SU861936A1 - Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах - Google Patents
Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах Download PDFInfo
- Publication number
- SU861936A1 SU861936A1 SU782664140A SU2664140A SU861936A1 SU 861936 A1 SU861936 A1 SU 861936A1 SU 782664140 A SU782664140 A SU 782664140A SU 2664140 A SU2664140 A SU 2664140A SU 861936 A1 SU861936 A1 SU 861936A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- slit
- light beam
- diffraction pattern
- depth
- transverse dimensions
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относится к измери-' тельной технике и может быть использовано при измерении поперечных размеров и глубины узких щелей и отверстий, толщины материала, градуировке мерительного инструмента и . ’ т.д.
Известен способ измерения поперечных размеров и глубины щели в объектах, заключающийся в том, что щель облучают двумя пучками света под фиксированными углами к аксиальному направлению щели, за щелью измеряют интенсивность той части этих пучков света, которая прошла через щель, и по соотношению интенсивностей '. вычисляют глубину и поперечный размер щели
Этот способ обладает недостаточной точностью измерений из-за влия- . ния на результат измерения колебаний интенсивности излучения, качеств ва поверхности, материала щели и точности,измерения углов падения зондирующих пучков света.
Наиболее близким к изобретению является способ измерения поперечных размеров и глубины щели в объектах, заключакшщйся в том, что формируют монохроматический когерентный ,поляризованный параллельный сьетовой пучок и направляют его на щель параллельно оси щели, за щелью в зоне формирования дифракционной картины. Фраунгофера измеряют расстояние между экстремальными точками этой картины, симметричными относительно ее центра, и ойределяют углы между направлением светового пучка и направлениями : из центра щели на экстремальные точки дифракционной'картйиы f2j.
Этот способ обладает недостаточной точностью измерений из-за влияния глубины щели на точность измерения поперечных размеров щели.
,Целью изобретения является повышение точности·измерений' поперечных размеров и,глубины щели.
Цель достигается тем, что наклоняют объект таким образом, чтобы между направлением светового пучка и осью щели образовался фиксированный угол, за щелью в зоне формирования дифракционной картины Фраунгофера' измеряют расстояние между экстремальными точками второй дифракционной картины, симметричными относительно ее центра^ и определяют углы между направлением светового пучка и направлениями центра щели на экстремальные точки второй дифракционной картины, а поперечные размеры и глубину щели вычисляют по следующим формулам [sin где d - поперечные размеры щели; Ή - глубина щели;
А - длина волны света;
~ oL“ фиксированный угол между направнением светового пучка и осью щели;
- угол между направлением светового пучка и направлением на экстремальную точку первой дифракционной картины;
угол между направлением светового пучка и направлением на экстремальную точку второй дифракционной картины.
На фиг. I изображен ход лучей в схеме устройства при направлении зондирующего щель пучка лучец, параллельном оси щели в объекте; на фиг. 2 ход лучей в .схеме устройства при направлении зондирующего щель пучка лучейсоставляющем фиксированный угол с осью щели в объекте.
Устройство для реализации способа измерения поперечных размеров и глубины щели в объектах содержит осветитель (на чертеже не показан), объектив 1, расположенный соосно с осветителем, и экран 2, расположенный в зоне формирования дифракционной картины Фраунгофера.
Способ измерения поперечных размеров и глубины щели 3 в объекте 4, например щели спектрального прибора
861936 4 или отверстия в фильтре, заключается в том, что формируют монохроматический когерентный поляризованный параллельный световой пучок 5 и направляют его на и^ель 3 параллельно ее оси. За щелью 3 в зоне формирования дифракционной картины · Фраунгофера на экране 2 измеряют расстояние между экстремальными точ10. ками этой картины, симметричными относительно ее центра, и определяют углы между направлением светового ny4j ка и направлением центра щели 3 на экстремальные точки дифракционной 15 картины.
Затем наклоняют объект 4 таким образом, чтобы между направлением светового пучка и осью щели 3 образовался фиксированный угол, за 20 щелью 3 в зоне формирования дифракционной картины Фраунгофера измеряют расстояние между экстремальными точками второй дифракционной картины, симметричными относительно ее цент25 ра, и определяют углы между направлением светового пучка и направлениями центра на экстремальные точки второй дифракционной картины. При этом поперечные размеры и глубину щели 30 3 вычисляют по следующим формулам.
ί где О - поперечные размеры щели; h - глубина щели; А - длина волны света; сС- фиксированный угол между , · направлением светового пуч40 ка и осью щели;
% - угол между направлением светового пучка и направлением на экстремальную точку первой дифракционной картины^
4*1 - угол между направлением светового пучка и Направлением на экстремальную точку второй дифракционной картины.
Формулы (1) и (2) выведены с учетом геометрических построений на фиг. 1 и 2.
Claims (2)
- I- .-: Изобретение относитс к измерйтельной технике и может быть использовано при измерении поперечньк размеров и глубины узкик щелей и от верстий, толщины материала, градуировке мерительного инструмента и т.д. Известен способ измерени попереч ных раамеров и глубины щели в. объектах , заключающийс в том, что щель облучают двум пучками света под ксированными углами к аксиальному направлению щели, за щелыо измер ют интенсивность той части этих пучков света, котора прошла через щель, и по соотношению интенсивностей вычисл ют глубину и поперечный разме щели l J. Этот способ обладает недостаточной точностью измерений из-за вли ни на результат измерени колебаний интенсивности излучени , качества поверхности, материала щели и точности,измерени углов падени зрндирую1чих пучков света. Наиболее близким к изобретению вл етс способ, измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах закдючаюищйс в том, что формируют монохроматический когерентный пол ризованный параллельный сьетовой пучок и направл ют gro на щели па рйллёльно оси щели,.за щелью в зоне формировани дафракционной картины, . Фраунгофера измер ют рассто ние м.ежду э1сстремальными точками этой картины , ейьй етричными относительно ее центра, и ойредел ют углы между направлением светового пучка и направлейи ми; из Центра деЯи на экстремальш 1е точки дифракционной картины IZJ. Этот способ обладает недостаточной точностью измерений из-за вли ни глубины щели на точность.измерени поперечных размеров щели. ,Целью изобретени вл етс повыщение ТОЧНОСТИизмерений поперечных размеров и,рдубины щели. Цель достигаетс тем, что наклон ют объект таким образом, чтобы между направлением светового пучка и осью щели образовалс фиксированньш угол, за щелью в зоне формировани дифракционной картины Фраунгофера измер ют рассто ние между экстремальными точками второй дифракционной картины, симметричными относительно ее центра и определ ют углы между направлением светового пучка и направлени ми цен ра щели на экстремальные точки второй дифракционной картины, а попереч ные размеры и глубину щели вычисл ют по следующим формулам d-iii v . )-вiиA-siи fol ,. . вiV1CAvЧ V5iнd 51и PotЬe - P1) где d - поперечные размеры щели; И - глубина щели; Л - длина волны света; фиксированный угол между на равлением светового пучка и осью щели; ...... - угол между направлением светового пучка и направлением на экстремальную точку первой дифракционной картины; -. угол между направлением светового пучка и направлением на экстремальную точку второй дифракционной картины. На фиг. 1 изображен ход лучей в схеме устройства -при направлении эон |щрующего щель пучка лучей, параллел ном оси щели в объекте; на фиг. 2 ход лучей в .схеме устройства при направлении зондирующего щель пучка лучей,, составл ющем фиксированный угол с осью щели в объектеУстройство дл реализации способа измерени поперечных размеров и глубины ;Щели в объектах содержит освети тель (на чертеже не показан), объектив 1, расположенный соосно с осветителем , и экран 2, расположенш 1й в зоне формировани дифракционной картиш.1 Фраунгофера. Способ измерени поперечных разме ров и глубишз щели 3 в объекте 4, например щели спектрального прибора или отверсти в фильтре, заключаетс в том, что формируют монохроматический когерентный пол ризованньш параллельный световой пучок и направл ют его на 3 параллельно ее оси. За щелью 3 в зоне формировани дифракционной картины Фраунгофера на экране 2 измер ют рассто ние между экстремальными точками этой картины, симметричными относительно ее центра, и определ ют углы между направлением светового пуч ка и направлением центра щели 3 на экстремальные точки дифракционной картины. Затем наклон ют объект 4 таким образом, чтобы между направлением свет ового пучка и осью щели 3 образовалс фиксированный угол, за щелью 3 в зоне формировани дифракционной картины Фраунгофера измер ют ра1 сто кие между экстремальными точками второй дифракционной картины, симметричными относительно ее центра , и определ ют углы между направлением светового пучка и направлени ми центра на экстремальные точки второй дифракционной картины. При этом поперечные размеры и глубину щели 3 вычисл ют по следующим формулам. ..k.-b 3 i 4-y- o, ,Н) 2 A-CsiM (a-t-4 -sin -siH4o3 t5lVl(dL-vVf)-6iV ol ,Bf ft M lgroL-tg4 o1 d - поперечные размеры щели; ti -г- глубина щели; Л - длина волны света; сС - фиксированный угол между направлением светового пучка и осью щели; % - угол между направлением светового пучка и направлением на экстремальную точку первой дифракционной картины: /f - угол между направлением светового пучка и направлением на экстремальную точку второй дифракционной картины. Формулы (1) и 12; вьшедены с учетом геометрическ41х построений на фиг. 1 и 2. Формула изобретени Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в .объектах, заключающийс в том, что формируют монохроматический когерентньй пол ризованный параллельный световой пучок и Направл ют его на щель парал5 лельйо оси щели, за щелью в зоне фор мировани дифракционной картины Фраунгофера измер ют рассто ние между экстремальными точками этой:-.картины , симметричными относительно ее центра, и определ ют углы между направлением светового пучка и направлением из центра щели на экстремальные точки дифракционной картины, отличающийс тем, что, с целью повьшени точности измерений поперечных размеров и глубины щели, наклон ют объект таким образом , чтобы между направлением светового пучка и осью щели образовалс фиксированный угол, за щелью в зоне формировани дифра ионной картины Фраунгофера измер ют рассто ние .между экстремальными точками второй дифракционной картины, симметЛичными относительно ее центра, и оп редел ют углы между направлением светового пучка и направлени ми центра щели на экстремальные точкиЛвторой дифракционной картнны, а по- 25 перечные размеры и глубину , 1числ ют по следующим формулам;..,. 2..Xbw(.d.+4-)-SiiiQ;-5i 4 ol :,rt . c(.3sin )H ol-%tfQ3 .
- 2. Игнатов В.А.Мордасова Г. М,, Мордвинов В.А., Ровенский Б.Б. Бесконтактные оптические измерени размеров .малых отверстий И ще лей. Обмен опытом в радиопромьшшенности . 1975, № 4, с. 52-54 (прототип). - поперечные размеры щели; l - глубина щели; - длина волны света; (, - фиксированный угол между направлением светового пучка и осью щели; угол между направлением светового пучка и направлением на экстремальную точку первой дифракционной картины; угол между направлением светового пучка и направлением на эксремальную точку второй дифракционной картины . Источники, информации, . тые во внимание при экспертизе Патент Франции №2261503, G 01 В 11/12/D .01 D 3/00,//./
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782664140A SU861936A1 (ru) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782664140A SU861936A1 (ru) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU861936A1 true SU861936A1 (ru) | 1981-09-07 |
Family
ID=20785254
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782664140A SU861936A1 (ru) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU861936A1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1889002A2 (en) * | 2005-05-23 | 2008-02-20 | Federal-Mogul Corporation | Diffraction method for measuring thickness of a workpart |
RU2481555C1 (ru) * | 2011-10-20 | 2013-05-10 | Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд." | Оптическая измерительная система и способ измерения критического размера наноструктур на плоской поверхности |
-
1978
- 1978-10-18 SU SU782664140A patent/SU861936A1/ru active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1889002A2 (en) * | 2005-05-23 | 2008-02-20 | Federal-Mogul Corporation | Diffraction method for measuring thickness of a workpart |
EP1889002A4 (en) * | 2005-05-23 | 2008-11-26 | Federal Mogul Corp | Diffraction method for measuring the thickness of a working part |
RU2481555C1 (ru) * | 2011-10-20 | 2013-05-10 | Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд." | Оптическая измерительная система и способ измерения критического размера наноструктур на плоской поверхности |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3518007A (en) | Measuring device utilizing the diffraction of light | |
ATE92640T1 (de) | Frequenzmoduliertes laser-radar. | |
GB1493967A (en) | Method of and apparatus for measuring the width of an elongated element | |
CN105333815A (zh) | 一种基于光谱色散线扫描的超横向分辨率表面三维在线干涉测量系统 | |
SU861936A1 (ru) | Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах | |
US6259530B1 (en) | Method and device for measuring the depths of bottoms of craters in a physico-chemical analyzer | |
JP2533514B2 (ja) | 凹部深さ・膜厚測定装置 | |
US3432239A (en) | Optical instruments of the interference type | |
US4952027A (en) | Device for measuring light absorption characteristics of a thin film spread on a liquid surface, including an optical device | |
RU2419779C2 (ru) | Способ определения показателя преломления поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона | |
JPH0118371B2 (ru) | ||
JPS58727A (ja) | フ−リエ変換分光装置 | |
SU711352A1 (ru) | Интерференционный угломер | |
Richtmyer | The Apparent Shape of X-ray Lines and Absorption Limits | |
SU1567882A1 (ru) | Способ определени функции распределени высот и углов наклона шероховатой поверхности | |
JPS57187851A (en) | Secondary ion mass analyzing unit | |
SU700027A1 (ru) | Интерференционный способ измерени РАССТО Ний | |
SU868496A1 (ru) | Способ измерени флуктуаций угла прихода излучени | |
US4813763A (en) | Light beam fluctuation compensating device and method | |
SU1157363A1 (ru) | Устройство дл определени структуры светового пучка | |
Snow et al. | Infra-red investigations of molecular structure.-Part I. Apparatus and technique | |
RU2060475C1 (ru) | Способ измерения амплитуд гармонических колебаний | |
JPS6199806A (ja) | 溝の深さ測定装置 | |
SU868343A1 (ru) | Способ измерени толщины прозрачных пластин | |
SU1630465A1 (ru) | Способ измерени расходимости пучка лазерного излучени |