TH70515B - อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาสัมผัส - Google Patents
อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาสัมผัสInfo
- Publication number
- TH70515B TH70515B TH601005633A TH0601005633A TH70515B TH 70515 B TH70515 B TH 70515B TH 601005633 A TH601005633 A TH 601005633A TH 0601005633 A TH0601005633 A TH 0601005633A TH 70515 B TH70515 B TH 70515B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- pin
- electrode
- contact
- insulating coating
- guide hole
- Prior art date
Links
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract 47
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract 47
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract 38
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract 24
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 claims 12
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims 6
- 239000000789 fastener Substances 0.000 claims 4
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 2
- 230000003562 morphometric Effects 0.000 claims 1
Abstract
------01/12/2560------(OCR) หน้า 1 ของจำนวน 1 หน้า บทสรุปการประดิษฐ์ อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาสัมผัสสำหรับการตรวจพินิจลักษณะเฉพาะทางไฟฟ้าของ แผงวงจรที่จะถูกตรวจพินิจ อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจร 1 ซึ่งประกอบรวมด้วยขาสัมผัส 2 ปลาย ที่หนึ่ง 23 ซึ่งทำให้สัมผัสทางไฟฟ้ากับแผงวงจร 100 ที่จะถูกตรวจพินิจที่ตำแหน่งตรวจพินิจที่กำหนด ไว้ล่วงหน้า 101 แผ่นอิเล็กโทรดเชื่อมต่อ 4 ที่มีอิเล็กโทรด 41 ซึ่งทำให้สัมผัสทางไฟฟ้ากับปลายที่สอง 24 ของขาสัมผัส และตัวยึด 3 สำหรับการยึดขาสัมผัส 2 ตัวยึด 3 มีส่วนนำที่หนึ่ง 31 ที่มีรูนำที่หนึ่ง 311 ขึ้นรูปอยู่ในนี้ รูนำที่หนึ่ง311 ซึ่งนำปลายที่หนึ่ง23ไปยังตำแหน่งตรวจพินิจ 101 และส่วนนำ ที่สอง 32 ที่มีรูนำที่สอง 321 ขึ้นรูปอยู่ในนี้ รูนำที่สอง 321 ซึ่งนำปลายที่สอง 24 ไปยังอิเล็กโทรด 41 ขาสัมผัส 2 ประกอบรวมด้วยตัวนำเชิงเส้นอ่อนตัว 21 ที่มีปลายที่หนึ่ง 23 และปลายที่สอง 24 และ ผิวเคลือบฉนวน 22 ที่ถูกเคลือบอยู่บนพื้นผิวตามแนวเส้นรอบวงนอกของตัวนำ 21 ยกเว้นปลายที่หนึ่ง 23 และปลายที่สอง 24 และปลายที่สอง 24 มีความยาวที่สั้นกว่าความลึกของรูนำที่สอง 321 ------------
Claims (1)
1. ขาหลอดสัมผัสสำหรับการเชื่อมต่อทางไฟฟ้าแผงวงจรหลักและอิเล็กโทรดของอุปกรณ์ ตรวจพินิจแผงวงจร ที่ถูกยึดโดยตัวยึดของอุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรซึ่งเชื่อมต่อทางไฟฟ้าแผงวงจร หลักที่จะถูกตรวจพินิจและอุปกรณ์ตรวจพินิจสำหรับการตรวจพินิจลักษณะเฉพาะทางไฟฟ้าของแผง วงจรหลักดังกล่าว และถูกสอดเข้าไปในรูนำที่หนึ่งซึ่งนำไปยังจุดตรวจพินิจบนแผงวงจรหลักดังกล่าว ที่ถูกยึดโดยตัวยึดและรูนำที่สองซึ่งนำไปยังอิเล็กโทรดของอุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรดังกล่าว ที่มี ลักษณะเฉพาะอยู่ที่ : ขาหลอดสัมผัสดังกล่าวประกอบด้วย