TH75582B - โครงสร้างและกระบวนการลดแรงเครียดที่ขอบและมุมของแม่พิมพ์ในชุดบรรจุไมโครอิเล็กทรอนิกส์ - Google Patents

โครงสร้างและกระบวนการลดแรงเครียดที่ขอบและมุมของแม่พิมพ์ในชุดบรรจุไมโครอิเล็กทรอนิกส์

Info

Publication number
TH75582B
TH75582B TH1301006927A TH1301006927A TH75582B TH 75582 B TH75582 B TH 75582B TH 1301006927 A TH1301006927 A TH 1301006927A TH 1301006927 A TH1301006927 A TH 1301006927A TH 75582 B TH75582 B TH 75582B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
mold
substrate
heat
heat spreader
corners
Prior art date
Application number
TH1301006927A
Other languages
English (en)
Other versions
TH1301006927B (th
TH145308A (th
Inventor
ทราน ควาน
มา ควิง
มาวีที้ จิม
Original Assignee
นางสาวจุฑาจิต ศรีประสาธน์
นางอนงค์ สีหพันธุ์
นายธนพัฒน์ ผู้พัฒน์
นายธนพัฒน์ ผู้พัฒน์ นายรัชพงษ์ ทองดีแท้ นางสาวจุฑาจิต ศรีประสาธน์ นางอนงค์ สีหพันธุ์
นายรัชพงษ์ ทองดีแท้
อินเทล คอร์ปอเรชั่น
Filing date
Publication date
Application filed by นางสาวจุฑาจิต ศรีประสาธน์, นางอนงค์ สีหพันธุ์, นายธนพัฒน์ ผู้พัฒน์, นายธนพัฒน์ ผู้พัฒน์ นายรัชพงษ์ ทองดีแท้ นางสาวจุฑาจิต ศรีประสาธน์ นางอนงค์ สีหพันธุ์, นายรัชพงษ์ ทองดีแท้, อินเทล คอร์ปอเรชั่น filed Critical นางสาวจุฑาจิต ศรีประสาธน์
Publication of TH1301006927B publication Critical patent/TH1301006927B/th
Publication of TH145308A publication Critical patent/TH145308A/th
Publication of TH75582B publication Critical patent/TH75582B/th

Links

Abstract

DC60 (27/09/44) แม่พิมพ์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ถูกจัดให้อยู่ในแนวเดียวกันกับซับสเตรทของชุดบรรจุ และ ประกบกับตัวมันโดยการใช้ตัวบัดกรีเม็ด ตัวกระจายความร้อนที่มีรูปทรงจำเพาะเจาะจง ซึ่งใน รูปแบบที่เหมาะสมแล้วมีค่าสัมประสิทธิ์ของการขยายตัวจากความร้อน (CTE) ในทำนองเดียวกัน กับของซิลิคอนจะถูกนำมาประกบที่ด้านหลังของแม่พิมพ์โดยใช้กาวยึดนำความร้อน วัสดุที่มีอีพอก ซีเป็นฐานจะถูกปล่อยเข้าไปในช่องว่างระหว่างแม่พิมพ์, ซับสเตรท และตัวกระจายความร้อนผ่านรู ทะลุที่อยู่ในซับสเตรทหรือตัวกระจายความร้อนส่วนใดส่วนหนึ่งโดยการใช้กระบวนการจ่ายหรือ กระบวนการขึ้นรูปในแม่พิมพ์โดยอาศัยวิธีการถ่ายโอน โดยการกำหนดตำแหน่งตัวกระจายความ ร้อนให้แนบชิดกับมุมและ/หรือขอบของแม่พิมพ์ จึงลดแรงเครียดบนแม่พิมพ์ลงหรือขจัดออกไป อย่างมีนัยสำคัญ แม่พิมพ์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ถูกจัดหใอยู่ในแนวเดียวกันกับซับสเตรทของชุดบรรจุ และ ประกบกับตัวมันโดยการใช้ตัวบัดกรีเม็ด ตัวกระจายความร้อนที่มีรูปทรงจำเพาะเจาะจง ซึ่งใน รูปแบบที่เหมาะสมแล้วมีค่าสัมประสิทธิ์ของการขยายตัวจากความร้อน (CTE) ในทำนองเดียวกัน กันของซิลิคอนจะถูกนำมาประกบที่ด้านหลังของแม่พิมพ์โดยใช้กาวยืดนำความร้อน วัสดุที่มีอีพอก ซีเป็นฐานจะถูกปล่อยเข้าไปในช่องระหว่างแม่พิมพ์ ซับสเตรท และตัวกระจายความร้อนผ่านรู ทะลุที่อยู่ในซับเสตรทหรือตัวกระจายความร้อนส่วนใดส่วนหนึ่ง โดยการใช้กระบวนการจ่ายหรือ กระบวนการขึ้นรูปในแม่พิมพ์โดยอาศัยวิธีการถ่ายโอน โดยการำหนดตำแหน่งตัวกระจายความ ร้อนให้แนบชิดกับมุมและ/หรือขอบของแม่พิมพ์ จึงลดแรงเครียดบนแม่พิมพ์ลงหรือขจัดออกไป อย่างมีนัยสำคัญ

