TR201802555T4 - Dielektrik substratlar üzerine iletken polimerlerin depo edilmesine yönelik bileşim ve yöntem. - Google Patents
Dielektrik substratlar üzerine iletken polimerlerin depo edilmesine yönelik bileşim ve yöntem. Download PDFInfo
- Publication number
- TR201802555T4 TR201802555T4 TR2018/02555T TR201802555T TR201802555T4 TR 201802555 T4 TR201802555 T4 TR 201802555T4 TR 2018/02555 T TR2018/02555 T TR 2018/02555T TR 201802555 T TR201802555 T TR 201802555T TR 201802555 T4 TR201802555 T4 TR 201802555T4
- Authority
- TR
- Turkey
- Prior art keywords
- ions
- copper
- substrate
- composition
- acid
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 113
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract description 99
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 title claims abstract description 36
- 238000000151 deposition Methods 0.000 title abstract description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 44
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 85
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 75
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 71
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 35
- -1 aluminum ions Chemical class 0.000 claims description 28
- 239000003995 emulsifying agent Substances 0.000 claims description 27
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 20
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 14
- 125000006615 aromatic heterocyclic group Chemical group 0.000 claims description 13
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 claims description 13
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 10
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 10
- 229910001868 water Inorganic materials 0.000 claims description 10
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910001423 beryllium ion Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910001449 indium ion Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 9
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 8
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 7
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 7
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- JWAZRIHNYRIHIV-UHFFFAOYSA-N 2-naphthol Chemical compound C1=CC=CC2=CC(O)=CC=C21 JWAZRIHNYRIHIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 4
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 3
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 3
- JBVOQKNLGSOPNZ-UHFFFAOYSA-N 2-propan-2-ylbenzenesulfonic acid Chemical compound CC(C)C1=CC=CC=C1S(O)(=O)=O JBVOQKNLGSOPNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 claims description 2
- 229940071118 cumenesulfonate Drugs 0.000 claims description 2
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 claims description 2
- 125000004494 ethyl ester group Chemical group 0.000 claims description 2
- 238000007654 immersion Methods 0.000 claims description 2
- 150000005846 sugar alcohols Polymers 0.000 claims description 2
- 150000003460 sulfonic acids Chemical class 0.000 claims description 2
- LBLYYCQCTBFVLH-UHFFFAOYSA-M toluenesulfonate group Chemical class C=1(C(=CC=CC1)S(=O)(=O)[O-])C LBLYYCQCTBFVLH-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 claims 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 10
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 44
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 39
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 33
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 22
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 20
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 19
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 18
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 17
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 16
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 16
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 14
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 14
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 11
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 229920000172 poly(styrenesulfonic acid) Polymers 0.000 description 11
- 229940005642 polystyrene sulfonic acid Drugs 0.000 description 11
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 10
- NUJOXMJBOLGQSY-UHFFFAOYSA-N manganese dioxide Chemical compound O=[Mn]=O NUJOXMJBOLGQSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000002371 ultraviolet--visible spectrum Methods 0.000 description 10
- GKWLILHTTGWKLQ-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydrothieno[3,4-b][1,4]dioxine Chemical compound O1CCOC2=CSC=C21 GKWLILHTTGWKLQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 9
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 9
- YMMGRPLNZPTZBS-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydrothieno[2,3-b][1,4]dioxine Chemical compound O1CCOC2=C1C=CS2 YMMGRPLNZPTZBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N Pyrrole Chemical compound C=1C=CNC=1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 8
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 8
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 8
- YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N Thiophene Chemical compound C=1C=CSC=1 YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 7
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 description 7
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 7
- 239000002952 polymeric resin Substances 0.000 description 7
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 7
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N Furan Chemical compound C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 6
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 5
- 229910001451 bismuth ion Inorganic materials 0.000 description 5
- JZCCFEFSEZPSOG-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate pentahydrate Chemical compound O.O.O.O.O.[Cu+2].[O-]S([O-])(=O)=O JZCCFEFSEZPSOG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 5
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 5
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 5
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 5
- 150000003071 polychlorinated biphenyls Chemical class 0.000 description 5
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 4
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 4
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002322 conducting polymer Substances 0.000 description 4
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 4
- 229910000365 copper sulfate Inorganic materials 0.000 description 4
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 3
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000000129 anionic group Chemical group 0.000 description 3
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 3
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 3
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 3
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 3
- 229930192474 thiophene Natural products 0.000 description 3
- OVSKIKFHRZPJSS-UHFFFAOYSA-N 2,4-D Chemical compound OC(=O)COC1=CC=C(Cl)C=C1Cl OVSKIKFHRZPJSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000002373 5 membered heterocyclic group Chemical group 0.000 description 2
- KDCGOANMDULRCW-UHFFFAOYSA-N 7H-purine Chemical compound N1=CNC2=NC=NC2=C1 KDCGOANMDULRCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UJOBWOGCFQCDNV-UHFFFAOYSA-N 9H-carbazole Chemical compound C1=CC=C2C3=CC=CC=C3NC2=C1 UJOBWOGCFQCDNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SIKJAQJRHWYJAI-UHFFFAOYSA-N Indole Chemical compound C1=CC=C2NC=CC2=C1 SIKJAQJRHWYJAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AFVFQIVMOAPDHO-UHFFFAOYSA-N Methanesulfonic acid Chemical compound CS(O)(=O)=O AFVFQIVMOAPDHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N Quinoline Chemical compound N1=CC=CC2=CC=CC=C21 SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical group [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 2
- DZBUGLKDJFMEHC-UHFFFAOYSA-N acridine Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3N=C21 DZBUGLKDJFMEHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 239000003945 anionic surfactant Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N cyclopentadiene Chemical compound C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001336 glow discharge atomic emission spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 2
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 2
- AWJUIBRHMBBTKR-UHFFFAOYSA-N isoquinoline Chemical compound C1=NC=CC2=CC=CC=C21 AWJUIBRHMBBTKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 2
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 2
- 239000013047 polymeric layer Substances 0.000 description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 2
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-triazine Chemical compound C1=CN=NN=C1 JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 1-[4-[[4-(2,5-dioxopyrrol-1-yl)phenyl]methyl]phenyl]pyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C(C=C1)=CC=C1CC1=CC=C(N2C(C=CC2=O)=O)C=C1 XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HYZJCKYKOHLVJF-UHFFFAOYSA-N 1H-benzimidazole Chemical compound C1=CC=C2NC=NC2=C1 HYZJCKYKOHLVJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEPOHXYIFQMVHW-XOZOLZJESA-N 2,3-dihydroxybutanedioic acid (2S,3S)-3,4-dimethyl-2-phenylmorpholine Chemical compound OC(C(O)C(O)=O)C(O)=O.C[C@H]1[C@@H](OCCN1C)c1ccccc1 VEPOHXYIFQMVHW-XOZOLZJESA-N 0.000 description 1
- 150000004786 2-naphthols Chemical class 0.000 description 1
- VHMICKWLTGFITH-UHFFFAOYSA-N 2H-isoindole Chemical compound C1=CC=CC2=CNC=C21 VHMICKWLTGFITH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TVZRAEYQIKYCPH-UHFFFAOYSA-N 3-(trimethylsilyl)propane-1-sulfonic acid Chemical compound C[Si](C)(C)CCCS(O)(=O)=O TVZRAEYQIKYCPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 1
- 239000004971 Cross linker Substances 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 241001124569 Lycaenidae Species 0.000 description 1
- PCNDJXKNXGMECE-UHFFFAOYSA-N Phenazine Natural products C1=CC=CC2=NC3=CC=CC=C3N=C21 PCNDJXKNXGMECE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-L Phosphate ion(2-) Chemical compound OP([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WTKZEGDFNFYCGP-UHFFFAOYSA-N Pyrazole Chemical compound C=1C=NNC=1 WTKZEGDFNFYCGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CZPWVGJYEJSRLH-UHFFFAOYSA-N Pyrimidine Chemical compound C1=CN=CN=C1 CZPWVGJYEJSRLH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ULUAUXLGCMPNKK-UHFFFAOYSA-N Sulfobutanedioic acid Chemical compound OC(=O)CC(C(O)=O)S(O)(=O)=O ULUAUXLGCMPNKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical group [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RRJHFUHAKCSNRY-UHFFFAOYSA-L [Cu+2].[O-]P([O-])=O Chemical compound [Cu+2].[O-]P([O-])=O RRJHFUHAKCSNRY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- SPIDMIKLEMNARN-UHFFFAOYSA-N [Mn+6] Chemical class [Mn+6] SPIDMIKLEMNARN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003929 acidic solution Substances 0.000 description 1
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- WPPUCTIKGPEUQQ-UHFFFAOYSA-N bismuth;methanesulfonic acid Chemical compound [Bi].CS(O)(=O)=O WPPUCTIKGPEUQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 238000006555 catalytic reaction Methods 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- ITZXULOAYIAYNU-UHFFFAOYSA-N cerium(4+) Chemical class [Ce+4] ITZXULOAYIAYNU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- 235000014987 copper Nutrition 0.000 description 1
- 229940116318 copper carbonate Drugs 0.000 description 1
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- DOBRDRYODQBAMW-UHFFFAOYSA-N copper(i) cyanide Chemical compound [Cu+].N#[C-] DOBRDRYODQBAMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GEZOTWYUIKXWOA-UHFFFAOYSA-L copper;carbonate Chemical compound [Cu+2].[O-]C([O-])=O GEZOTWYUIKXWOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- BSXVKCJAIJZTAV-UHFFFAOYSA-L copper;methanesulfonate Chemical compound [Cu+2].CS([O-])(=O)=O.CS([O-])(=O)=O BSXVKCJAIJZTAV-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004643 cyanate ester Substances 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- PEVJCYPAFCUXEZ-UHFFFAOYSA-J dicopper;phosphonato phosphate Chemical compound [Cu+2].[Cu+2].[O-]P([O-])(=O)OP([O-])([O-])=O PEVJCYPAFCUXEZ-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-M dihydrogenphosphate Chemical compound OP(O)([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003623 enhancer Substances 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000002657 fibrous material Substances 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical class I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PZOUSPYUWWUPPK-UHFFFAOYSA-N indole Natural products CC1=CC=CC2=C1C=CN2 PZOUSPYUWWUPPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RKJUIXBNRJVNHR-UHFFFAOYSA-N indolenine Natural products C1=CC=C2CC=NC2=C1 RKJUIXBNRJVNHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 229910052809 inorganic oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 239000005340 laminated glass Substances 0.000 description 1
- 239000002648 laminated material Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- LQBJWKCYZGMFEV-UHFFFAOYSA-N lead tin Chemical compound [Sn].[Pb] LQBJWKCYZGMFEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- LBSANEJBGMCTBH-UHFFFAOYSA-N manganate Chemical compound [O-][Mn]([O-])(=O)=O LBSANEJBGMCTBH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002696 manganese Chemical class 0.000 description 1
- 229940098779 methanesulfonic acid Drugs 0.000 description 1
- 239000002736 nonionic surfactant Substances 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 125000005489 p-toluenesulfonic acid group Chemical class 0.000 description 1
- 238000010979 pH adjustment Methods 0.000 description 1
- 239000006179 pH buffering agent Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 150000004686 pentahydrates Chemical class 0.000 description 1
- KHIWWQKSHDUIBK-UHFFFAOYSA-N periodic acid Chemical compound OI(=O)(=O)=O KHIWWQKSHDUIBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000951 phenoxy group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(O*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 229960004838 phosphoric acid Drugs 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920001472 poly(4-styrenesulfonic acid) lithium salt solution Polymers 0.000 description 1
- 229920003192 poly(bis maleimide) Polymers 0.000 description 1
- 229920001464 poly(sodium 4-styrenesulfonate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000414 polyfuran Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920001955 polyphenylene ether Polymers 0.000 description 1
- 229920000137 polyphosphoric acid Polymers 0.000 description 1
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 1
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 1
- XAEFZNCEHLXOMS-UHFFFAOYSA-M potassium benzoate Chemical compound [K+].[O-]C(=O)C1=CC=CC=C1 XAEFZNCEHLXOMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- PBMFSQRYOILNGV-UHFFFAOYSA-N pyridazine Chemical compound C1=CC=NN=C1 PBMFSQRYOILNGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 239000012266 salt solution Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 230000007928 solubilization Effects 0.000 description 1
- 238000005063 solubilization Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000542 sulfonic acid group Chemical group 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 229940032330 sulfuric acid Drugs 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 150000003577 thiophenes Chemical class 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 150000003852 triazoles Chemical class 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 239000000080 wetting agent Substances 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G61/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G61/12—Macromolecular compounds containing atoms other than carbon in the main chain of the macromolecule
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
- H05K1/092—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
- H05K1/095—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks for polymer thick films, i.e. having a permanent organic polymeric binder
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G61/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G61/12—Macromolecular compounds containing atoms other than carbon in the main chain of the macromolecule
- C08G61/122—Macromolecular compounds containing atoms other than carbon in the main chain of the macromolecule derived from five- or six-membered heterocyclic compounds, other than imides
- C08G61/123—Macromolecular compounds containing atoms other than carbon in the main chain of the macromolecule derived from five- or six-membered heterocyclic compounds, other than imides derived from five-membered heterocyclic compounds
- C08G61/126—Macromolecular compounds containing atoms other than carbon in the main chain of the macromolecule derived from five- or six-membered heterocyclic compounds, other than imides derived from five-membered heterocyclic compounds with a five-membered ring containing one sulfur atom in the ring
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08K—Use of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
- C08K3/00—Use of inorganic substances as compounding ingredients
- C08K3/10—Metal compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
- C08L65/00—Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain; Compositions of derivatives of such polymers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D5/00—Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
- C25D5/54—Electroplating of non-metallic surfaces
- C25D5/56—Electroplating of non-metallic surfaces of plastics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/06—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of other non-metallic substances
- H01B1/12—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of other non-metallic substances organic substances
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/06—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of other non-metallic substances
- H01B1/12—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of other non-metallic substances organic substances
- H01B1/124—Intrinsically conductive polymers
- H01B1/127—Intrinsically conductive polymers comprising five-membered aromatic rings in the main chain, e.g. polypyrroles, polythiophenes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/423—Plated through-holes or plated via connections characterised by electroplating method
- H05K3/424—Plated through-holes or plated via connections characterised by electroplating method by direct electroplating
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4644—Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/032—Materials
- H05K2201/0329—Intrinsically conductive polymer [ICP]; Semiconductive polymer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
- H05K3/022—Processes for manufacturing precursors of printed circuits, i.e. copper-clad substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/425—Plated through-holes or plated via connections characterised by the sequence of steps for plating the through-holes or via connections in relation to the conductive pattern
- H05K3/427—Plated through-holes or plated via connections characterised by the sequence of steps for plating the through-holes or via connections in relation to the conductive pattern initial plating of through-holes in metal-clad substrates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
Buluş, dielektrik substratlar üzerine iletken polimerlerin depo edilmesine yönelik bir bileşim ve yöntemle ilgilidir. Buluş özellikle, bir dielektrik substratın yüzeyinin metallenmesine ve ayrıca, baskılı devre kartlarının (PCB) üretiminde yaygın olarak kullanılan dielektrik substratlarda delinen açık delikler ve mikro kanalların yüzeyinin metallenmesine yönelik bir proseste kullanılan bir bileşim ve yöntemle ilgilidir.
