[T2]-WH1[T2] | 至

Ml[Tm] = I TD1[Tm] - WH1[Tm] | 評分資料Ml [T2 ]至Ml [Tm]，係代表對於測試晝素T2 至T m之弟1平均維持插值運算電路1 4 (1)的適切性。 第2平均維持插值運算電路14(2)至第Γι平均維持 插值運异電路1 4 (η)也是一樣，輸出針對測試晝素τ 1 至 Tm之測試插值資料 TD2[T1]…TD2[Tm]至 TDn[Tl ]…TDn [Tm]，評分電路；[7係根據前述測試插 值資料 TD2[Tl]〜TD2[Tm]至 Τ0η[Τ1]···Τϋη[ΤΐΏ]，分 別輸出評分資料Μ2[Τ1 ] ··· M2[Tm]至Μη[Τ1 ]…Μη [T m ]。 316005 200529647 戈口此 、亇對所有的測試晝素了丨 均維持插值運算電路]4(〇) m令，求得平 14⑴至第…维持插值運算電：4二=運算電路 運算電路的適切性。 (η)的各個插值 第Π圖，係彙整測試畫素 運算電路的評分資料之表。 以之各個插值 :由利用測試晝素的測試插 位置的影像資料WH1之晝素 /、測忒旦素 得各個測試書素的插值岸理、Z、、差的絕對值，可求 、旦I的插值處理之適切性。 其次說明管理電路16的動作。 為了评價對於缺漏晝素近旁的晝素之 值運算電路14(〇)的適切性 们' 工千句插 44. Μ Π Γ Τ 1 Ί 里屯路1 6係將評分咨 : 至相加，而產生左”均插2 :Λ二評價資料s。。評價資料s。係成為：" S〇=MO[Tl] + M〇[T2]+... + M〇[Tm], =::SO小時，顯示對於缺漏晝素近旁 ^ 職值運算電路14(Q)之運算處理適切。相^ 二1 “料S〇大時，則顯示對於缺漏晝素近旁的 立乐之左右平均插值運算電路 、 切。 #电路14(〇)之運算處理不適 第1平均維持插值運算電路14⑴至第n平均 :值運异電路14(1〇也是—樣，為了評價缺漏 旁的適切性，管理電路16係將評分資料M1[-T1、广 Ml[Tm]至Mn[T1]...Mn[Tm]分別相加，而分別產生第ί 3]6005 24 200529647 η平均維持插值 評價資料S1至 運算電 Sn係 平均維持插值運算電路丨4 (丨）至第 路1 4 (η )的評價資料s 1至Sn。 成為： 至

Sn = Mn[Tl ] + Mn[T2] + …+ Mn[Tm] 第12圖係彙整評價資料s〇至Sn之夺 藉由將各測試晝素的評分資料 近旁的插值處理之適切性。相加，可求得缺漏« 由於評價資料愈小的插值運算 旁的畫素進行適切的插值，因此：：= 對缺漏畫《 夠適切地進行插值。管理電路16 :係；：：可：” 々 Sn中进擇，、有取小評價資料的插值命 路所輸出的插值資料之選擇訊號C。 ^毛 、輪出電路13係根據管理電路16輸出的 =，選擇由左右平均插值運算電路丨卿及第丨平均^ =運#電路14(1)至第n平均維持插值運算電心、， 輪j出的插值資料D I 0至D I n中# ,桐、， 枓TP1 ;认 干^ 1個5並作為輸出賓

抖IP1予以輸出。 山M 插值資制。至DIn中，插值資由 平均插值運算電路14(0)所求得去， ”工$ ^ 卞苦且係措由將位於姑 漏晝素L左右的晝素之值加 、' η· , , 乂十均而求得。插值資剩 hy(y= 1至n)，係由第y平均 所求得者，且係以使包含缺漏運昇電路14(y 爲晝素的k= ky個晝素白士 316005 25 200529647 值之平均值與不含缺漏晝素的k=ky 平均：相互相等的方式予以決定。 -素的值之 第9圖所示插值部4的構成，因係 值運算電路14(0)及篦〗 仃左右平均插 ^ 卩叫及弟1平均維持插值運管带攸 至弟η平均維持插值運"r电14(1) 的晝素所輸出的插值資7:;4=^ 評價而類推出對缺漏晝素而二刀、：s平分結果進行 複數個插值運管電路^ 5適切的插值運算再從 用適合缺漏的插值結果選擇1個，故可 晝素的插值勺晝素之插值運算來進行缺漏 者，利用具體例進行說明。 第13圖係顯示以具有參數k=5 Π路與參…的第2平均維持插值== 成’作為弟9圖之複數平均維持插值運算電路之圖。 以下說明依據第13圖的具體例之插值部 依據第13圖的具體例之插值 成 ^ 1 〇 , , 1 4诉具有·輸出電 、左右平均插值運算電路14(G)、帛}平均 值運鼻電路！0 τ ^ m ^ (乂及弟2平均维持插值運算電路 ()、官理電路1 β、以及評分電路} 7。 影像資步斗WH1，係輸入到左右平均插值運算電路 14(〇)、第1平均維持插值運算電路14(1)、第2平均维 值運算電路〗4(2)及評分電路17。左右平均插值運 电路1 4 ( 0 )係根據影像資料題丨，輸出測試插值資料 及插值貧料DI 〇。左右平均插值運算電路丨4 (㈧係針對各 3J6005 26 200529647 測試晝素，求出位於其左右的晝素之值的平均，並輪 出測試插值資球斗TD0，纟出位於缺漏畫素左右的晝素之值 的平均，亚輸出插值資料Di 0。從左右平均插值運算電路 Η(〇)輸出的測試插值資料TD〇，係被輸入到評分電路 1 7 ’插值資料DI 〇，係被輸入到輸出電路1 3。 蒼數k = 5 係被輸入到第

V -十均維持插值運算電路 14(1)。第1平均維持插值運算電路14(1)，係根據影像 貧料WH!及參數k=5,輸出測試插值資料Tm及插值資 料DI 1。亦即，針對各測試晝素，將測試晝素的值當作未 知，以位於測試晝素的近旁，包含測試晝素的㈣個主素 之值的平均值，與不含測試晝素的k=5個 值相互相等的方式氺宏制蚪蚩本 ~ 值的千均 料TDHq 值，並輪出測試插值資 ό…“二：，以位於缺漏晝素的近旁，包含缺漏晝f 的k—5個畫素之值的平均值，與不含缺 本 晝素之值的平均值相互相箸 、、旦$的k—5個 I今屮扞佶次 、、式決疋缺漏畫素之值，並 J 、=、; " 11。從第1平均維持插值運算電路1 4 (1) 輻出的測試插值資料TD1 值資料nn 加輸入到矸分電路17，而插 值貝枓ull係輪入到輸出電路13。 蒼數k = 7，係被輸入到第 14(2)。第2平均唯持插佶！ 一 隹持插值運算電路 一准持插值運鼻電路14(2)，俜舻摅义飧 貧料WH1及參數丨7 如根據衫像 』丨η 7 出測試插值資料TD2万扞枯次 料⑽。亦即，針對各測試 及插值貧 知，以位於測試查喜—'、將測忒里素之值當作未 之值的平均值，與 -4 k-7個晝素 3/収晝”卜7個晝素之值的平均 316005 200529647 相等的方式決定測試晝素之值，並輸出測試插值資 料TD2，同樣地，以位於缺漏晝素的近旁，包含缺漏晝素 =k-7個晝素之值白勺平均值，與不含缺漏晝素白勺卜7個 j之值时均值相互相等的方式決錢漏晝素之值，並 二插值貝料DI2。從第2平均維持插值運算電路⑷2) =的測試插值資料TD2，係輪人到評分電路Η，而插 {貝料DI2係輸入到輸出電路13。

砰分電路17，係根據影像資料WH1而對從左右平 ^插值運算電路14⑷輸出的測試插值資料TDG進行評 刀並將其結果當作評分資料M〇予以輸出。 仏砰分電路1 7，係根據影像資料WH1而對從第j平 均維持插值運瞀雷致〗4 n、鉍山 了攸弟1千 、，|毛路4(1)輸出的測試插值資料TD1進行 °刀，亚將其結果當作評分資料M1予以輸出。 均唯2電路17，係根據影像資料WH1而對從第2平 評挪插值運算電路14⑺輸出的測試插值資料丁 ;7V:將其結果當作評分資料M2予以輸出。從評心 輪出的評分資料胸至们，係輪入到管理電路16。 官理電路16’係根據從評分電路17輸出的 助至M2輸出選擇訊號c。從 號。，係輪入到輸出電路13。 …6輪出的選擇訊 輪出電路13,係根據管理電路16輸_ ，選擇由左右平均插值運算電路14( 〜 D 5虎 插值運算電路14⑴及f 2平均 ^平均維持 輪出的插值資料DIG至DI2中之、電路14(2) 宁之―，亚以之作為輪出 3】6005 28 200529647 資料IP1而輪出。 第14圖係顯示具周期性的影像資料之一例。第丨4圖 (a)係喊不於水平方向（主掃描方向）以一定的周期Pd反覆 同一影像的影像’第Η圖（b)係顯示第14圖U)所示讀取 位置之水平方向的各位置之影像的濃度（或亮度）。第14 圖（b)的松轴X係顯示晝素位置，縱軸D係顯示濃度值。第 14圖⑻的實線係代表f 14目⑷的影像的亮度，白圈係 代表以取樣周期Ps(Ps=pd/5)對第14圖⑷的影像進行取 樣時之值。 H 14圖中’因pd=5ps ’故將pp=pd/ps=5設為 ::4的晝素周期。晝素周期pP，係代表每1周期的取 j °再者’各被取樣的晝素之值，係於每—周期Pd反覆 (c;:二-74 b—57、C=1。0、d="3、e=126。第 14 圖 $、不缺漏晝素與測試晝素的位置關係。此外， 應於缺漏畫素⑷賴晝素TliT4，_^ = 中心在左右各設定2個。 一素L為 理之：。15圖係用以說明平均維持插值運算的測試插值處 =5圖（a)係顯示由包含缺漏晝^的複數個 素列IX，以及部分與晝素列LC重複，並由不含= :旦：L的複數個畫素構成的2個晝素列na、n :;為=圖 盆:縣旦素使用m插值時的複數個晝素之圖， 顯示包含測試畫素T及缺漏晝素L之由複數個晝素 316005 29 200529647 成的畫素列TC，與不含測試晝素τ但包含缺漏查丰 複數個晝素構成的晝素列ΤΒ之位置關係。第15γ⑷係顯 不包含測試晝素τ但不含缺漏晝素L之由複數個晝素構' 的畫素列代，與皆不含測試畫素τ和缺漏畫素k由複數 個畫素構成的晝素列TA之位置關係。 說明^下針對平均維持插值運算電路的測試插值處理進行 # 平均維持純運算料14⑴及14⑵，在將缺漏 的非缺漏晝素當作插值對象晝素進行測試插值時，右 隨者缺漏晝素的位置而改變插值處理之必要。而且 =值時係僅利用不含測試晝素的2個畫素列之中的任ς ^如弟15圖（b)所示，在包含測試畫素τ的書♦列Tc

