SU677683A3 - Способ определени формы контролируемого предмета - Google Patents
Способ определени формы контролируемого предметаInfo
- Publication number
- SU677683A3 SU677683A3 SU762428504A SU2428504A SU677683A3 SU 677683 A3 SU677683 A3 SU 677683A3 SU 762428504 A SU762428504 A SU 762428504A SU 2428504 A SU2428504 A SU 2428504A SU 677683 A3 SU677683 A3 SU 677683A3
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- raster
- zones
- determining
- shape
- monitored object
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Control Of Position, Course, Altitude, Or Attitude Of Moving Bodies (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
Во второй фазе способа (фиг. 2) эталонный предмет / замен етс одни-м из контролируемых предметов 9, растр 8 помещаетс в положение фотоматериала 7, и второй источник овета 10 через вторую оптическую систему 6 проецирует изображение растра 8 на контролируемый .предмет 9.
Одновременно первый источник 5 образует -на контролируемом предмете 9 изображение первого растра 5 через первую оптическую систему 4. Если второй растр 8 вл етс позигивным .изображением, то первый растр сохран ет положение, которое он имел во врем первой фазы. Если, наоборот, второй растр вл етс негативным изображением , то первый растр должен быть перемещен или -повернзт так, чтобы сохранились кформа и- расгьредрление Непрозрачных и прозрачных зон растров. Цветные фильтры /7 и 12 располагаютс соотаетственно на пути первого луча 13 и второго луча 14, цвета этих двух фильтров отличаютс один от другого.
Л уаровую картину, возникающую на поверхности контролируемого предмета, тем легче наблюдать, чем цвет каждого из двух 13 и 14 отличаетс от подлинного цвета этого предмета.
Структура муаровой картины показана на фиг. 4, в .случае когда первый растр 5 со .стоит из шашечного рисунка пр моугольников .
Когда пространственные координаты поверхности контролируемого предмета 9 точно совпадают с коорди пата-ми поверхности эталонного предмета /, зоны освещенности и ослаблени луча М точно накладываютс на соответствующие зоны луча 13, образу зоны 15 наложени овета, цвет которого вл етс результирующим цветом лучей 13 и 14, и теней i/б (фиг. 4).
Если поверХ1ность предмета имеет выемку относительно поверх.ности эталонного предмета, то имеетс несоответствие между зонам,и освещенности и ослаблени лучей 13 и 14, что выражаетс на поверхности контролируемого предмета 9 наличием зон 17 и 18 перехода, ло вл ющихс между зонами 15 наложени овета и тен ми 1€ (фиг. 5j.
Если, наоборот, поверхность контролируемого предмета имеет вылуклость относительно поверхности эталонного предмета, то положение зон /7 и € перехода мен ет направлен 1е относительно зон /5 наложени света и теней 16 дл одного и того же относительного положени лучей 13 и 14 (фиг. б).
Кроме того, поверхность зон 17 и 18 св зана соотнощением с рассто 1нием, раздел ющим профили предмета и эталона. Расположение и поверхность зон /7 и 18 относительно зон 15 наложени позвол ет непосредспвенным наблюдением определить величину .и знак отклонени между пространственными координатами точек поверхности .контролируемого предмета и координатами соответствующих точек поверхности эталонного предмета.
,Структура .первого растра выбираетс в зависимости от формы контролируемого
предмета.
В случае, когда невозможно расположить эталонный предмет, второй растр 8 Может быть точно рассчитан оператором, исход из данных, относ щихс к структуре
первого растра 5, оптическим системам 4 и 6 и математической формулы поверхности эталонного предмета 1, на основе законов геометрической оптики.
Claims (2)
1.Авторское свидетельство СССР № 225463, кл. G 02 В 27/38, 1967.
2.За .в1ка Великобритании № 1276737, кл. G 2 J, опубл. 1972.
п
григЛ
15
9 Ti
Фиг if
-:
70
Фиг. г
IS
.J
lput.3
IS «
iput.e
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7539971A FR2337329A1 (fr) | 1975-12-29 | 1975-12-29 | Procede et dispositif optiques pour la comparaison des coordonnees spatiales des points des enveloppes de plusieurs objets tridimensionnels |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU677683A3 true SU677683A3 (ru) | 1979-07-30 |
Family
ID=9164259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762428504A SU677683A3 (ru) | 1975-12-29 | 1976-12-16 | Способ определени формы контролируемого предмета |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5283247A (ru) |
DD (1) | DD127764A5 (ru) |
DE (1) | DE2648772A1 (ru) |
FR (1) | FR2337329A1 (ru) |
SU (1) | SU677683A3 (ru) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2491614A1 (fr) * | 1980-10-08 | 1982-04-09 | Couturier Alain | Procede pour le positionnement de points de reference sur un gabarit ajustable |
JPS5875531A (ja) * | 1981-10-28 | 1983-05-07 | 株式会社トプコン | 曲率測定装置 |
NL9200071A (nl) * | 1992-01-15 | 1993-08-02 | Stichting Science Park Maastri | Inrichting voor het bepalen van de topografie van een gekromd oppervlak. |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5256558A (en) * | 1975-11-04 | 1977-05-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Three-dimentional object measuring system |
-
1975
- 1975-12-29 FR FR7539971A patent/FR2337329A1/fr active Granted
-
1976
- 1976-10-27 DE DE19762648772 patent/DE2648772A1/de not_active Withdrawn
- 1976-12-16 SU SU762428504A patent/SU677683A3/ru active
- 1976-12-24 JP JP15610476A patent/JPS5283247A/ja active Pending
- 1976-12-28 DD DD19665976A patent/DD127764A5/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2648772A1 (de) | 1977-07-14 |
FR2337329A1 (fr) | 1977-07-29 |
JPS5283247A (en) | 1977-07-12 |
DD127764A5 (de) | 1977-10-12 |
FR2337329B1 (ru) | 1978-07-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5135309A (en) | Method and apparatus for non-contact measuring of object surfaces | |
US6252623B1 (en) | Three dimensional imaging system | |
US3865483A (en) | Alignment illumination system | |
US5018854A (en) | Three dimensional imaging device | |
JP2016136132A (ja) | 構造化光プロジェクタおよびそうしたプロジェクタを含む3次元スキャナ | |
JP2002071328A (ja) | 表面形状の決定方法 | |
US20020140670A1 (en) | Method and apparatus for accurate alignment of images in digital imaging systems by matching points in the images corresponding to scene elements | |
KR20170103418A (ko) | 패턴광 조사 장치 및 방법 | |
JP2714152B2 (ja) | 物体形状測定方法 | |
US10175396B2 (en) | Ultra-miniature wide-angle lensless CMOS visual edge localizer | |
SU677683A3 (ru) | Способ определени формы контролируемого предмета | |
JPS59224127A (ja) | 走査マスク整合器のための整合装置 | |
US4557602A (en) | Edge detector in optical measuring instrument | |
JP2015184619A5 (ru) | ||
JP3189367B2 (ja) | アライメント装置および方法 | |
Matsumoto et al. | Laser moire topography for 3-D contour measurement | |
US20200263979A1 (en) | Determining surface structures of objects | |
SU1165881A1 (ru) | Способ контрол отклонени формы поверхности от эталонной | |
JPH061180B2 (ja) | 物品表面の光学的検査方法 | |
JPS63191010A (ja) | 表面粗さ計測方法 | |
JP2559443B2 (ja) | 三次元物体の計測装置 | |
JPH0158442B2 (ru) | ||
JPH0525044B2 (ru) | ||
JP2791735B2 (ja) | 多波長,コヒーレント光によるフレネル回折を利用した斜方位置検出装置 | |
WO2018173584A1 (ja) | ビーム照射装置、および検出機能付きプロジェクタ |