Description
TARIFNAME
DIELEKTRIK SUBSTRATLAR ÜZERINE ILETKEN POLIMERLERIN DEPO EDILMESINE YÖNELIK BILESIM
VE YÖNTEM
Bulus, dielektrik substratlar üzerine iletken polimerlerin depo edilmesine yönelik bir bilesim ve
yöntemle ilgilidir. Bulus özellikle, bir dielektrik substratin yüzeyinin metallenmesine ve ayrica, baskili
devre kartlarinin (PCB) üretiminde yaygin olarak kullanilan dielektrik substratlarda delinen açik
delikler ve mikro kanallarin yüzeyinin metallenmesine yönelik bir proseste kullanilan bir bilesim ve
yöntemle ilgilidir.
Elektrigi ileten polimerlerin bir dielektrik polimerik reçine substratinin metallenmesinde kullanimi,
Hupe ve digerleri (U.S. 5,194,313 sayili belge) tarafindan PCB üretiminde epoksi reçine substratlarinin
metallenmesiyle iliskili olarak ifsa edilmistir. Bu belgede açiklanan yöntem, polimerik reçine
substratinin açikta kalan yüzeylerinin permanganat gibi oksitleyici bir maddeyle oksidasyonunu ve
daha sonra, polimerlesebilen bir heterosiklik aromatik molekülü ve bir asidi içeren bir katalizör
çözeltisinden iletken bir polimerin depo edilmesini içermistir. Katalizör bilesimindeki örnek
heterosiklik aromatik moleküller pirrol, furan ve tiyofen seklinde olmustur. Heterosîklik aromatik
moleküller polimerik reçine substratinin açikta kalan oksitlenmis yüzeyleri üzerinde polimerlesmis ve
depo edilen polipirrol, polifuran veya politiyofen epoksi reçine substratinin açikta kalan yüzeylerini
elektriksel olarak iletken hale getirmistir. Iletken polimerler tarafindan saglanan iletkenligin,
dielektrik yüzeyler üzerine elektrolitik bakir kaplama yapilmasi amaciyla kullanilmasi mümkün
olmustur. Örnegin proses, bakir giydirilmis bir Iaminatta delinen açik deliklerin açikta kalan yan
duvarlarinin sonradan bakirla kaplanmak Üzere elektrigi iletir hale getirilmesi amaciyla kullanilmistir.
Avantajli bir durum olmak üzere, oksidasyon adimi epoksi reçinesinin açikta kalan alanlari, yani
delinen açik deliklerin yan duvarlari için seçici olmus ve bakir Iaminati polimerlesmeye karsi katalîtik
hale getirmemistir.
Jonas ve digerleri (U.S. 5,403,467 sayili belge), polimerik reçine substratlarinin elektrolitik bakir
kaplamaya yatkin hale getirilmesinde kullanilmaya yönelik spesifik bir iletken polimer olan poli(3,4-
etilendioksitiyofen)'i (PEDOT) ifsa etmistir. Günümüzde uygulandigi haliyle, plastik substratlardaki
açik deliklerin ve mikro kanallarin metallenmesi birkaç adimi içermektedir:
Delme, kosullandirma, durulama, oksitleme, durulama, katalize etme, durulama ve kaplama.
PEDOT'a alternatif olarak, dielektrik yüzeylerin sonraki elektrolitik metal kaplama için elektriksel
olarak iletken hale getirilmesi amaciyla polianilin (PAni) kullanilabilmektedir.
EP 1 897 974 A sayili belgede, örnegin PWB'lerdeki açik deliklerin iç yüzeyi gibi bir substrat yüzeyi
üzerinde birinci bir iletken tabakanin olusturulmasi amaciyla iletken polimerler kullanilarak, bir
dielektrik substrata ait bir yüzeyin elektrolitik olarak kaplanmis bakirla metallenmesine yönelik bir
proses ifsa edilmektedir. Ayrica US 5,194,313 sayili belge, elektrikli kaplama veya elektriksiz kaplama
yoluyla en az bir elektrigi ileten tabakayla istege bagli olarak her iki tarafinda donatilan ve iletken bir
metal tabakasiyla kaplanmamis olan yüzeyler üzerinde de bir metal tabakasina yer veren, polimerik
bir substrat malzemesini veya bir seramik malzemesini temel alan açik deligi kaplanmis tek tabakali
veya çok tabakali baskili devre kartlarinin üretilmesine yönelik bir prosesi açiklamakta olup söz
konusu prosesin özelligi, a) substrat yüzeylerinin oksitleyici aktiviteye sahip bir çözelti içinde ön
isleme tabi tutulmasi, b) kalan çözeltinin durulama yoluyla uzaklastirilmasinin ardindan, substratin
polimerik veya kopolimerik formda elektrigi ileten en az bir monomeri ve daha belirgin bir ifadeyle
pirrol, furan, tiyofen veya bunlarin türev(ler)ini barindiran bir çözeltinin içine verilmesi, c) substratin
daha sonra asidik bir çözeltiye transfer edilmesi ve burada elektrigi ileten polimerik bir tabakanin ve
daha belirgin bir ifadeyle polimerlesmis veya kopolimerlesmis pirrol, furan, tiyofen veya türev(ler)ine
ait elektrigi ileten polimerik bir tabakanin olusturulmasi ve bunun ardindan arzu edilmesi veya gerekli
olmasi halinde, herhangi bir artik çözeltinin durulama yoluyla uzaklastirilmasi ve galvanik veya
elektriksiz metallemenin gerçeklestirilmesidir. Ayrica diger kaplama prosedürlerinin örnegin US
mümkündür.
Klasik prosesler örnegin PCB üretiminde kullanilan tipteki epoksi reçineleri gibi dielektrik substrat
yüzeylerinin metallenmesinde etkili olmakla birlikte, prosesin ve içerdigi bireysel adimlarin optimize
edilmesi yönünde firsatlar mevcuttur. Örnegin, iletken polimerlerin depo edilmesiyle ilgili olarak bu
alanda bilinen karsilik gelen bilesim ve prosesler, yalnizca sinirli bir ömre ve stabiliteye sahiptir ve
dolayisiyla, kullanilmis bilesimlerin örnegin bes ila yedi gün gibi nispeten kisa araliklarla taze
bilesimlerle degistirilmesine ihtiyaç duyulmaktadir.
Diger yönleri arasinda bulusun bir amaci özellikle, dielektrik yüzeylerin metallenmesine yönelik bir
proseste iletken polimerlerin dielektrik substratlar üzerine depo edilmesine yönelik olan ve artiriimis
bir ömre ve stabiliteye sahip bulunan iyilestirilmis bir bilesimin temin edilmesidir. Ayrica bulusun bir
yönü, bir metalin elektrolitik olarak depo edilmesi yoluyla bir dielektrik substratin yüzeyinin
metallenmesine yönelik iyilestirilmis bir prosesin temin edilmesidir.
Sasirtici bir biçimde, bir dielektrik substratin yüzeyi üzerinde elektrigi ileten polimerlerin
olusturulmasina yönelik olan ve
X'in 0, S veya N oldugu ve R1 ve R2'den her birinin bagimsiz olarak hidrojen, bir halojen, 1 ila 8
karbon atomuna sahip degistirilmis veya degistirilmemis bir alkil grubu, 1 ila 8 karbon atomuna sahip
degistirilmis veya degistirilmemis bir alkoksi grubu oldugu
seklindeki yapiya sahip, elektrigi ileten bir polimeri olusturabilen en az bir polimerlesebilir
heterosiklik aromatik monomeri, bir emülgatörü ve bir asidi içeren, ayrica Iityum iyonlari, sodyum
iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari, bor iyonlari ve indiyum iyonlarindan olusan gruptan
seçilen en az bir metal iyonuna yer veren ve asidin bir polimerik sülfonik asit veya bir polimerik
sülfonik asit tuzu olmasi ve metal iyonunun 0.002 mol/L ile 0.8 mol/L arasindaki bir konsantrasyonda
mevcut bulunmasi ve emülgatörün bir sülfopropillenmis polialkoksillenmis ß-naftol veya bunun bir
tuzu seklinde olmasiyla nitelendirilen bir bilesimin, bu alanda bilinen bilesimlere kiyasla anlamli
ölçüde artirilan bir ömre sahip bulundugu saptanmistir.