中包含缺漏晝素L的样、、口 ~ 1C 、、月况，平均維持插值運算電路14(1) ()，需要考慮缺漏畫素L而製作方程式。 •包含缺漏晝素L的方式設定不查=金二而’以 藉由在包含測試書”的::：：;'晝請晝她， 列TB兩者中包含缺漏Γ_： 與不含測試晝素的晝素 1旦7、，灰方程式上抵消缺漏晝素，而 侍以適切地求出測試書、—,、' i - 1] + T+ L+TD[1] 1] + TB⑴+ …+TB[k (tc[i ]+··· +叫厂 式係為： TD[i — 1 ] )/k =(L+ TD[1 ] + ·.·. i ] )/k 測試晝素T係為： 316005 30 200529647 Τ=(ΤΒ[1] -1]) TB[k- ι])- (TC[1] TC[k- i 中不==(C)所示，在包含轉素 、、旦素L的情況，係設疋成在不含測試晝 缺㈣素的方式。平均維㈣值運算電路 (T^[1]+ *' +TA[k- i] + TD [H+-+TD [i])/k =(TD[1]+ ... +T T+TC[ · l])/k 十 lC[k- !- 測試晝素T係為： i]) - (TC[1] TA[k τ= (ΤΑ [1] + ... + TC[k 1-1]) 理，即可利用考慮過缺漏晝素的位置之測試插值· 二了對σ個平均維持插值運算電路進行評分。 =圖係用以說明對於測試晝素了丨至以及缺漏晝 ,,二千均插值運算電路14(0)及評分電路17的《 作。第1 6圖（a)係顯示計算左 之針對測試書素測：插：：二!電路14(〔 侍•干Ό+工 、插值—貝料％之圖’第16圖〇 T9”、、、 平均插值運算電路14(〇)之針對測試晝- 的測試插值資料時之圖，第16圖（c)係顯示二 平均插值運算電路14(0)之針 ' #工> 14rnw 口^)係頒不计异左右平均插值運！ 〇)之針對測試晝素丁4的測試插值資料時之 弟圖⑷係顯示計算左右平均插值運算電路14(0: 3]6005 3] 200529647 之針對缺漏晝素L的插值資料時之圖。 以下說明針對測試晝素T1至T4及缺漏畫素L之左右 平均插值運算電路1 4 ( 〇 )及評分電路1 7的動作。 如第16圖（a)所示，左右平均插值運算電路14(〇)係 將晝素T1L及T1R的平均值當作測試晝素τι的測試插值 資料TD0[T1]予以輸出。由於TlL=b=57、TlR=d = 143，因此測試插值資料TD0[T1]為： TD0[T1]= (T1L+TlR)/2= ( 5 7 + 1 43)/2 = 1 〇〇 评分電路1 7 ’係將測試晝素τ 1的位置之影像資料评η 1 的畫素資料WH1 [Τ1 ]與測試插值資料td〇[T1]的差的 絕對值當作評分資料Μ 0 [ T1 ]予以輸出。由於τ D 〇 [ T1 ] =100、WH1 [Tl ] = c = 1〇〇，因此評分資料 M〇 [T1 ]為： M0[T1]=| TD0[T1]-WH1[T1] I = | 1 0 〇 - ι 〇 〇 | = 〇 如第16圖（b)所示，左右平均插值運算電路14(〇)係 將晝素T2L及T2R的平均值當作測試晝素,T2的測試插值 •資料 TD0[T2]予以輸出。由於 T2L=c 二 l〇〇、T2R=a = 74，因此測試插值資料TD0[T2]為： TD1= (T2L+ T2R)/2 = ( 1 00 + 74)/2 = 87 評分電路1 7，係將測試晝素τ2的位置之影像資料WH j 的晝素資料WH1[T2]與測試插值資料td〇[t2]的差的 絕對值當作評分資料Μ0[Τ2]予以輪出。由於tdo[T2] = 87、WHl[T2] = d=l43，因此評分資料 m〇[T2]為： M0[T2]= | TD0[T2]-WH1[T2] |= |87_143| = 56 如第16圖（c)所示，左右平均插值運算電路14(〇)係 316005 32 200529647 將晝素T3L及T3R的平均值當作測試畫素T3的測試插值 資料TD0[T3]予以輸出。由於T3L=d=143、T3R = b = 57，因此測試插值資料TD0[T3]為： TD0[T3] = (T3L + T3R )/2=(143 + 57)/2 = 100 評分電路1 7，係將測試晝素T3的位置之影像資料WH1 的晝素資料WH1 [ T3 ]與測試插值資料tj)〇 [ τ3 ]的差的 絕對值當作評分資料M0[T3]予以輸出。由於tdo[T3] =100、WHl[T3] = a=74，因此評分資料 M〇[T3]為： M0[T3]=| TD0[T3]-WH1[T3] I = | 1 〇 〇 - 74 | = 26 如第16圖（d)所示，左右平均插值運算電路14(〇)係 將晝素T4L及T4R的平均值當作測試畫素T4的測試插值 資料TD0[T4]予以輸出。由於了礼=a = 74、T4R= c== 100，因此測試插值資料TD0[T4]為： TD0[T4]= (T4L + T4R)/2 = (74+ l〇Q)/2= 87 口平刀包路1 7 ’係將測試晝素T4的位置之影像資料wh 1 的晝素資料WH1 [ T4 ]與測試插值資料]的差的 絕對值當作評分資料Μ0[Τ4]予以輸出。由於TD〇[T4] 二 87、WHUT4] = b=57,因此評分資料 m〇[T4]為： M0[T4]=| TD0[T4]-WH1[T4]丨=|87-57| = 30 如第16圖（e)所示，左右平均插值運算電路14(〇)係 將晝素LL及LR的平均值當作缺漏晝素L的插值資料DI〇 予以輸出。由於LL=d=143、LR=a=74,因此插值資 料DI0為： DI0 = (LL+ LR)/2=(143 + 74)/2 = 108. 5 316005 200529647 第1 7圖係用w l之第1平㈣於m素t1h4及缺漏晝素 動作之圖^插值運算電路14⑴及評分電路η的 鼻電路14(1)之針 千句、、隹持插值運 圖，第17圖（小式“ T1的測試插值資料時之 Η⑴之針對測試書:句維持插 17圖（C)係顯示古十瞀楚〗工A '播值貝枓日才之圖，第 針對、、則2金去τ弟1平均維持插值運算電路14(1)之 r日’#旦素3的測試插值資料時之圖，第17 Η 係顯示計算第】羋仏从# 1 弟i 7圖（d) 書辛T4的、、料杆句、准持插值運算電路14⑴之針對測試 一畜的測试插值資料時之圖， 算第1平均維持插值運v ® (e)fc喊不計 插值資料時之圖” _14(1)之針對缺漏畫以的 、下°兒月針對測試畫素T1至T4及缺漏晝素l的第1 平均維㈣值運算電路14⑴及評分電路17—的動作。 …如第17圖（a)所示’第j平均維持插值運算電路η⑴ ，以使包含測試晝素T1之晝素列T1C的平均值與不含測 4畫素T1的畫素列T1B的平均值相等的方式求取測試晝素 π的測試插值資料TDU川。因此，根據方程式 CTlC[l]-f T1C[2] + TD1[T1] + TiD[1] + l)/5= (T1D[1] + L+T1B[1] + T1B[2] +Τ1Β[3])/5 測試插值資料TD1[T1 ]成為： TD1[T1] = ami] + T1B[2] + T1B[3]) - (T1 C[l] + T1C[2]) 而由於 TlC[l]:a=74、Tlc[2]=b==57、T1B[1] = a 316005 34 200529647 =74、T1B[2] = b = 57、T1B[3] = c = 100，因此 TD1[T1] = (74 + 57 + 100) - (74+ 57) = 100 評分電路1 7，係將前述測試晝素τ 1的位置之影像資 料WH1的晝素資料WH1 [ Τ1 ]與測試插值資料td 1 [ Τ1 ] 的差的絕對值當作評分資料Ml [Τ1 ]予以輸出。由於 TD1[T1] = 100、WHl[Tl]=c = 100，因此評分資料 M1[T1]為： M1[T1]=| TD1[T1]-WH1[T1]卜 llQQ-ioo 卜 〇 如弟17圖（b)所示’第1平均維持插值運算電路i4(i) ‘以使包含測试晝素T 2之晝素列T 2 C的平均值與不含測 試晝素T2的晝素列T2B的平均值相等的方式求取測試晝素 T2的測試插值資料TD1[T2]。因此，根據方程式 (T2C[1 ] + T2C[2] + TD1[T2] + L + T2D[1 ])/5 = (L + T2D[1]+ T2B[1] +T2B[2] +T2B[3])/5 測試插值資料TD1[T2]成為： TD1[T2] = (T2B[1] + T2B[2] + T2B[3]) - (T2C[1] + T2C[2]) 而由於 T2C[ 1 ] = b = 57、T2C[ 2 ] = c = 1 〇〇、T2B[ 1 ] = b =57、T2B[2] = c = 100、T2B[3] = d = 143，因此 TD1[T2] = (57 + 100 + 143) — (57 + 100) = 143 評分電路1 7，係將前述測試晝素T2的位置之影像資 料WH1的晝素資料WH1 [ T2 ]與測試插值資料TD1 [ T2 ] 的差的絕對值當作評分資料Ml [T2]予以輸出。由於 T D1 [ T 2 ] = 1 4 3、W Η1 [ T 2 ]二 d = 1 4 3，因此評分資料 31600$ 35 200529647 Μ1[Τ2]為： Μ1[Τ2]=| TD1[T2]-WH1[T2]卜丨1 43 - 1 43| = 0 如第1 7圖（c)所示，第1平均維持插值運算電路1 4(!) 係以使包含測試晝素T3之畫素列T3C的平均值與不含測 試晝素T3的晝素列T3A的平均值相等的方式求取測試晝素 T3的測试插值資料TD1 [ T3 ]。因此，根據方程式 (T3A[1] + T3A[2] + T3A[2] + T3D[1] + L)/5= (T3D[1] + L+TD1[T3] + T3C[1] +T3C[2])/5 •測試插值資料TD1[T3]成為： TD1[T3 ] = (T3A[1] + T3A[2] + T3A[3]) - (T3C[ 1 ] + T3C[2]) 而由於 T3C[l] = b= 57、T3C[2]=c=l〇〇、T3A[l] = a = 74、r3A[2] = b= 57、T3A[3]=c=l〇〇，因此 TD1[T3] = (74 + 57 + 100) — (57 + 100) = 74 評分電路1 7，係將前述測試晝素T3的位置之影像資 籲料W Η1的晝素資料W Η1 [ T 3 ]與測試插值資料τ D1 [ T 3 ] 的差的絕對值當作評分資料Μ1 [ Τ3 ]予以輸出。由於 TD1[T3] = 74、WHl[T3] = a= 74’ 因此評分資料 μι[Τ3] 為： M1[T3]=| TD1[T3] - WH1[T3] |=|74 - 74| = 〇 如第17圖（d)所示，第1平均維持插值運算電路i4(d 係以使包含測试晝素T 4之晝素列T 4 C的平均值與不含測 試晝素T4的晝素列T4A的平均值相等的方式求取測試晝素 T4的測试插值資料TD 1 [ T4 ]。因此，根據方程式 316005 36 200529647 (Τ4Α[1 ] + Τ4Α[2 ] + Τ4Α[3 ] + L + T4D[1])/5 = (L + T4D[1] + TD1[T4] + T4C[1] +T4C[2])/5 測試插值資料TD1[T4]成為： TD1[T4] = (T4A[1] + T4A[2] + T4A[3]) - (T4C[1] + T4C[2]) 而由於 T4C[1]= c = 100、T4C[2]= d = 143、T4A[1；j 二 b= 57、T4A[2]= c = 100、T4A[3] = d = 143，因此 TD1[T4] = (57 + 100 + 143) - (l〇〇 + 143) = 57 评为黾路1 7 ’係將箣述測試畫素T 4的位置之影像資 料WH1的晝素資料WH1[T4]與測試插值資料TD1[T4] 的差的絕對值當作評分資料Ml [ T4 ]予以輸出。由於 TD1[T4] = 57、WHl[T4]=b = 57,因此評分資料 M1[T4] 為 · M1[T4] — | TD1[T4] — WH1[T4] | = |57— 57| = 〇 如弟17圖（e)所不，弟1平均維持插值運算電路ΐ4(ι) 係以使包含缺漏晝素L之晝素列LC的平均值與不含缺漏 晝素L的晝素列NA及NB的平均值相等的方式求取缺漏書 素L的插值資料D11。因此，根據方程式 (AD[1] + AD[2] + DI1+ BD[1] + BD[2])/5= ((NA[1] + NA [ 2] + NA [ 3 ] + AD[ 1 ] + AD[ 2 ] )/5 + (BD[ 1 ] + BD[ 2 ] + NB[1] + NB[2] + NB[3])/5)/2 插值資料Dll成為： DI1= ((NA[1] + NA[2] + NA[3] + AD[1] + AD[2]) + (BD[1] + BD[2] + NB[1] + NB[2] + NB[3]))/2 — 316005 37 200529647 (AD[1] + AD[2] + BD[1] + BD[2]) 57、AD[1]=C = i〇〇、AD[2] = d= 143、BD[l] = a=74、 BD[2] = b=57、NB[l] = c= 100、NB[2] = d= 143、NB[3] =e = 1 2 6，因此 DH = ((126 + 74 + 57 + 100 + 143) + ( 74 + 57 + 100 + 143 + 126))/2- (100 + 143 + 74 + 57)= 126

