TH53207B - ชุดอุปกรณ์ออสซิลเลเตอร์ที่สามารถควบคุมและทดสอบได้สำหรับวงจรรวม - Google Patents
ชุดอุปกรณ์ออสซิลเลเตอร์ที่สามารถควบคุมและทดสอบได้สำหรับวงจรรวมInfo
- Publication number
- TH53207B TH53207B TH101001104A TH0101001104A TH53207B TH 53207 B TH53207 B TH 53207B TH 101001104 A TH101001104 A TH 101001104A TH 0101001104 A TH0101001104 A TH 0101001104A TH 53207 B TH53207 B TH 53207B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- clock
- signal
- integrated circuits
- generator
- integrated
- Prior art date
Links
Abstract
วงจรรวม (IC) จะรวมเข้าไว้ด้วยชุดอุปกรณ์เครื่องกำเนิดสัญญาณนาฬิกาภายในที่จะทำให้มี โมดต่างๆ ที่หลากหลายของการ ปฏิบัติงานของวงจรรวม. ชุดอุปกรณ์เครื่องกำเนิดสัญญาณ นาฬิกาภายในดังกล่าวจะรวมเข้าไว้ด้วยส่วนที่เป็นเครื่อง กำเนิดสัญญาณนาฬิกาที่มีการปฏิบัติงาน เพื่อให้สัญญาณนาฬิกา สำหรับชุดวงจร/ลอจิกที่หลากหลายของวงจรรวมและส่วนควบคุม ที่มีการ ปฏิบัติงานเพื่อรับสัญญาณควบคุมเข้ามาเพื่อทำให้วง จรรวมมีการปฏิบัติงานใน โมดใดโมดหนึ่ง จากที่มีอยู่หลายโมด. หากกล่าวอย่างจำเพาะเจาะ จงแล้ว ชุดอุปกรณ์เครื่องกำเนิดสัญญาณ นาฬิกาจะตอบสนองต่อ สัญญาณควบคุมซึ่งในลักษณะที่พังประสงค์นั้น จะเข้ามาจาก แหล่ง ภายนอกเพื่อบายพาสสัญญาณนาฬิกา, นำสัญญาณนาฬิกาสำหรับ ทดสอบเข้ามาใช้ในการ ทดสอบทางดิจิตอลและแยกและ/หรือวัดค่า การประวิงเวลาโดยอาศัยส่วนที่เป็นเครื่องกำเนิด สัญญาณ นาฬิกาของชุดอุปกรณ์เครื่องกำเนิดสัญญาณนาฬิกา.
Claims (1)
1. วงจรรวมที่ประกอบด้วย ออสซิลเลเตอร์ที่มีการปฏิบัติงานได้เพื่อสร้างสัญญาณนาฬิกา ที่หนึ่งที่ประกอบด้วย ลอจิกของการประวิงจัดให้มีสัญญาณเอาต์พุตของการประวิงการผกผันสุทธิ และตัวแบ่งที่มีการ ติดต่อกับลอจิกของการประวิงและปฏิบัติงานได้เพื่อรับสัญญาณเอาต์พุตของการประวิงการผกผัน สุทธิและสร้างสัญญาณนาฬิกาที่หนึ่ง ; และ วิถีทางในการควบคุมที่ตอบสนองต่อสัญญาณควบคุมจากแหล่งที่อยู่ภาย นอกไปยัง วงจรรวมและปฏิบัติงานได้เพื่อทำให้วงจรรวมมีการ ปฏิบัติงานในโมดใดโ
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH53207A TH53207A (th) | 2002-09-23 |
| TH53207B true TH53207B (th) | 2002-09-23 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE60224727D1 (de) | Multimodus-synchronspeichervorrichtung und verfahren zum betrieb und testen derselben | |
| US7380185B2 (en) | Reduced pin count scan chain implementation | |
| US5596584A (en) | Single clock scan latch | |
| WO2001073457A3 (en) | Controllable and testable oscillator apparatus for an integrated circuit | |
| DE60325860D1 (de) | Schaltung mit asynchron arbeitenden komponenten | |
| KR860006837A (ko) | 내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로 | |
| DE60313860D1 (de) | Integrierte Schaltung mit verbesserter BIST-Schaltung zur Ausführung einer strukturierten Prüfung | |
| KR870009387A (ko) | 반도체 대규모 집적회로 | |
| US5719877A (en) | Scan test | |
| WO2004042786A3 (en) | High-frequency scan testability with low-speed testers | |
| KR940006230A (ko) | 반도체 집적회로장치 및 그 기능시험방법 | |
| ATE420373T1 (de) | Schaltungsanordnung und verfahren zum prüfen einer in der schaltungsanordnung bereitgestellten anwendungsschaltung | |
| TH53207B (th) | ชุดอุปกรณ์ออสซิลเลเตอร์ที่สามารถควบคุมและทดสอบได้สำหรับวงจรรวม | |
| TH53207A (th) | ชุดอุปกรณ์ออสซิลเลเตอร์ที่สามารถควบคุมและทดสอบได้สำหรับวงจรรวม | |
| KR890016442A (ko) | 전자시계용 집적회로 및 전자시계 | |
| JP2002196046A (ja) | 半導体集積回路およびそのテスト方法 | |
| ATE384957T1 (de) | Integerierte schaltung mit prüfschaltung | |
| JPS60140834A (ja) | テスト回路内蔵型半導体集積回路 | |
| DE60105168D1 (de) | Automatische Abtastprüfung von komplexen integrierten Schaltungen | |
| JPS5629177A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
| ATE376189T1 (de) | Elektronischer schaltkreis und testverfahren | |
| DE19981507D2 (de) | Integrierte Schaltung mit eingebautem Baugruppentest | |
| DE60136131D1 (de) | Logische Schaltungsvorrichtung zum Erzeugen eines Zufallssignals | |
| JP3493132B2 (ja) | モード設定回路 | |
| JP2665054B2 (ja) | 半導体集積回路 |