Bir metalin elektrolitik olarak depo edilmesi yoluyla bir dielektrik substrata ait bir yüzeyin
metallenmesine yönelik prosesle ilgili olarak, asagidaki adimlari içeren bir prosesin artan bir verimi ve
özellikle artan bir yanal metal gelisme hizini gösterdigi saptanmistir:
Substrat bir dielektrik substratin yüzeyi üzerinde elektrigi ileten polimerlerin olusturulmasina yönelik
olan ve iletken bir polimeri olusturabilen en az bir polimerlesebilir monomeri, bir emülgatörü ve bir
asidi içeren ve Iityum iyonlari, sodyum iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari, bizmut iyonlari,
bor iyonlari ve indiyum iyonlarindan olusan gruptan seçilen en az bir metal iyonuna yer vermesiyle
nitelendirilen bir bilesimin içine daldirilarak dielektrik substratin yüzeyi üzerinde elektrigi ileten bir
polimerin olusturulmasi ve söz konusu elektrigi ileten polimerin üzerine bir metalin elektrolitik olarak
depo edilmesi.
Bulusun bir yapilanmasinda Iityum iyonlari, sodyum iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari,
bor iyonlari ve indiyum iyonlarindan olusan gruptan seçilen iyonlar, bir dielektrik substratin yüzeyi
üzerinde elektrigi ileten polimerlerin olusturulmasina yönelik bir bilesime ilave edilmektedir. Sasirtici
bir biçimde, bu iyonlarinin ilave edilmesinin de bilesimdeki polimerlesebilir monomerlerin iletken
olmayan oligomerleri olusturma egilimini anlamli ölçüde azalttigi saptanmistir. Bu, bilesimin ömrünü
artirmaktadir. Ayrica lityum iyonlari, sodyum iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari, bizmut
iyonlari, bor iyonlari ve indiyum iyonlarindan olusan gruptan seçilen iyonlarin, yüzey üzerinde
elektrigi ileten polimerlerin olusturulmasina yönelik bilesimin ömrünün tamami süresince, elektrolitik
metal depo etme sirasindaki ortalama yanal metal gelisme hizini en az %SO'Iik bir faktörle artirdigi
saptanmistir. iyonlar bilesimde 0.001 mol/L ile çözünürlük limiti arasindaki, tercihen 0.002 mol/L ile
0.8 mol/L arasindaki ve daha fazla tercih edilen durumda 0.04 mol/L ile 0.4 mol/L arasindaki bir
konsantrasyonda mevcut bulunabilmektedir.
Katalizör bilesimine dahil edilmeye elverisli asitler arasinda sülfürik asit, fosforik asit, sülfonik asit,
alkil sülfonik asitler, polimerik sülfonik asitler (tercihen polistiren sülfonik asit), polifosforik asit,
izetiyonik asit, sülfosuksinik asit, ariI sülfonik asitler (örnegin p-toluen sülfonik asitler) ve bunlarin
tuzlari yer almaktadir. Asit, yaklasik 0.1 g/L ile yaklasik 50 g/L arasindaki bir konsantrasyonda ilave
edilebilmektedir. Bulusun özellikle tercih edilen bir yapilanmasinda, asit bir polimerik asit ve örnegin
polistiren sülfonik asit seklindedir. Yine bulusun baska bir yapilanmasinda, bilesim 2 25.000 Da
ve en fazla tercih edilen durumda 2 100.000 Da seklindeki bir ortalama moleküler agirliga sahip bir
polimerik asidi içermektedir. Bulusun özellikle tercih edilen bir yapilanmasinda, polimerik asit 2
200.000 Da seklindeki bir ortalama moleküler agirliga sahiptir. Sasirtici bir biçimde, bu spesifik aralik
dahilindeki bir ortalama moleküler agirliga sahip bir polimerik asidin kullanilmasinin, bilesimdeki
polimerlesebilir monomerlere ait iletken olmayan oligomerlerin olusumunun, teknigin bilinen
durumundaki bilesimlere kiyasla %50'nin üzerindeki bir faktörle azaltilmasini destekledigi ve bunu
yaparken, substrat yüzeyi üzerinde amaçlanan iletken polimer yapilarinin olusumunu olumsuz yönde
etkilemedigi saptanmistir. Oligomerlerin azalan olusumu, bilesimin ömrünü dogrudan en az iki kat
artirmaktadir. Bu, kaplama kenari üzerindeki bilesimin tazelenmesi veya degistirilmesi ihtiyacini
azaltmakta, bu ise azalan maliyetler nedeniyle dogrudan ekonomik fayda ve ayrica azalan atik
nedeniyle ekolojik fayda saglamaktadir. Bulusa uygun bilesimin tercih edilen bir yapilanmasinda, asit
bilesime bir tuz halinde ve tercihen Iityum, sodyum, alüminyum, berilyum, bizmut, bor ve indiyumdan
olusan gruba ait bir metalin bir tuzu olarak ilave edilmektedir. Asidin metal tuzlarindan biri halinde
ilave edilmesi, bulusa uygun bilesimde gerekli iki bilesenin, yani metal iyonlari ile asidin bir kerede
ilave edilmesine olanak tanidigi için yararlidir.
Yine diger bir yapilanmada Iityum iyonlari, sodyum iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari,
bizmut iyonlari, bor iyonlari ve indiyum iyonlarindan olusan gruba ait iyonlarin örnegin manganez
iyonlari gibi diger metal iyonlariyla bir araya getirilmesinin yararli oldugu saptanmistir. Bu amaçla, bu
tür iyonlara ait bir kaynak, örnegin bir manganez tuzu bulusa uygun bilesime ilave edilebilmektedir.
Bu ilave iyonlar 0.5 mol/L'ye kadar, tercihen 0.1 mol/L'ye kadar ve daha fazla tercih edilen durumda
0.05 mol/L'ye kadar bir konsantrasyonda eklenebilmektedir.
Bulusa uygun bilesim, elektrigi ileten bir polimerin olusturulmasina yönelik polimerlesebilir bir
monomeri, örnegin polimerlesebilir heterosiklik aromatik molekülü ve yukarida ifade edildigi gibi bir
asidi içermektedir. Bu monomerler, bir dielektrik substratin bulusa uygun bilesime temas
ettirilmeden önce islemden geçirildigi bir baslatici çözeltide yer alan bir oksidanla reaksiyona
girebilmektedir. Bu tür bir oksidan örnegin, permanganat içeren bir baslatici çözeltiden depo edilen
manganez (IV) oksit seklinde olabilmektedir. Asit, heterosiklik aromatik molekülün tercihen polimerik
bir reçine substrati seklinde olan dielektrik substrata ait oksitlenmis yüzey üzerindeki
polimerlesmesini katalize etmekte, böylece yüzey üzerinde elektrigi ileten bir polimerin olusmasini
saglamaktadir. Heterosiklik aromatik molekül, asagidaki yapiya sahip bir siklopentadien (yani iki tane
çift baga sahip 5 üyeli halka) heterosiklik halkasindan türetilebilmektedir:
Burada X 0, S veya N'dir ve R1 ve R2'den her biri bagimsiz olarak hidrojen, bir halojen, 1 ila 8 karbon
atomuna sahip degistirilmis veya degistirilmemis bir alkil grubu, 1 ila 8 karbon atomuna, örnegin 1 ila
4 karbon atomuna sahip degistirilmis veya degistirilmemis bir alkoksi grubudur. Degistirilmis veya
degistirilmemis alkoksi grubu 5 üyeli heterosiklik halkaya oksijen atomu üzerinden
baglanabilmektedir. Ayrica R1 ve R2 birlikte, 3 veya 4 karbon atomuna sahip degistirilmis veya
degistirilmemis bir alkil grubu vasitasiyla ya da 1 veya 2 karbon atomuna sahip degistirilmis veya
degistirilmemis bir alkildioksi grubu vasitasiyla bes üyeli bir halkayi ya da alti üyeli bir halkayi
olusturabilmektedir. Degistirilmis veya degistirilmemis alkildioksi grubu 5 üyeli heterosiklik halkaya
oksijen atomlari üzerinden baglanabilmektedir. Tercihen heterosiklik aromatik molekül, iyi iletkenligî
ve islenebilirligi nedeniyle degistirilmis veya degistirilmemis bir tiyofen (X sülfürdür) olabilmektedir.
Tercih edilen bir substitüen, 5 üyeli tiyofen halkasina iki oksijen atomu üzerinden baglanan ve
böylece, yapinin 5 üyeli bir halkayi ve 6 üyeli bir halkayi içeren birlestirilmis bir halka sistemine yer
vermesini saglayan degistirilmemis bir etilendioksi grubudur. 3,4-etilendioksitiy0fen adiyla bilinen bu
malzeme, mükemmel iletkenliginden ötürü tercih edilen bir elektrigi ileten polimer olan poli(3,4-
etilendioksitiyofen) halinde polimerlesmektedir. Tercih edilen 3,4-etilendioksitiyofenin yapisi asagida
gösterilmektedir:
Asagida bulusa uygun bilesim, katalizör bilesimi olarak da anilacaktir.
Emülgatörlerle ilgili olarak, bulusa uygun bilesim sülfopropillenmis polialkoksillenmis ß-naftol veya
bunun bir tuzunu içermektedir. Iyonik olmayan yüzey aktif maddelerin makul ölçüde iyi islev
gösterdigi ortaya konulmus olmakla birlikte, anyonik yüzey aktif maddelerin eklenmesi bilesimdeki
polimerlesebilir monomerlere ait iletken olmayan oligomerlerin olusumunun azaltilmasini
desteklediginden, anyonik yüzey aktif maddeler tercih edilmektedir. Uygun anyonik emülgatörler
örnegin anyonik poliarilfenolalkoksilatlar ve bunlarin tuzlari ya da anyonik sülfopropillenmis
polialkoksillenmis ß-naftoller ve bunlarin tuzlari seklindedir.
Bulusa uygun olmayan bir emülgatör, Rhodia S.A. sirketinden Soprophor 40 384 adi altinda ticari
olarak temin edilebilen ve asagidaki formüle uygun bir moleküler yapiya sahip olan bir üründür:
CH3 CH3
Bulusa uygun olmayan baska bir emülgatör, Rhodia S.A. sirketinden Soprophor DSS/15 adi altinda
ticari olarak temin edilebilen ve poli(0ksi-1,2-etanediil)alfa.-sülfo-.omega.-[bis(1-fenileti|)fenoksi]-
amonyum tuzuna karsilik gelen bir bilesiktir.
Özellikle tercih edilen baska bir emülgatör, Raschig GmbH sirketinden RALUFON NAPE 14 90 adi
altinda ticari olarak temin edilebilen ve asagidaki formüle uygun bir moleküler yapiya sahip olan bir
Genel olarak, emülgatör bulusa uygun bilesimde 0.1 mL/L ila 200 mL/L araliginda, tercihen 5 mL/L ile
100 mL/L arasindaki bir aralikta ve daha fazla tercih edilen durumda 10 mL/L ile 50 mL/L arasindaki
bir aralikta yer alabilmektedir.
Mevcut bulus, dielektrik substratlarin açikta kalan yüzeylerinin, örnegin PCB üretiminde yaygin olarak
kullanilan polimerik reçine substratlarinda delinen açik delikler ve mikro kanallarin yan duvarlarinin
metallenmesinde yararli olan katalizör bilesimlerinin kesfinden kaynaklanmaktadir. Bu bulusa iliskin
asagidaki açiklama delinen açik delikler ve mikro kanallarin yan duvarlarinin metallenmesine
odaklanmakla birlikte, mevcut bulusa uygun metalleme prosesi genel olarak dielektrik substratlarin
metallenmesi konusuna da uygulanabilir özelliktedir. Örnegin metalleme prosesi, tek veya çift bakir
dielektrik substratin bir veya her iki tarafinin metallenmesi amaciyla kullanilabilmektedir.
