TH75582B - Structure and process to reduce the stress on the edges and corners of the mold in the microelectronic package. - Google Patents
Structure and process to reduce the stress on the edges and corners of the mold in the microelectronic package.Info
- Publication number
- TH75582B TH75582B TH1301006927A TH1301006927A TH75582B TH 75582 B TH75582 B TH 75582B TH 1301006927 A TH1301006927 A TH 1301006927A TH 1301006927 A TH1301006927 A TH 1301006927A TH 75582 B TH75582 B TH 75582B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- mold
- substrate
- heat
- heat spreader
- corners
- Prior art date
Links
Abstract
DC60 (27/09/44) แม่พิมพ์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ถูกจัดให้อยู่ในแนวเดียวกันกับซับสเตรทของชุดบรรจุ และ ประกบกับตัวมันโดยการใช้ตัวบัดกรีเม็ด ตัวกระจายความร้อนที่มีรูปทรงจำเพาะเจาะจง ซึ่งใน รูปแบบที่เหมาะสมแล้วมีค่าสัมประสิทธิ์ของการขยายตัวจากความร้อน (CTE) ในทำนองเดียวกัน กับของซิลิคอนจะถูกนำมาประกบที่ด้านหลังของแม่พิมพ์โดยใช้กาวยึดนำความร้อน วัสดุที่มีอีพอก ซีเป็นฐานจะถูกปล่อยเข้าไปในช่องว่างระหว่างแม่พิมพ์, ซับสเตรท และตัวกระจายความร้อนผ่านรู ทะลุที่อยู่ในซับสเตรทหรือตัวกระจายความร้อนส่วนใดส่วนหนึ่งโดยการใช้กระบวนการจ่ายหรือ กระบวนการขึ้นรูปในแม่พิมพ์โดยอาศัยวิธีการถ่ายโอน โดยการกำหนดตำแหน่งตัวกระจายความ ร้อนให้แนบชิดกับมุมและ/หรือขอบของแม่พิมพ์ จึงลดแรงเครียดบนแม่พิมพ์ลงหรือขจัดออกไป อย่างมีนัยสำคัญ แม่พิมพ์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ถูกจัดหใอยู่ในแนวเดียวกันกับซับสเตรทของชุดบรรจุ และ ประกบกับตัวมันโดยการใช้ตัวบัดกรีเม็ด ตัวกระจายความร้อนที่มีรูปทรงจำเพาะเจาะจง ซึ่งใน รูปแบบที่เหมาะสมแล้วมีค่าสัมประสิทธิ์ของการขยายตัวจากความร้อน (CTE) ในทำนองเดียวกัน กันของซิลิคอนจะถูกนำมาประกบที่ด้านหลังของแม่พิมพ์โดยใช้กาวยืดนำความร้อน วัสดุที่มีอีพอก ซีเป็นฐานจะถูกปล่อยเข้าไปในช่องระหว่างแม่พิมพ์ ซับสเตรท และตัวกระจายความร้อนผ่านรู ทะลุที่อยู่ในซับเสตรทหรือตัวกระจายความร้อนส่วนใดส่วนหนึ่ง โดยการใช้กระบวนการจ่ายหรือ กระบวนการขึ้นรูปในแม่พิมพ์โดยอาศัยวิธีการถ่ายโอน โดยการำหนดตำแหน่งตัวกระจายความ ร้อนให้แนบชิดกับมุมและ/หรือขอบของแม่พิมพ์ จึงลดแรงเครียดบนแม่พิมพ์ลงหรือขจัดออกไป อย่างมีนัยสำคัญ DC60 (27/09/44) The microelectronic mold is aligned with the packaging substrate and is attached to it by means of a pellet solder. Specifically shaped heat spreaders which, in their proper form, have a similar coefficient of thermal expansion (CTE). The silicon parts are attached to the back of the mold using a thermally conductive adhesive. Epoxy-containing material C as the base is released into the gap between the mold, substrate and through-hole heat spreader. penetrate into the substrate or any part of the heat spreader by using a process of supplying or In-mold forming process by transfer method by determining the position of the diffuser Heat it close to the corners and/or edges of the mold. thereby reducing or removing stress on the mold significantly The microelectronic mold is aligned with the packaging substrate and is attached to it by means of a pellet solder. Specifically shaped heat spreaders which, in their proper form, have a similar coefficient of thermal expansion (CTE). The silicon seals are sandwiched on the back of the mold using a heat-conducting adhesive. Epoxy-containing material C as the base is released into the cavity between the mold, substrate and through-hole heat spreader. Through the substratum or any part of the heat spreader. by using the payment process or In-mold forming process by transfer method by determining the position of the diffuser Heat it close to the corners and/or edges of the mold. thereby reducing or removing stress on the mold significantly
Claims (1)
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH1301006927B TH1301006927B (en) | 2016-02-26 |
| TH145308A TH145308A (en) | 2016-02-26 |
| TH75582B true TH75582B (en) | 2020-04-10 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3949724B2 (en) | How to apply thermal grease to integrated circuits | |
| US6919630B2 (en) | Semiconductor package with heat spreader | |
| CN100595911C (en) | Integrated circuit device package and assembly method thereof | |
| MY138750A (en) | device and method for package warp compensation in an integrated heat spreader | |
| WO2002027788A3 (en) | Structure and process for reducing die corner and edge stresses in microelectronic packages | |
| TWI267962B (en) | Semiconductor packages and methods of manufacturing thereof | |
| CN109390295A (en) | Mould air cavity package and its production method | |
| US20040095727A1 (en) | Thermal heat spreaders designed for lower cost manufacturability, lower mass and increased thermal performance | |
| JPH11505962A (en) | Method of transfer molding electronic package and package by the same method | |
| CA2350747A1 (en) | Improved transfer molding of integrated circuit packages | |
| US6069027A (en) | Fixture for lid-attachment for encapsulated packages | |
| TW200534442A (en) | Chip package and process thereof | |
| US4888634A (en) | High thermal resistance bonding material and semiconductor structures using same | |
| JP5073756B2 (en) | Packaging for high thermal performance of circuit dies | |
| US20060175710A1 (en) | Consolidated flip chip BGA assembly process and apparatus | |
| JP2007532002A (en) | Thermal diffuser structure, integrated circuit, method of forming thermal diffuser structure, and method of forming integrated circuit | |
| JPH0697326A (en) | Semiconductor device and heat radiating member thereof | |
| TW200807651A (en) | Semiconductor package with heat-dissipating structure | |
| TH75582B (en) | Structure and process to reduce the stress on the edges and corners of the mold in the microelectronic package. | |
| WO2006132794A3 (en) | A light-emitting device module with flip-chip configuration on a heat-dissipating substrate | |
| US20110316144A1 (en) | Flexible heat sink having ventilation ports and semiconductor package including the same | |
| TWI761864B (en) | Chip scale package structure with heat-dissipating type | |
| JPH01201941A (en) | Resin sealing pin grid array and manufacture thereof | |
| JP2007067007A (en) | Heat dissipation base member and heat dissipation structure applying it | |
| TH145308A (en) | Structure and process to reduce the stress on the edges and corners of the mold in the microelectronic package. |