TW200521827A - Method, and system for video and audio testing purpose - Google Patents
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200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc. t發明係關於一種影像及聲音紀錄 測試方法與系統,且特別 貝況的 比對以决疋影音測試結果之方法與系統。 【先前技術】 隨著電子與資訊技術的進步,人 資訊技術有著越來越緊密的關係。各式各樣的=訊 ,二般用途或特殊用途電腦,或各種電子設備貝來 行資訊的傳遞、儲存與各種處理。 统來H〜及傕聲A記錄及使用資訊的測試方法與系 j來f雖然傳、統的方法推陳出*,以增加 :測試的速度與測試的精確度,其正說明了人 影像及聲音測試需求仍不斷地增加。 、; _此外,對於影像及聲音的測試程序而言,雖铁目 備對於一般例行性工作的處理已經具有 :秀”:’然而在測試的正確率上仍有不足之處, 二Π人眼及人耳的輔助以彌補不足的地方。關 M m η M Α ^ /泎因為許夕衫像及聲音測試的 Π 111定的方式解決’但亦有一部份原 的硬體設備與花費皆極為驚人,而難以普及 ’通 何能夠利用巧妙的方法,在現有的軟硬 體限制下’有效地解決複雜問題,或是提供資料有效 200521827
Lishen, Chan WaveTronex Inc. 的儲存’將能帶來重要的貢獻。 【發明内容】 本發明目之一係提供一種影音測試方法及系 統,藉由此種影音資訊紀錄及資訊使用之測試方法與 系統,可以做到更精確與更有效率的資訊儲存、測^ 程序操作與使用。 依據本發明之一實施例,係提供一種影像及聲音紀錄 及測試資訊的方法,包括下列兩個模組 模組一:控制模組 模組二:測試模組 控制模組包含下列子模組 1 ·監視子模組··監視影像流(Vide〇 Stream)及聲音 流(Audio Stream)的所有資料。 2 ·報告子模組:將控制模組所測試之結果透過傳輸 的方式經由網路或是RS232 p〇rt傳輸出去。 說明如下: 測試模組包含影像子模組及聲音子模組。 ^ ·影像子模組:影像子模組會將控制模組中監視子 *、組所紀錄之影像流的資料庫與測試影像資料作比 2 ·聲音子模組 模組所紀錄之聲 對。 •聲音子模組會將控制模組中監視子 音流的資料庫與測試聲音資料作比 首先,本發明可與 據此,本發明至少具有下列優點 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc. 各種不同的影音應用結人, 性。第二,本發明對於口;,大的彈性與擴充 與傳統人工觀察測試之;t聲曰資料的處理提供了 於真正的產品,發: = : =的觀點,並能夠實用 【實施方式】 第一具體實施例 立測ΐ ί,明之第—具體實施例為-種影像及聲 曰測试系統及相關資料處理方 革 制模組及測試模組。去妒挾座丨γ ^實例包括了控 前雨去夕& Γ 虽然,控制模組、測試模組,或 各ίΐί:;’以*及將控制模組、測試模組之方法以 電子。又備、系統、裝置予實作皆為本發 :各二種資訊測試階段所得到的結果則可進3 /、各=衫像及聲音測試的相關應用結合。 而下Π第、1圖’其上半部為控制模組的流程圖, 本實施二則為測試模組的流程圖。以下將分階段說明 模組一:控制模組 此模組包含下列子模組 1 ·監視子模組 2 ·報告子模組 說明如下: 1 ·監視子模組功能 監視影像流(Video Stream)及聲音流(Audio 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc.