Katalizör bilesimleri, klasik metalleme proseslerinde bilinenlerden farkli ve siklikla daha basit
kimyalarla nitelendirilmekte ve klasik metalleme proseslerine kiyasla daha az sayida adimi ve daha
yüksek akim yogunluklarini kullanan metalleme proseslerinde faydali olmaktadir. Bütün bu eslik eden
avantajlar daha az çözelti israfi, daha yüksek verimlilik ve daha yüksek kaliteli bir kaplanmis PCB
ürünüyle sonuçlanan bir metalleme prosesini temin etmektedir.
Bulusa uygun katalizör bilesiminin kullanilabildigi metalleme prosesi, herhangi bir dielektrik substrat
malzemesine uygulanabilir özelliktedir, Baskili devre kartlari için uygun substrat malzemeleri arasinda
örnegin, fiber takviyeli epoksi reçine substratlari (yani isi ve basinç altinda isiyla sertlesen bir
reçineyle birbirine baglanan lifli malzeme tabakalari) yer almaktadir. Genel olarak bir epoksi reçine
substrati, bir epoksi-reçine sistemiyle baglanan sürekli telli bir cam bezini içermektedir. Epoksi reçine
substratlarinin Özel örnekleri arasinda asagidakiler yer almaktadir: Cam lifli bez tabakalariyla takviye
edilmis epoksi reçinesini içeren bir substrat olan G-10; G-10'a benzer kendinden yok olan bir substrat
olan FR-4; bir cam bezi ve epoksi karisimi olan G-11 ve G-11'in aleve dirençli bir versiyonu olan FR-5.
FR-4 substratlari, Rogers Corporation'dan (Chandler, AZ) temin edilebilenler gibi seramik
parçaciklariyla takviye edilebilmektedir. Diger reçineler arasinda polifenilen eter, siyanat ester ve
bismaleimid/triazin yer almaktadir.
Metallemeye yönelik substrat halinde kullanilabilen ek dielektrik malzemeler arasinda seramikler,
cam, Teflon, cam lifi takviyeli Teflon, seramik takviyeli Teflon, polistiren ve poliimid (esnek levha
uygulamalari için) yer almaktadir.
Yukarida açiklanan malzemelere ek olarak, substrat örnegin silisyum, Si02 veya galyum arsenid gibi
yari iletken bir malzemeyi ya da alüminyum oksit, titanyum veya zirkonyum gibi bir inorganik oksidi
içerebilmektedir.
Bir PCB substratinin üretilmesi için, yukarida açiklanan dielektrik substratlar klasik prosesler
vasitasiyla, bir veya her iki taraflarinda bakir folyoyla lamine edilmektedir. Yaygin olarak kullanilan
laminatlar 18 um kalinliginda bir bakir giydirmeye sahiptir. Çok tabakali devre kartlari, yukarida
açiklanan substrat malzemeleri tarafindan birbirinden ayrilan ve desteklenen 16'ya kadar bakir
tabakasinin istiflenmesi yoluyla olusturulmaktadir. Bakir tabakalari arasinda bir elektrik baglantisinin
olusturulmasi için, PCB substratlari örnegin karbür matkap uçlari vasitasiyla ve lazerli delme yoluyla
delinerek açik delikler (PCB'nin veya çok tabakali devre kartinin tüm derinligi boyunca uzanan
delikler) ve kör kanallar (PCB'nin veya çok tabakali devre kartinin derinliginin yalnizca bir bölümü
boyunca uzanan delikler) olusturulmaktadir. Delinen açik delikler ve kör kanallar, mevcut bulusa
uygun metalleme prosesi kullanilarak metallenebilmektedir.
Alternatif olarak, bulusa uygun katalizör bilesimi, klasik bakir laminasyonu yerine yukarida açiklanan
dielektrik substratlarin tüm yüzeyinin örnegin bir bakir tabakasiyla lamine edilmesine yönelik bir
metalleme prosesinde kullanilabilmektedir. Mevcut bulusa uygun bilesim ve proses kullanilarak
bakirin depo edilmesinin/elektrolitik olarak kaplanmasinin ardindan, PCB substrati delinerek açik
delikler ve kör kanallar olusturulabilmekte ve bunlar da mevcut bulusa uygun metalleme prosesi
kullanilarak metallenebilmektedir.
Yine diger bir alternatifte, bakir Iamineli bir PCB substratinda delinen açik delikler ve kör kanallarin
metallenmesi, bakir bir iletken paternin olusturulmasiyla es zamanli olarak meydana gelebilmektedir.
Bir PCB'nin içindeki delikler tipik olarak karbür matkap uçlariyla delinmektedir. Çok küçük kanallar
gerekli oldugu zaman, kanallar Iazerlerle olusturulabilmektedir. Lazerle delinen ve mikro kanal
seklinde adlandirilan kanallar tipik olarak deligin içinde, metallenmelerinde bir güçlügü gündeme
getiren alt derecede bir yüzey bitirmesine sahiptir. Bu delikler mikro kanal olarak adlandirilmaktadir.
Endüstri, 150 um'nin altindaki çaplara sahip olan ve yüksek boyut oranlarina sahip olacak sekilde
genisliklerine kiyasla daha fazla derinlige sahip olabilen mikro kanallara dogru geçis yapmaktadir.
Boyut oranlari tipik olarak en az yaklasik 0.5:1 seklinde ve bazi durumlarda yaklasik 1:1'in Üzerindedir.
Bu tarifnamede boyut orani, kanal derinliginin, kanal açikliginin genisligine oranidir. Tekli PCB
levhalari bakir Iaminasyonu öncesinde kontrollü derinlikle delme, lazerli delme veya ön delmeye tabi
tutularak kartin tamami içinden geçmek yerine yalnizca bazi bakir tabakalarini baglayan deliklerin
üretilmesi de mümkündür. Bu delikler dahili bir bakir tabakasini bir dis tabakaya bagladigi zaman kör
kanal olarak ya da iki veya daha fazla dahili bakir tabakasini bagladigi zaman gömülü kanal olarak
adlandirilmaktadir.
Açik deliklerin ve kör kanallarin duvarlari, mevcut bulusa uygun metalleme prosesi kullanilarak
metallenebilmektedir.
Mevcut bulusa uygun bilesimin kullanildigi bir metalleme prosesi, PCB üretiminde yaygin olarak
kullanilan cam lifi takviyeli epoksi reçine substratlari gibi dielektrik substratlari metalleyebilmektedir.
Proses, delinmis bir açik deligin veya mikro kanalin yan duvarinin bakirla kaplanmasi amaciyla
uygulanabilir özelliktedir ve ayrica, tekli veya çiftli bakir kaplamali bir PCB substratinin üretilmesine
yönelik olarak bir dielektrik substratin metallenmesinde de kullanilabilmektedir. Bir yapilanmada,
iletken olmayan bir substratin elektriksel olarak iletken ve elektrolitik bakir kaplamasina yatkin hale
getirilmesine yönelik adimlar sunlari içermektedir:
1. Substrat bir kosullandirma çözeltisine tabi tutularak açikta kalan yüzeyin islatilabilir hale getirilmesi
yoluyla, bir dielektrik substrata ait açikta kalan bir yüzeyin (bir açik delik veya mikro kanalin bir yan
duvari gibi) kosullandirilmasi,
2. suyla durulama yapilmasi,
3. dielektrik malzemenin açik delikteki ve mikro kanaldaki kosullandirilmis açikta kalan yüzeyinin bir
oksidan içeren bir bilesimle oksitlenmesi,
4. suyla durulama yapilmasi,
. oksitlenmis açikta kalan yüzeyin polimerlesebilir bir heterosiklik aromatik molekülü, bir asidi, bir
emülgatörü ve lityum iyonlari, sodyum iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari, bizmut
iyonlari, bor iyonlari ve indiyum iyonlarindan olusan gruptan seçilen en az bir metal iyonunu içeren
bulusa uygun bir katalizör çözeltisiyle katalize edilmesi ve böylece, dielektrik malzemenin oksitlenmis
açikta kalan yüzeyi üzerine elektrigi ileten bir polimerin depo edilmesi ve bu yolla söz konusu yüzeyin
elektriksel olarak iletken hale getirilmesi,
6. suyla durulama yapilmasi.
Substrat daha sonra, dielektrik substratin üzerinde elektrigi ileten polimerin yer aldigi yüzeylerinin,
bir anodu ve bir elektrolitik bakir kaplama bilesimini içeren bir elektrolitik bakir kaplama banyosuna
maruz birakilmasi ve harici bir elektron kaynaginin uygulanmasi yoluyla metallenebilmektedir.
Yukarida açiklanan metalleme prosesindeki kosullandirici çözelti, DE420519O sayili Alman patent
basvurusunda açiklanan bilesenleri içerebilmektedir. Örnegin kosullandirici çözelti azot içeren bir
heterosiklik aromatik molekülü agirlikça en az %0.001 oranindaki bir miktarda barindirabilmekte ve
ayrica bir çapraz baglayiciyi ve bir pH tamponlama maddesini içerebilmektedir. Azot içeren örnek
aromatik moleküller arasinda piridin, kinolin, pirrol, indol, akridin, izokinolin, piridazin, pirimidin,
kinoazolin, fenazin, sinolin, piteridin, karbazol, pirazol, imidazol, triazol, benzimidazol, purin, izoindol,
bunlarin türevleri ve karisimlari yer almaktadir. Örnek kosullandirici çözeltiler Enthone Inc. (West
Haven, Conn.) sirketinden temin edilebilmekte ve bu çözeltiler arasinda Envision® HDI Kosullandirici
E Kosullandirici 7310 yer almaktadir.
Dielektrik malzemelerin yüzeylerinin kosullandirma çözeltisine maruz birakilmasi, yüzeyleri islatilabilir
hale getirerek bir sonraki adimda gerçeklestirilecek oksidasyon için kosullandirilmalarini
saglamaktadir. Yaklasik 100 um'den az veya hatta yaklasik 50 um'den az olabilen küçük çaplara sahip
olan ve delinmis PCB substratlarinda giderek daha yaygin hale gelen delikler ve kanallar için, söz
konusu delik ve kanallarin oksidasyon öncesinde islatilmasi avantajlidir. Dielektrik substrat
kosullandirici çözeltiye tasirma, daldirma veya püskürtme gibi herhangi bir yöntem vasitasiyla maruz
birakilabilmekte olup buradaki kosul, maruz birakma yönteminin dielektrik substratin açikta kalan
yüzeylerini, örnegin açik delikler ve mikro kanallarin yan duvarlarini yeterli ölçüde islatmasidir. Maruz
birakma tipik olarak yaklasik 30°C ila yaklasik 65°C araligindaki, örnegin yaklasik 30°C ila yaklasik 50°C
araligindaki veya yaklasik 40°C ila yaklasik 65°C araligindaki sicakliklarda yaklasik 1 ile yaklasik 6
dakika arasindaki bir süre boyunca, Örnegin yaklasik 2 ila 5 dakika araligindaki veya yaklasik 1 ila 3
dakika araligindaki bir süre boyunca gerçeklestirilmektedir.
Yukarida açiklanan metalleme prosesindeki baslatici bilesim, bir oksidani içermektedir. Oksidan
manganez (VII) bilesikleri, manganez (VI) bilesikleri, iyot (VII) bilesikleri ve seryum (IV) bilesikleri gibi
bilinen oksidan siniflari içinden seçilebilmektedir. Yukarida açiklanan bilesikler tercihen oksijen
bilesikleridir. Örnegin oksidan permanganat, manganat ve periyodat olabilmektedir. Tercih edilen bir
oksidan, sodyum veya potasyum tuzu olarak temin edilebilen permanganattir. Baslatici çözeltideki
oksidan permanganat oldugu zaman, dielektrik substratin kosullandirilmis yüzeylerinin buna maruz
birakilmasi açikta kalan dielektrik malzeme yüzeyini oksitlemekte ve üzerinde bir manganez (IV) oksit
(MnOZ) filminin depo edilmis oldugu bir yüzeyi temin etmektedir. Bu yüzey de bir oksidan olarak islev
göstermekte ve sonraki polimerlesme için bu yüzeye ihtiyaç duyulmaktadir. MnOz tüketilmekte ve
Mn (II) iyonlari olusmaktadir. Manganez (IV) oksit filminin yogunlugu baslatici çözeltideki oksidan
konsantrasyonu, maruz birakma süresi ve maruz birakma tarzi gibi faktörlere baglidir. Tipik olarak,
baslatici çözeltideki permanganat konsantrasyonu yaklasik 40 g/L ile yaklasik 70 g/L arasinda ve
örnegin yaklasik 60 g/L degerindedir. Baslatici bilesim, manganez (IV) oksidin depo edilmesinin
iyilestirilmesine yönelik iyonik veya iyonik olmayan floro-yüzey aktif maddeleri gibi ek islatici
maddeleri barindirabilmektedir.
