SU819758A1 - Логический пробник - Google Patents
Логический пробник Download PDFInfo
- Publication number
- SU819758A1 SU819758A1 SU792772326A SU2772326A SU819758A1 SU 819758 A1 SU819758 A1 SU 819758A1 SU 792772326 A SU792772326 A SU 792772326A SU 2772326 A SU2772326 A SU 2772326A SU 819758 A1 SU819758 A1 SU 819758A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- probe
- logical
- inputs
- outputs
- node
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
(54) ЛОГИЧЕСКИЙ ПРОБНИК.
1
Изобретение относитс к радиотехнике и может быть использовано в процессе настройки и ремонта устройств, в частности дл поиска неисправных микросхем непосредственно на схемной плате.
Известен логический пробник, содержащий эталонный логический узел, входы которого соединены с резъемом дл подключени исследуемого логического узла, остальные контакты которого соединены с первыми входами элементов сравнени , вторые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, выходы элементов сравнени соединены с входами элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом элемента формировани сигнала ошибки, второй вход и выход которого соединены с соответственно - с источником сигнала опроса и узлом индикации ошибки 1.
Известен также логический пробник, содержащий информационные контактные зонды, контактные зонды питани , эталонный логический узел, элементы сравнени , элемент ИЛИ, триггер и индикатор , выход триггера через индикатор соединен с первым контактным зондом питани , второй контактный зонд
питани через замыкающие контакты кнопки соединен с единичным входом триггера, нулевой вход триггера соединен с выходом элемента ИЛИ, входы которого соединены с выходами элементов сравнени , входы каждого из которых соединены с информационными контактными.зондами и выходами этгшонного логического узла 2.
0
Недостатком этих двух логических пробников вл етс относительно низка достоверность контрол .
Действительно, в этом логическом пробнике отсутствует возможность об5 наружени лишних св зей в монтаже микросхекы, не предусмотренных схемой, а также перемычек из припо на контактных микросхемах, вследствии того, что информационные сигналы одновре0 менно поступают на исследуемую и эталонную кйкросхег, по выходам которых невозможно обнаружить указанные неисправности .
Целью изобретени вл етс повыше5 ние достоверности контрол .
Достигаетс это тем, что в логический пробник, содержащий информационные контактные зонды, контактные зонды питани , эталонный логический
Claims (2)
1.Селлерс С. Методы обнаружени ошибок в работе ЭЦВМ.- М.. Мир, 1972, с. 224, рис. 12.2-а.
2.Авторское свидетельство СССР 483633, кл. G 01 R 31/28, 1975 (прототип),
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792772326A SU819758A1 (ru) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Логический пробник |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792772326A SU819758A1 (ru) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Логический пробник |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU819758A1 true SU819758A1 (ru) | 1981-04-07 |
Family
ID=20830339
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU792772326A SU819758A1 (ru) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Логический пробник |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU819758A1 (ru) |
-
1979
- 1979-05-31 SU SU792772326A patent/SU819758A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4233682A (en) | Fault detection and isolation system | |
| GB2143954A (en) | A capacitive method and apparatus for checking connections of a printed circuit board | |
| KR100192575B1 (ko) | 유니버셜 번-인 보오드 | |
| GB1451295A (en) | Testing seminconductor devices | |
| JPS5931892B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| SU819758A1 (ru) | Логический пробник | |
| JPH0547418Y2 (ru) | ||
| KR100279198B1 (ko) | 2개의 집적회로를 갖춘 플레이트 | |
| SU819759A1 (ru) | Логический пробник | |
| US6765403B2 (en) | Test circuit and test method for protecting an IC against damage from activation of too many current drawing circuits at one time | |
| SU406186A1 (ru) | ||
| SU911376A1 (ru) | Устройство дл контрол правильности электрического монтажа радиоэлектронных изделий | |
| SU783726A1 (ru) | Устройство дл контрол интегральных микросхем с пам тью | |
| JPH1010193A (ja) | 半導体装置およびそれを用いた半導体装置実装体 | |
| JP2548477Y2 (ja) | Ｉｃ試験装置 | |
| SU1000948A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых узлов | |
| SU1092508A1 (ru) | Устройство дл контрол и локализации неисправностей логических схем | |
| SU941910A1 (ru) | Устройство дл обнаружени места короткого замыкани двух электрических цепей | |
| SU748423A1 (ru) | Устройство дл проверки монтажа | |
| SU646279A1 (ru) | Устройство контрол контактировани интегральных схем | |
| SU748422A1 (ru) | Устройство дл контрол интегральных схем | |
| SU934488A1 (ru) | Устройство дл контрол электрических соединений | |
| JPH09304485A (ja) | ブリッジ検出方法及びブリッジ検出回路 | |
| JPH03108676A (ja) | 集積回路の遅延時間測定方法 | |
| RU1837290C (ru) | Устройство дл контрол парафазных логических блоков |