ตัวนำเชิงเส้นอ่อนตัวซึ่งรวมทั้งปลายที่หนึ่งซึ่งถูกสอดเข้าไปในรูนำที่หนึ่งดังกล่าวเพื่อสัมผัส ทางไฟฟ้ากับแผงวงจรหลักดังกล่าวที่ตำแหน่งตรวจพินิจและปลายที่สองซึ่งถูกสอดเข้าไปในรูนำที่ สองดังกล่าวเพื่อสัมผัสทางไฟฟ้ากับอิเล็กโทรดของอุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรดังกล่าวเมื่อขาหลอด สัมผัสดังกล่าวถูกยึดโดยตัวยึด และ ผิวเคลือบฉนวนที่ถูกเคลือบอยู่บนพื้นผิวรอบนอกของตัวนำดังกล่าวยกเว้นปลายที่หนึ่งและที่ สองดังกล่าว เมื่อปลายที่หนึ่งดังกล่าวค้ำยันกับแผงวงจรหลักและขาหลอดสัมผัสดังกล่าวถูกงอ เพื่อที่จะให้ ปลายที่สองดังกล่าวค้ำยันกับอิเล็กโทรดดังกล่าวโดยไม่มีการเลื่อนทางด้านข้าง ปลายที่สองดังกล่าว และส่วนของผิวเคลือบฉนวนดังกล่าวประชิดกับปลายที่สองดังกล่าวจะถูกจัดวางอยู่ในรูนำที่สอง ส่วนของผิวเคลือบฉนวนดังกล่าวจะถูกสอดเข้าไปในรูนำที่สองดังกล่าวที่มีระยะห่างเล็กน้อยอยู่ ระหว่างนั้น และผิวเคลือบฉนวนดังกล่าวจะถูกขึ้นรูปให้มีความยาวสอดที่ยาวกว่าความยาวของปลาย ที่สองดังกล่าว และ ส่วนผิวเคลือบฉนวนของขาหลอดสัมผัสดังกล่าวจะถูกขึ้นรูปให้มีเส้นรอบวงนอกเล็กกว่า เส้นผ่านศูนย์กลางต่ำสุดของรูนำที่สองดังกล่าว
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TH85694A TH85694A (th) | 2007-07-19 |
TH85694B TH85694B (th) | 2007-07-19 |
TH70515B true TH70515B (th) | 2019-06-27 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4884842B2 (ja) | 差動測定プローブ | |
CN106199090B (zh) | 使用同轴针的探针卡 | |
WO2007058037A1 (ja) | 基板検査用治具及び検査用プローブ | |
US9535093B2 (en) | High frequency probe card for probing photoelectric device | |
KR100975808B1 (ko) | 기판검사용 치구 | |
KR20070084175A (ko) | 가요성 접촉부를 갖는 케이블 단자 | |
ATE549770T1 (de) | Untersuchungsgeräte für eine schaltungseinrichtung mit anisotropem leitfähigen verbinder | |
US9234915B2 (en) | Signal sensing device and circuit boards | |
CN106468726A (zh) | 具有可调节测试点接触的测试和测量探针 | |
KR20080112365A (ko) | 기판검사용 지그 및 이 지그에 있어서의 접속전극부의 전극구조 | |
TW201738570A (zh) | 探針及具有探針測試插槽 | |
CN101509937B (zh) | 探针单元及检查装置 | |
TW200409568A (en) | Air interface apparatus for use in high-frequency probe device | |
CN101308163A (zh) | 具电性遮蔽结构的探针卡 | |
US7091731B1 (en) | Flexible ribbon probe for peripheral leads of an electronic part's package | |
JP6454467B2 (ja) | 高帯域幅の半田なしリード及び測定システム | |
TH70515B (th) | อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาสัมผัส | |
TH85694A (th) | อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาสัมผัส | |
CN109587933B (zh) | 一种电路转接板以及测试装置 | |
TW201623972A (zh) | 探針卡及其探針模組與訊號探針 | |
US6798229B2 (en) | Wide-bandwidth coaxial probe | |
US20150034627A1 (en) | Circuit board test apparatus with electric heating member | |
JP2008267833A (ja) | 基板検査用治具及びこの治具における接続電極部の電極構造 | |
TWI569017B (zh) | Coaxial probe holding mechanism and electrical characteristics check device | |
KR101531767B1 (ko) | 프로브 카드 |