Baslatici pH 6 degerinde çalistirildigi zaman tampon olarak genellikle borik asidi içermektedir.
Fosforik asit, üretim sirasinda pH ayarlamasi amaciyla kullanilmaktadir. Baslatici bilesenleri bu alanda
bilinmekte ve örnegin referans olarak yer verilen DE 4113654 sayili belgede ifsa edilmektedir.
Polimerik reçine substratinin kosullandirilmis yüzeyleri baslatici çözeltiye tasirma, daldirma veya
püskürtme gibi herhangi bir yöntem vasitasiyla maruz birakilabilmekte olup buradaki kosul, maruz
birakma yönteminin kosullandirilmis yüzeyler üzerinde yaklasik 1 mg/dm2 ile yaklasik 10 mg/dm2
arasindaki, örnegin dielektrik substratin açikta kalan kosullandirilmis yüzeyleri üzerinde 4 mg/dm2 ile
yaklasik 6 mg/dm2 arasindaki bir MnOi yogunluguna sahip bir manganez (IV) oksit filmini üretmek için
yeterli olmasidir. Maruz birakma tipik olarak yaklasik 80°C ila yaklasik 90°C araligindaki sicakliklarda
ve yaklasik 3 dakika ile yaklasik 6 dakika arasindaki bir süre boyunca gerçeklestirilmektedir. Örnek
baslatici çözeltiler Enthone Inc. (West Haven, Conn.) sirketinden temin edilebilmekte ve bu çözeltiler
arasinda Envision® HDI Baslatici 7320 ve Envision® DMS-E Baslatici 7020 yer almaktadir.
Yukarida açiklanan metalleme prosesindeki katalizör çözeltisi, yukaridaki ve asagidaki yapilanmalarda
açiklanan bulusa uygun bilesim olabilmektedîr.
Katalizör bilesimi hidrojen fosfat, dihidrojen fosfat ve asetat alkali metal tuzlari gibi tamponlayici
maddeler kullanilarak uygun bir pH degerine göre tamponlanabilmektedir. Katalizör bilesiminde
kullanilmaya uygun çözücüler arasinda metanol, etanol, n-pr0pan0l, izopropanol, yüksek alkoller,
polialkoller, DMF (dimetil formamid), ketonlar, daha belirgin bir ifadeyle metiletilketon, kumen
sülfonat, N-metil pirrolîdon, Triglim, Diglim, toluen sülfonatlarin alkali metal tuzlari veya etil esterleri,
sulu alkalin çözeltiler veya bunlarin karisimlari yer almaktadir.
Dielektrik substratin oksîtlenmis yüzeylerinin katalizör bilesimine maruz birakilmasi oksitlenmis yüzey
üzerindeki MnOZ filmi, polimerlesebilir heterosiklik aromatik molekül ve asit arasinda bir reaksiyonu
baslatmakta ve bu reaksiyon, dielektrik substratin açikta kalan oksitlenmis yüzeyleri üzerinde elektrigi
ileten bir polimerin polimerlesmesi ve depo edilmesiyle sonuçlanmaktadir. Maruz birakma tasirma,
daldirma veya püskürtme yoluyla gerçeklestirilebilmekte ve tipik olarak oda sicakliginda veya oda
sicakliginin biraz altinda ve yaklasik 1 dakika ile yaklasik 8 dakika arasindaki, örnegin yaklasik 2 dakika
ile yaklasik 4 dakika arasindaki bir süre boyunca meydana gelmektedir. Örnek katalizör çözeltileri
Enthone Inc. (West Haven, Conn.) sirketinden temin edilebilmekte ve bu çözeltiler arasinda
Envision® HDI Katalizör 7350 ve Envision® DMS-E Katalizör 7050 yer almaktadir.
Polimerik reçine substratinin yüzeyinin katalizör çözeltisine maruz birakilmasinin ve bunun
sonucunda yüzeyin üzerine depo edilmis elektrigi ileten bir polimerin elde edilmesinin ardindan bir
durulama adimi gerçeklestirilmekte, bunu ise bir elektrolitik bakir kaplama bilesimini ve bir anodu
içeren bir elektrolitik bakir kaplama banyosuna maruz birakma adimi takip etmektedir. Elektrolitik
bakir kaplama bilesimi bakir iyonlarina ait bir kaynagi ve bir asidi içermektedir. Elektrolitik bakir
banyosu ayrica bu alanda bilinen klorür iyonu, parlaklastiricilar, inhibitörler ve tane rafine ediciler gibi
katki maddelerini içerebilmektedir.
Bakir iyonlarinin kaynaklari arasinda bakir sülfat, bakir sülfat pentahidrat, bakir oksit, bakir karbonat,
bakir floroborat, bakir pirofosfat, bakir siyanür, bakir fosfonat ve bakir metan sülfonat gibi diger bakir
metal kompleksleri yer almaktadir. Tercihen bakir kaynagi bakir sülfat bazli kaynaklardan biri, yani
bakir sülfat veya bakir sülfat pentahidrat seklindedir. Bakir konsantrasyonu genis limitler arasinda,
örnegin yaklasik 5 ila yaklasik 75 g/L Cu araliginda degisebilmektedir. Düsük Cu sistemlerinde (yani
düsük bir bakir konsantrasyonunu içeren elektrolitlerde), Cu iyonu konsantrasyonu yaklasik 5 g/L ile
yaklasik 30 g/L arasinda, örnegin yaklasik 8 g/L ile yaklasik 25 g/L arasinda olabilmektedir. Örnek
düsük Cu sistemleri 8 g/L bakir iyonu, 10 g/L bakir iyonu, 20 g/L bakir iyonu veya 25 g/L bakir iyonu
içerebilmektedir. Bazi yüksek Cu sistemlerinde (yani yüksek bir bakir konsantrasyonunu içeren
elektrolitlerde), Cu iyonu konsantrasyonu yaklasik 35 g/L ile yaklasik 75 g/L arasinda, tercihen yaklasik
g/L ile yaklasik 60 g/L arasinda, örnegin yaklasik 38 g/L ile yaklasik 42 g/L arasinda olabilmektedir.
Bazi yüksek Cu sistemlerinde, Cu iyonu konsantrasyonu yaklasik 46 g/L ile yaklasik 60 g/L arasinda,
örnegin yaklasik 48 g/L ile yaklasik 52 g/L arasinda olabilmektedir. Örnek bir yüksek Cu sisteminde, Cu
iyonu konsantrasyonu yaklasik 40 g/L'dir.
Baska bir örnek yüksek Cu sisteminde, Cu iyonu konsantrasyonu yaklasik 50 g/L'dir. Yine baska bir
örnek yüksek Cu sisteminde, Cu iyonu konsantrasyonu yaklasik 75 g/L'dir. Yaklasik 5 g/L'lik bir bakir
konsantrasyonunun elde edilmesi için, çözeltinin 1 L'si basina yaklasik 19 gram bakir sülfat
pentahidrat ilave edilmektedir. Yaklasik 75 g/L'lik bir bakir konsantrasyonunun elde edilmesi için,
çözeltinin 1 L'si basina yaklasik 292 gram bakir sülfat pentahidrat ilave edilmektedir.
Klorür iyonu da banyoda 200 mg/L'ye kadar bir düzeyde, örnegin yaklasik 40 mg/L ile yaklasik 200
mg/L arasindaki ya da yaklasik 10 ila 90 mg/L araligindaki bir düzeyde kullanilabilmektedir. Klorür
iyonu bu konsantrasyon araliklarinda, diger banyo katki maddelerinin islevinin iyilestirilmesi amaciyla
ilave edilmektedir. Tipik klorür iyonu kaynaklari arasinda hidroklorik asit ve klorür alkali metal tuzlari,
en tipik durumda sodyum klorür yer almaktadir. Parlaklastiricilar, inhibitörler ve tane rafine ediciler
gibi bu alanda bilinen diger katki maddeleri de ilave edilebilmektedir. Tercih edilen elektrolitik bakir
kaplama katki maddeleri, Enthone Inc. (West Haven, Conn.) sirketinden temin edilebilen Cuprostar®
LP-l Katki Maddeleridir ve bunlar yaklasik 2 mL/L ile yaklasik 8 mL/L arasindaki, daha fazla tercih
edilen durumda yaklasik 3 mL/L ile yaklasik 6 mL/L arasindaki, örnegin yaklasik 4 mL/L veya yaklasik 5
mL/L degerindeki bir konsantrasyonda ilave edilebilmektedir. Elektrikli kaplama banyosundaki asit
kaynaklari arasinda sülfürik asit, metan sülfonik asit, fosforik asit ve polistiren sülfonik asit gibi belirli
polimer asitleri yer almaktadir. Klasik bakir elektrikli kaplama bilesimlerinde tipik olarak, asit yaklasik
arasindaki, örnegin yaklasik 200 g/L degerindeki bir konsantrasyonda mevcut bulunabilmektedir.
Mevcut bulusun tercih edilen bir yapilanmasinda, yaklasik 1 ile yaklasik 35 arasindaki, tercihen
yaklasik 1.5 ile yaklasik 3.5 arasindaki, daha fazla tercih edilen durumda yaklasik 1.5 ile yaklasik 2.5
arasindaki ve örnegin yaklasik 2 degerindeki bir çözelti pH'inin elde edilmesi amaciyla, katalizör
bilesimindeki asit konsantrasyonu düsük, örnegin yaklasik 0.1 g/L ile yaklasik 30 g/L arasinda, daha
fazla tercih edilen durumda yaklasik 1 g/L ile yaklasik 3 g/L arasinda tutulmaktadir. Örnegin sülfürik
asit, yaklasik 2 degerindeki bir çözelti pH'inin elde edilmesi amaciyla yaklasik 1 g/L'lik bir
konsantrasyonda ilave edilebilmektedir. Alternatif olarak, tercih edilen bir yapilanmada polistiren
sülfonik asit gibi bir polimerik asit, yaklasik 2 degerindeki bir çözelti pH'inin elde edilmesi amaciyla
yaklasik 2.5 g/L'lik bir konsantrasyonda ilave edilebilmektedir. Bu bulus uyarinca yaklasik 1.5 ile 2.5
arasindaki bir pH'in elde edilmesi için, yaklasik 1 g/L seviyesindeki, örnegin yaklasik 0.5 g/L ile yaklasik
g/L arasindaki veya yaklasik 0.5 g/L ile yaklasik 5 g/L arasindaki asit ilaveleri kullanilmaktadir. Bu,
en az 50 g/L asit, örnegin yaklasik 200 g/L sülfürik asit kullanan klasik asit bakir banyolariyla tezat
teskil eden bir durumdur. Klasik banyonun pH'i genellikle ölçülmedigi veya ölçülebîlir olmadigi için,
asidite g/L asit cinsinden nitelendirilmektedir. Bulusun bu yönü, iletken substratlar üzerine klasik
kaplama yapilmasi ve ayrica elektrigi ileten bir polimerle islemden geçirilmis dielektrik substratlar
üzerine kaplama yapilmasi durumu için geçerlidir.
