TH18255A3 - วิธีการและตัวจับใช้ทดสอบแผงวงจรพิมพ์ - Google Patents

Abstract

ส่วนที่เปิดเผยในการประดิษฐ์นี้ ได้แก่ ระบบทดสอบแบบวงจรพิมพ์และเมื่อกล่าว โดยเฉพาะแล้ว ได้แก่ ระบบทดสอบที่มีเครื่องตรวจที่กำหนดตำแหน่งแผงวงจรพิมพ์ ไว้เหนือตัว ทดสอบและหมุดของหัวตรวจทดสอบแบบหมุนได้รอบตัว ยื่นทะลุตัวนำทางแบบหมุดของหัวตรวจทด สอบหลายชั้น และที่มีเปิดเผยเช่นกัน ได้แก่ วิธีการของการทดสอบแผงวงจรพิมพ์ที่ใช้ระบบ ทดสอบนี้

Claims (2)

1. ตัวทดสอบใช้ทำการทดสอบจุดเชื่อมต่อของแผงวงจรพิมพ์ โดยแผงวงจร พิมพ์ดังกล่าว มีจุดเทียบตำแหน่งจำนวนมาก ตัวทดสอบดังกล่าวประกอบด้วย a) ตัวจับ b) แผ่นหัวตรวจแบบหมุดที่มีหัวตรวจแบบหมุนหนึ่ง เพื่อการสัมผัสทาง ไฟฟ้าบนแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ c) ที่ยึดแผงวงจรพิมพ์ เพื่อทำการยึดแผ่นตัวแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ d) วิถีทางของเครื่องตรวจด้วยเส้นใยนำแสง เพื่อกำหนดตำแหน่งการคงอยู่ หรือจุดเทียบยึดของแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ และ e) วิถีทางของการเคลื่อนในแนวขวางเพื่อเลื่อนตัวยึดแผงวงจรพิมพ์ดังกล่าว ให้ตอบสนองต่อวิถีทางของเครื่องตรวจด้วยเส้นใยนำแสง เพื่อกำหนดตำแหน่งจุดเทียบยึด การปรับปรุงที่ซึ่งตัวทดสอบดังกล่าวยังประกอบด้วย f) หัวทดสอบแบบหมุนดังกล่าวแต่ละหัว ประกอบด้วย i. ส่วนลำตัวที่ยึดกับที่รูปวงแหวนยื่นออกไปจากแผ่นหัวตรวจแบบหมุดหัน หน้าและมุ่งไปทางแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ และ ii ส่วนลำตัวด้านบนที่เคลื่อนตัวได้ยื่นออกไปจากส่วนลำตัวที่ยึดอยู่กับที่ ในแนวยาวไปยังแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ และ g) ตัวนำทางหัวตรวจแบบหมุดหลายชั้นที่สอดคั่นระหว่างและแผ่นหัวตรวจแบบหมุด และตัวยึดแผงวงจรพิมพ์ โดยแต่ละชั้นของตัวนำทางของหัวตรวจแบบหมุดดังกล่าวมีช่อง ปิด เปิดจำนวนหนึ่งทะลุผ่านตรงกับหัวตรวจแบบหมุดแต่ละหัว โดยหัวตรวจแบบหมุดแต่ละหัว ดังกล่าวจะยื่นทะลุช่องเปิดปิดแต่ละช่องที่ตรงกัน

2. วิธีการของการทดสอบแผงวงจรพิมพ์ที่มีจุดเชื่อมต่อที่จะทดสอบหาการรวม ตัวกับของจุดเชื่อมต่อต่าง ๆ และจุดยึดเทียบตำแหน่งจำนวนหนึ่ง โดยวิธีการดังกล่าว ประกอบด้วย a) การวางแผงวงจรพิมพ์ในวิถีของตัวยึดแผงวงจรพิมพ์ของตัวจับเพื่อทดสอบ แผงวงจรพิมพ์ b) การกำหนดตำแหน่งจุดยึดเทียบตำแหน่งด้วยวิถีทางของเครื่องตรวจด้วย เส้นใยนำแสง เพื่อกำหนดจุดยึดเทียบของแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ c) การสัมผัสจุดเชื่อมต่อที่จะทำการทดสอบ ด้วยหัวตรวจแบบหมุดยื่นออกไป จากแผ่นหัวตรวจไปยังแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบการปรับปรุงที่ซึ่งหัวตรวจแบบหมุด ดังกล่าว แต่ละหัวประกอบด้วย i ส่วนลำตัวที่ยึดกับที่รูปวงแหวนยื่นออกไปจากแผ่นหัวตรวจแบบหมุดหัน หน้าและมุ่งไปทางแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ และ ii ส่วนลำตัวด้านบนที่เคลื่อนตัวได้ยื่นออกไปจากส่วนลำตัวที่ยึดอยู่กับที่ ในแนวยาวไปยังแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ และ e) หัวตรวจแบบหมุดดังกล่าว จะยื่นทะลุตัวนำทางของหัวตรวจแบบหมุดหลาย ชั้นที่สอดคั่นระหว่างแผ่นหัวตรวจแบบหมุด และตัวยึดแผงวงจรพิมพ์ โดยแต่ละชั้นของตัว นำทางหัวตรวจแบบหมุดดังกล่าว มีช่องปิดเปิดจำนวนหนึ่งทะลุตรงกับหัวตรวจแบบหมุดแต่ละ หัวโดยหัวตรวจแบบหมุดแต่ละหัวดังกล่าวจะยื่นทะลุช่องเปิดแต่ละช่องที่อยู่ตรงกัน