，18圖係用以說明對於測試晝素T1至以及缺漏晝素 之第2平均維持插值運异電路1 4 ( 2 )及評分電路1 γ的 力作第1 7圖（a)係顯示計算第2平均維持插值運算電路 14(2)之針對測試晝素n的測試插值資料時之圖，第 Μ圖（b)係顯不計算第2平均維持插值運算電路工4(2)之 2 ^則減晝素T2的測試插值資料時之圖，第18圖（c) 算第2平均維持插值運算電路丨‘⑴之針對測試 ^ 3的測試插值資料時之圖，第ΐδ圖⑷係顯示計 二“式插運算電路14(2)之針對測試晝素τ4 均維持=運=路之1^第简e)係顯示計算第2平 料時之圖。 1 、）之命對缺漏晝素L的插值資 平均維持插值晝素T1至T4及缺漏晝素L的第2 如S8 H路14(2)及評分電路17的動作。 係以使包含^:去示，第2平均維持插值運算電路“⑺ 試畫素“畫素=^ ⑽的千均值相等的方式求取測試晝素 316005 38 200529647 T1的測試插值資料TD2[ T1]。因此，根據方程式 (T1C[1] + T1C[2] + T1C[3] + TD2[T1] + T1D[1] + L + TlD[2])/7 = (T1D[1] + L+T1D[2] + T1B[1] + T1B[2] + T1B[3] + TlB[4])/7 測試插值資料TD2[T1]成為： TD2[T1] = (T1B[1] + T1B[2] + T1B[3] + T1B[4])-(T1C[1] + T1C[2] + T1C[3]) 而由於 TlC[l]=e=126、TlC[2] = a=74、TlC[3] = b = 57、TlB[l] = b=57、TlB[2]=c=100、TlB[3] = d 因此 TD2[T1] = (57 + 100 + 143 + 126) - (126 + 74 + 57) = 169 評分電路1 7，係將前述測試晝素τ 1的位置之影像資 料WH1的晝素資料WH1 [ T1 ]與測試插值資料TD2 [ T1 ] 的差的纟巴對值當作评分資料Μ 2 [ Τ1 ]予以輸出。由於 TD2[T1] = 169、WHl[Tl]=c = 1〇〇，因此評分資料 M2[T1]為： M2[T1]=| TD2[T1]-WH1[T1] |=|169-100| = 69 如第18圖（b)所示，第2平均維持插值運算電路丨4(2) 係以使包含測試晝素T2之晝素列T2C的平均值與不含測 試晝素T2的晝素列T2B的平均值相等的方式求取測試晝素 T2的測試插值資料TD2[T2]。因此，根據方程式 (T2C[1] + T2C[2] + T2C[3] + TD2[T2] + L + T2D[1] + T2D[2])/7二（L+ T2D[1 ] + T2D[2] + T2B[1 ] + T2B[2] 316005 39 200529647 + T2B[3] + T2B[4])/7 測試插值資料TD2[T2]成為： TD2[T2] = (T2B[1] + T2B[2] + T2B[3] + T2B[4]) -(T2C[1] + T2C[2] + T2C[3]) 而由於 T2C[ 1 ] = a = 74.、T2C[2] = b = 57、T2C[3] = c =1〇0、T2B[1] = c = 100、T2B[2] = d = 143、T2B[3] =e = 126、T2B[4] = a = 74，因此 TD2[T2] = (100 + 143 + 126 + 74)-(74 + 57 + 100) = 212 評分電路1 7，係將前述測試晝素τ 2的位置之影像資 料WH1的晝素資料WH1 [T2]與測試插值資料TD2[T2] 的差的絕對值當作評分資料M2 [ T2 ]予以輸出。由於 TD2[T2] = 212、WH1[T2] = d 二 143，因此評分資料 M2[T2]為： M2[T2]=| TD2[T2]-WH1[T2]卜 |212-143| = 69 如第18圖（c)所示，第2平均維持插值運算電路i 4(2) 係以使包含測试晝素T3之晝素列T3C的平均值與不含測 試畫素T3的晝素列T3A的平均值相等的方式求取測試晝素 T3的測試插值資料TD2[T3]。因此，根據方程式 (T3A[1] + T3A[2] + T3A[3] + T3A[4] + T3D[1] + T3D[2] + L)/7 = (T3D[ 1 ] + T3D[2] + L + TD2[T3] + T3C[ 1 ] + T3C[2] +T3C[3])/7 測試插值資料TD2[T3]成為： TD2[T3] = (T3A[1] + T3A[2] + T3A[3] + T3A[4]) - 316005 40 200529647 (T3C[ 1 ] + T3C[2] +T3C[3]) 而由於 T3C[ 1 ] = b = 57、T3C[2] = c = 100、T3C[3] = d =143、T3A[1] = d = 143、T3A[2] = e = 126、T3A[3] =a= 74、T3A[4] = b= 57，因此 TD2[T3] = (143 + 126+ 74 + 57) - (57 + 100 + 143) = 100 評分電路1 7，係將前述測試晝素T3的位置之影像資 料WH1的晝素資料WH1[T3]與測試插值資料TD2[T3] 的差的絕對值當作評分資料M2 [ T3 ]予以輸出。由於 TD2[T3] = 100、WHl[T3]=a=74,因此評分資料 M2[T3] 為： M2[T3]=| TD2[T3]-WH1[T3] I = I 1 0 0 - 74 | = 26 如第18圖（d)所示，第2平均維持插值運算電路14(2) 係以使包含測試晝素T4之晝素列T4C的平均值與不含測 試晝素T4的晝素列T4A的平均值相等的方式求取測試晝素 T4的測試插值資料TD2 [ T4 ]。因此，根據方程式 (T4A[1] + T4A[2] + T4A[3] + T4A[4] + T4D[1] + L + T4D[ 2 ])/7=(T4D[l] + L+ T4D[ 2 ] + TD2[ T4 ] + T4C[ 1 ] + T4C[2] + T4C[3])/7 測試插值資料TD2[T4]成為： TD2[T4] = (T4A[1] + T4A[2] + T4A[3] + T4A[4])-(T4C[1] +T4C[2] +T4C[3]) 而由於 T4C[l] = c= l〇〇、T4C[ 2 ] = d = 1 43、T4C[ 3 ]= e=126、T4A[l] = e=126、T4A[ 2 ] = a = 74、T4A[ 3 ] 41 316005 200529647 = b= 57、T4A[4]=c=100，因此 TD2[T4] = ( 1 26 + 74 + 5 7 + 1 0 0 ) - ( 1 0 0 + U3 + 126) = -12 评为黾路1 7，係將前述測試晝素τ4的位置之影像資 料WH1的晝素資料WH1[T4]與測試插值資料 的差的絕對值當作評分資料M2 [ T4 ]予以輪出。由於 TD2[T4] = — 12、WH1[T4] = b = 57，因此評分資料 M2[T4]為： ❿ M2[T4]=| TD2[T4]-WH1[T4] |=|-12-57卜69 如第18圖（e)所示，第2平均維挤插值運算電路14(2) 係以使包含缺漏晝素L之晝素列LC的平均值與不含缺漏 晝素L的晝素列NA及NB的平均值相等的方式求取缺漏晝 素L的插值資料DI1。因此，根據方程式 (AD[1] + AD[2] + AD[3] + Dll + BD[1] + BD[2] + BD[ 3 ] )/7 - ((NA[ 1 ] + NA [ 2 }：+ NA [ 3 ] + NA [ 4 ] + AD[ 1 ] φ + AD[2] + AD[3] )/7 + (BD[ 1 ] + BD[2] + BD[3] + NB[ 1 ] +NB[2]+NB[3] +NB[4])/7)/2 插值資料Dll成為：

