SU715931A1 - Способ измерени толщины жидкой пленки на стенках прозрачного трубопровода - Google Patents

Способ измерени толщины жидкой пленки на стенках прозрачного трубопровода Download PDF

Info

Publication number
SU715931A1
SU715931A1 SU762317167A SU2317167A SU715931A1 SU 715931 A1 SU715931 A1 SU 715931A1 SU 762317167 A SU762317167 A SU 762317167A SU 2317167 A SU2317167 A SU 2317167A SU 715931 A1 SU715931 A1 SU 715931A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measuring
liquid film
tickness
transparent pipeline
thickness
Prior art date
Application number
SU762317167A
Other languages
English (en)
Inventor
Андрей Леонидович Душкин
Original Assignee
Московский Ордена Ленина Авиационный Институт Им. Серго Орджоникидзе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Ордена Ленина Авиационный Институт Им. Серго Орджоникидзе filed Critical Московский Ордена Ленина Авиационный Институт Им. Серго Орджоникидзе
Priority to SU762317167A priority Critical patent/SU715931A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU715931A1 publication Critical patent/SU715931A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике в теплоэнергетике и химической технологаи и может быть использовано дл  точного ОП ределени  мгновенного значени  толщины жидкой пленки, текущей по стенкам цилиндрического канала. Известен способ измерени  толщины жидкой электропроводной пленки, основанный на измерении сопротивлени  пленки между стенкой канала и контактной иглой 1. Недостаток указанного способа состоит в зна чительных ошибках, св занных с осуществлением контакта между иглой и движущейс  жидкостью . Известен также способ измерени  толщины жидкой пленки, по которому в жидкость ввод т люминофоры, облучают ее мощным источником излучени  и по интенсивности свечени  люминофора определ ют мгновенное значение толщины жидкой пленки {2. Недостатки данного способа состо т в сложности и низкой точности, обусловленной свечением люминофора, наход щегос  в мелких капл х над пленкой. Целью изобретени   вл етс  упрощение процесса измерени  толщины жидкой пленки и З еличение точности измерений. Указанна  цель достигаетс  тем, что к исследуемому участку прозрачного трубопровода, по стенкам которого течет жидкость, прикладывают прнзму с цилиндрической гранью, облучают ее световым пучком, измер ют сдвиг границы полного внутреннего отражени  or поверхносш: пленки и по величине этого сдвига определ ют толщину жидкой пленки. На чертеже показано устройство дл  реализации описанного способа. На цилиндрический канал 1 с текущей жидкой ) пленкой 2 наложена без зазоров и выступов измерительна  призма 3 с цилиндрической гранью. Устройство включает в себ  объектив 4, целевую диафрагму 5, входную линзу 6, фотоэлектрический приемник 7 излучени , объектив 8, щелевую диафрагму 9 и источник 10 света. Устройство работает следующим образом. На входную грань призмы 3 проекгирусгс  с помощью объектива 8 изображение щели 9,

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Способ измерения толщины жидкой пленки “на стенках прозрачного трубопровода путем облучения исследуемого участка световым пучком и регистрации изменения параметров это15 го пучка, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерения и увеличения точности,к исследуемому участку трубы прикладывают призму с цилиндрической гранью, измеряют сдвиг. границы полного внутреннего 2о отражения от поверхности пленки и по величине этого сдвига определяют толщину жидкой пленки.
SU762317167A 1976-01-22 1976-01-22 Способ измерени толщины жидкой пленки на стенках прозрачного трубопровода SU715931A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762317167A SU715931A1 (ru) 1976-01-22 1976-01-22 Способ измерени толщины жидкой пленки на стенках прозрачного трубопровода

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762317167A SU715931A1 (ru) 1976-01-22 1976-01-22 Способ измерени толщины жидкой пленки на стенках прозрачного трубопровода

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU715931A1 true SU715931A1 (ru) 1980-02-15

Family

ID=20646545

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762317167A SU715931A1 (ru) 1976-01-22 1976-01-22 Способ измерени толщины жидкой пленки на стенках прозрачного трубопровода

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU715931A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3779352A1 (de) * 2019-08-16 2021-02-17 Universität Stuttgart Verfahren zur messung der schichtdicke einer optisch transparenten schicht, insbesondere einer flüssigkeitsschicht

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3779352A1 (de) * 2019-08-16 2021-02-17 Universität Stuttgart Verfahren zur messung der schichtdicke einer optisch transparenten schicht, insbesondere einer flüssigkeitsschicht

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6311135A (ja) 蛍光崩壊測定に使用するセンサ装置
SU715931A1 (ru) Способ измерени толщины жидкой пленки на стенках прозрачного трубопровода
UST102104I4 (en) Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices
GB1481273A (en) Electrophoretic analysis of ions or like electrically charged particles
JPS6219707A (ja) 膜厚の測定方法
RU2636256C2 (ru) Способ измерения мощности и частоты импульсов лазерного излучения и устройство для его осуществления
US3706497A (en) Method and apparatus for determining colorimetric concentrations
JPS5847654B2 (ja) ハンノウコンゴウブツノ キユウコウドオ ソクテイスルソツコウホウホウオヨビ ソウチ
SU377610A1 (ru) Способ измерения толщины окисной пленки
JPS5797427A (en) Measuring and evaluating device for solderability
JPS5752807A (en) Device for measuring film thickness
SU439738A1 (ru) Способ измерени потерь интенсивности излучени в однородных материалах
SU641333A1 (ru) Дифференциальный рефрактометр
SU365585A1 (ru) Установка для измерения спектрального коэффициента излучения материалов при высоких
JPS56137143A (en) Measuring device for electrophoresis
SU157514A1 (ru)
RU2017084C1 (ru) Устройство для регистрации и визуального наблюдения электромагнитного излучения инфракрасного диапазона
SU473906A1 (ru) Инфракрасный радиометр
SU396565A1 (ru) ВСЕСОЮЗНАЯ пл::цгно^;1?|-^?:^д
SU1532810A1 (ru) Способ определени шероховатости поверхности
SU913183A1 (en) Refraction index non-uniformity determination method
SU981875A1 (ru) Способ определени теплофизических свойств жидкостей
SU945652A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности
JPS61281947A (ja) 光物性測定装置
SU714255A1 (ru) Устройство дл измерени времени жизни и коэффициента захвата молекул