Bulusa uygun katalizör bilesiminin baska bir yapilanmasinda, katalizör bilesimi ek olarak bir bakir
iyonu kaynagini içermekte ve katalizör çözeltisine maruz birakma sonrasinda gerçeklesen durulama
adimi ortadan kaldirilmaktadir. Bu yapilanmada, katalizör bilesiminin bilesenleri ve elektrolitik bakir
kaplama bilesiminin bilesenleri tek bir bilesim halinde bir araya getirilmektedir. Bu bilesim, hem
elektrigi ileten bir polimeri dielektrik substrata ait açikta kalan bir yüzey üzerine depo edebilmekte
hem de uygulanan bir akimin varliginda bakiri elektrigi ileten polimerin yüzeyi üzerine depo
edebilmektedir. Yüksek asit konsantrasyonu ve monomer (EDT) çökelmesi nedeniyle, bunun normal
bakir banyolarinda yapilmasi mümkün degildir.
Örnek bir katalizör bilesimi/elektrolitik bakir kaplama bilesimi polimerlesebilir bir heterosiklik
aromatik molekülü, bir bakir iyonu kaynagini, bir asidi ve tipik olarak elektrolitik bakir kaplama
bilesimine ilave edilen diger katki maddelerini içermektedir. Katalizör bilesimi/elektrolitik bakir
kaplama bilesimine ait bilesenlerin kimlikleri ve konsantrasyonlari, yukarida ayri çözeltilerle baglantili
olarak açiklananlarla büyük ölçüde aynidir.
Bu kombine çözüm ve kombine isletmenin avantajlari arasinda ara bir durulama adiminin ortadan
kaldirilmasi, ayri kataliz ve elektrolitik kaplama kaplarina duyulan ihtiyacin ortadan kaldirilmasi ve
toplam proses sürelerinin azalmasi yer almaktadir.
Proses mevcut bulusa uygun katalizör bilesimi kullanilarak gerçeklestirilirken, yukarida açiklanan
bilesimler, tekli veya çiftli bakir Iamineli bir PCB substratinin veya çok tabakali devre karti substratinin
açik delikleri ve mikro kanallarina ait yan duvarlar üzerine bakir depo edilmesi amaciyla
kullanilmaktadir. Bir yapilanmada, açik deliklerin ve mikro kanallarin yan duvarlari üzerine bakir
kaplanmasi prosesi asagidaki adimlari içermektedir:
1. Karbür matkap ucu veya lazerli delme kullanilarak, tekli veya çiftli bakir Iamineli bir PCB
substratinda veya çok tabakali devre karti substratinda açik delikler veya mikro kanallarin delinmesi,
2. açik delik veya mikro kanal duvarlarina ait açikta kalan yüzeylerin, substratin Envision® DMS-E
Kosullandirici 7015'e (40 mL/L) 40°C'de 3 dakika süreyle maruz birakilmasi yoluyla kosullandirilmasi,
3. suyla durulama yapilmasi,
4. açik delik veya mikro kanal duvarlarina ait açikta kalan kosullandirilmis yüzeylerin, substratin
3 dakika süreyle maruz birakilmasi yoluyla oksitlenmesi (ve bununla ayni zamanda Mn (IV) oksidin
depo edilmesi),
. suyla durulama yapilmasi,
6. substratin Envision® HDI Katalizör 7350A (15 mL/L, 3,4-etilendioksitiyofen ve emülgatör
içermektedir) ve Envision® HDI Katalizör 73508 (45 mL/L, polistirensülfonik asit içermektedir) ve
lityum iyonlari, sodyum iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari, bizmut iyonlari, bor iyonlari ve
indiyum iyonlarindan olusan gruptan seçilen en az bir metal iyonunu içeren bir bilesime maruz
birakilmasi yoluyla, açik delik veya mikro kanal duvarlarina ait oksitlenmis yüzeyler üzerine elektrigi
ileten polimerin depo edilmesi,
7. suyla durulama yapilmasi,
8. (a) substratin bir anodu ve bakir sülfat pentahidrat (80 g/L), sülfürik asit (1 g/L, pH 2 degerinin elde
edilmesi için), klorür iyonu (60 mg/L) ve Cuprostar® LP-1 katki maddelerinden (5 mL/L) olusan bir
elektrolitik bakir kaplama bilesimini içeren bir elektrolitik kaplama banyosuna maruz birakilmasi ve
(b) açik delik ve mikro kanal duvarlari üzerine bakir depo edilmesi için substrata akim (3 A, 5 dakika)
uygulanmasi
yoluyla, açik delik veya mikro kanal duvarlarina ait yüzeyler üzerindeki elektrigi ileten polimerin
üzerine bakirin elektrolitik olarak kaplanmasi.
Yukarida açiklanan yöntem kullanilarak, bir PCB veya çok tabakali devre karti substratindaki açik delik
ve mikro kanal duvarlari üzerine yüksek kaliteli bir bakir birikimi kaplanabilmektedir. Yukarida
açiklanan proses ayrica, önceden uygulanmis bir bakir folyoya sahip olmayan çiplak bir dielektrik
substrat (yani cam lifi takviyeli bir epoksi reçinesi substrati) üzerine bir bakir laminatinin kaplanmasi
amaciyla da kullanilabilmektedir. Bunlara ek olarak yukarida açiklanan proses, çiplak bir dielektrik
substratin (yani cam lifi takviyeli bir epoksi reçinesi substratinin) bir veya her iki tarafi üzerine bir
bakir Iaminatinin kaplanmasi ya da önceden açik deliklerin delinmis oldugu çiplak bir dielektrik
substratin (yani cam lifi takviyeli bir epoksi reçinesi substratinin) açik delikleri ve mikro kanallarina ait
yan duvarlarin üzerine bakir kaplanmasi amaciyla da kullanilabilmektedir.
Baska bir yapilanmada, açik deliklerin ve mikro kanallarin yan duvarlari üzerine bakir kaplanmasi
prosesi asagidaki adimlari içermektedir:
1. Karbür matkap ucu veya Iazerli delme kullanilarak, tekli veya çiftli bakir Iamineli bir PCB
substratinda veya çok tabakali devre karti substratinda açik delikler veya mikro kanallarin delinmesi,
2. açik delik veya mikro kanal duvarlarina ait açikta kalan yüzeylerin, substratin Envision® DMS-E
Kosullandirici 7015'e (40 mL/L) 40°C'de 3 dakika süreyle maruz birakilmasi yoluyla kosullandirilmasi,
3. suyla durulama yapilmasi,
4. açik delik veya mikro kanal duvarlarina ait açikta kalan kosullandirilmis yüzeylerin, substratin
3 dakika süreyle maruz birakilmasi yoluyla oksitlenmesi,
. suyla durulama yapilmasi,
6. substratin Envision® HDI Katalizör 7350A (15 mL/L, 3,4-etilendioksitiyofen ve emülgatör
içermektedir) ve Envision® HDI Katalizör 73508 (15 mL/L, polistirensülfonik asit içermektedir), lityum
iyonlari, sodyum iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari, bizmut iyonlari, bor iyonlari ve
indiyum iyonlarindan olusan gruptan seçilen en az bir metal iyonu, bakir sülfat pentahidrat (80 g/L),
sülfürik asit (1 g/L, pH 2 degerinin elde edilmesi için), klorür iyonu (60 mg/L) ve Cuprostar® LP-1 katki
maddelerini (5 mL/L) içeren bir katalizör çözeltisi/elektrolitik kaplama bilesimine 3 dakika süreyle
maruz birakilmasi yoluyla, açik delik veya mikro kanal duvarlarina ait oksitlenmis yüzeyler üzerine
elektrigi ileten polimerin depo edilmesi,
7. açik delik ve mikro kanal duvarlari üzerine bakir depo edilmesi için substrata akim (1 ila 2 A/dmz, 5
dakika) uygulanmasi yoluyla, üzerinde iletken polimere sahip bulunan açik delik veya mikro kanal
duvarlarina ait yüzeyler üzerine bakirin elektrolitik olarak kaplanmasi.
Yukarida açiklanan yöntem kullanilarak, bir PCB veya çok tabakali substrattaki açik delik ve mikro
kanal duvarlari üzerine yüksek kaliteli bir bakir birikimi kaplanabilmektedir.
Yine baska bir yapilanmada, mevcut bulusa uygun katalizör bilesiminin kullanildigi proses, bakir bir
iletken paternin elde edilmesi için ek isleme tabi tutulan bir PCB veya çok tabakali substrattaki açik
delik ve mikro kanallara ait duvarlarin üzerine bakir kaplanmasi amaciyla kullanilabilmektedir. Bu
prosesteki adimlar su sekildedir:
1. Klasik bir proses veya yukarida açiklanan proseslerden biri vasitasiyla bir veya her iki tarafi bakirla
lamine edilmis olan cam lifi takviyeli bir epoksi reçinesi substratinda deliklerin açilmasi,
2. delinen levha kosullandirici, baslatici ve bulus uygun katalizör bilesimleriyle islemden geçirilerek
delinen açik deliklerin yan duvarlari üzerine elektrigi ileten bir polimer filminin depo edilmesi,
3. bakir folyoya bir foto rezistin uygulanmasi,
4. bakir iletken paternin koyu ve geri kalan kismin saydam oldugu bir patern maskesinin uygulanmasi,
. maske ultraviyole isikla isinlanarak, bakir iletken paterni belirleyen açik renkli alanlarin altindaki
foto rezist malzemesinin çözünür hale getirilmesi,
6. patern maskesinin çikarilmasi,
7. isinlanmamis foto rezisti (genellikle sodyum karbonat içeren gelistirici içinde çözünürdür) çözen
alkalin gelistiricinin uygulanmasi (bu durumda, katki teknolojisi adi verilen negatif bir görüntü
üretilmektedir; bakir izlerinin olusturulacagi yerlerde foto rezist uzaklastirilmaktadir; sonraki kaplama
asamasinda bakir, isinlanmis rezist arasindaki ”oluklara” ve açik delikler veya mikro kanallara depo
edilmektedir),
8. pH 2 degerindeki elektrolitik bakir kaplama banyosu kullanilarak, açikta kalan paternin Üzerine
yaklasik 5 mikronluk bir kalinliga göre bakirin elektrolitik olarak kaplanmasi (açik delikler de
kaplanmaktadir) (25 mikronluk (normal kalinlik) sonraki kaplama için, yaklasik 200 g/L ila yaklasik 250
g/L araligindaki yüksek asit içerigine sahip bakir banyolari kullanilabilmektedir),
9. oksidasyonu önleyen ve bir rezist paterni olarak islev gösteren kalay-kursun veya baska bir rezist
malzemesiyle bakir iletken paternin korunmasi,
. geri kalan foto rezistin çözücüyle çözdürülmesi (tipik olarak, piyasada bulundugu sekliyle güçlü
alkalin çözeltiler içinde),
11. bakir folyo asitle çözdürülerek reçine substratinin açiga çikarilmasi (rezist tarafindan korundugu
için, bakir iletken patern çözünmemektedir),
12. metalik rezistin uzaklastirilmasi.
Dolayisiyla, mevcut bulusa uygun katalizör bilesiminin kullanildigi proses, bakir giydirmeli bir
dielektrik substratin açikta kalan yüzeylerinin, örnegin dielektrik substratta delinmis bir açik delige ait
yan duvarin seçmeli olarak metallenmesi ve böylece, epoksi-cam lifi substratin bir tarafindaki bakir
laminat ile epoksi-cam lifi substratin diger tarafindaki bakir laminat arasinda bir elektrik baglantisinin
kurulmasi amaciyla kullanilabilmektedir. Proses ayrica, bir dielektrik substratin bütün yüzeyinin
metallenmesi amaciyla da kullanilabilmektedir.
