SU646281A1 - Устройство дл измерени магнитных параметров объемных экранов - Google Patents

Устройство дл измерени магнитных параметров объемных экранов

Info

Publication number
SU646281A1
SU646281A1 SU772476195A SU2476195A SU646281A1 SU 646281 A1 SU646281 A1 SU 646281A1 SU 772476195 A SU772476195 A SU 772476195A SU 2476195 A SU2476195 A SU 2476195A SU 646281 A1 SU646281 A1 SU 646281A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
screen
magnetic field
field
arrangement
measuring
Prior art date
Application number
SU772476195A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Владимирович Васильев
Юрий Александрович Медведев
Борис Михайлович Степанов
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8584
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8584 filed Critical Предприятие П/Я В-8584
Priority to SU772476195A priority Critical patent/SU646281A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU646281A1 publication Critical patent/SU646281A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕМНЫХ ЭКРАНОВ H(t) Нз Характер распространени  пол  Н (t) вне экрана можно пон ть, если считать, что дл  этого слу ча  экран  вл етс  магнитной антенной, ось диаграммы направленности которой совпадает с осью экрана {см. черт.) ..Прове денные нами измерени  полей наведенных т ков Hgf-t) вне экранов с различными геомет рическими размерами показали, что дл  определени  коэффициента экранировани  экр на в импульсном магнитном поле достаточ-г но измер ть поле наведенных токов И 2 (-t) . В этом случае коэффициент зк . /wax / ранировани  равен , N - / . -.i /m-in HjCt)/ /mdx H {t)/H /тшНзС)/-амплитуды зарегистрированного сигнала при временах , соответствующих максимуму (iniotx и минимуК1у ( i miH ) функции Rgt-t) . Точность определени  коэффициента экранировани  объемных экранов предлагаемым устройством повышаетс  и становитс равной точности измерени  указанного коэффициента известным уст ройством, когда длительность внешнего воздействи  не превышает величиш г TH -проводим сек-, где d - радиус и R и Металла экрана, OL - коэффициент фо толщина экрана, мы экрана, С - скорость света. Величина Т, , ГТ. вл етс  показ . телем экспоненты импульсной характеристики экрана в зависимости от его параметров. Достаточно просто можно показать, ® индуктивност экрана, а R - его сопротивление. Как уже было сказано, эффект экран ровани  у немагнитных экранов состоит в том, что под действием внеинего маг нитного пол  Н {Ч;} в экране навод тс  токи, создающие поле наведенных токов НгЮ -В первый момент времени, существует Н(4) , поле наведенных токов HjCt) в полости эк рана направлено настречу внешнему. Затем, после того как поле И. (-t) закончило свое действие, поле наведенных токов мен ет направлени так как энерги , накопленна  в индуктивности экрана, релаксирует с характерным временем Т . Величина п л  наведенных токов Но (i) соответствующа  временам существовани  Н Ct) , была бы равна Н (t) с братным -знаком, осли бы отсутствоали омические потери в млте|1иале экана , а также если пол1гчина Т бглла ы много больи1е времени супюствовои  ) Различие в величинах казанных полей во временном интервале Н (i) за счет омических потерь весьма ало, так как омическое сопротивление крана также весьма Ьало. А различие тих же полей в этом же временном инервале за счет T Lможно свести о минимума выбором длительности H,(t). Таким образом, дл  более точного определени  коэ4)фициента экранировани  о виду пол  наведенных токов HjCb) треуетс  разделить во времени информаию о внешнем поле H(i) и информацию об импульсной характеристике экрана. Это достигаетс  тем, что коэфициенты экранировани  экранов опреел ют в импульсном однопол рном магнитном поле длительностью, не превышаюЮ сек Вне экрана поле наведешштх токов Hg(t) мен ет свое направление, поскольку в данном случае экран можно рассматривать как магнитный диполь. Это дает возможность, измерив Н (t) вне экрана , определ ть коэффициенты экранировани  как разъемных, так и неразъемных заполненных экранов. При этом дл  их определени  достаточно сделать одно измерение вместо двух, что естественно , упрЬшает процесс измерений и резко снижает требовани  ккалибровке измер 1телей , так как вместо проведени  абсолютных измерений, как делалось ранее , провод тс  относительные. Поскольку длительность внешнего воздействи  т задаетс  равной ot-c ТО информаци  о внешнем воздействии и об импульсной характеристике экрана и, следовательно. разделена в Этом случае коэффициент экранирова /lnOIXH2 ( ни  обьемног-0 экрана естьК /min HgC-t)/ Таким образом, процесс определени  коэ4|с1)ициента экранировани   вл етс  следующим: в импульсное однородное П ,,vт- -Y поле Н. (t)длительностью I-- л г rt- сопда1пюе в концентраторе пол , внос т вначале датчик 4 магнитного пол , который ориентируют так, что ось пго
диаграммы гшпоаг лониости перповдикул рна вектору Й (,-t) . Этоусловие легко контролируетс , так как в этом случае на экране осциллографа 5 сигнал отсутствует. Затем в концентратор пол  1 внос т экран 2 так, как это показано на че5ггеже, и после регистрации сигнала , вз в отношение амплитуд при t ШОЧ и t mill , получают значение коэффициента экранировани .