Dll = ((NA[1] + NA[2] + NA[3] + NA[4] + AD[1] + AD[2] + AD[3])+(BD[1] + BD[2] + BD[3] + NB[1] + NB[2] + NB[3] + NB[4]))/2 - (AD[1] + AD[2] + AD[3]+ BD[1]+ BD[2] + BD[3]) 而由於 NA[l] = c= 100、NA[2] = d= 143、NA[3] = e = 126、NA[4] = a= 74、AD[l] = b= 57、AD[2]=c 二 42 316005 200529647 100、AD[3] = d=143、BD[l] = a=74、BD[2] = b=57、 BD[3] = c= 100、NB[l] = d= 143、NB[2]=e = 126、 NB[3] = a = 174、NB[4] = b = 57，因此 DI1= ((100 + 143 + 126 + 74 + 57 + 100 + 143) + (74 + 57 + 100 + 143 + 126 + 74 + 5 7 ))/2 - ( 5 7+ l〇〇 + 1 43 + 74 + 57 + 1 0 0 )- 1 56 第19圖，係彙整測試晝素T1至T4的評分資料MO至 M2的表。 以下針對管理電路1 6的動作進行說明。 f理電路1 β ’係以將左右平均插值運算電路1 4 ( 〇) 的評分資料Μ0[Τ1]至Μ0[Τ4]相加而得的值作為評價 資料 S0。由於 Μ0[Τ1]=0、Μ0[Τ2]=56、Μ0[Τ3]=26、 MO [Τ4] = 30，因此評價資料s〇為： S0= M0[T1 ] + M0[T2] + M0[T3] + M0[T4] = 0 + 5 6 + 26 + 3 0 = 1 1 2 管理電路1 6對於第1平均維持插值運算電路 14(1)，也同樣以將評分資料M1[T1]至Μ1 [τ4]相加 而得的值作為評價資料S1。由於 〇 Μ1[Τ3]=〇、M1[T4]=0，因此評價資料 si 為. S1 = M1[T1] + M1[T2] + M1[T3] + M1[T4] … =0+ 〇+ 〇+ 〇^〇 管理電路16對於第2平均維持插值運算電路 14 =) ’也同樣以將評分資料M2[T1]至M2 [T4]相 而侍的值作為評價資料S2。由於Μ2[Τ1] = 69、ΜΜΤ2] 3]6〇〇5 43 200529647 —因此評價資料 μ S2= M2[T1 ] + M2[T2] + M2[T3] + M2[T4] = 69 + 6 9 + 26 + 6 9 = 233 第20圖係彙整左右平均插值運算電路i4(〇)、第丄 平均維持插值運算電路1 4 (1)及第2平均維持插值運算電 路14(2)的評價資料s〇至S2之表。 由於評價資料愈小的插值運算電路在缺漏晝素 近旁愈能適切地進行插值，因此在缺漏晝素也可類推 能夠適切地進行插值。管理，電路16係輸出用以選=且 有評價資料SO至S2中最小評價資料（sl=〇)的第1 平均維持插值運算電路14(1)所輸出的插值資料之 擇訊號c。 ' 輸出電路13，係將與管理電路16輸出的選擇$

號C對應之插值資料DI1=.126者你TD1 I 丄z b §作IP1而予以輪 。如第—14、圖（b)所示，缺漏晝素L的影像資料㈣玉 之晝素資料為1 2 6，故得知可用吾^ 竹$ J用取小的誤差進行插值。 依據第13圖所示構成例的插值部4，係 對缺漏畫素L近旁的測試晝素τ 卄 電路的測試插值資料，並藉由對 建 „ ^ 稽田對该測試插值資料進行坪分 及评價，可選擇3個插值運算電 仃口干刀 ^ α田 甩路中適合影像内容的插佶 、异、、，。果，故可適切地進行缺漏晝素的插值。 以下顯示利用f 13圖所示構 插值之例。 驭進仃另衫像賁料的 316005 44 200529647 弟21圖係顯示具周期性影像資料 係以晝素周期Pp=7反覆濃度值a=8 之一例。第21圖（a)

a=80、b=56、c= 65、c 圖（b)係顯示缺漏 ，以缺漏晝素為中心左 素L之測試晝素τ 1至 f用左右平均插值運算電路…〇)、第i平均維持插 值運算電路14(1)及第 平始绝姓你7士、纪β工 .