Bulus baska bir yönü çerçevesinde bir dielektrik substrat üzerindeki iletken bir polimer tabakasiyla
ilgili olup özelligi, polimer tabakasinin lityum, sodyum, alüminyum, berilyum, bizmut, bor ve
indiyumdan olusan gruptan seçilen bir metali veya metal iyonlarini içermesidir. Sasirtici bir biçimde,
bir dielektrik substratin yüzeyi üzerinde elektrigi ileten polimerlerin olusturulmasi amaciyla yukarida
açiklanan sekildeki bir bilesim kullanildigi zaman, bilesimde yer alan metal iyonlarinin iletken polimer
tabakasina dahil oldugu saptanmistir. Bu teoriye bagli kalinmamakla birlikte, metal iyonlarinin iletken
polimer tabakasina bu sekilde dahil olmasinin, iletken polimer tabakasinin iletkenligine katkida
bulunduguna ve dolayisiyla tabakanin elektrik direncini azalttigina inanilmaktadir.
Lityum, sodyum, alüminyum, berilyum, bizmut, bor ve indiyumdan olusan gruptan seçilen metal
iyonlari iletken polimer tabakasinda atomik bazda en az %0.01, tercihen atomik bazda en az %0.05 ve
daha fazla tercih edilen durumda atomik bazda en az %O.1 seklindeki bir konsantrasyonda yer
alabilmektedir.
Bu iyonlarin metal yüzeye dahil olmasi örnegin ESCA (kimyasal analize yönelik elektron
spektroskopisi), GDOES (akkor bosalimli optik emisyon spektroskopisi) veya AES (Auger elektron
spektroskopisi) gibi uygun analiz yöntemleri vasitasiyla ölçülebilmektedir.
Asagidaki örnekler mevcut bulusu daha etraflica göstermektedir.
Sekil 1, yanal bakir gelisiminin iletken olmayan Oligomerlerin konsantrasyonuna bagimliligini gösteren
bir projeksiyondur.
Sekil 1, bir substrat yüzeyi üzerindeki yanal bakir gelisiminin (LCGR), substrat yüzeyi üzerine iletken
bir polimer filminin depo edilmesi amaciyla kullanilan bir katalizör bilesimindeki iletken olmayan
Oligomerlerin konsantrasyonuna bagimliligini göstermektedir. Sekil 1'den anlasilabilecegi gibi, iletken
bir polimer filminin depo edilmesi amaciyla örnegin ENVISION HDI prosesi gibi bu alanda bilinen
klasik bir yöntem uyarinca islemden geçirilen standart bir test kuponu (10 x 3 cm seklindeki serit
büyüklügüne ve 7 x 3 cm seklindeki bakirsiz bir alana sahip olan IS 410 laminat malzemesi) üzerindeki
LCGR, katalizör bilesiminde kullanilan monomerik bilesiklere ait Oligomerlerin konsantrasyonundakî
artmayla birlikte azalmaktadir. iletken polimer filminin depo edilmesinden sonra, test kuponlari
ENTHONE Inc. sirketinden LP-1 adi altinda ticari yoldan temin edilebilen bir bakir elektroliti içinde 5
dakika süreyle 2 A/dmz'lik bir akim yogunlugunda bakirla kaplanmaktadir. Oligomerlerin göreceli
konsantrasyonu, UV-VIS spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyonla ölçülmektedir. Taze bir katalizör
bilesiminin 870 nm'deki absorpsiyonu yaklasik sifir araliginda bulunmasina ve LCGR yaklasik 5.5
mm/dak oraninda bulunmasina ragmen, iletken olmayan oligomerlerin neden oldugu absorpsiyon
yaklasik 3.0 degerine yükseldigi zaman, LCGR yaklasik 2.5 mm/dak oranina düsmektedir. Bu durum,
katalizör bilesimindeki iletken olmayan oligomerlerin sonraki metal kaplama prosesi anlaminda
oynadigi role dair bir delili temin etmektedir.
Örnek 1 (Karsilastirma Amaçli Örnek)
Örnek 1 karsilastirma amaciyla kullanilmakta ve teknigin bilinen durumuna uygun bir katalizör
bilesimini temsil etmektedir. 1000 mL'Iik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin
edilmektedir. 45 mL Envision® HDI Katalizör 73508 (polistirensülfonik asit içermektedir) ve 15 mL
Envision® HDI Katalizör 7350A (3,4-etilendi0ksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda
ilave edilmektedir. Karisim, 440 mL deiyonize suyla 1000 mL'Iik bir hacme tamamlanmaktadir.
Karisimin pH degeri, 23°C'de 2.2'dir. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda UV-VIS spektrumlarinda
870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 2 !Bulusa Uygun!
1000 mL'Iik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. 45 mL Envision® HDI
etilendioksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda ilave edilmektedir. Bu karisima, 2.6
tamamlanmaktadir. Karisimin pH degeri, 25.80C'de 2.18'dir. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda
UV-VIS spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 3 !Bulusa Uygun!
1000 mL'Iik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. 45 mL Envision® HDI
etilendioksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda ilave edilmektedir. Bu karisima, 3.8
tamamlanmaktadir. Karisimin pH degeri, 25.80C'de 2.21'dir. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda
UV-VIS spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 4 !Bulusa Uygun!
1000 mL'Iik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. 45 mL Envision® HDI
etilendioksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda ilave edilmektedir. Bu karisima, 1.9
tamamlanmaktadir. Karisimin pH degeri, 25.8°C'de 2.19'dur. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda
UV-VIS spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 5 (Bulusa Uygun!
1000 mL'lik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. 45 mL Envision® HDI
etilendioksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda ilave edilmektedir. Bu karisima, 2.95
Karisimin pH degeri, 25.8°C'de 2.3'tür. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda UV-VIS spektrumlarinda
870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Ornek 6 (Referans Örnek!
1000 mL'lik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. 46 mL Envision® HDI
etilendioksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda ilave edilmektedir. Bu karisima, 1
mL bizmut metansülfonik asit eklenmektedir. Karisim, 449 mL deiyonize suyla 1011 mL'lik bir hacme
tamamlanmaktadir. Karisimin pH degeri, 22.20C'de 1.85'tir. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda
UV-VIS spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 7 iBqusa Uygun!
1000 mL'lik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. Yaklasik 75 kDa'lik bir
ortalama moleküler agirliga sahip polistirensülfonik asidin (AkzoNobel AB sirketinden Versa TL 77 adi
etilendioksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda ilave edilmektedir. Bu karisima, 2.5
edilmesi yoluyla, pH degeri 22.3OC'de 1.97 olarak ayarlanmaktadir. Birkaç günlük hizmet ömrü
sonrasinda UV-VIS spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 8 !Bulusa Uygun!
ortalama moleküler agirliga sahip polistirensülfonik asidin (AkzoNobeI AB sirketinden Versa TL 501
adi altinda ticari olarak temin edilebilmektedir) 45 mL'si ve 15.5 mL Envision® HDI Katalizör 7350A
(3,4-etilendioksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda ilave edilmektedir. Bu karisima,
edilmesi yoluyla, pH degeri 22.30C'de 1.99 olarak ayarlanmaktadir. Birkaç günlük hizmet ömrü
sonrasinda UV-VIS spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 9 lBqusa Uygun!
ortalama moleküler agirliga sahip polistirensülfonik asidin (AkzoNobeI AB sirketinden Versa TL 501
adi altinda ticari olarak temin edilebilmektedir) 23 mL'si, 75 kDa'lik bir ortalama moleküler agirliga
sahip bir poli(4-stirensülf0nik asit) Iityum tuzu çözeltisinin (HzO içinde agirlikça %30'Iuk) 23 mL'si ve
mL Envision® HDl Katalizör 7350A (3,4-etilendioksîtiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma
altinda ilave edilmektedir. Karisim, 440 mL deiyonize suyla 1001 mL'lik bir hacme tamamlanmaktadir.
degeri 22.3°C'de 1.99 olarak ayarlanmaktadir. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda UV-VIS
spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 10 (Bulusa Uygun)
ortalama moleküler agirliga sahip polistirensülfonik asidin (AkzoNobeI AB sirketinden Versa TL 501
adi altinda ticari olarak temin edilebilmektedir) 23 mL'si, 75 kDa'lik bir ortalama moleküler agirliga
sahip bir poli(4-stirensülfonik asit) sodyum tuzu çözeltisinin (HZO içinde agirlikça %30'luk, AkzoNobeI
AB sirketinden Versa TL 77 adi altinda ticari olarak temin edilebilmektedir) 23 mL'si ve 15 mL
Envision® HDI Katalizör 7350A (3,4-etilendioksitiyofen ve emülgatör içermektedir) karistirma altinda
ilave edilmektedir. Karisim, 440 mL deiyonize suyla 1001 mL'Iik bir hacme tamamlanmaktadir.
degeri 21.90C'de 1.98 olarak ayarlanmaktadir. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda UV-VIS
spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Örnek 11 (Karsilastirma Amaçli Örnek)
1000 mL'Iik bir deney sisesînde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. 46 mL Envision® HDI
ve emülgatör olarak agirlikça %12 oraninda Soprophor 4D384 içeren sulu bir çözeltinin 15 mL'si
karistirma altinda ilave edilmektedir. Karisim, 440 mL deiyonize suyla 1001 mL'Iik bir hacme
tamamlanmaktadir. Karisimin pH degeri, 21.20C'de 2.13'tür. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda
UV-VIS spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de listelenmektedir.
Ornek 12 !Karsilastirma Amaçli Örnekl
1000 mL'Iik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. 45 mL Envision® HDI
ve emülgatör olarak agirlikça %6 oraninda Soprophor 4D384 ve agirlikça %6 oraninda Soprophor TS
29 içeren 5qu bir çözeltinin 15 mL'si karistirma altinda ilave edilmektedir.
Karisimin pH degeri, 20.60C'de 1.97'dir. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda UV-VIS
spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de Iistelenmektedir.
Örnek 13 [Bulusa Uygun!
1000 mL'Iik bir deney sisesinde, 500 mL deiyonize su temin edilmektedir. Yaklasik 25 kDa'Iik bir
ortalama moleküler agirliga sahip polistirensülfonik asit (AkzoNobel AB sirketinden Versa TL 4 adi
altinda ticari olarak temin edilebilmektedir) ile maleik aside ait 1:1 oranindaki bir karisimin 45 mL'si
ve 15 mL Envision® HDl Katalizör 7350A (3,4-etilendi0ksitiyofen ve emülgatör içermektedir) ilave
edilmektedir. Karisim, 440 mL deiyonize suyla 1000 mL'lik bir hacme tamamlanmaktadir. Karisimin
pH degeri, 20.60C'de 9.11'dir. ilave edilmesi yoluyla, pH degeri
.7°C'de 2.07 olarak ayarlanmaktadir. Birkaç günlük hizmet ömrü sonrasinda UV-VIS
spektrumlarinda 870 nm'deki absorpsiyon degerleri Tablo 1'de Iistelenmektedir.
Tablo 1: Katalizör Çözeltilerinin 870 nm'deki Absorpsiyonu
0,571 0,314
2,888
> 3,000
> 3,000*
Mevcut bulusun elemanlari veya tercih edilen yapilanmasi (yapilanmalari) tanitilirken, ”bir" ve ”söz
konusu” gibi artikellerin bir veya daha fazla elemanin var oldugu anlamina gelmesi amaçlanmistir.
”Içeren", “yer veren” ve ”sahip olan” terimlerinin kapsayici olmasi ve listelenen elemanlar disinda ek
elemanlarin mevcut bulunabilecegi anlamina gelmesi amaçlanmistir.
Bulusun kapsami disina çikilmaksizin yukarida çesitli degisikliklerin yapilmasi mümkün oldugundan,
yukaridaki açiklamada yer alan ve ekli çizimlerde gösterilen bütün konular gösterim amaçli olarak
yorumlanmali ve sinirlayici bir anlamda yorumlanmamalidir. Bulusun kapsami ekli istemlerle
tanimlanmaktadir ve yukaridaki yapilanmalar üzerinde, bulusun kapsami disina çikmayan
degisikliklerin yapilmasi mümkündür.
