SU851326A1 - Interferential resolution meter - Google Patents
Interferential resolution meter Download PDFInfo
- Publication number
- SU851326A1 SU851326A1 SU792855886A SU2855886A SU851326A1 SU 851326 A1 SU851326 A1 SU 851326A1 SU 792855886 A SU792855886 A SU 792855886A SU 2855886 A SU2855886 A SU 2855886A SU 851326 A1 SU851326 A1 SU 851326A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirrors
- holder
- systems
- aligned
- certificate
- Prior art date
Links
Description
(54) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ РЕЗОЛЬВОМЕТР(54) INTERFERENTIAL RESOLVOMETER
Изобретение относитс к технике дл измерени и исследовани разрешающей способности фотографических материалов, в частности к интерфе ренционным резольвометрам,The invention relates to a technique for measuring and studying the resolution of photographic materials, in particular, interference resolvometers,
Известно устройство, содержащее источник когерентного света, телескопическую систему, расшир ющую световой поток, светоделитель и держатель исследуемого материала 1,A device is known comprising a coherent light source, a telescopic system, an expanding luminous flux, a beam splitter and a holder of the material under study 1,
Недостатком известного устройства вл етс то, что приходитс делать многократное экспонирование материала дл получени необходигвлх значений экспозиций,A disadvantage of the known device is that it is necessary to do multiple exposures of the material in order to obtain the necessary exposure values.
Известен интерференционный резоль вометр, содержащий корпус, объективы и расположенную между ними точечную диафрагму, светоделитель, две плоскопараллельные пластины с двум отражающими поверхност ми, два неподвижных зеркала, два враицающихс зерксша и держатель фотоматериала С2.The interference resolution resolver is known, comprising a housing, lenses and a pinhole located between them, a beam splitter, two plane-parallel plates with two reflective surfaces, two fixed mirrors, two mirrored mirrors and a C2 photo holder.
Недостатками указанного интерференционного резольвометра вл етс громоздкость конструкции, сложность управлени взаиморасположением за- дающих зеркал и держателем фотоматериала , неудобство работы в затемненном помещении.The disadvantages of this interference resolver are the cumbersome design, the difficulty in controlling the relative position of the assignment mirrors and the holder of the photographic material, the inconvenience of working in a darkened room.
Цель изобретени - упрощение конструкции резольвометра.The purpose of the invention is to simplify the design of the resolvometer.
Поставленна цель достигаетс тем, что в интерференционном резольвометре перед держателем фотоматериала размещены две дополнительные системы неподвижно установленных плоских зер10 кал, центры отражающих поверхностей которых расположены пр двум одинаковым кривым эллипса, один фокус систем зеркал общий дл обеих систем, два других совмещены с ос ми вращаю 5 щихс зеркал, а держатель фотоматериала совмещен с общим фокусом обеих дополнительных систем зеркал и расположен на внешней стороне корпуса. На чертеже представлена схема устройства интерференционного резольвометра .The goal is achieved by the fact that two additional systems of fixedly mounted flat mirrors are placed in front of the photomaterial holder in the interference resolver; the centers of the reflecting surfaces are located two identical ellipse curves, one focus of the mirror systems for both systems, the other two are aligned with the axes and rotate 5 mirrors, and the photo holder is aligned with the common focus of both additional mirror systems and is located on the outside of the case. The drawing shows a diagram of an interference resolver device.
Интерференционный резольвометр содержит корпус 1, объектив 2, точечную. диафрагму 3, объектив 4, светоделитель 5, два неподвижных зеркала 6 и 7, две плоскопараллельные пластины с двум отражающими покрыти ми 8 и 9, два вращающихс зеркала 10The interference resolver includes a housing 1, a lens 2, a dot. aperture 3, lens 4, beam splitter 5, two fixed mirrors 6 and 7, two plane-parallel plates with two reflective covers 8 and 9, two rotating mirrors 10
30 и 11, две систелвл посто нно установ30 and 11, two systems permanently installed
ленных зеркал 12 и 13 и держатель 14 исследуемого материала.mirrors 12 and 13 and the holder 14 of the material under study.
Работа устройства заключаетс в следующем.The operation of the device is as follows.
Световой пучок проходит оптическую систему (2, 3; 4), светоделитель 5 и раздел етс на два пучка лучей с Одинаковой интенсивностью. Два неподвижных зеркала б и 7 в каждом плече устройства направл ют эти .пучки на пластины 8, 9с двум отражающими поверхност ми. Из каждой пластины выход т наборы с различной интенсивностью, которые вращающимис зеркалами 10 и 11 направл ютс на одну пару из системы посто нно установленных зеркал 12 и 13. Эти зеркала свод т световые пучкиов плоскости фотоматериала,укрепленного в держателе 14, где они интерферируют. Зеркала 10 и 11 вращаютс вокруг своей вертикальной оси, положение которых в устройстве посто нно. Одно из них поворачиваетс на заданный угол при помощи черв чной пары, а синхронность и встречный поворот второго Осуществл етс применением перекрещивающегос пасика.The light beam passes through the optical system (2, 3; 4), the beam splitter 5 and is divided into two beam beams with the same intensity. Two fixed mirrors b and 7 in each arm of the device direct these beams to the plates 8, 9c with two reflecting surfaces. From each plate, sets of different intensities emerge, which are directed by one rotating pair of mirrors 10 and 11 into one pair from a system of permanently installed mirrors 12 and 13. These mirrors bring together light beams of the plane of the photographic material fixed in the holder 14, where they interfere. The mirrors 10 and 11 rotate around their vertical axis, the position of which in the device is constant. One of them is rotated at a predetermined angle with the help of a worm gear pair, and the synchronism and counter-rotation of the second is carried out by using a crossover chute.