的衣。 以下說明管理電路1 6之動作。 吕理電路1 6，係以將左右平均插值運算電路} & ( 〇 ) 的評分資料ΜίΗΠ]至M0 [T4]相加而得的值作為評 價資料 SO。由於 Μ0[Τ1]= 13、Μ0[Τ2]= 4· 5、μ〇[Τ3] =71、Μ0[Τ4]= 8，因此評價資料s〇為： S0=M0[T1] + M0[T2] + M0[T3] + M0[T4] = 13+4.5+71+8=96.5 官理電路1 6對於第1平均維持插值運算電路 1 4 (1)，也同樣以將評分資料M丨[τ丨]至μ 1 [ T4 ]相加 而得的值作為評價資料S 1。由於μ 1 [ Τ1 ] = 1 4 3、Μ 1 [ Τ 2 ] 二 35、"[η]: 143、Μ1[Τ4]= 35，因此評價資料 ^ 316005 45 200529647 si = Ml [ΤΙ ] + Ml [Τ2] + Ml [Τ3] + Ml [Τ4] =1 43 + 35 + 1 43 + 35 = 356 管理電路1 6對於第2平均維持插值運算電路 14(2)，也同樣以將評分資料M2[T1 ]至M2 [T4]相力 而得的值作為評價資料S2。由於Μ2[Τ1 ]二〇、 一0、％2[丁3]=0、肘2[丁4]=0，因此評價資料32為· S2= M2[T1 ] + M2[T2] + M2[T3] + Μ2[Τ4] 一〇+0+〇+〇=〇 第2 3圖係茱整左右平均插值運算電路1 4 ( 〇 )、第1 平均維持插值運算電路14(1)及第2平均維持插值運算電 路1 4 ( 2 )的評價資料s〇至S2之表。 ^电 、由於評價資料愈小的插值運算電路在缺漏晝素 2方恩能適切地進行插值，因此在缺漏晝素也可類推 月匕夠適切地進行插值。管理電路丨6係輪出用以選擇具 有評價資料SO至S2中最小評價資料（S2=〇)的第; :均維持插值運算電路14⑺所輸出的插值資 擇訊號C。.. 輪出電路1 3，係將與管理電路1 6輸 :…之插值資料DI2，當作ιρι而二: 之奎：：21圖(a)所示，缺漏晝素L的影像資料· 旦承貧，為135’故得知可用最小的誤差進行插值。 對址依據帛^ 3圖所示構成例的插值部4，係產生針 恭路^、、'素L ^旁的測試晝素T1至T4之3個插值運算 插值貧料’並藉由對該測試插值資料進行評分 316005 46 200529647 $中適合影像内容的插值 可適切地進行缺漏晝素的 及評價，可選擇3個插值運算電 運异結果’故對第21圖的資料亦 插值。 以下顯示利用第13圖所示 的插值之例。 卜構成進行又另-影像資料 …第24圖係顯示具周期性影像資料之-例。第24圖⑷ 係以晝素周期Pp= 17反覆濃户信 辰從值 1〇〇、b= 116、c = 130、d=140、e=i45、f= 143、“ g—136、h=124、i=l〇8、 J = 92、^76、卜 64、m=57、n=55mp=7Q、q = 84。弟24目⑻係顯示缺漏晝素與測試晝素的位置關 係。此外，以缺漏晝素為中心左右各設定2個來作為對應 於缺漏晝素L之測試晝素T1至T4。 利用左右平均插值運算電路14(0)、第i平均維持插 值運算電路14(1)及第2平均維持插值運算電路14(2) 對第24圖（b)的測試晝素T1至T4進行測試插值之處理， 係與第16圖至第18圖所示處理相同，故省略說明。 第25圖係彙整測試晝素τι至T4之評分資料M0至M2 的表。 以下說明管理電路1 6之動作。 管理電路1 6，係以將左右平均插值運算電路} 4Q > 的評分資料MO [T1 ]至MO [T4]相加而得的值作為評價 資料 SO。由於 M0[T1 ] = 3. 5、M0[T2] = 8. 5、M0 [丁3] =1 · 5、Μ 0 [ T 4 ] = 0，因此評價資料S 0為： S0= M0[T1 ] + M0[T2] + M0[T3] + Μ0[Τ4] 47 3J6〇〇5 200529647 = 3.5+8.5+1.5+0=13.5 管理電路1 6對於第1平均維持插值運算電路 14(1) ’也同樣以將評分資料M1[T1]至Ml [T4]相力 而得的值作為評價資料S1。由於Ml [T1 ] = 91、Μ1^2：1 一 152、Ml[T3]=91、Μ1[Τ4] = 152，因此評價資料 S1 為： ’ 51 = M1[T1] + M1[T2] + M1[T3] + M1[T4] = 9 1 + 1 52 + 9 1 + 1 52 = 486 管理電路1 6對於第2平均維持插值運算電路 14(2)，也同樣以將評分資料M2[T1]至M2 [Τ4]相加 而得的值作為評價資料S2。由於Μ2[Τ1]:= 191、Μ2[Τ2] =269、Μ2[Τ3] = 86、Μ2[Τ4] = 191，因此評價資 52 為： 、 S2= M2[T1 ] + M2[T2] + M2[T3] + M2[T4] =1 9 1 + 269 + 86 + 1 9 1 - 737 、第26圖係彙整左右平均插值運算電路“（ο)、第i 2均維持插值運算電路14(1)及第2平均維持插值運算電 路14(2)的評價資料s〇至S2之表。 由方；评彳貝貧料愈小的插值運算電路在缺漏晝素 =旁愈能適切地進行插值，因此在缺漏晝素也可類推 月匕夠適切地進行插值。管理電路丨6係輸出用以選擇呈 有評價資料so至52中最小評價資料（s〇=l35)的左 ，平均插值運算電路14⑷所輸出的插值資料之選擇 316005 48 200529647 輸出電路1 3，将將I+ 係將與官理電路16輸出 ==二料，133·5當作〜= " 所不的缺漏晝素L之影像資料WH1 的晝素資料為136,故得知$ 田,ώ/ι_ 貝枓觀1 MM以岡 M吳差進行插值。 又豕 θ所不構成例的插值部4 ,俜產4 # ::漏晝素L近旁的測試晝素…之3個:值運: 笔路的測試插值資料，並藉由對該測試 = 價，可選擇3個插值運算電路中適㈣㈣ 值。 卩的貝㈣可適切地進行缺漏晝素的插 如此，由管理電路16、評 …部-係將位於缺漏晝素近旁 '作插值對象晝素而對各個插值運算電路進行；： 時的插值結.果進行評價，並選擇輸出利用 =結果''插值運算電路所產生的缺漏晝素之插二结 值運：:二應生:影像資料而產生可選擇由適切的插 擇訊^生部15的= 直/料之選擇訊號，故具有選 的插值。的插值部4可適切地進行缺漏晝素 相運亦二代:::的插值運算電路進行缺漏晝 晝本竹& #如用將位於選擇晝素近旁的非缺漏 :”、、插值對象晝素而對於各個插值運算電路 ==值結果進行評價，而僅以產生最佳插值結果的 -兒路進缺漏晝素的插值運算。上述之評價及插 316005 49 200529647 值運算的選擇，係將位於缺 丰 插俏科务蚩本 、旦τ、近方的非缺漏書辛作為 插值對象晝素，而利用不同數 旦京作為 值結果進行評價，判定出旦” “進仃，並對其插 數目，而利用相同數目的晝素來進行缺漏書辛取土的畜。果之 如上所述，因係在施行攝像元件的特性^ 處理。 仃缺漏晝素的插值，故攝像元件的特性即使^ =才進 可狻得高品質的讀取影像。 有差”蚪，也 再者，於缺漏晝素的插值時，因係以 =:_素之平均值與不含缺漏晝素的^ 均值相寻的方式求取缺漏晝素 ^固旦素之平 高周期性的影像，也可獲料^ “二^即使讀取 又於上述的動作說明中，光源 el；111" 月匕任意切換複數種顏色（例如红 :先源7可為 由在讀取1條線的影像時依 ；0的構成，藉 取複數次’即能獲得彩色 、源7的顏色而讀 第2實施形態 。像貝科。 第27圖係顯示第2實施形態的影像讀 持插值運算電路的構成圖。第 I置之平岣維 態的複數個平均維持 ：：系勸實施形 個’置換為S27目所干構二路工14(1)至14“)的各 2】。 ㈡所不構成之平均維持插值運算電路 如圖所示，·俾@ ★ 的^ 2查入/、力用以限制平均維持插值運瞀泰 白”别出之輸出限制 值I电路 知出限制部20係由輪出範圍 3j6〇〇s 50 200529647 產生電路18與限制電路丨 而發生的平均維持插# ，用以減少因雜訊 如此在第2每##&电路14之插值誤差。 。牡乐2貫施形態中 14與輸出限制部2{)構成 雄千均維持插值運算電, 此，在第1實施形態可說僅靠= 直電路21。相^ (即）至…n))構成平均維持插值=持插值運算電5 弟28圖係顯示影像資料WH1的—邻八、，？ 素與參照資料範圍的位置關係。 七刀’亚頌不缺漏^ 影像資料贿】，係輸入到輸 均％拄奸佶、蓄笞+ 山祀㈤產生電路1 8及斗 運：14。參數k則輪入到平均維持插: 料:值運算電路14,係、根據影像資 為==制…9的同時，在測試插值時，作 為測试插值㈣TDn而輸出到評分電路n 資料TDn係與第！實施形態相同。 山式插值 用：指定由外部供給的參照資料範圍"” /乂係輸入到輸出範圍產生電路18。輪出範圍產生 =18 ’係根據影像資料觀的缺漏晝素之右側『個晝 /了、與左侧Γ個晝素，產峰輪屮畏女枯τ 座生#刖出取大值Lmax與輸出最小值

Lmin。輸出最大值Lmax係為： …、M[2r]) 、…、M[2r]) 、…、Μ[2r] 入到限制電路

Lmax-max(M[l ].....M[r]、M[r+ 1]、 在此，max(M[ 1 ].....M[r ]、M[r + l ] 係求取畫素 M[l].....M[r]、M[r+1] 的最大值之函數。輪出最大值Lmax係輪 316005 200529647

又’輸出乘小值Lmin係為：

Lnnn=min(M[l].....M[r]，M[r+ 1]……M[2r]) .在此，ππη(Μ[1].....M[r] . M[r+ 1]……M[2r]) * 係求取畫素 M[l].....M[r]、M[r+l] .....M[2r] 的取小值之函數。輸出最小值Lmin係輸入到限制電路 19 〇

