SU1551989A1 - Method of checking the shape of reflecting surface of mirror reflectors - Google Patents
Method of checking the shape of reflecting surface of mirror reflectors Download PDFInfo
- Publication number
- SU1551989A1 SU1551989A1 SU853901465A SU3901465A SU1551989A1 SU 1551989 A1 SU1551989 A1 SU 1551989A1 SU 853901465 A SU853901465 A SU 853901465A SU 3901465 A SU3901465 A SU 3901465A SU 1551989 A1 SU1551989 A1 SU 1551989A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- exposure
- cycle
- reflector
- exposures
- duration
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к оптическому приборостроению, конкретно к оптическим измерени м на основе спекл-интерферометрии. Цель изобретени - повышение точности контрол . Способ включает экспонирование фотопластинки диффузным излучением, образованным при пропускании когерентного излучени через рассеиватель, и последующее отражение его от зеркального отражател , местоположение которого от экспозиции к экспозиции измен ют путем смещени отражател параллельно фотопластинке. Провод т нечетное число экспозиций, причем длительность первой экспозиции выбирают из равенства экспозиции обратной величине светочувствительности фотопластинки, а последующие экспозиции провод т циклами, включающими две экспозиции, после размещени отражател перед каждой экспозицией в симметричных относительно первоначального положени х, при этом величины смещений отражател последовательно увеличивают от цикла к циклу на значение, равное первоначальному смещению, а длительность каждой экспозиции в цикле определ ют из математического выражени . 1 з.п. ф-лы, 1 ил.The invention relates to optical instrumentation, specifically to optical measurements based on speckle interferometry. The purpose of the invention is to improve the accuracy of control. The method involves exposing the photographic plate to diffuse radiation produced by passing coherent radiation through a diffuser, and then reflecting it from a specular reflector, whose location from exposure to exposure is changed by displacing the reflector parallel to the photographic plate. An odd number of exposures is carried out, the duration of the first exposure is chosen from the equality of exposure to the inverse photosensitivity of the photoplate, and subsequent exposures are carried out in cycles, including two exposures, after placing the reflector before each exposure in symmetrical positions relative to the initial position from cycle to cycle to a value equal to the initial offset, and the duration of each exposure in the cycle is determined from the mat ny 1 hp f-ly, 1 ill.
Description
Изобретение относитс к оптическому приборостроению, а более конкретно к оптическим измерени м на основе спекл-интерферометрии.The invention relates to optical instrument making, and more specifically to optical measurements based on speckle interferometry.
Цель изобретени - повышение точности контрол .The purpose of the invention is to improve the accuracy of control.
На чертеже представлена одна из возможных схем устройства, позвол юща реализовать предлагаемый способ.The drawing shows one of the possible schemes of the device, allowing the proposed method to be implemented.
Устройство включает когерентный источник 1 света, затвор 2, конденсор 3, диффузный рассеиватель 4, светоделитель 5, контролируемый зеркальный отражатель 6 с механизмом 7 его перемещени , фотопластинку 8.The device includes a coherent light source 1, a shutter 2, a condenser 3, a diffuse diffuser 4, a beam splitter 5, a controlled mirror reflector 6 with its movement mechanism 7, a photographic plate 8.
Способ осуществл етс следующим образом,The method is carried out as follows.
Когерентное излучение от источника 1, пройд конденсор 3, при открытом затворе 2 освещает диффузный рассеиватель 4. Диффузное излучение, отразившись от светоделител 5 и зеркального отражател 6, поступает на фотопластинку 8 и регистрируетс на ней за врем первой экспозиции. Перед второй экспозицией зеркальный отражатель 6 с помощью механизма 7 его перемещени смещаетс в плоскости, проход щей через его вершину и параллельной плоскости фотопластинки 8,The coherent radiation from source 1, after passing through the condenser 3, illuminates diffuse diffuser 4 with open shutter 2. Diffuse radiation reflected from the beam splitter 5 and mirror reflector 6 enters the photographic plate 8 and is recorded on it during the first exposure. Before the second exposure, the mirror reflector 6 is displaced in the plane passing through its top and parallel to the plane of the photographic plate 8 by means of the mechanism 7,
ел елate
со оо соco oo co
мл пслнчину а Перед третьей экспо- (ицней зеркальный отражатель 6 сме- 1лаетс на величину а симметрично относительно с оего первоначального положени и так далее, причем перед каждой последующей экспозицией величина перемещени кратна величине а.ml of baseline Before the third expo- sure (the mirror reflector 6 is displaced by a and symmetrically relative to its initial position, and so on, with the displacement value being a multiple of a before each subsequent exposure.
