SU890180A1 - Способ рентгенодифрактометрического определени ориентировки монокристалла - Google Patents
Способ рентгенодифрактометрического определени ориентировки монокристалла Download PDFInfo
- Publication number
- SU890180A1 SU890180A1 SU802916631A SU2916631A SU890180A1 SU 890180 A1 SU890180 A1 SU 890180A1 SU 802916631 A SU802916631 A SU 802916631A SU 2916631 A SU2916631 A SU 2916631A SU 890180 A1 SU890180 A1 SU 890180A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- plane
- angle
- single crystal
- axis
- detector
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
I
Изобретение относитс к исследованик} материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей и может быть использовано дл контрол монокристаллов.
Известен способ определени ориен- тировки монокристаллов фогометоаом, в котором произвольную плоскость шлифа монокристалла располагают перпендикул рно полихроматическому рентгеновскому пучку, облучают эту плоскость пучком рентгеновских лучей, регистрируют дифракционную картину на плосжую фотопленку , установленную параллельно шлифу , провод т анализ полученной дифракционной картины, позвол ют установить пространственное положение искомой кристаллографической плоскости относительно плоскости шлифа 1}
Недостатком этого способа вл етс длительность измерений, св занна с боль шими экспозици ми и фотопрсщ ссом, а также- невысока точность вследствие не- обходимости выполнени линейных измерений дл определени утловьсх соотношений .
Известны также дифрактометрические способы определени ориентировки, заключающиес в том, что на плоский срез, исследуемого монокристалла, подвергнутого предварительной юстировке, направл ют монохроматический пучок рентгеново ких лучей и, поворачива кристаллы вокруг оси гониометра, вывод т в отражаю10 щее положение заданную кристаллографи- ческую плоскость, фиксиру при этом значение угла fb , отвечающего этому положению . Затем объект поворачивают на 180° всжруг оси, перпендикул рной плос15 кости среза и гониометрической оси, и, повтор ранее совершенные операции, вновь вывод т монокристаллы в отражение и фиксируют угловое положение кристалла (in . Ориентацию заданной врио20 таллографической плоскости относительно плоскости щлифа (т. е. утла отклонени от всфмалй к плоскости среза) наход т как полуразность зафвзссированньк углов 1 . Преик ущество указанного спосо ба состоит в устранении ошибки, св занной с неточностью юстировки нулевого от счета намер емого угла 2. Недостатки этого способа состо т в том, что он не устран ет ошибки, обусловленные неточностью юстировки нармали плоскости среза и оси 180 -ного поворота, а также неперпендикуп рностью сил вращени образца к оси гонийметра. Наиболее близким к предлагаемому авл е1Чл1 дифрактометрическнй спсэсоб опре делени ориентировки монокристалла, вклю чающий установку монокрксталпа в держателе на оси гониометра, установку нормали плоскости шлифа (или ) монокристалла и нормали отражающей плоскос ти перпендикул рно гониометрической оси облучение шлифа пучком монохроматических рентгеновских пучей, коллимированны с 1стемой щелей, поворот кристалла до выход отражающей плоскости в брэггов- ское папожепие, регистрацию дифрагированного луча детектором, установленным под двойным брэггоБским углом 20 и змерение угла поворота монокристалла i , Гз. Недостаток известного способа состоит в невозможности, устранени ошибки нулевого отсчета при изменении угла поворота f,, а следовательно, в невозможности (гущественного повышени точности этого способа. Целью изобретени вл етс повышение точности определени ориентировки,. Указанна цель достигаетс согласно дифрактометрическому способу определени ориентировки монокристалла, включаю щему установку его в держателе на оси гониом;етра установку нормали плоскости шлифа монокристалла и нормали отражаю щей плоскости перпендикул рно гсхшомет рической оси, облучение шлифа пучком монохроматических рентгеновских, лучей, коплимированных системой щелей, поЬорот монокристалла до вькоДа отражающей плоскости в брэгговское положение, регистрацию дифрагированного луча детек тором, установленным под двойным брэгговским углом 2 & к измерение угла поворота монокристалла fb , монокристалл поворачивает в положение , отвеча(ощее полному внешнему отражению рентге новского луча, измер ют угол полного внешнего отражени Н и наход т отклонение отражающей плоскости и плоскости среза, как Ч (.(Jb,)J. На фиг. 1 показан монокристалл в от ражающем положении; на фиг. 2 - то же 8 0 В положении полного внешнего отражени рентгеновских лучей. Пучок рентгеновских лучей 1 проходит через систему коллимирующих щелей 2 и падает на поверхности изучаемого монокристалла 3, предварительно сориентированного так, что нормаль к отражающей плоскости и нормаль к поверхности выведены в плоскость, перпендикул рную гониометрической оси 4. Поворачива кристаллы BOKpjrr оси 4, вывод т нормаль п 0 в отражающее положение , фиксиру дифрагированный луч 5. прошедший -через систему коллимирующих щелей 6, детектором 7. При этом регистрируетс отсчет углоизмерительного устройства поворота (Ь . Затем, не измен положени источника и щелей 2, коллимирующих падающих на кристалл пучок лу .