限制笔路1 9係根據輸出最大值Lmax和輸出最小值 Lmi η而限制限制前資料Da，並將限制後的插值資料當作 Din輸出到輸出電路13。限制後的插值資料於

DaCLmin 時為 DIn=Lmin

Lmin^Da^Lmax 時為 DIn=Da Lmax<Da 時為 DIn=Lmax μ藉由以上之構成，第2實施形態可將平均維持插值運 9异電路曲14(1)至14⑷的輸出限制在缺漏晝素近旁之 =固浪度值.的範圍内。亦即，可用缺漏畫素近旁的 =值的最大值和最小值，限制輸出訊號能取得值 以下用具體例進行說明。 第2 9圖為依據具體例的插值運算電路之構 在 至 μ第29圖係顯示晝素周期ρρ== 5的 苐 2 9 圖中書辛 Ν Β「3 Ί的、、詹择伯 ^ '、 94。 旦素NB[3]的/辰度值因雜訊而變成 影像資料 WH1，係輸入到 平均維持插 值運算電路14 316005 52 200529647 和輸出範圍產生電路18。參數k=9，係輸入到平均 維持插值運算電路14。平均維持插值運算電路14，係以 使包含缺漏晝素的晝素列Lc和不含缺漏晝素的2個 晝素列NA及NB的平均值相等的方式求取缺漏晝素七 的插值資料。方程式為： (AD[1] + AD[2] + AD[3] + AD[4] + L + BD[1] + BD[2] + BD[3] + BD[4])/9= ((NA[1] + NA[2] + NA[3] + NA[4] + NA[5] + AD[1] + AD[2] + AD[3] + AD[4])/9 + (BD[1]+ BD[2]+ BD[3]+ BD[4]+ NB[1]+ NB[2] + NB[3] + NB[4] + NB[5])/9)2 缺漏畫素L成為： L= ((NA[ 1 ] + NA[2] + NA[3] + NA[4] + NA[5] + AD[ 1 ] + AD[2] + AD[3] + AD[4])+ (BD[1] + BD[2] + BD[3] + BD[4] + NB[1] + NB[2] + NB[3] + NB[4] + NB[5]))/2 - (AD[1] + AD[2] + AD[3] + AD[4] + BD[1] + BD[2] + BD[3] + BD[4]) 由於 NA[1]=126、NA[2]=74、NA[3]=57、NA[4] = 100、NA[5]= 143、AD[1]= 126、AD[2]= 74、AD[3] =57、AD[4]= 100、BD[1]= 126、BD[2]= 74、BD[3] =57、BD[4]= 100、NB[1]= 143、NB[2]= 126、NB[3] =94 、 NB[4]= 57 、 NB[5]= 100 因此 L=((126 + 74 +57+100+143+126+74+57 + 100) + (126 + 74 + 57 + 100 + 143 + 126 + 94 + 57 + 100))/2 - (126 + 74 + 57 + 100 + 126 + 74 + 57 + 100) 53 316005 200529647 =153 。將缺漏畫素L的插值資料設為限制前資料 制前資料D a係輸入到限制電路1 9。 參照資料範圍r = 9，係輸入到輪出範圍產帝 生路 1 8。輸出範圍產生電路1 8，係在影像資料⑷η 1中： 缺漏晝素L的右側9個和左侧9個的最大值卷作、將 最大值Lmax予以輸出。輸出最大值Lmax成為：則出 Lmax =143 。輸出最大值Lmax係輸入到限制電路1 9。 再者，輸出範圍產生電路18，#於旦彡後〜 中蔣缺、、居金I τ 知方；衫像資料WH1 ::旦 的右側9個和左側9個的最小值去竹 幸則出取小值Lmin予以輸出 田乍

Lmm= 57 ‘出取小值! η成為：

。輸出最小值I^min I 限制電路1 9俾# J _到限制電路1 9。 ν'根據輪屮@ 值Lnu η而限制限制1 卬取大值Lmax和輸出最小 w κ剌前資 平均維持插值運笞♦狄、〃 Ua，並輸出限制後資料。 ，於進行測試插值時，輸 而於進行插值運算時，輸出限 3 ϊτη .1 . 出測試插值資料了 D^ 制後插值資料DIn。p ^ "ψ|1 JLL· 制後的插值資料D 了 勺測試插值資料T D η和限 153、Lmax = 143、Lmin 丨Q 成立 ’因此 TDn = Lmax = 1 43，或 ja 、’ 1 η ’由於 =5 7 而使 Lmax < d DIn=Lniax==： 143 〇 第29圖中缺漏奎本 料為143，限制徭$ L的影像資料WH1之晝素資 的誤差為| 1 43 — 1 43 | = 3]6005 200529647 0。限制前資料的誤差為I丨H 1/IQ , ^ 丨143 I = ίο，可藉由 限側而縮小誤差。 第3實施形態 在第1實施形態，係說明了藉由硬體（hardware) ?行缺漏晝素的插值之影像插值裝置之構成，但亦可 错由軟體（software)進行缺漏晝素的插值。又 同時利用軟體和硬體。 第30圖係說明利用軟體執行影像讀 號處理動作之流程圖。 、^置的訊 以下說明其動作。 在步驟（steP)sl，取得丨條線的影像 驟係相當於第1實施形態中到A/D轉換部2 ^…此步 部1輸出的影像訊號A 1轉換成數位的影$攸攝像 之動作。 賢料為止 在步驟si中取得的丨條線的影像資么 驟s2巾進行黑準位之差異的修正。此步^糸在步 第1實施形態的黑修正電路9之動作。 y、目田於 在步驟s 2進行過黑修正的影像資 s 3進行感度之差異的修正。此步驟 /' ; v 4Ta / ”你相當於 轭形態的感度修正電路1 〇之動作。 1只 對於在步驟S3中修正過感度的影 影像資料的缺漏部中的晝素的插值處理。此牛Η進行 當於第1實施形態的插值部4之動作。 v &I相 在步驟s 4經插值處理過的影像資 乂 、"' ，係於步驟 3]6005 55 200529647 s 5進行疋否為最終線之判斷，於非最終線的情況， 係回到步驟sl，且反覆到sl至s4為止的動作。而 為最終線的情況，則結束處理。 弟3 1圖係說明利用軟體處理執行缺漏晝素的插 值之動作（影像插值處理）的流程圖。 在步騍s4-1，產生針對測試晝素π之左右平均 插值運算處理的測試插值資料（相當於第1實施形能的 TD0[T1])。 〜 在步驟s4-2，係產生測試晝素τΐ的位置的影像 資料WH1之晝素資料（相當於第1實施形態的WHi[ti]) 和步驟s4- 1所產生的測試插值資料之差的絕對值作 為評分資料（相當於第1實施形態的M〇 [T1 ])。 接著，回到步驟S4-1，產生針對測試晝素T2的左 右平均插值運算處理之測試插值資料（相當於第丨實施形 態的 TD0[T2])。 在步驟s4-2，係產生測試晝素T2的位置的影像 貪料WH1之晝素資料（相當於第1實施形態的WH丨[T2 ]) 和步驟s 4 -1所產生的測試插值資料之差的絕對值作 為評分資料（相當於第1實施形態的Μ〇 [Τ2 ])。 對於測試晝素Τ3至Tm亦同樣地反覆步驟s4< 和步驟S4-2的流程（步驟s3)。以此方式，即可獲得 針對所有測試晝素τ 1至Tm的左右平均插值運算處理之 評分資料。 在步驟s4-4，係產生針對缺漏畫素L之左右平均插值 316005 56 200529647 運算處理的插值資料。 、也 回到步知1，產生針對測試晝素T1的第1 平均維持插值運算處理之測試插值資 形態的TD1[T1])。 乐i戶' 把 資料=\s4'2’係產生測試晝素τι的位置的影像 貝枓WH1之畫素資料（相當於第1實施形態的WH1[T1]) 和步驟s 4 -1戶斤吝斗 1所產生的測試插值資料之差的絕對值作 為矸刀2料（相當於第1實施形態的MUTU)。 ^妾者’回到步驟s4_丨，產生針對測試晝素τ2的第《 千句維持插值運算處理之測試插 形態的TD1[T2])。 田万、罘1只鈀 資料WH1 t ^'產生測試晝素Τ2的位置的影像 和步驟二旦:產貧=(相當於第1實施形態的WH1_ 為評分資料（相者於插值資料之差的絕對值作 田、弟1貫施形態的Μ1 [ T2 ])。 對於測試書音τ q Ρ τ + _、 和步驟S4-2的；程：’、5樣地反覆步驟s4-1 ( 針對所有測試書辛τ/至^ ^此方式’即可獲得 理之評分資料。— m的弟1平均維持插值運算處 在步驟34-4,係產生針對缺漏晝素乙之 插值運算處理的插值資料。 9 '、隹持 值、軍^、^ 2平均維持插值運算處理至$ n平均唯持拖 :异處理，亦同樣地反覆步驟3“至步驟s“的、，插 乂驟㈣。對於左右平均插值運算處理及第！平均= 316005 57 200529647 插值運算處理至第n平均 可獲得針對所有測試晝素 缺漏晝素L的插值資料。Tm的…料和針對 資料2::4 —6 ’逐一就每一插值運算處理將評分 貝科予以加總而產生/ 维捭杆插、笛斤* 生左右千均插值運算處理及第1平均 、准持插值運鼻處理至第 資料“日A 隹持插值運异處理的各評價 貝勵當於第1實施形態的SOS Sn)。

:步驟S4-7’係根據在步驟s4_6中產 遥擇用以對㈣晝素進储值㈣值⑽。 最播2從上述步驟S4]到步驟S4~7的流程，直到到達 取後的缺漏晝素（步驟s4 —8)。 ㈣對：各步驟的處理内容業已在第1實施形態中詳細說 ^ 因此在此省略其說明。 :上所述係在施行攝像元件的特性修正之後才進行缺 :"的插值’因此攝像元件的特性即使有差異，也可以 獲得高品質的讀取影像。 了以 、—此外在缺漏晝素的插值中，因係以使包含缺漏晝素 Y複數2旦素之平均值與不含缺漏晝素的複數個晝素之平 ^值相等的方式求取缺漏晝素的插值資料，所以即使讀取 :周期性的影像，也可獲得高品質的讀取影像。 笫4貫施形態 σ在第1貫施形態中，係就攝像部1使1條線的影像訊 ° 成為串列讯號而輸出的情況加以說明，但亦可如第 32圖所不將1條線份的影像訊號分割成複數個再並列輸 316005 58 200529647 、:戶言，因可使A/D轉換部以後以比攝像部快的 二，所以利用第32圖所示的構成，可縮短處 理1 1W線所需的時間。 24二^32圖中，22為攝像部、23為A/D轉換部、 2 4為變更排列部。 :33圖係顯示攝像部22的構成之圖，在第Μ圖 :將1條線分割為4，而從密貼影像感測器25並聯 =出、4個影像訊號似、似、脱、似。影像訊號 AS2、AS3、AS4 ,係分別對應經4分割的丨條線 之各部分的畫素列。 乐34圖係顯示第4實施形態的A/D轉換部23的構 成之圖。圖示之A/D轉換部23係包含取樣保持 (samPle-hold)電路26、從複數個影像訊號中選擇^ 個的開關（switch)27、及A/D轉換器28。 將從密貼影像感測器25輸出的1條線4分割而成之 影像汛號AS1至AS4，係輸入到取樣保持電路28(丨）至 28(4)，並以預定的時序取樣保持影像訊號。 開關27係依序選擇取樣保持電路28(1)至 28(4) ’並輸出到a/D轉換器28。A/D轉換器28係依 序將從開關2 7輸出的影像訊號AS 1至AS4轉換成數位資 料。此時，開關2 7係於密貼影像感測器25輸出的影像 訊號AS1至AS4之各個的1畫素份的時間以内，依序選擇 4個訊號並輸出，A/D轉換器28因係將開關27輸出的 4個机號轉換成數位資料，所以a / D轉換器2 8的取 3]6005 59 200529647 =以:為密貼影像感測器25輸出影像訊號的速度 器28輪出的影像資料，係與第1實施 Γ:=Γ應修正部3,…修正和綱 在特性化正# 3進行過修正的影像