Claims (2)

1. Устройство дл  измерени  магнитных параметров объемных экранов, содержащее концентратор внешнего магнитного пол  с расположенными внутри его объема экраном и датчиком магнитного пол , о т л и ч а ю ш е с   тем, что, с целью повышени  чувствительности, датчик мпгнитногп ПОЛЯ рас1узлг1Ж 11 гчю экрана.
2. Устройство по п. 1, о т   и ч 0ю ш е е с   тем, что датчик магшггнога пол  выполнен в вид мочпой антенны из двух KOfrrypoB, пключениьк встречно на общую нагрузку, при этом геометрические размеры рамочной антенны выбраны не менее размеров экрана , а контуры рамочной aiiTeHHfjf расположены симметрично относительно сх;и, перпендикул рной вектору напр женности внешнего магнитного пол  и дел щей экран на две равные части.
Источники информации, прин тые во
внимание при экспертизе
1. Коленский Л. Л. и др. Экранирующие свойства металлической оболочки но отнощению к импульснок-гу магнитному полю. Измерительна  техника , 1971, № 6.
,(()
/1
)
-ff
SU772476195A 1977-04-19 1977-04-19 Устройство дл измерени магнитных параметров объемных экранов SU646281A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772476195A SU646281A1 (ru) 1977-04-19 1977-04-19 Устройство дл измерени магнитных параметров объемных экранов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772476195A SU646281A1 (ru) 1977-04-19 1977-04-19 Устройство дл измерени магнитных параметров объемных экранов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU646281A1 true SU646281A1 (ru) 1979-02-05

Family

ID=20705064

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772476195A SU646281A1 (ru) 1977-04-19 1977-04-19 Устройство дл измерени магнитных параметров объемных экранов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU646281A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB1461077A (en) Nuclear magnetic resonance techniques
US3621382A (en) Anistropic thin ferromagnetic film magnetometer
JPS57199968A (en) Method and device for measuring magnetic field
SU646281A1 (ru) Устройство дл измерени магнитных параметров объемных экранов
JPH04296663A (ja) 電流測定装置
JPS5682443A (en) Transformation rate measuring apparatus of steel material
JPS60189203A (ja) 核磁気共鳴装置用コイル
JPH0215833B2 (ru)
RU2164028C2 (ru) Способ измерения напряженности электромагнитного поля
Weyand et al. Fluxgate magnetometer for low-frequency magnetic electromagnetic compatibility measurements
RU2816290C1 (ru) Способ измерения напряжения электромагнитного поля
JP3335982B2 (ja) 磁場測定方法および磁場測定器
SU809010A1 (ru) Устройство дл измерени магнит-НыХ пАРАМЕТРОВ Об'ЕМНыХ эКРАНОВ
RU2298802C2 (ru) Преобразователь (варианты)
RU2239182C1 (ru) Устройство для определения содержания феррита в материале
JPS60205372A (ja) クリツプオン電流計
SU822049A1 (ru) Датчик тока
SU834630A1 (ru) Устройство дл измерени параметровпЕРЕМЕННОгО МАгНиТНОгО пОл
SU785800A1 (ru) Устройство дл измерени характеристик магнитных полей
SU981908A1 (ru) Устройство дл контрол импульсных параметров магнитных сердечников
JP2532324Y2 (ja) 直流電流センサ
SU918906A1 (ru) Устройство дл магнитных измерений
SU815645A1 (ru) Устройство дл измерени импуль-СНыХ TOKOB
SU540228A1 (ru) Способ измерени относительной магнитной проницаемости
SU427404A1 (ru) Измерительный трансформатор постоянного токав п т бфонд зивертов