SU871243A1 - Способ изготовлени танталовых и ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов - Google Patents
Способ изготовлени танталовых и ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов Download PDFInfo
- Publication number
- SU871243A1 SU871243A1 SU782640888A SU2640888A SU871243A1 SU 871243 A1 SU871243 A1 SU 871243A1 SU 782640888 A SU782640888 A SU 782640888A SU 2640888 A SU2640888 A SU 2640888A SU 871243 A1 SU871243 A1 SU 871243A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- capacitors
- oxide
- heat treatment
- oxide semiconductor
- niobium oxide
- Prior art date
Links
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
Данное изобретение относитс к электротехнике и может батъ использо вано при изготовлении оксидно-полупроводниковых конденсаторов. Известен способ изготовлени оксидно-полупроводниковых конденсаторов , включающий термообработку секций конденсаторов под напр жением l3 . Недостатком известного способа вл етс длительность технологического процесса. Наиболее близок к предлагаемому способ -.изготовлени оксид но-полу-., проводниковых конденсаторов, включающий совмещенную термообработку секций конденсаторов под напр жением с монтажем секций в корпус, герметиза цию, разбраковку по электропараметрам и повторную термообработку под напр жением 2. Внедрение данного способа в серийное производство позволило исключить длительную тренировку, котора ранее проводилась после впайки секции и изол торов в корпус. Однако после впайки часть конденсаторов имеет дефекты внешнего вида (напЛывы припо , перекосы изол торов) , которые исправл ют повторной пайкой при 150-200 С. При этом узел пайки секции с корпусом Не расплавл ют во избежание ухудшени механических и электрических свойств конденсатора. Повторна пайка приводит к увеличению токов утечки, дл снижени которых производитс повторна тренировка длительностью 15--50 ч. При этом часть конденсаторов не восстанавливаетс и отбраковываетс . При изготовлении конденсаторов повышенной надежности после герметизации провод т повторную тренировку (электростарение) в течение 10-200 ч при рабочем напр жении и температуре дл отбраковки ненадежных конденсаторов и стабилизации электропараметров . Значительна длительность данной тренировки преп тствует автоматизации производства и снижает производительность труда. Больша длительность испытаний не позвол ет оперативно контролировать стабильность электропараметров конденсаторов при совершенствовании технологического процесса и разработке новых типов оксидно-полупроводниковых конденсаторов. Целью данного изобретени вл етс повышение выхода годных.
Дл достижени поставленной цели при изготовлении танталовых и ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов способом, включающим термообработку секций при 240-290°С под напр жением, совмещенную с монтажом секций, герметизацию, разбраковку .по злектропараметрам и повторную термообработку под напр жением, последнюю провод т при температуре, составл ющей 0,65-0,9 температуры термообработки секций.
Ниже приведен пример реализации предлагаемого способа.
Из 1537 ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов типономинала .20Вх47 мкф, монтаж секций которых в корпуса был совмещен с термообработкой (240°С под напр жением, было отделено 103 конденсатора с дефектами внешнего вида, дефектами герметизации и конденсаторы, на которые во врем пайки не подавалось напр жение, росле исправлени дефектов проводилась повторна термообработка при 200tlO°c под напр жением 17,5 В длительностью 90 сек. После герметизации (запайки трубочки) и контрол гер метичности конденсаторы разбраковывали по электропараметраин. Из 103 исправленных конденсаторов окончательно было отбраковано 19 штук, остальные годные . В то же врем при восстановлении по известному способу изготовлени оксидно-полупроводниковых конденсаторов тренировкой в течение 50ч окончательный браК составл ет 45-50 штук на каждую сотню исправленных конденсаторов.
Таким образом, предлагаемый способ позвол ет повысить выход годных на 1,8% при одновременном сокращении длительности технологического процесса .
В таблице приведены электропараметры конденсаторов типономинала 20Вх47мкФ, изготовленных согласно . предлагаемому способу.
Как видно из таблицы,конденсаторы, изготовленные согласно предлагаемому способу, обладают стабильными электрическими характеристиками.
Как показал пример реализации, предлагаемый способ позвол ет заменить длительные тренировки и испытани кратковременной термообработкой под напр жением .
Ниже приводитс обоснование этого способа.
Сопротивление изол ции оксиднополупроводниковых конденсаторов СИ) Вл етс суммой сопротивлени изол ции оксида R QY.C- и сопротивлени изол ции границы оксид-полупроводник
.