到變更排列部24，以進行影傻次 、广 矿、月,J 輸入到變更排列部24的:二:排列變更。 耪六、目,f 口口 Μ认， 像貝科，因係以密貼影 •像感測盗25輸出的影像資料的順序，亦即 置的晝素的資料依序排列的狀 刀。 方向為不連續。在此種狀態下 故變更排列成連續於主掃描方向的影像資料。變^ 列部24，係利用SRAM等的暫時、又 於主掃描方向的影像資料變為連續’使未連續 插值部4。 埂3的排列，並輸出到 輸入到插值部4的影像資料， 作，係與第1實施形態相同。 值部4的動 藉由以上之構成，即可縮短處理i條線 再者，於上述第4實施形態的動作說明中，〃守曰。 性修正部3之後配置變更排列部24 係以在特 但以在變更排列部24之後配置特性庐加以5兒明， 式亦可獲得同樣的效果。心的構成方 此外，攝像部22的1條線的分割數亦 的構成，可考量攝像部22的攝像元件數、°為4以外 的動作速度、A/D轉換部23以下1八Α攝像部22 下心刀的動作速度， 3160ης 60 200529647 而作任意地的選擇以使1條線的處理時間能縮短。 例如，攝像部22以最AFa(MHz)的時脈頻率動 作，A / D轉換部2 3以下以|f卜卩μ w、 私从士 η 卜以取大Fb(MHz)的時脈頻率 動作時，最大的分割數11可由下式求得。 η = I n t(Fb/Fa) 在此Int(x)係取得x的整數部的函數，藉由 以 上η以下的範圍内選擇分曰 所需的時間。 卩了⑹處理^条線 第5實施形態 在第1實施形態中係顯示，用於密 測哭曰Η >二志诉i / / 〜像感測裔的感 刺态日日片係項取早色（例如黑 個光源讀取彩色影像的情況，二=件^序切換複數 備猶'先片(color fllter)等，將對 ： 度的攝像元件設在1個感測器晶片上 1 ! 彩色（color)影像的構成。 早色光源讀取 第35圖係顯示第5實施形態的穷 之圖。在第35圖所示密貼影像感測哭=，的構成 ⑻、綠⑹、卿種顏色具有感度二=二:工 數種攝像元件(R、G、B)，且將對於上述:;： 有感度的複數種(Nc種的)攝像元件以預定 :、=: 紅、綠、藍的順序配列成一行。 、 例如 複數的感測29,其位於左端的* 元件具有碭产的声g U 旦斤、顏色（攝像 ά度的减色）相互為相同（全為紅），位於右端的晝 61 3 】6005 200529647 素顏色（攝像元件具有感度的顏色）相互為相同（全為該）， 配置在各感測器晶片29上的攝像元件數係相等於顏色數 (例如Nc=3)乘以整數q(在第35圖例中、= 广广此時，為了不使紅、綠、藍的排列順序搞混，在 相互邠接的感測器晶月相互間設定存在紅、綠 缺漏晝素，而求取該等的插值資料。 I、 第〗測器晶片29上的攝像元件間隔設定為和 右端二：色::同：㈣時，讀取1個感測器晶片29⑴ 29⑺二元件，和讀取鄰接的感測器晶片 為大的dw3。如上所述，^ ^配置成較_ 件之種,A ’ 在感測态晶片29上的攝像元 仵之種颁為Nc種，於感測器 像元件之情況，藉由配 上配置有Ncxq個攝 即可簡化插值部之構成。片成為dw3 = dwlxNc， 插值部之動作，彳彡 攝像元件所獲得的；料：用，相同顏色具有感度的 值。例如，對紅色缺漏查母種顏色進行晝素的插 於近旁的紅色非缺漏晝二京34行插值日夺，係僅利用位 時，係僅利用位於近丸、、、'子、、彔色缺漏晝素進行插值 缺漏晝素進行插值;色非缺漏晝素；而對藍色 漏晝素。 利用位於近旁的藍色非缺 第％圖係顯示包含呈 的行的攝像部3 i之第”=乐35圖所示感測器晶片29 方塊圖。該影像 5只施形態的影像讀取裝置之 貝取裝詈 于、了攝像部31之外，還具 316005 62 200529647 備· A/D轉換部2、分配部32、 性修正部3G、藍特性修正部3β、、'工特性修正部3R、綠特 部4G、藍插值部4β。 紅插值部4R、綠插值 攝像部3 1除參照第3 5 、 1實施形態的攝像部丨一栌"5兄明之點外，其他和第 A/D轉換部2,係將由攝像 轉換成一連串的數位晝素資料 知出的影像訊號 轉:部2輪…素資料予 供給至紅特性修正部應之影像資料1 對應之影像資料供給至綠特性修自^攝像元件的訊號 攝像元件的訊號對應之影像；部3G ’將與來自藍 3B。 像貝枓供給至藍特性修正部 紅特性修正部3R、綠特性 I係對於與各自接收的來自紅修正部 讯號對應之影像資料，、隹——:·、 I聶像元件的 正部3相同之特性修正/丁 °第1實施形態的特性修 別利：ΓΓ部4R、綠插值部4G、藍插值部4β，传八 制用來自紅雜修正部3R、 ^刀 :生修…的經修正過的畫素資料，進行=監特 :值。：即’紅缺漏畫素的插值係於紅插值:1的 衣據來自紅攝像元件的訊號之晝素資料 :漏：她值係於綠插…G，v依據來自仃： 像兀件的訊號之壹丰资祖卞 聶 之旦π貝枓末進仃；藍缺漏晝素的插值 316005 63 200529647 係於監插值部，僅仿撼炎自誃强你一 晝素資料來進行。據末攝像…訊號之 藉由上迷之構成，可削減密貼影像感測器的光源所兩 要的色數，同時加快讀取的處理速度。 而 第6實施形態 第37圖係顯示帛6實施形態的密貼影像感測器的構成 ΓΛ”在二Γ圖所示的密貼影像感測器中，各感測器晶片 〇係“對於複數的(例如Nc個的)不同顏色，例如匕 )、綠⑹、藍⑻3種顏色具有感度而可讀取不同顏色巧 像的複數種攝像元件（R、G、B)，且將對於上述不同顏色= 有感度的複數種（Nc種的）攝像元件以預定的順序，例： 紅、綠、藍的順序配列成一行。 複數的感測器晶片30,其位於左端的晝素顏色（攝像 兀件具有感度的顏色）相互為相同（全為紅），位於右端的金 素顏色（攝像元件具有感度的顏色）相互為相同（全為駐）旦 配置在各感測器晶片3〇上的攝像元件數係相等於從；色 數Nc(例如Nc=3)乘以整數Q(在第3?圖例中的值減 去1，數（Ncxq—1)。此時，與第35圖不同，為了不使紅' 綠二、藍的排列順序搞混，係於相互鄰接的感測器晶片相互 間设定成存在藍的缺漏畫素，來求取其插值資料。 當將相同感測器晶片30上的攝像元件間隔設定為和 弟1實施形態相同的dwi時，讀取丨個感測器晶片3〇(1) 右糕的綠色影像之攝像元件，和讀取鄰接的感測器晶片 3〇(2)左端的紅色影像之攝像元件之間隔，係配置成較 3]6005 64 200529647 為大的dw3。如上所述，配置在感測器晶片3〇上的攝像一 件之種類為Nc種，於感測器晶片30上配置有（Ncxq〜= 個攝像元件之情況，藉由配置感測器晶片成為二 dwl><2，即可簡化插值部4之構成。 如此在第6實施形態中，插值部4.僅需對藍進行插 值，即可簡化插值部4的構成。藍的缺漏晝:盥 第5實施形態-樣，僅用位於近旁的藍色非缺漏查： 進行插值。 Si 第38圖係顯示包含具有第37圖所示感測器晶 之行的攝像部41《第6實施形態的影像讀 方塊圖。該影像讀取裝置除了攝像部41之 … 備轉換部2、分配部32、紅特 = 性修正部3G、藍特性修正部I藍插值部⑼ '表特 攝像部41除參照第37圖說明之點外 1實施形態的攝像部丨—樣。 八他和弟 A / D轉換部2，得脾山4耳μ _ ’、、 攝像部41輸出的影像勺％ 轉換成一連串的數位晝素資料。 1象^龙 分配部3 2，係將a / η ^ 以分配，將與來自轉：'2輪出的晝素資料予 供給至紅特性修正部’、凡^ $ δίι號對應之影像資料 ^ 0 ^ ^ r I ，將與來自綠攝像元件的1 % 對應之衫像貢料供給至 1干的汛嬈 攝像元件的訊號對岸之旦:：部3G，將與來自藍 3β。 4之衫像資料供給至藍特性修正部 紅特性修正部3R、蛘壯 、，表~性修正部3G、藍特性修正 3I6005 65 200529647 3B係對方、與各自接收的來自紅 訊號對應之影像資料，進行和第攝像兀件的 正部3相同之特性修正。丁的特性修 藍插值部4B，係利用來自藍特性 修正過的書本咨极 ^ 丨Μ的經 一 $貝枓，進行缺漏晝素的插值。 如此，僅依據與來自藍攝像元件 素資料來進行藍缺漏晝素的插值。 。對應之晝 ，於其他構成的動作，則與第5實施形態相同。 藉由上述之構成，可縮短感測 提昇插值影像的品質。 月門的間隔，故可 此外，需要插值的缺漏晝素數也得以較第… 的情況為少。 ^形恶 【圖式簡單說明】 之影像讀取裝置的構成 第1圖係顯示第1實施形態 方塊（block)圖。 农罝的構成之 第2圖係顯示第1圖之攝像部的概略圖。 構成之方塊 第3圖係放大顯示第2圖之攝像部的一部分之君 第4圖係顯示第2圖的特性修正部的詳細 各固 圖0 圖0 第5圖（a)至（e)係顯示第4圖的黑修正電路的動作 之 第6圖（a)至（e)係顯示第4圖的感度修 之圖 正電路的動作 3]6005 66 200529647 *的顯示第3_像部中的攝像―畫 理的=靡顯示第7圖所示缺漏畫素的插值處 第Θ圖係顯示第2圖的插值部的詳細構 第10圖⑷及⑻係顯示第1實施形態的影像讀^置 的插值部所處理之晝素列及晝素組之圖。 —第11、圖係顯示第i實施形態的影像讀取I置的插 就複數個測試（test)晝素進行插值時的 評價結果之圖。 值連π路的 第12圖係顯示帛1實施形態的影像讀取裝置的插值邻 之各插值運算電路的综合評價結果之圖。 。 第13圖係顯示第！實施形態的影像讀取裝 的具體例之方塊圖。 星^ 第14圖⑷至（c)係顯示第！實施形態的料讀取 斤處理之晝素資料的—例之圖，⑷係顯示影像的 火之圖、⑻係波形圖、（c)係顯示缺漏晝素及位 近之測試晝素之圖。 、八附 第15圖（a)至（c)係顯示第丨實施形態的影像讀取 的插值部所處理之晝素列之圖。 、 第16圖（a)至（e)係顯不第丨實施形態的影像讀取 的插值部所處理之一連串晝素中的缺漏晝素及位 的測試晝素之圖。 '〃、附近 第17圖（a)至（e)係顯示第丨實施形態的影像讀取裝置 316005 67 200529647 的插值部所處理之—連串畫素中的㈣t 的測試畫素之圖。 祖瓦具附近 第則⑷至（e)係顯示第丨實施形態的 的插值部所處理之一連串晝素中 、衣置 的測試晝素之圖。 Ί素及位於其附近 第19圖係顯示第1實施形態的影像讀取裝置的插值外 ==個測試晝素進行插值時的各插值運算電則評價= 的夂第1實施形態的影像讀取裝置的插值部 的。插值運#电路的綜合評價結果之圖。 ㈣及麵顯示第1實施形態的影像讀取事 置的旦素插值部所處理之晝素資料之—例 π 、 (b)為顯示缺漏畫素及位於其附近的測試晝素之圖… 第22圖係顯示第i實施形態的 就複數個測試晝素進行插值時的各插值運曾ί =:部 果之圖。 值連#电路的評價結 第23圖係顯示第！實施形態的影 的各插值運算電路的综合評價結果之圖。衣置的插值部 第24圖(a)及㈦係顯示第lt施形態的影像 ，插值部所處理之晝素資料之一例，⑷為波形圖，㈦為 頭不缺漏晝素及位於其附近的測試晝素之圖。 ’’、、 第25圖係顯示第丨實施形態的影像讀取 =複數個測試畫素進行插值時的各插值運算電㈣= 果之圖。 」。T I貝、、、。 3]6005 68 200529647 弟2 6圖係顯示楚·| — ^管+ 貫轭形態的影像讀取裝置的插值部 的各插值運异電路的心Α · 岭的絲合評價結果之圖。 第2 7圖係顯示塗9 a όΛ c. ^ % 4* 4t ^ 貫施形態的影像讀取裝置的插值部 的千均維持插值電路的詳細構成之方塊圖。 第28圖係顯示篦9每> / & 所處理的畫素列之圖。am〜像#取裝置的插值部 m ^ 1Γ* - -μΓ ^ 2 ^ ^ ^ g 6' ^ # 11 ^ ^ ^ ^ ^ ^ ^ 所處理的晝素育料的—例之波形圖。