Stream)的所有資料。 a·影像流:監視方式為紀 式為下所示· 邛所有影像的資訊,紀錄方 (1)紀錄所有等彡俊傻去% Λ η〜料素的n利 RGB之區分每個r、G c: " ^ -.^ + B各為8 h|ts的二進位值所 〇牛例來說R值的二進位值為00001 11 1,G值 值為二進位值為咖刪 在時間戳記〇的位置上RGB組合後的值為 _0UUU謂讀嶋1G。依此類㈣可 j上所有的影像像素之二進位值全部紀錄下來。並儲 存於記憶體或是硬碟中。可參見第2圖201。 (/)隨著時間變化持續紀錄影像像素的色階。時間戳 ^會與影像像f資料一併I纪錄T來並存於記憶體 中或是硬碟中。可參見第2圖202。 (3)將影像像素的色階紀錄在資料庫中。可參見第2 圖203 。 少 b、·聲音流··監視方式為紀錄所有聲音的資訊,紀錄方 式為下所示: (1)紀錄聲音變化的頻率響應。利用聲音的振幅有大 J之區分的一進位值所構成。舉例來說在時間戳記〇 的時間點上紀錄下來的聲音振幅為2〇dB,則轉化成 為二進位值的時候,此點的振幅值為8bits的 12 200521827
Lishen, Chan WaveTronex Inc. 000 1 0 1 00。依此類 素之二進位值全部 碟中。可參見第3 (2 )隨著時間變化才寺 間戳記會與聲音振 憶體中或是硬碟巾 (3)將聲音變化的頻 第3圖303 。 1則可料間戳記上所有的影像像 、,、己錄下來。並儲存於記憶體或是硬 圖 301。 續紀錄聲音變化的頻率響應。時 幅資料一併被紀錄下來並存於記 。可參見第3圖細2。 率響應紀錄在資料庫申。可參見 2 ·報告子模組功能·· 將測試結果透過傳輸的 RS232 port傳耠中土 4 々巧、,工由網路或是 或是XML·的檔宏故斗、 、J a疋純文子檔案 所產生。見第4圖。 疋田列忒杈組 模組二··測試模組 此模組包含影像子模組及聲音子模組。 1 ·影像子模组: 衫像模組會將控制模組中監視子模組所紀錄之 =像流的資料庫與受測影像資料作比對。比對方式如 a.影像流資料庫中的資料記錄了所有影像在時域的 所有影像像素變化值,這些影像像素變化值會以rgb 一進位數值的方式被紀錄下來。 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc. b·當受測試的影像資料透過取樣裝置紀錄進入記憶 體則測試程序開始測試此受測影像資料。 °思 c ·比對的程序如下: (1) 讀取資料庫中的影像資料值,並依時間順序排列 出來。讀出來的影像資料值會是一連串的二進位數 值’以連續排列的方式存在記憶體中。 (2) 由輸入取樣裝置進入的影餐資料會在輸入的同時 間將影像像素資料轉換成二進位數值並與時間 戳記同時被紀錄下來。 9 (3) 紀錄下來的受測影像像素二進位資料會即時同步 的和資料庫中的影像資料值作數值比對。 乂 (4) 每一個像素與時間戳記的資料比對的結果會被紀 錄下來並做成統計表。 (5) 統计的結果會與一開始設定的門檻值作比對,各 結果低於門檻值則判定受測影像的結果為失: lure)·反之,當結果高於或是等同於門檻值則判 疋文測景> 像的結果為通過(pass)。 (6) 門檻值的設定由經驗法則認定。 舉例來說: ,料ϊ庫欠中、其中段的影像像素資料為刚⑽1。1。而 受測-貝料在相同時間戳為 0000100010則比斟沾从田 罝π值馬 的設定為85%,則々;=% ’此時若是門檻值 〜、、。果會判定為通過(Pass)。見第5 200521827