Практика испытаний фотоматериалов по оценке их качества свидетельствует о том, что оценка фотоматериала производитс дл дискретных значений пространственных частот, составл ющих чаще всего р д: 100, 200, 300, 400, .500, 750, 1000. 1250, 1500, 2000, 2500, 3000 мм . Поэтому в каждом плече устройства дополнительна система зеркал (12, 13) состоит из 12-ти посто нно установленных зеркал ориентированных под заданными углами к плоскости держател . Дл обеспечени одинаковости отражательной спообности зеркал покрытие наноситс на попарно составленные детали. Кроме того, дл обеспечени посто нства хода пучка от объектива 4 до держател 14 фотоматериала центры отражательных поверхностей зтих зеркал расположены по части кривой эллипсов, один фокус которых совмещен с линией пересечени световых пучков у держател фотоматериала, а другие - с ос ми вращени вращающихс зеркал 10 и 11.The practice of testing photographic materials for evaluating their quality indicates that the evaluation of photographic material is carried out for discrete values of spatial frequencies, which are most often the following series: 100, 200, 300, 400, .500, 750, 1000. 1250, 1500, 2000, 2500 3000 mm. Therefore, in each arm of the device, an additional system of mirrors (12, 13) consists of 12 permanently mounted mirrors oriented at given angles to the plane of the holder. In order to ensure the uniformity of the reflectivity of the mirrors, the coating is applied to the parts in pairs. In addition, to maintain the beam path from the lens 4 to the photo holder 14, the centers of the reflective surfaces of these mirrors are located along a portion of the ellipse curve, one focus of which is aligned with the intersection line of the light beams of the photo material holder, and the other with the rotation axes of the rotating mirrors 10 and 11.
Таким образом, размещение двух дополнительных систем посто нно установленных зеркал позвол ет упростить конструкцию, упростить кинематику управлени элементами устройства, а также приводить испытани в светлом помещении.Thus, the placement of two additional systems of permanently installed mirrors allows us to simplify the design, simplify the kinematics of controlling the elements of the device, and also lead tests in a bright room.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792855886A SU851326A1 (en) | 1979-10-29 | 1979-10-29 | Interferential resolution meter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792855886A SU851326A1 (en) | 1979-10-29 | 1979-10-29 | Interferential resolution meter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU851326A1 true SU851326A1 (en) | 1981-07-30 |
Family
ID=20866268
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792855886A SU851326A1 (en) | 1979-10-29 | 1979-10-29 | Interferential resolution meter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU851326A1 (en) |
-
1979
- 1979-10-29 SU SU792855886A patent/SU851326A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3813172A (en) | Photometric device with a plurality of measuring fields | |
WO1979000433A1 (en) | Optical apparatus and method for producing same | |
Diego et al. | Final tests and commissioning of the UCL echelle spectrograph | |
JPS6355020B2 (en) | ||
US3827811A (en) | Optical measuring device employing a diaphragm with reflecting surfaces | |
US4274715A (en) | Method and apparatus for the projection of optical test objects | |
US3664751A (en) | Accessory for microscopes for use as a two-beam photometer | |
SU851326A1 (en) | Interferential resolution meter | |
Anderson et al. | Ronchi's method of optical testing | |
US3799680A (en) | Photometer optical system having viewing magnification and light attenuation means | |
GB2154019A (en) | Double-beam interferometer arrangement particularly for fourier-transform spectrometers | |
US3549258A (en) | Monochromator | |
US1990022A (en) | X-ray dosimeter | |
US3645630A (en) | Monochromator | |
Titchmarsh | Lloyd's single-mirror interference fringes | |
US3799673A (en) | Scatterplate interferometer | |
US2989889A (en) | Rangefinders and like optical instruments | |
Sen et al. | An inverting Fizeau interferometer | |
WO2023070879A1 (en) | Wave aberration measurement system and measurement method for full camera system | |
SU1597527A1 (en) | Interferometer for checking wedged shape of optical plates | |
SU529362A1 (en) | Interferometer for studying the quality of surfaces and aberrations of large-sized optical elements and transparent inhomogeneities | |
JPH02290536A (en) | Microspectral measuring instrument | |
SU1359663A1 (en) | Interferometer for checking cylindrical surfaces | |
SU1499108A1 (en) | Interferometer for checking the quality of surface of rotation | |
SU1551989A1 (en) | Method of checking the shape of reflecting surface of mirror reflectors |