При восстановлении записи про вленную фотопластинку освещают плос- кой когерентной волной от источника, используемого при записи, и в фокальной плоскости линзы, установленной за фотопластинкой, получают картину периодически чередующихс узких ин- терференционных полос. По результатам измерени периода повторени ДХ определ етс радиус кривизны сферического зеркала R 2аДХ1/(flf ), где 1 - рассто ние от плоскости, проход щей че- рез вершину отражател 6, до плоскости фотопластинки 8; 1- длина волны используемого источника света; f - фокусное рассто ние используемой линзы .When the recording is restored, the developed photographic plate is illuminated with a flat coherent wave from the source used during recording and in the focal plane of the lens mounted behind the photographic plate, a picture of periodically alternating narrow interference fringes is obtained. Based on the results of measuring the repetition period DF, the radius of curvature of the spherical mirror R 2aDX1 / (flf) is determined, where 1 is the distance from the plane passing through the top of the reflector 6 to the plane of the photographic plate 8; 1 is the wavelength of the light source used; f is the focal length of the lens used.
Нарушение эквидистантности интерференционных полос характеризует отклонение поверхности от сферической формы или волновые аберрации сферических зеркал. Точность измерени определ етс точностью определени центра интерференционных полос и возрастает с увеличением числа экспозиций „ Общее число экспозиций выбирают нечетным, длительность первой экспозиции выбирают из равенства экспозиции обратной величине светочувствительности фотопластинки, а последующие провод т циклами, включающими две экспозиции, после размещени отражател перед каждой экспозицией в симметричньк относительно первоначального положени х, при этом величины смещений отражател последовательно увеличивают от никла к циклу на значение,равное первоначальному смеж щению, а длительность каждой экспозиции в цикле выбирают равнойViolation of equidistance of interference fringes characterizes the deviation of the surface from a spherical shape or wave aberrations of spherical mirrors. The measurement accuracy is determined by the accuracy of determining the center of interference fringes and increases with increasing number of exposures. in symmetrical with respect to the initial positions, while the magnitudes of the displacement of the reflector successively increase t from nickel to cycle to a value equal to the initial contiguity, and the duration of each exposure in the cycle is chosen equal to
N -1N -1
„ „
-т j - N- л. -t j - N-l.
N- LCN-LC
СWITH
М-1M-1
- длительность 1-й экспозиции; - общее число экспозиций; - пор дковый номер цикла экспозиций;- the duration of the 1st exposure; - total number of exposures; is the sequence number of the exposure cycle;
- число сочетаний из N-1 по --- - m и из N-1 по --- соответственно.- the number of combinations from N-1 to --- - m and from N-1 to ---, respectively.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853901465A SU1551989A1 (en) | 1985-05-27 | 1985-05-27 | Method of checking the shape of reflecting surface of mirror reflectors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853901465A SU1551989A1 (en) | 1985-05-27 | 1985-05-27 | Method of checking the shape of reflecting surface of mirror reflectors |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1551989A1 true SU1551989A1 (en) | 1990-03-23 |
Family
ID=21179369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853901465A SU1551989A1 (en) | 1985-05-27 | 1985-05-27 | Method of checking the shape of reflecting surface of mirror reflectors |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1551989A1 (en) |
-
1985
- 1985-05-27 SU SU853901465A patent/SU1551989A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 593070, кл. G 01 В 11/24, 1977. Авторское свидетельство СССР № 664022, кл. G 01 В 11/24, 1978. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0135282B2 (en) | ||
SU1551989A1 (en) | Method of checking the shape of reflecting surface of mirror reflectors | |
JPH01124434A (en) | Optical apparatus | |
US3797938A (en) | Optical apparatus for measuring deformation of parabolic antennas | |
US3934461A (en) | Multiple exposure holographic interferometer method | |
SU1712776A1 (en) | Method of testing concave elliptic surface shape | |
US3533675A (en) | Small-angle interferometer for making holograms | |
RU215245U1 (en) | Device for testing the dynamics of shrinkage of a holographic photosensitive material | |
SU1182255A1 (en) | Method of interference measurements | |
RU1772608C (en) | Holographic method of testing lenses and objective lenses for wave aberrations | |
SU450077A1 (en) | Device for controlling the shape of a parabolic surface | |
Abramson | Holography as a teaching tool | |
JPS5444579A (en) | Vibration measuring method by pulse laser holography | |
RU2025691C1 (en) | Method of holographic check of wave aberrations of lenses and objectives | |
SU1705706A1 (en) | Holographic measurement of amplitude of oscillations | |
JP2621792B2 (en) | Method and apparatus for measuring spatial coherence | |
SU1562687A1 (en) | Method of determining object surface shape | |
RU2624981C1 (en) | Holographic method of studying non-stationary processes | |
SU1011505A1 (en) | Device for measuring displacement of surface of object | |
SU1523909A1 (en) | Method and apparatus for checking shape of surface | |
Puntambekar et al. | A simple inverting interferometer | |
RU1772617C (en) | Holographic interferometers for checking the shape of hole inner surface | |
SU1649260A1 (en) | Method for testing optical aspheric second-order surfaces of revolution | |
SU1566201A1 (en) | Method of determining displacements | |
SU1645809A1 (en) | Method of inspecting quality of lenses and objectives |