Claims (1)

1. กระบวนการประกอบชุดบรรจุไมโครอิเล็กทรอนิกส์ที่ประกอบรวมด้วย การจัดให้มีแม่พิมพ์ที่ติดกับซับสเตรท ที่เป็นตัวนำ ซับสเตรท ที่สร้างรูทะลุที่จะทุจากผิวหน้า ด้านนอกที่หนึ่งไปยังผิวหน้าด้านนอกที่สองของซับสเตรท ขึ้นในนั้น รูทะลุที่ถูกสร้าง ขึ้นมาเพื่อปล่อยให้การไหลของวัสดุหุ้มปิดแบบอันเดอร์ฟิลเข้าไปในช่องว่างระหว่าง แม่พิมพ์ ซับสเตรท และตัวกระจายความร้อนซับสเสตรท และ ตัวกระจายความร้อน; การเชื่อมต่อตัวกระจายความร้อนเข้ากับด้านหลังของแม่พิมพ์โดยใช้กาวที่เป็นตัวนำความ ร้อน ตัวกระจายความร้อนที่รวมถึงก้านจำนวนหนึ่งที่ล้อมรอบแม่พิมพ์เพื่อย้ายแรง เครียดที่เกิดขึ้นด้วยความร้อนให้ออกจากมุมและขอบของแม่พิมพ์ไปยังก้านของตัว กระจายความร้อน และ การจ่ายวัสดุหุ้มปิดแบบอันเดอร์ฟิลผ่านทางรูทะลุในลักษณะที่ว่าวัสดุหุ้มปิดแบบอินเตอร์ ฟิลจะไหลเข้าไปในช่องว่างระหว่างแม่พิมพ์ ตัวกระจายความร้อน และซับสเตรท
TH1301006927A 2001-09-27 โครงสร้างและกระบวนการลดแรงเครียดที่ขอบและมุมของแม่พิมพ์ในชุดบรรจุไมโครอิเล็กทรอนิกส์ TH75582B (th)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH1301006927B TH1301006927B (th) 2016-02-26
TH145308A TH145308A (th) 2016-02-26
TH75582B true TH75582B (th) 2020-04-10

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3949724B2 (ja) サーマル・グリースを集積回路に塗布する方法
US6919630B2 (en) Semiconductor package with heat spreader
CN100595911C (zh) 一种集成电路器件封装体及其组装方法
MY138750A (en) device and method for package warp compensation in an integrated heat spreader
WO2002027788A3 (en) Structure and process for reducing die corner and edge stresses in microelectronic packages
TWI267962B (en) Semiconductor packages and methods of manufacturing thereof
CN109390295A (zh) 模制气腔封装和其产生方法
US20040095727A1 (en) Thermal heat spreaders designed for lower cost manufacturability, lower mass and increased thermal performance
CA2350747A1 (en) Improved transfer molding of integrated circuit packages
US6069027A (en) Fixture for lid-attachment for encapsulated packages
TW200534442A (en) Chip package and process thereof
ATE343851T1 (de) Verwendung diverser materialien bei der kapselung elektronischer bauelemente mit lufthohlräumen
JP2006269861A5 (th)
US4888634A (en) High thermal resistance bonding material and semiconductor structures using same
JP5073756B2 (ja) 回路ダイの熱的性能の高いパッケージング
US20060175710A1 (en) Consolidated flip chip BGA assembly process and apparatus
JP2007532002A (ja) 熱拡散器構造、集積回路、熱拡散器構造を形成する方法、および集積回路を形成する方法
JPH0697326A (ja) 半導体装置およびその放熱部材
TH75582B (th) โครงสร้างและกระบวนการลดแรงเครียดที่ขอบและมุมของแม่พิมพ์ในชุดบรรจุไมโครอิเล็กทรอนิกส์
WO2006132794A3 (en) A light-emitting device module with flip-chip configuration on a heat-dissipating substrate
US20110316144A1 (en) Flexible heat sink having ventilation ports and semiconductor package including the same
TWI761864B (zh) 散熱式晶片級封裝結構
JPH01201941A (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
JP2007067007A (ja) 放熱基材とそれを応用した放熱構造
TH145308A (th) โครงสร้างและกระบวนการลดแรงเครียดที่ขอบและมุมของแม่พิมพ์ในชุดบรรจุไมโครอิเล็กทรอนิกส์