TH85694B - อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาหลอดสัมผัส - Google Patents
อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาหลอดสัมผัสInfo
- Publication number
- TH85694B TH85694B TH601005633A TH0601005633A TH85694B TH 85694 B TH85694 B TH 85694B TH 601005633 A TH601005633 A TH 601005633A TH 0601005633 A TH0601005633 A TH 0601005633A TH 85694 B TH85694 B TH 85694B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- circuit board
- contact
- hole
- pin
- lamp pin
- Prior art date
Links
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 title 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract 2
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 abstract 1
Abstract
อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาหลอดสัมผัสสำหรับการตรวจพินิจลักษณะเฉพาะทาง ไฟฟ้าของแผงวงจรที่จะถูกตรวจพินิจ อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจร 1 ซึ่งประกอบด้วยขาหลอดสัมผัส 2 ปลายที่หนึ่ง 23 ซึ่งสัมผัสทางไฟฟ้ากับแผงวงจร 100 ที่จะถูกตรวจพินิจที่ตำแหน่งตรวจพินิจที่ กำหนดไว้ล่วงหน้า 101 แผ่นอิเล็กโทรดเชื่อมต่อ 4 ที่มีอิเล็กโทรด 41 ซึ่งสัมผัสทางไฟฟ้ากับปลายที่ สอง 24 ของขาหลอดสัมผัส และตัวยึด 3 สำหรับการยึดขาหลอกสัมผัส 2 ตัวยึด 3 มีส่วนนำที่หนึ่ง 31 ที่มีรูนำที่หนึ่ง 311 ขึ้นรูปอยู่ในนี้ รูนำที่หนึ่ง 311 ซึ่งนำปลายที่หนึ่ง 23 ไปยังตำแหน่งตรวจพินิจ 101 และส่วนนำที่สอง 32 ที่มีรูนำที่สอง 321 ขึ้นรูปอยู่ในนี้ รูนำที่สอง 321 ซึ่งนำปลายที่สอง 24 ไป ยังอิเล็กโทรด 41 ขาหลอดสัมผัส 2 ประกอบด้วยตัวนำเชิงเส้นอ่อนตัว 21 ที่มีปลายที่หนึ่ง 23 และ ปลายที่สอง 24 และผิวเคลือบฉนวน 22 ที่ถูกเคลือบอยู่บนพื้นผิวตามแนวเส้นรอบวงนอกของตัวนำ 21 ยกเว้นปลายที่หนึ่ง 23 และปลายที่สอง 24 และปลายที่สอง 24 มีความยาวที่สั้นกว่าความลึกของรู นำที่สอง 321
Claims (2)
1. อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรซึ่งประกอบด้วยขาสัมผัสที่มีส่วนปลายที่หนึ่งซึ่งถูก จัดสัณฐานให้สัมผัสทางไฟฟ้ากับแผงวงจรหลักที่ถูกตรวจพินิจที่ทำหน้าที่เป็นเป้าหมายสำหรับ ทดสอบที่ตำแหน่งตรวจพินิจที่กำหนดไว้ล่วงหน้า, แผ่นอิเล็กโทรดเชื่อมต่อที่มีส่วนอิเล็กโทรด ซึงถูกจัดสัณฐานให้สัมผัสทางไฟฟ้ากับส่วนปลายที่สอง
2. อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรดังขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิ 1
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH85694A TH85694A (th) | 2007-07-19 |
| TH85694B true TH85694B (th) | 2007-07-19 |
| TH70515B TH70515B (th) | 2019-06-27 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW200801527A (en) | Probe, testing head having a plurality of probes, and circuit board tester having the testing head | |
| JP2010511873A5 (th) | ||
| ATE549770T1 (de) | Untersuchungsgeräte für eine schaltungseinrichtung mit anisotropem leitfähigen verbinder | |
| TW200801530A (en) | Air bridge structures and method of making and using air bridge structures | |
| JP3878578B2 (ja) | コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置 | |
| TWI506280B (zh) | Probe module (2) | |
| TW200708745A (en) | Connector for measuring electrical resistance, and apparatus and method for measuring electrical resistance of circuit board | |
| TH85694B (th) | อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาหลอดสัมผัส | |
| US10243280B2 (en) | Electrical connector for unterminated cables | |
| CN106546781B (zh) | 具有旁道线路的探针卡 | |
| CN204560009U (zh) | 印制电路板测点引出转接板 | |
| CN203811771U (zh) | 芯片测试装置 | |
| US9880198B2 (en) | High bandwidth signal probe tip | |
| CN203630267U (zh) | Fpc排线导通测试装置 | |
| CN105652088A (zh) | 外置接口接触阻抗的测试装置 | |
| CN105067982B (zh) | 引线与器件间焊点的检验装置 | |
| CN104569512A (zh) | 可释放的探针连接 | |
| CN204302384U (zh) | 外置接口接触阻抗的测试装置 | |
| JP6046200B2 (ja) | 伝送線路及び検査治具 | |
| CN102183681A (zh) | 手持式电路板测试夹具 | |
| CN103069280A (zh) | 电探头和相关方法 | |
| TW201144814A (en) | Probing apparatus for integrated circuit testing | |
| CN207424157U (zh) | 随钻测斜仪的扶正器内部线路测试盒 | |
| US7358752B1 (en) | Signal launch for high speed differential signals | |
| CN206832861U (zh) | 测试探针及印刷电路板测试装置 |