第3 0圖係顯示第q余 A 只施形怨的訊號處理方法的 流程圖（flowchart)。 J勒作之 弟31圖係顯示第q4 乐3 悲的插值動作之流程圖。 μ ^第4實施形態的影像讀取裝置的構成之 方塊圖。 第33圖係顯示第32圖的攝像部之概略圖。 鬼回第34圖係顯示第32圖的A/D轉換部的詳細構成之方 第35圖係顯示第5實施形態的影像讀取裝置的 中之攝像元件與缺漏晝素的關係之圖。 σ 第3 6圖係頒示第5實施形態的影像讀取裝置的、 方塊圖。 、、冓成之 第37圖係顯示第6實施形態的影像讀取裝置的攝 中之攝像元件與缺漏畫素的關係之圖。 第38圖係顯示第6實施形態的影像讀取果 方塊圖。 、直的構成之 316005 69 200529647

【主要元件符號說明】 I 、 22 、 31 、 41 2、23

3 、 3R 、 3G 、 3B

4 、 4R 、 4G 、 4B 5、25 5 a 基板 6 、 29 、 30 7 光源 9 黑修正電路 II 黑修正資料產 12 感度修正資料 13 輪出電路 攝像部 A/D轉換部 特性修正部 插值部 $貝占影像感測器 感測器晶片 8 攝像元件 1〇 感度修正電路 電路 生電路

1 4 ( 0 )左右平均插值運算電路 14(1)至I4(n)平均維持插值 15 選擇訊號產生部J β 17 評分電路 19 限制電路 1820 21 插值電路 24 26 取樣保持電路 〇 28 A/D轉換器 運算電路 管理電路 輸出範圍產生電路 輸出限制部 變更排列部 開關 分配部 28(1)至28(4)取樣保持電路 31 攝像部 3之 41 攝像部

Claims (1)

1. 200529647 '、申請專利範圍： 種衫像項取裝置，並係葬. 成-r而m 〃係猎由將奴數個攝像元件配置 成仃而成的W像感測器來讀取影像者，| 將具有複數個攝像元件的複數個;;互 相連接配置成-行而成之攝像部；^。。日曰片互 將攝像部輸出的影像訊號轉換 的類比/數位（A/D)轉換部； 旦素貝枓 修正前述感測器晶片的攝像元件 特性修正部；以及 行I"土友異的 壹本！ί前述複數個感測器晶片相互連接部發生之 旦π貝、料的缺漏進行插值之插值部，其中 在上述特性修正部將上述攝像元件之特性差異 ^以修正後在上述插值部進行上述缺漏晝素之插值 處理。 如申請專利範圍第！項之影像讀取裝置，Α由，上诸 特性修正部係於修正上述攝像元件的黑準位的^〜 之後，修正感度的差異。 如申请專利範圍第1項之影像讀取裝置，其中，上述 插值部係具備至少一個插值電路，該插值電路係以使 包含缺漏晝素的複數個晝素的平均值與不含缺漏晝 素的複數個畫素的平均值相等的方式進行插值，而一求 取缺漏畫素的晝素資料。 如申請專利範圍第3項之影像讀取裝置，其中， 設置有複數個前述插值電路， 且對於以位於别述缺漏晝素近旁的非缺漏書素 336005 200529647 為插值對象晝素於各個純 值結果進行評價，以利用產生K 丁插值時的插 路進行前述缺漏晝素的插值。A插值結果的插值電 5. 如申請專利範圍第3項之影像 插值電路係具有以缺漏晝素近旁=置，其中，前述 值與最小值限制輸出範圍的電路^旦素之值的最大 6. =申請專·圍第丨項之影料 自成為前述影像m的各、中’使來 訊號並列輪出，日义、+、A 刀之複數個部分的 列輸出的訊二：： 換部係具有：將上述並 電路、將_： ：?予心樣保持的複數個取樣保持 电略將上述複數個取樣 以卞幵 擇的開關、及對卜、f 、电路的輪出依序加以選 轉換器。 、处开節的幸月11出進行A/D轉換的A/D .如申f、專利範圍第1項之影像讀取裝置，1中， 一述攝像元件係包含對於不间結$ 複數種攝像元件，且將對於上述不二色且^度的 複數種攝像元件以預定的順序配列，有感度的 辛之=部係僅依據和缺漏晝素相同顏色的書 言之晝*貧料進行插值處理。 一 :種;==法’係處理將複數個感測器晶片配置 η ± 像部所讀取的影像訊號之訊號處理 万法，其特徵在於·· 於修正上述影像訊號中所含之 =件的特性差異之後進行在感測器晶;;:； 連接。卩舍生之缺漏畫素的插值處理。 316005 72 200529647 9 ·如申請專利範圍第8項之訊號處理方法，其中，上述 特性差異的修正係包含：上述攝像元件的黑準位的差 異修正、及感度的差異修正。 1 0.如申請專利範圍第8項之訊號處理方法，其中，上述 插值係以使包含缺漏晝素的複數個晝素的^均值與^ 不含缺漏晝素的複數個晝素的平均值相等的方式進 11·如申請專利範圍第10項之訊號處理方法，其中，二、 ::上述缺漏晝素近旁的非缺漏晝素作為插值對象' 旦素’利用各不相同數目的畫素來進行 結果進行評價，以利用與判定為 對/、插4 ^ ^^ ^ /、列疋為可页來評價的結果i 果之數目相等數目的晝素來進行缺漏晝素的 12. 如申請專利範圍第1()項之訊號處理方法，， 述插值更包含以缺漏晝素近旁 :、， 最小值來限制輪出範圍。 —之瑕大值與 13. 如申請專利範圍第8項 理方法，其中， 貝T任—項之訊號處 处攝像元件係包含對於不同顏 複f種攝像元件’且將對於上述不同，色、：感度的 複數種攝像元件係《預定的順序3顏色具有感度1 上述插值係僅依 素之晝素資料來進行缺漏晝素為相同顏色的晝 316005 73