Сопротивление изол ции оксида(Й( определ етс наличием дефектов и стехиометрией оксида, а сопротивление
изол ции границы ИГР- блокировкой де-; фектов оксида (например отрицательно зар женными ионами кислорода) и качеством нанесени полупроводникового сло . Ионы кислорода преп тствуют вхождению электронов в оксидный слой и тем самым ограничивают величину тока утечки конденсаторов. При хранении и электростарении в первую оч эредь происходит разрушение сло ионов кислорода (снижаетс Я-гр), особенно при.плохом качеСтве полупроводни кового сло , и наблюдаетс скачкооЪразное возрастание токов утечки до
мкА. Оксидно-полупроводниковы конденсаторы стабильны, еспк9.(-)р, T.Kj при старении утойчивость оксидов несравненно выШе устойчивости состо ни гр.аницы раздела оксид-полупроводник . Отбраковка ненадежных изделий сводитс к вы влению конденсаторов, именадих о Р . Тренировка снижает точки утечки путем згшечивани дефектов оксида и нестехиометричностей, вы вл ет-и отбраковывает конденсаторы нестабильные при последующей эксплуатции , т.к. конденсаторы имеютROX R . При этом также, стабилизируетс емкость конденсаторов.
Повторна термообработка, под напр жением при температуре, меньшей 0,65 температуры первичной термообработки 80-12О с), замедлит активность ионно-электронных процессов, что снизит эффективность способа.
Повторна термообработка при температуре больше 0,9 температуры первичной термообработки приведет к разрушению узлов герметизации и монтажа секций в корпус, возрастанию величин тангенса угла потерь и эквивалентного последовательного сопротивлени .
Диффузионные процессы в оксидных пленках NtijjOg характеризуютс длиной перемещени в. них ионов кислорода - так называемой диффузионной длиной Е. . Термообработка под напр жением вл етс стимул цией этих диффузионных процессов.
Верхнее значение температуры термообработки под напр жением в предлагаемом способе задано с целью предотвращени возможного разрушени узлов монтажа и герметизации конденсаторов . Нижнее значение определ етс торможением электронно-ионного зар допереноса , что удлин ет цикл термообработки под напр жением, преп т .ству автоматизации технологического процесса.
Таким образом, предлагаемый способ производства оксидно-полупроводниковых конденсаторов позвол ет сократить .длительность изготовлени , упростить технологию и повысить выход годных .изделий на 2-3%.
Claims (2)
1.Закгейм Л.Н.Элеткролитические конденсаторы, М.,энерги 1963,
.с. 229-232.
2.Авторское свидетельство СССР 609427, кл. Н 016 9/24, 1976 (прототип .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782640888A SU871243A1 (ru) | 1978-07-10 | 1978-07-10 | Способ изготовлени танталовых и ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782640888A SU871243A1 (ru) | 1978-07-10 | 1978-07-10 | Способ изготовлени танталовых и ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU871243A1 true SU871243A1 (ru) | 1981-10-07 |
Family
ID=20775430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782640888A SU871243A1 (ru) | 1978-07-10 | 1978-07-10 | Способ изготовлени танталовых и ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU871243A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7110244B2 (en) * | 2001-04-12 | 2006-09-19 | Showa Denko K.K. | Production process for niobium capacitor |
-
1978
- 1978-07-10 SU SU782640888A patent/SU871243A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7110244B2 (en) * | 2001-04-12 | 2006-09-19 | Showa Denko K.K. | Production process for niobium capacitor |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101233704B1 (ko) | 고체 전해 콘덴서 소자, 그 제조 방법 및 그 제조용 지그 | |
EP0704871A1 (en) | Electrolytic capacitor | |
SG90095A1 (en) | Solid electrolytic capacitor, and method of manufacturing the same | |
SU871243A1 (ru) | Способ изготовлени танталовых и ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов | |
US2057315A (en) | Electrolytic device | |
US3079536A (en) | Film-forming metal capacitors | |
US3286136A (en) | Fabrication of electrodes from modular units | |
JP2615712B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造法 | |
JP2562368B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
JPH0411716A (ja) | 電解コンデンサのエージング方法 | |
JP2006108192A (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
US3492544A (en) | Pulsing method for electrochemically forming a film on a metal and product of the method | |
JP3160921B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
SU1075319A1 (ru) | Способ изготовлени анодов танталовых конденсаторов | |
RU2042222C1 (ru) | Способ изготовления объемно-пористых анодов оксидных конденсаторов | |
US4280270A (en) | Process for the manufacture of tantalum solid electrolyte capacitors | |
KR0180175B1 (ko) | 리튬전지의 최적 에이징 방법 | |
WO2020159062A1 (ko) | 고체 전해 콘덴서 제조방법 및 고체전해 콘덴서용 전해액 | |
GB2026773A (en) | Process for the manufacture of tantalum solid electrolyte capacitors | |
US3156633A (en) | Film-forming metal capacitors | |
DE662737C (de) | Verfahren zum Entlueften, Entgasen und Herstellen von elektrischen Entladungsroehren | |
KR900007684B1 (ko) | 고체전해 콘덴서 | |
CN114414962A (zh) | 一种快速户外终端应力锥试验方法 | |
JPS6043652B2 (ja) | 電解コンデンサの製造方法 | |
DE1589907A1 (de) | Selbstheilender elektrischer Duennschichtkondensator sowie Verfahren zur Herstellung desselben |