LCGR (mm/dak)
870 nm“deki Absorpsiyon
Claims (6)
1. Bir dielektrik substratin yüzeyi üzerinde elektrigi ileten polimerlerin olusturulmasina yönelik olan X'in 0, S veya N oldugu ve R1 ve R2'den her birinin bagimsiz olarak hidrojen, bir halojen, 1 ila 8 karbon atomuna sahip degistirilmis veya degistirilmemis bir alkil grubu, 1 ila 8 karbon atomuna sahip degistirilmis veya degistirilmemis bir alkoksi grubu oldugu seklindeki yapiya sahip, elektrigi ileten bir polimeri olusturabilen en az bir polimerlesebilir heterosiklik aromatik monomeri, bir emülgatörü ve bir asidi içeren ve ayrica Iityum iyonlari, sodyum iyonlari, alüminyum iyonlari, berilyum iyonlari, bor iyonlari ve indiyum iyonlarindan olusan gruptan seçilen en az bir metal iyonuna yer veren bir bilesim olup özelligi, asidin bir polimerik sülfonik asit veya bir polimerik sülfonik asit tuzu olmasi ve metal iyonunun 0.002 mol/L ile 0.8 mol/L arasindaki bir konsantrasyonda mevcut bulunmasi ve emülgatörün bir sülfopropillenmis polialkoksillenmis ß-naftol veya bunun bir tuzu seklinde olmasidir.
2. Istem 1'e uygun bilesim olup ayrica su, metanol, etanol, n-propanol, izopropanol, yüksek alkoller, polialkoller, dimetil formamid, metiletilketon, kumen sülfonat, N-metil pirrolidon, Triglim, Diglim ve toluen sülfonatlarin alkali metal tuzlari veya etil esterlerinden olusan gruptan seçilen en az bir çözücüyü içermektedir.
3. Önceki istemlerden birine uygun bilesim olup ayrica, bir metalin elektrolitik olarak depo edilmesine yönelik metal iyonlarina ait bir kaynagi içermektedir.
4. Bir metalin elektrolitik olarak depo edilmesi yoluyla bir dielektrik substrata ait bir yüzeyin metallenmesine yönelik bir yöntem olup proses, substrat istem 1 ila 3'ten birine uygun bir bilesimin içine daldirilarak dielektrik substratin yüzeyi üzerinde elektrigi ileten bir polimerin olusturulmasini ve söz konusu elektrigi ileten polimerin üzerine bir metalin elektrolitik olarak depo edilmesini içermektedir.
5. istem 4'e uygun yöntem olup burada, substratin Istem 1 ila 3'ten birine uygun bir bilesimin içine daldirilmasi öncesinde, substrat bir oksidani içeren bir bilesime temas ettirilmektedir.
6. Istem 1 ila 3'ten birine uygun bir bilesimin bakir, kalay, gümüs, altin ve platinden olusan gruptan seçilen bir metalin elektrolîtik olarak depo edilmesine yönelik bir proseste kullanimidir.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP10189442.6A EP2447296B1 (en) | 2010-10-29 | 2010-10-29 | Compostion and method for the deposition of conductive polymers on dielectric substrates |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TR201802555T4 true TR201802555T4 (tr) | 2018-03-21 |
Family
ID=43828289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TR2018/02555T TR201802555T4 (tr) | 2010-10-29 | 2010-10-29 | Dielektrik substratlar üzerine iletken polimerlerin depo edilmesine yönelik bileşim ve yöntem. |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10021782B2 (tr) |
EP (3) | EP2447296B1 (tr) |
JP (1) | JP6126005B2 (tr) |
KR (1) | KR101828118B1 (tr) |
CN (1) | CN103354818B (tr) |
ES (3) | ES2662039T3 (tr) |
PL (1) | PL2447296T3 (tr) |
TR (1) | TR201802555T4 (tr) |
WO (1) | WO2012058681A2 (tr) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012023992A1 (en) | 2010-08-20 | 2012-02-23 | Rhodia Operations | Films containing electrically conductive polymers |
US10508207B2 (en) | 2011-10-31 | 2019-12-17 | Macdermid Enthone Inc. | Compositions including a high molecular weight acid suitable for conductive polymer formation on dielectric substrate |
DE102012022976A1 (de) * | 2012-11-26 | 2014-05-28 | Ewe-Forschungszentrum Für Energietechnologie E. V. | Einsatz leitfähiger Polymere in Batterie-Elektroden |
CN103338596A (zh) * | 2013-06-18 | 2013-10-02 | 华南理工大学 | 一种不用光刻胶的全加成线路板制作方法 |
CN103491710B (zh) * | 2013-09-09 | 2016-02-17 | 莆田市龙腾电子科技有限公司 | 一种双面及多层线路板加工工艺 |
CN104113980B (zh) * | 2014-06-13 | 2017-06-30 | 梅州鼎泰电路板有限公司 | 一种钻孔后可直接进行导电处理的pcb板 |
CN111171356B (zh) | 2018-10-24 | 2021-06-22 | 电子科技大学 | 一种制备复合型导电聚合物的方法 |
CN111935919A (zh) * | 2020-07-16 | 2020-11-13 | 江门市奔力达电路有限公司 | 一种新型的铝基板盲孔电镀工艺 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3603373A1 (de) * | 1986-02-05 | 1987-08-06 | Basf Ag | Verfahren zur elektrochemischen beschichtung von kohlenstoff-fasern |
US4803096A (en) * | 1987-08-03 | 1989-02-07 | Milliken Research Corporation | Electrically conductive textile materials and method for making same |
WO1989008375A1 (en) | 1988-03-03 | 1989-09-08 | Blasberg-Oberflächentechnik Gmbh | New through-hole plated printed circuit board and process for manufacturing same |
DE59010247D1 (de) * | 1990-02-08 | 1996-05-02 | Bayer Ag | Neue Polythiophen-Dispersionen, ihre Herstellung und ihre Verwendung |
GB2243838A (en) * | 1990-05-09 | 1991-11-13 | Learonal | Process for metallising a through-hole printed circuit board by electroplating |
DE4113654A1 (de) | 1991-04-26 | 1992-10-29 | Blasberg Oberflaechentech | Mittel zur selektiven ausbildung einer duennen oxidierenden schicht |
DE4202337A1 (de) * | 1992-01-29 | 1993-08-05 | Bayer Ag | Verfahren zur durchkontaktierung von zweilagigen leiterplatten und multilayern |
DE4205190C2 (de) | 1992-02-20 | 1994-07-14 | Blasberg Oberflaechentech | Verfahren und Mittel zur Konditionierung von Substraten oder Basismaterialien für die nachfolgende Metallisierung |
DE4436391A1 (de) * | 1994-10-12 | 1996-04-18 | Bayer Ag | Verfahren zur direkten galvanischen Durchkontaktierung von zweilagigen Leiterplatten und Multilayern |
DE19822075C2 (de) * | 1998-05-16 | 2002-03-21 | Enthone Gmbh | Verfahren zur metallischen Beschichtung von Substraten |
US7118690B2 (en) * | 2000-11-22 | 2006-10-10 | H. C. Starck Gmbh | Dispersible polymer powders |
DE10124631C1 (de) * | 2001-05-18 | 2002-11-21 | Atotech Deutschland Gmbh | Verfahren zum direkten elektrolytischen Metallisieren von elektrisch nichtleiteitenden Substratoberflächen |
JP2009507946A (ja) * | 2005-09-08 | 2009-02-26 | サイテック サーフェース スペシャリティーズ、エス.エイ. | ポリマー及び組成物 |
EP1870491B1 (de) * | 2006-06-22 | 2015-05-27 | Enthone, Inc. | Verbessertes Verfahren zur Direktmetallisierung von elektrisch nicht leitfähigen Substratoberflächen, insbesondere Polyimidoberflächen |
EP1897974B1 (en) | 2006-09-07 | 2012-08-01 | Enthone Inc. | Deposition of conductive polymer and metallization of non-conductive substrates |
US8366901B2 (en) | 2006-09-07 | 2013-02-05 | Enthone Inc. | Deposition of conductive polymer and metallization of non-conductive substrates |
JP5062738B2 (ja) * | 2007-06-20 | 2012-10-31 | テイカ株式会社 | 導電性組成物、その製造方法、上記導電性組成物の分散液および上記導電性組成物の応用物 |
JP5581078B2 (ja) | 2009-03-02 | 2014-08-27 | 富士フイルム株式会社 | 平版印刷版原版及び平版印刷版の作製方法 |
JP2010090397A (ja) * | 2010-01-29 | 2010-04-22 | Nagase Chemtex Corp | ポリ(3,4−ジアルコキシチオフェン)とポリ陰イオンとの複合体の水分散体の製造方法 |
-
2010
- 2010-10-29 ES ES10189442.6T patent/ES2662039T3/es active Active
- 2010-10-29 PL PL10189442T patent/PL2447296T3/pl unknown
- 2010-10-29 EP EP10189442.6A patent/EP2447296B1/en active Active
- 2010-10-29 TR TR2018/02555T patent/TR201802555T4/tr unknown
-
2011
- 2011-10-31 JP JP2013536911A patent/JP6126005B2/ja active Active
- 2011-10-31 EP EP11782715.4A patent/EP2632969B1/en active Active
- 2011-10-31 EP EP19150308.5A patent/EP3502159B1/en active Active
- 2011-10-31 WO PCT/US2011/058628 patent/WO2012058681A2/en active Application Filing
- 2011-10-31 CN CN201180063797.4A patent/CN103354818B/zh active Active
- 2011-10-31 KR KR1020137013836A patent/KR101828118B1/ko active IP Right Grant
- 2011-10-31 US US13/882,330 patent/US10021782B2/en active Active
- 2011-10-31 ES ES19150308T patent/ES2949516T3/es active Active
- 2011-10-31 ES ES11782715T patent/ES2718822T3/es active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2447296B1 (en) | 2018-01-10 |
CN103354818B (zh) | 2016-10-19 |
WO2012058681A2 (en) | 2012-05-03 |
EP2447296A1 (en) | 2012-05-02 |
EP2632969A2 (en) | 2013-09-04 |
US10021782B2 (en) | 2018-07-10 |
KR20140000258A (ko) | 2014-01-02 |
JP2013543908A (ja) | 2013-12-09 |
CN103354818A (zh) | 2013-10-16 |
JP6126005B2 (ja) | 2017-05-10 |
EP3502159A1 (en) | 2019-06-26 |
ES2662039T3 (es) | 2018-04-05 |
KR101828118B1 (ko) | 2018-02-13 |
EP2632969B1 (en) | 2019-02-27 |
EP3502159B1 (en) | 2023-05-31 |
PL2447296T3 (pl) | 2018-06-29 |
US20140138253A1 (en) | 2014-05-22 |
WO2012058681A3 (en) | 2012-08-02 |
ES2949516T3 (es) | 2023-09-29 |
ES2718822T3 (es) | 2019-07-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TR201802555T4 (tr) | Dielektrik substratlar üzerine iletken polimerlerin depo edilmesine yönelik bileşim ve yöntem. | |
US8366901B2 (en) | Deposition of conductive polymer and metallization of non-conductive substrates | |
CN101542021B (zh) | 传导聚合物的沉积和非传导基材的金属化 | |
JP4686113B2 (ja) | 非導電基板の直接電解金属被膜 | |
US9598787B2 (en) | Method of filling through-holes | |
US10508207B2 (en) | Compositions including a high molecular weight acid suitable for conductive polymer formation on dielectric substrate | |
EP1897974B1 (en) | Deposition of conductive polymer and metallization of non-conductive substrates | |
US6632344B1 (en) | Conductive oxide coating process | |
EP1897975B1 (en) | Deposition of conductive polymer and metallization of non-conductive substrates |