чей, выставл ют счетчик в положение соответствующее рагистрации полного внешнего отражени угла и, враща монокристалл вокруг оси 4, добиваютс полного внешнего отражени рентгеновского луча , измер ют угол полного внешнего oi ражени i-f и регистрируют данное угловое положение монокристалла jbg , Угловое отклонение Е отражающей плоскости от плоскости шлифа наход т из соот юшени Пример. Берут монокристаллы с плоскостью шлифа (111) к устанавливают на гониометрическую головку модернизированного оптического гониометра ГС-5, снабженного сцинтил ционным счетчиком СРС-1, двум коллиматорами с диаметром отверстий 5 --0,25 мм. В качестве источника рентгеновского излучени используют трубку БСВ 11 Сина аппарате УРС-бО. Отклонение заданной кристаллографической плоскости от плоскости шлифа нанаход т следующим образом. Вывод т дв- тектор рентгеновского излучени г на двойной угол полного внешнего отражени рент геновский. лучей от пЪвё рхностй ШПифа- 2 равный в рассматриваемом случае . 20 угл. мин. Затем включают рентгеново кий и вращением образца на приставке ГП-3 вокруг оси нормальной поверхнооти образца, а также осей, пврпендикул$фных этой оси и лежащих параллельно и .перпендикул рно плоскости дифракции, добиваютс того, чтобы нормаль к поверхности образца совпала с плоскостью дифракции интенсивности отраженного от поверхности шлифа пучка при повороте на 360°. Угловое положение образца относительно оси гониометра, при котором луч. испытавший полное внешнее отражение, проходит через койлиматор и попадает в детектор, установленный под углом- 2 фиксиру как (. После чего детектор поворачивают на угол 2 дл отражени 444, в рассматриваемом.случае 9 7 9° 1844, и вращением образца вокруг его нормали и вертикальной оси гониометра добиваютс максимальной интенсивности , а также фиксируют угловое положение образца дл этого случа . Установив узкие диафрагмы размером 0,25 мм в коллиматф перед счетчиком, вращением вокруг оси гониометра наход т его положение, соответствующее мак симальной интенсивности отраженного пуч ка f, В положении детектора , убрав диафрагмы, определ ют уточненное laita чение ()|(чи. Затем детектф вновь помещают на угол г2 f 20, а образец в положение (Ь1 , поворотом вокруг оси гониометра, Провод т измерени (с узкими диаф эагмами диаметром 0,25 мм перед детектором ) уточненного углового положени детэктора максимуме Егатенс вности луча после полного внешнего отражени .
Измерение, Кч
Предлагаемый 5 1248
1 2 3
ОО 5° 1238
5 1218
4 5 6 7 8 9
5 1245 5° 1250 5° 1225 5 1252 5°12 24|
10 38 реднее
реднеквадраична ошибка - го измереt 14,5 и
Способ
Известный
5° 13 00 5° 11 54| 12 48
5°13 11
5°11 52 5° 13 О5
52
5°12 16 5°12 464 36
Claims (3)
- t 31 после чего уточн ют значение (п ццустранив диафрагмы перед детектором, наход щимс в положении После этого убирают образец, и поворачива детектор с узкими диафрагмами (0,25 мм) перед коллиматором вокруг оси гониометра, наход т его лоложение f , соответствующее максимуму интенсивности первичного пучка. По разнице -у, определ ют уточненное зиаченве брэгговского угла буточн - ( f - TI i- в по разнице - значение угла пошаго внешнего отраже-Тч-гг ни Ч. Поспе этого :гточн по формуле Щвуточи- yтoчн &a тouн. - 1Уточн) ( ii-, VTW . наход т отклонение заданной кристаллов графической плоскости от плоскости шлифа равное в рассматривабмом случае S1238 Один к тот же образец изкгер ют 10 раз, каншьй раз си ма и вновь устанавлива его 1ш приставку ГП-3. Результаты исследоваппй преведены в таблице. Дл сравнен ш в ией щМгвод тс данные, полученные о того же образца, то H3Kfe{ eHnbie по звестиой методику. 7 Как следует из таблицы, предлагаемый способ позвол ет уменьшить ошибку меренй отклонени .кристалаогрйфической плоскости от плоскости шлифа более чем в два раза. Формула изобретени Способ ренттенодифрактометрнческого огфеделени ориентировки монокристалла, включающий установку монокристалла в дер жателе на оси гониометра, установку нормали плоскости шлифа (или грани) монокристалла и нормали отражающей плоское ти перпендикул рно гониометрической оси облучение шлифа пучком монохроматичес ких рентгеновских пучей, ктллимированны 1М1стемой щелей, поворот монокристалла до выхода отражающей плоскости в брэгговское положение, регистрацию дифраги рованного пучка детектором, установлен1 ым ПОД ДВОЙНЫМ брэгговским углом и O измерение угла поворота монокристалла Р, , отличаю цийс тем, что с цепью повышени точности, поворачивают кристалл в положение /Ь, отвечающее внешнему отражению рентгеновского луча, измер ют угол полного ьнеш его оаражени Ч и наход т отклонение 6 отражающей плоскости от плоскости шлифа по (,)j. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Русаков А. А. Рентгенографи металлов . М., Атомиздат, 1977, с. .149167 .
