SU857837A1 - Способ тепловой дефектоскопии - Google Patents

Способ тепловой дефектоскопии Download PDF

Info

Publication number
SU857837A1
SU857837A1 SU792837288A SU2837288A SU857837A1 SU 857837 A1 SU857837 A1 SU 857837A1 SU 792837288 A SU792837288 A SU 792837288A SU 2837288 A SU2837288 A SU 2837288A SU 857837 A1 SU857837 A1 SU 857837A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
product
current
frequency
flaw detection
temperature difference
Prior art date
Application number
SU792837288A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Алексеевич Дятлов
Original Assignee
За витель В.А.Д тлов . и
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by За витель В.А.Д тлов . и filed Critical За витель В.А.Д тлов . и
Priority to SU792837288A priority Critical patent/SU857837A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU857837A1 publication Critical patent/SU857837A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

54) СПОСОБ ТЕПЛОЮЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ
Изобретение относитс  к неразрушагащему контролю материалов и изделий и может быть использовано дл  контрол  изделий из электропроводшлх материалов. Известен способ -тепловой дефектоскопии , основанный на поверхностном нагреве издели  и регистрации распре делени  температуры его поверхности til . Однако этот способ позвол ет обна руживать только подповерхностные и поверхностные дефекты. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етс  спо соб тепловой дефектоскопии, основанный на внутреннем нагреве издели  путем пропускани  через него электри ческого тока, регистрации распределе ни  температуры поверхности издели  и суждени  по ней о наличии дефектов . Этот способ позвол ет определ т как поверхностные, так и внутренние дефекты Г2 . Однако точность определени  место положени  дефектов известным способо мала, так как он позвол ет определ ть местоположение дефектов в плоскости поверхности издели , но не поз вол ет определ ть глубину расположени  дефектов. Цель изобретени  - повышение точности определени  местоположени  внутренних дефектов путем определени  глубины их расположени . Поставленна  цель достигаетс  тем, что согласно способу тепловой дефектоскопии , основанному на в11утреЕ:нем нагреве издели  путем пропускани  через него Электрического тока и регистрации распределени  температуры поверхности издели , через изделие сначала пропускают переменный электрический ток с .частотой, обеспечиваквдей проникновение тока по всей толщине издели , затем увеличивают частоту переменного тока и одновременно измер ют величину перепада температуры поверхности издели  в области дефекта до тех пор, пока измер емой перепад температуры на начин ает уменьшатьс , и по значению частоты электрического тока, при которой наблюдаетс  уменьшение перепада температуры, суд т о глубине расположени  дефекта. Соотнс пение между частотой тока и глубиной расположени  дефекта устанавливаетс  с помощью известных формул , описывающих скии-эффект.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Способ тепловой дефектоскопии, 20 основанный на внутреннем нагреве изделия путем пропускания через него электрического тока и регистрации распределения температуры поверхности изделия, отличающийся 25 тем, что, с целью повышения точности определения местоположения внутренних дефектов путем определения глубины их залегания,через изделие сначала пропускают переменный электрический 30 ток с частотой, обеспечивающей проникновение тока по всей толщине изделия, затем увеличивают частоту переменного тока и одновременно измеряют величину перепада температуры по35 верхности изделия в области дефекта до тех пор, пока измеряемый перепад температуры не начинает уменьшаться, и по значению частоты электрического тока,' при которой наблюдается уменьшение перепада температуры, судят о глубине расположения внутреннего дефекта.
SU792837288A 1979-11-06 1979-11-06 Способ тепловой дефектоскопии SU857837A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792837288A SU857837A1 (ru) 1979-11-06 1979-11-06 Способ тепловой дефектоскопии

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792837288A SU857837A1 (ru) 1979-11-06 1979-11-06 Способ тепловой дефектоскопии

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU857837A1 true SU857837A1 (ru) 1981-08-23

Family

ID=20858210

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792837288A SU857837A1 (ru) 1979-11-06 1979-11-06 Способ тепловой дефектоскопии

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU857837A1 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4765750A (en) * 1987-03-26 1988-08-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Method of determining subsurface property value gradient
US5069005A (en) * 1989-01-10 1991-12-03 Elkem Technology A/S Method of flaw detection in billets
US5504017A (en) * 1994-12-20 1996-04-02 Advanced Micro Devices, Inc. Void detection in metallization patterns

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4765750A (en) * 1987-03-26 1988-08-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Method of determining subsurface property value gradient
US5069005A (en) * 1989-01-10 1991-12-03 Elkem Technology A/S Method of flaw detection in billets
US5504017A (en) * 1994-12-20 1996-04-02 Advanced Micro Devices, Inc. Void detection in metallization patterns

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3780633T2 (de) Korrosionsueberwachung.
US3222917A (en) Non-destructive testing of objects
RU2005122641A (ru) Мониторинг толщины стенки
EP0155187B1 (en) Novel method for rapidly determining the moisture content of a substance
CA2125537A1 (en) Method and Apparatus for Thermal Conductivity Measurements
SU857837A1 (ru) Способ тепловой дефектоскопии
SE8701082D0 (sv) Fasselektiv detektering via produkt- och/eller kvot-generering
SU1073663A1 (ru) Способ комплексного определени теплофизических характеристик материалов
SU121857A1 (ru) Способ определени глубины проникновени электромагнитного пол в металл
SU808871A1 (ru) Способ измерени температурыМЕТАллОАРМиРОВАННыХ издЕлий
SU491840A1 (ru) Способ измерени температуры поверхностного сло электропроводных тел
JPS58196450A (ja) き裂形状検出法
SU864104A1 (ru) Способ определени глубины поверхностных дефектов ферромагнитных изделий
JPH05240815A (ja) 誘導加熱探傷法および誘導加熱探傷装置
SU697916A1 (ru) Способ создани акустического контакта при ультразвуковых измерени х
SU1140023A1 (ru) Электротермический способ дефектоскопии
JONES Sensitivity and comparison evaluation of Saturn 5 liquid penetrants(Sensitivity and comparison evaluation of liquid penetrants used in Saturn 5 vehicle hardware to detect surface cracks)
SU911239A2 (ru) Способ определени скорости коррозии токопровод щих материалов
SU694752A1 (ru) Способ определени внутренных напр жений в пиломатериале
SU408208A1 (ru)
SU1744620A1 (ru) Способ градуировки электропотенциального дефектоскопа
SU1022043A1 (ru) Способ определени глубины трещин в электропроводных издели х
JPH0545142B2 (ru)
SU834483A1 (ru) Способ контрол шероховатостидЕТАлЕй
JPH08240548A (ja) コンクリート構造物の躯体内部の含水率測定方法