Lishen, Chan WaveTronex Inc. 圖0 2 ·聲音子模組: 士聲音子模組會將控制模組中監視子模組所紀錄 聲音流的資料庫與受測聲音資料作比對。比對方式如 下: a. 聲音流資料庫中的資料記錄了所有聲音在時 所有聲音變化值,這些聲音變化值會以振幅的二進= 數值的方式被紀錄下來。 b. 當受測試的聲音資料透過取樣裝置紀錄進入記 體則測試程序開始測試此受測聲音資料。 C·比對的程序如下: (1) 項取資料庫中的聲音資料值,並依時間順序排 出來。讀出來的聲音資料值會是一連串的二進位數 值,以連續排列的方式存在記憶體中。 (2) 由輸入取樣裝置進入的聲音資料會在輸入的同 間將聲音資料轉換成振幅二進位數值並與時 同時被紀錄下來。 ' a β (3) 紀錄下來的受測聲音振幅二進位資料會即時同步 的和資料庫中的聲音資料值作數值比對。 夕 (4) 每一個聲音振幅二進位資料與時間戳記的資料比 對的結果會被紀錄下來並做成統計表。 (5) 統計的結果會與一開始設定的門檻值作比對,合 結果低於門檻值則判定受測聲音資料的結果為失^ 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc. (Fai lure)·反之,當結果高於或是等同於門檻值則判 定受測聲音資料的結果為通過(Pass)。 (6)門檻值的設定由經驗法則認定。 舉例來說: 資料庫中其中一段的聲音振幅二進位資料為 1010010100而受測資料在相同時画戳記的相同位置 的值為1010010111則比對的結果為8 〇 % ,此時若 是門檻值的設定為85%,則結果會判定為失敗 (Fai 1 ure)。見第 6 圖。 老二此貫施例之-忭4示规/发百 ,7圖係一功能方塊圖,供說明實作本實施例之 種系統。此系統具有控制模組7〇 1、監視子模組 702、報告子模組7〇3、測試模組72〇、影像子模組 、聲音子模組722、記憶媒體704、後續其他應用 705、輸入擷取裝置7〇6、主控台788。 ^中輸入擷取裝置7〇6之例子包括使用各式類 二:數位感測器’例如照相機、攝影機、麥克風、掃 描器、網路卡、鍵盤、硬磾 ^ χ ^ P W 70^ ^ -r ,λ- V, 貝枓庫等等。輸入擷取 ^作a、、ΒΙ丨二I作為控制模組701的資料蒐集器,也可 器。* " ° '組703接收受測輸入資料的資料蒐集 擁取裝置706所擷取的資料則分別交由押 制杈組7(H、測試模组7() 4刀々J又田控 及測試模組703係分別勃二處+理。而控制模組70! 糸刀另J執仃别述的控制及測試之方 200521827
Lishen, Chan WaveTronex Inc. 704則用來存放前述之輸入二進位資 法。記憶媒凳 料。 接請參照第8圖,此圖係 方式。在此例中,電腦8〇 種貫乍 8〇2> myfLM φ,/ 〇具有處理器801、記憶體 瓜排803、輸出入介面8〇4 資料擷取裝置811、外接儲在拔脚/隐體裝置805 80經由網路813,可連接到另、^ 12。並且此電腦 ^ J迓接到另广電腦814。 ^述之控制模組70!及測試模組7〇3係 式,存於記憶體裝置8〇5,如硬磾 ;^成輊 如^ u 那嶸磲,或外接儲存媒體, 的雷腦il4、^、磁帶等#。這些程式也可存於另外 的電月上8 14,透過網路將之下載到電腦肋以執行。 處理器801配合記憶體8〇2、匯流排8〇 =_、資料操取裝置811,以執行相關程式出 至於=、他部分應屬習知技術者所知部分,在此不 清參照第9圖,此圖說明此控制模、组7〇卜 模組703寫成程式之後,於執行階段的軟體架構:° 述知資訊紀錄階段方法及資訊使用階段方法可 程式,並且配上輸出入介面,及程式管理介面,即, 作成一特殊應用軟體出售。 可 第二較佳具體實施例(瑕疵檢測系統/裝置及方法) 以下’將揭示另一個依據本發明之具體實施例 其可用於生產設備中,供檢測各種產品的瑕疵。/。 在工薇的生產過程中,由於人員操作或是機4 材料的問題而有各種的產品瑕疵。為了控制品質=其 至往往設有專門的品質管理之部門,足見品質控管$ 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc. 重要。然而’對於今日大量生產的工廠而言,如果透 過人眼進行觀察,將無法降低成本。在此提供一種有 效率的瑕疵檢測系統、裝置及方法。基本上,此種瑕 疲檢測系統、裝置及方法可以使用在各種產品的檢 測。以下先以控制晶片為例提供說明。 控制晶片,如DVD控制晶片,主要係提供各種 資料的處理,如視訊檔的撥放。然而,由於控制晶片, 如DVD晶片,内部的瑕疵,可能出現如晝面不該出 現的花紋、晝面有不應出現的水波紋、畫面有前後不 連貫的情況出現、畫面有不應出現的斑點、無畫面、 晝面有延遲的現象、部分晝面消失、畫面動作斷斷續 ,、晝面撥放品質不穩定、聲音撥放過程出現雜音' 聲曰撥放過程出現延遲現象、無聲音、聲音音量太 大、聲音音量太小、聲音撥放過程中出現斷斷續續的 現象、,音撥放過程出現不連貫的現象、聲音撥放過 ,部分聲音消失、聲音撥放過程中部分聲音大、部分 聲音小、聲音撥放過程中聲音品質不穩定。 刀 、 對於以上種種的問題,本實施例係提供至少兩個 ,斷結果。首先,便是判斷待測晶片,如dvd晶片, 是否瑕疵超過可允許的範圍。第二,便是判斷具有瑕 疵的待測晶片,如DVD晶片,係具有何種瑕疵。當 5 了亡,兩資料後,我們便能快速檢測出瑕疵品以‘ ^ f品品質,並且,進而從瑕疵種類的判別,可知道 九兄主要的問題可能出現在哪些地方,進而對某些生 產流程進行控管,而減少瑕疵品的出現。 參照第1 0圖,此圖說明此種瑕疵檢測方法的資 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc.
訊紀錄階段之流程圖。首先,苗I 品,例如具有前述瑕疲各=巧 二、1丨著,對於各瑕疵產品分別進行測試,並ί 存測试之結果(步驟124)。必須指出的是,此測 果可為時間軸上的多個書面或日车門 、 7 口旦曲或時間軸上的特定資 料,而此在傳統測試上係不易處理,而對本發明而 二,其僅為空間軸轉到時間軸的一杨簡單的應用,更 突顯了本發明的優點。舉例來說,對於dvd晶 使用測試平台,使其撥放5 0 # π F1 ΛΑ、,, 00 以取得測試結果。不R的測試影像片段 接著,將測試結果分別轉為二進位數值,各瑕疵 晶片給定不同之門檻定義值(步驟126)二進位數 值。最後,將各種瑕疵之二進位數值串聯起來以產生 測試判別用之連續二進位數值(步驟丨2 8)。 請參照第11圖,此圖說明在生產製造過程如何 進行瑕疵檢測之步驟。首先,將一待測產品放在工作 測試台上進行測試,並接收其測試結果(步驟132)。 舉例來說,將DVD晶片放在測試平台,並撥放5〇段 不同的測試影像片段,而蒐集其所輸出的結果。 接著’將測试結果依測試模組内之方法轉換成輸 入之一進位數值進行前面所述之比對運算(步驟 134) ’以獲得一判斷值(步驟136)。接著,依據判斷 值衡量其是否具有超過門檻值(threshold)之定義比例 (步驟1 3 8)。如果沒有超過門檻值的話,則判斷其為 良品(步驟140),並進行後續處理(步驟144)。反之, 則判斷其為瑕疵品(步驟142)並進行後續處理(步驟 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc. 146)。同時,由於瑕疵品會在判斷二進位數值時反應 出來,即可知道瑕疵種類(步驟148)。 一 依據上面所述的方法,即可於生產流程迅 瑕疵品。 .請參照第12圖,此圖例示一種工廠生產及測試 糸統。此系統15具有判斷機台15•測試平台151、 ?ni52、良品區153、待測區158、瑕疵種類 區 154,155,156,157。 辨判機t其:存有前述第10圖與第11圖所需的 m 值以及相關的程式。其架構可為- ^電巧,例如第7圖、第8圖、第9圖所示結構。當 …、,測,機台也可整合在工廠自動控制電路中。 '則試平台供進行第10圖及第11圖中的測試,並 將測試結果傳仏測詁嬙Α^ 固rΑ並 曰片從往機 機器手臂152負責將 = 移到測試平台’並依據測試結果, 移到不π的^ °〇區153,或是依據不同的瑕疵種類, 移到不问的瑕疵種類區154,155,156,157。 實施:ΐ i面》係以DVD晶片作為例子說明,然而本 例來t 1系統當然不限於使用於DVD晶片。舉 圖)=路晶片(可測試其各種輸出電性 TFT面祐阳主或各種視訊晶片(可以測試各種結果)、 轉換、輸出晶片、及各種進行信號處理、輸入、 用上述的方法淮子疋件或整體電子設備之測試皆可使 万,去進行瑕疵的檢測。 良品=出ΐ 了果進行資訊的儲存,也可將 ° 17在判別用之一進位數值。此外,當 20 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc. 門檀值。這 種類皆指定為同- 用以明已以較佳實施例揭露如上,然其並非 明之發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發 精神和範圍内,當可作各種之更動與濁飾,因此 者保護範圍當視後附之申專利範圍所界定 【圖式簡單說明】 =1圖係例示依據本發明之實施例的流程圖; _、2圖201-202係例示將影像資料轉為二進位資料的 不思、圖; 厂、^圖3 0 1 - 3 0 3係例示將聲音資料轉為二進位資料的 不忍圖; f 4圖係例示依據本發明實施例之一種實作方式示 意圖; μ 第5圖係例示依據本發明實施例在影像比對上之一 種實作方式示意圖; — 第6圖係例示依據本發明實施例在聲音比對上之一 種實作方式示意圖; 第7圖係例示依據本發明實施例在與機器主控台於 合之示意圖; 〇、、、° 第8圖係例示依據本發明實施例與其他電腦相連於 之示意圖; 、、" 第9圖係例示依據本發明實施例之軟體觀點的示专、 圖; 21 200521827
Lishen,Chan WaveTronex Inc. 第1 0圖係一瑕疵檢測方法之流程圖; 第1 1圖係一瑕疵檢測方法之判斷流程圖;以及 第1 2圖係一瑕疵自動檢測機器系統之示意圖。 【元件代表符號簡單說明】 122瑕疵檢測之流程步驟124瑕疵餘測之流程步驟 126瑕疵檢測之流程步驟128瑕蘇檢測之流程步驟 1 3 0瑕疵檢測之流程步驟 134瑕疵檢測之判斷步驟136瑕疵檢測之判斷步驟 1 3 8瑕疵檢測之判斷步驟 1 42瑕疵檢測之判斷步驟 146瑕疵檢測之判斷步驟 151測試平台 1 5 3良品區 1 5 5瑕疵種類區 157瑕疵種類區 201記憶裝置 301聲音轉換示意圖 302聲音資料儲存不意圖 303聲音資料儲存示意圖 701控制模組 703報告子模組 705後續其他應用 720測試模組 722聲音子模組 80測試電腦 140瑕疵檢測之判斷步驟 144瑕疵檢測之判斷步驟 148瑕疵檢測之判斷步驟 152機器手臂 154瑕疵種類區 156瑕疵種類區 1 5 8待測區 2〇2影像像素轉換示意圖 (1) (2) 702監視子模組 704記憶媒體 7〇6輸入擷取裝置 721影像子模組 7 8 8主控台 22 200521827
Lishen, Chan WaveTronex Inc. 802處理器 804記憶體 806匯流排 808輸出入介面 8 1 0記憶體裝置 8 1 2資料擷取裝置 8 1 4外接儲存媒體 8 1 6網路 8 1 8電腦
Claims (1)
- 200521827 Lishen,Chan WaveTronex Inc. 第一項控l组t ’不同的影音賢料經由輸入裝置記錄到硬體 記錄裝置,如硬碟或是記憶體,並轉化資料,儲存 比對資料庫。在第二項測試模組中,受測試的資料也透過輸L 裝置進入圮憶體,並藉由比對受測之輪人資料與儲存在比對 資料庫中資料的差異,以取得比對結果。 、 2·如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該關 包含時間資訊。 3·,申請專利範圍第1項所述之方法,其中於轉換該 筆輸入貧料為該輸入二進位值之步驟,係分別叶算 該輸入資料之每一輸入元素所對應之一輸入影像 像,之RGB24位元資料及聲音振幅參數,其中影像 及聲音之資料分別對應成為不同之矩陣資料並儲 存於記憶資料庫中。 / “ · 4. 如申清專利範圍第丨項所述之方法,其中受測品資 料經由輸入裝置進入後,可以即時(Real Time)的 透過存取記憶體資料庫及即時轉換輸入資料做比 對,達成即時處理“⑼丨Time pr〇cess)的效能。 5. —種使用資訊的方法,包含· 讀取一辨識用二進位矩陣數值;接收一筆輸入資 料時’將該筆輸入資料轉換為一輸入二進位矩陣數 值,對該辨識二進位矩陣數值及該輸入二進位矩 陣,值進行一運算’以取得一判斷二進位數值;以 及藉由該判斷二進位數值的大小以使用存於該辨 24 200521827 Lishen,Chan WaveTronex Inc. 識"一進位矩陣中的資 6· —種電腦可讀取媒體,供在你 貝%称瓶供存放依據申 1項、第2項、第3頊、笛月号冽乾圍弟 程式。項《項項所述方法而製成之 一種資訊紀錄及測試之系統,包含. 一資料操取裝置,供接收一齡定類型資料; 嗲牲:Ϊ制模組,連接至該資料擷琅裝置,供接收 該特疋類型賢料’將之轉換成二進位數值矩陣,並 將該二進位數值矩陣經由運算產生一判斷用二進 位數值資料; 一記憶媒體,從該控制模組接收並存放該判斷 用二進位數值資料;以及, ^ 一測试模組’該測試模組從該記憶媒體接收該 判斷用二進位數值資料,且該測試模組從該資料擷 取裝置擷取一輸入資料,並且,該測試模組將該輸 入資料轉換為一輸入二進位數值矩陣,而將該輸入 二進位數值矩陣與該判斷用二進位數值矩陣進行 一運算以取得一判斷二進位數值,經由解讀該判斷 二進位數值矩陣之比率大小以判斷該輸入二進位 數值矩陣與該判斷用二進位數值矩陣之關聯。 8 · —種瑕疵產品檢測方法,包含·· 在準備階段,蒐集各種類型之瑕疵產品;分別儲存 各種瑕疵產品之測試結果;將該些測試結果分別 轉為二進位數值矩陣,不同之瑕疵給定不同門檻比 25 200521827 Lishen, Chan WaveTronex Inc. 率值;以及將該吡-、仓^ - ~ —進位數值矩障谨立丄 判斷用二進位數值 旱運异以產生一 一待測產品之一待測钍里.王座丨白奴’接收 輸入一谁彳n # 、、°果,將該待測結果轉為一 輸入一進位數值矩陣;將該判二勹 陣與該輸入二進位數值矩陣_ 數值矩 判斷二進位數值;當^异以獲仔一 田為刊斷一進位數值之女d、护 過一門檻值時,比對嗜剌斷_ ϋi值之大小超 μ Λ, 耵这判斷一進位數值之大小盥各 ,型之瑕㈣對應之該些二進位數值比率值,;;判 斷5亥待測產品之一瑕疵類型。 9.如申請專利範圍第7項及第8項所述之方法,其中 該測試結果係於時間軸上的結果。 八 1〇*如申請專利範圍第7項及第8項所述之方法, 其中所有瑕疵皆設定為不同之門檻比率值。 11.如申請專利範圍第1項所述之方法,其中, RS232傳輸介面更包括了一般的傳輸介面,例如 USB’ 1 394,SCSI,PCI,Wireless LAN,Wired LAN, COM Port , paraiiei port ,等等。 26
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI405079B (zh) * | 2009-08-11 | 2013-08-11 | Wistron Corp | 電子裝置輸出測試方法、系統及平台 |
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2003
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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TWI405079B (zh) * | 2009-08-11 | 2013-08-11 | Wistron Corp | 電子裝置輸出測試方法、系統及平台 |
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