- 2.Лийсоран В. И.., Заднепровский Г. М. К методике определени ориентации кристаллографической плоскости в монокристалле на дифрактометре,-Сб. Аппаратура и методы рентгеновского анализа.. Л,, 1969, с, 64-70.
- 3.Гинье А. Рентгенографи кристаллов. М., ФМ, 1961,0.283 (прототип).itioS)Pui.t
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802916631A SU890180A1 (ru) | 1980-04-25 | 1980-04-25 | Способ рентгенодифрактометрического определени ориентировки монокристалла |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802916631A SU890180A1 (ru) | 1980-04-25 | 1980-04-25 | Способ рентгенодифрактометрического определени ориентировки монокристалла |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU890180A1 true SU890180A1 (ru) | 1981-12-15 |
Family
ID=20892501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU802916631A SU890180A1 (ru) | 1980-04-25 | 1980-04-25 | Способ рентгенодифрактометрического определени ориентировки монокристалла |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU890180A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4137673A1 (de) * | 1991-11-15 | 1993-05-19 | Siemens Ag | Reflektometer |
-
1980
- 1980-04-25 SU SU802916631A patent/SU890180A1/ru active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4137673A1 (de) * | 1991-11-15 | 1993-05-19 | Siemens Ag | Reflektometer |
DE4137673C2 (de) * | 1991-11-15 | 2001-08-02 | Bruker Axs Analytical X Ray Sy | Röntgenreflektometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2012872C1 (ru) | Способ получения изображения внутренней структуры объекта | |
DuMond et al. | The Multiple Crystal X‐Ray Spectrograph | |
US4364122A (en) | X-Ray diffraction method and apparatus | |
SU890180A1 (ru) | Способ рентгенодифрактометрического определени ориентировки монокристалла | |
US2500948A (en) | X-ray diffraction apparatus | |
US6310937B1 (en) | X-ray diffraction apparatus with an x-ray optical reference channel | |
US2847579A (en) | Crystal orienter | |
US3816747A (en) | Method and apparatus for measuring lattice parameter | |
SU890179A1 (ru) | Дифрактометрический способ определени ориентировки монокристалла | |
RU2115943C1 (ru) | Способ фазовой рентгенографии объектов и устройство для его осуществления (варианты) | |
SU1041918A1 (ru) | Способ юстировки первичного пучка дифрактометра | |
SU718769A1 (ru) | Трехкристальный рентгеновский спектрометр | |
SU1141321A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
SU873067A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
Watson | Development of a Curved Quartz Crystal X‐Ray Spectrograph and a Determination of the Grating Constant of Quartz | |
SU1583808A1 (ru) | Рентгеновский дифрактометр | |
SU994967A1 (ru) | Способ рентгенографического исследовани монокристаллов | |
SU883725A1 (ru) | Установка дл дифракционных исследований биологических объектов | |
SU857816A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
SU1744611A1 (ru) | Способ определени радиуса изгиба атомных плоскостей монокристаллических пластин | |
SU918827A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
US2376166A (en) | Sensitometry | |
SU1144040A1 (ru) | Способ юстировки дифрактометра | |
SU779866A1 (ru) | Устройство дл исследовани структуры монокристаллов | |
SU842522A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр |