SU526895A1 - A device for obtaining tests of irrevocable combinational circuits - Google Patents
A device for obtaining tests of irrevocable combinational circuitsInfo
- Publication number
- SU526895A1 SU526895A1 SU2061964A SU2061964A SU526895A1 SU 526895 A1 SU526895 A1 SU 526895A1 SU 2061964 A SU2061964 A SU 2061964A SU 2061964 A SU2061964 A SU 2061964A SU 526895 A1 SU526895 A1 SU 526895A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- test
- variables
- input
- switch
- indicator
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
получаемого диагносгичеокого теста «забора полно1го Про-вбр ю1щего теста. В практике целесоОбразно сначала про вар ть работоспособность комбинадиоиной схемы а основе полного оросер ющего теста, вход щего в олный диа.пностичвокий тест. Прл отсутствии неисправности (необходимость в дальнейших проверках отпада(ет. При обнаружении же факта неиспра1В1Ности дл отьюкани ее вида и aiecT.a необходи1ма реализади оставшихс «аборов теста, ее вход щих -в Л1р01ве|р ю|щий, но в сумме с йнм составл ющих диалностичеокий тест. В результате этого умбньш1аютс расход ресурса Нровдр емой схемы и врем контрол .of the diagnostic test obtained from the “collection of the complete Pro-in test”. In practice, it is expedient to first test the operability of the combination scheme as the basis of a full irrigation test, which is included in the total diapathy test. In the absence of a malfunction (the need for further checks of the outbreak (et. If a fact is found to be defective), it is necessary to remove its appearance and aiecT.a it is necessary to implement the remaining “test abortions that make it up — in L1p01 | most important, but in total with dialysis test. As a result, the consumption of the NREDRED scheme and the time of the monitoring are reduced.
Целью изобретени вл етс т0выше:ние эффективности ра:боты устройства иолучени тестов бесповтор ых ко-мбинациотаных схем.The aim of the invention is to increase the efficiency of working devices for obtaining tests of uncomplicated combinations of circuits.
Поставленна цель достигаетс тем, что устройство содержит блок па1м ти, подключенный управл ющим входом ко второму выходу блока управлени и входо1м ко второму выхо.ду коммутатора переменных элементарных конъюнк1ций, элемент И и индикатор на боров провер ющего теста, вход которого через элемент И подключен к выходу блока пам ти.The goal is achieved by the fact that the device contains a power unit connected by a control input to the second output of the control unit and an input to the second output of the switch of variable elementary conjunctions, the I element and the test indicator of the checking test, the input of which through the I element is connected to the output of the memory block.
Это позвол ет выдел ть из получаемых тестов .полные провер ющие тесты.This makes it possible to isolate the complete testing tests from the resulting tests.
Схема устройства изображена «а чертеже.The device diagram is shown “in the drawing.
Устройство содержит 6vTOK управлени 1, коммутатор переменных логической функпил 2, коммутатор иераменных эл.ементарных конъюнкций 3, индикатор тестовых iHai6opoiB 4, блок пам ти 5, эле;мент И 6 и индикатор наборов провер ющего теста 7.The device contains 6vTOK control 1, a switch of variables of logical functions 2, a switch of alternative electronic conjunctions 3, an indicator of test iHai6opoiB 4, a block of memory 5, element I 6, and an indicator of sets of checking test 7.
Блок уп равлени 1 первым выходов «одКЛЮЧ0П к входу К01Ммутатор а переменных логической функции 2 и управл ющему входу коммутатора переменных элементарных конъюнкций 3, вход :которого подключен к выходу ком 1утатора переменных логической функции 2. Второй выход блока управлени 1 подключен к управл ющему входу блока пам ти 5, вход iKOToporo 1соединен ico вторым выходо1м коммутатора пе ременных элементарных конъюнкций 3. Пе|р|Вый выход ко1М1мута:Тора 3 подключен к входу индикатор|а тестовых .наборов 4. Вход индикатора 7 подключен через элемент И 6 к выходу блока пам ти 5.The control unit 1 by the first output of the SWITCH to the input K01 of the switch of variables of the logic function 2 and the control input of the switch of variables of elementary conjunctions 3, the input of which is connected to the output of the switch of the switch of variables of the logical function 2. The second output of the control block 1 is connected to the control input of the block Memory 5, iKOToporo 1 input is connected to the second output 1 of the switch of variable elementary conjunctions 3. First | Fourth output of a co1M1 switch: Torus 3 is connected to the input of the indicator | a of test sets 4. The input of the indicator 7 is connected via an And 6 to I element 5 move the memory block.
Блок управлени 1 служит дл подачи напр жени источника пам ти на коммутаторы 2 и 3, сн ти напр жени с блока пам ти 5 и представл ет собой ком1мутирующие устройства дл выполнени укаЗ|анных функций.The control unit 1 serves to supply the voltage of the memory source to the switches 2 and 3, to remove the voltage from the memory unit 5, and is a switching device for performing the functions.
Коммутатор переманных логической функции 2 предназначен дл ввода переменных логической функции 1ко«т1ро.лируемой К01мбинационпой схемы и представл ет собой Hai6op коммутирующих элементов, например переключателей , во включенном состо нии которых соответствующие выходы ко ммутатора подключ ают1с ко входу.The convoluted logic function switch 2 is intended for input of variables of the logic function 1CO "T1 of the current K01 hybrid scheme and is a Hai6op switching elements, for example switches, in the switched state of which the corresponding outputs are connected to the input.
Коммутатор переменных элементарных конъюнкций 3 служ.ит дл ввода переменных элементарных :конъю1нкций логической функции и представл ет собой набор коммутирующих элементов, -например переключателей с трем фиксироваиными устойчивыми состо ни ми . В нейтральном положении их первые выходы ко1ммутатора подключены к его входу,The switchboard of variable elementary conjunctions 3 serves to introduce variable elementary: logic functions and is a set of switching elements, for example, switches with three fixed stable states. In the neutral position, their first outputs of the switch are connected to its input,
в ОДНО1М из нключенных положений вторые: выходы подключены к его управл ющему входу, а в другом В1КЛЮЧ6ННОМ положении IK управл Ю1щему входу под.ключены оба выхода коммутатор а 3.in ONE of the switched-on positions, the second ones are: the outputs are connected to its control input, and in the other B1KEY6NN position IK to the control input, both outputs are connected to the switch a 3.
И1НДИ1катор тестовых наборов 4 1П1редставл ет собой 1набор индицирую:щих элементов, отобра .жающих в двоичном коде информацию о тестовых наборах.I1NDI1kator test sets 4 1П1 represents a 1 set of indicative: elements, displaying information about test sets in binary code.
Блок па|М ти 5 служит дл хранени информации о наличии 1переменных в элементарных конъюнкци х и содержит элементы , число которъ1х определ етс возможностью уст1ройства.The block | MI 5 serves to store information about the presence of 1 variables in elementary conjunctions and contains elements whose number is determined by the possibility of the device.
Элемент 6 предназначен дл выполнени Element 6 is designed to perform
логической |0пера1ции И, а индикатор наборов провер ющего теста 7 сигнализирует о- получении минимального количества наборов диагнастичеокого теста, составл ющих в сумме полный провер ющий тест. Индикатор 7 представл ет собой, например, индицирующий элем .ент.the logical | test of And, and the indicator of the test test sets 7 signals about the receipt of the minimum number of sets of the diagnostic test, which together comprise a full test test. Indicator 7 is, for example, an indicator element.
Устройство работает следующим образом. В исходном положении уст1ройства все коммутирующие элементы наход тс в выключенном или нейт1раль НО1М .положении.The device works as follows. In the initial position of the device, all the switching elements are in the switched off or neutron H1M position.
Дл определени наборов ра.зрыв.а с помощью 1коммутатора переменных логической фЗнасции 2 н-аб.ирают переменные инверсной логической функции, а с помощью коммутатора перем-ениых э.леме1нтареых конъюнкций 3- переменные одной из элементарных конъюнкций логической фун«ции. С подачей напр жени с блока управлени 1 на ком м таторы 2 и 3 вндиlкaтqp тестОВых наборов 4 отобразитTo determine the sets of explosives, with the help of the switch of variables of logical function 2, the variables of the inverse logical function are set, and with the help of switchboard of alternate elements, 3 are variables of one of the elementary conjunctions of logical function. With the supply of voltage from the control unit 1 to the switches 2 and 3, the test test sets 4 will display
инфо1рмацию о со1сто ни.и. переменных в данном тестовом .йаборе. Дл получеии других разрыва с помощью коммутатора переменных элементарных конъюнкций 3 ввод т переменные других конъюнкций при еизменном положении (коммутирующих элементов ко1ммутатора (переменных ло гичеакой функции 2. При поочередном вводе всех конъюнкций получают все наборы -раэръта полного диагностического теста.information about so1stoi.i. variables in this test .abor. To obtain other discontinuities, using the commutator of variable elementary conjunctions 3, variables of other conjunctions are introduced at different positions (commuting elements of the switch (variable of the logical function 2. When all conjunctions are entered in turn, all sets of the full diagnostic test are received).
При выводе переменных с помощью (коммутатора 3 .блок па1м ти 5 запоминает их. При вводе всех переменных логической функции включитс индикатор наборов провер Ю(ЩегО теста 7. Это говорит о TOIM, что все наборы разрыв а, полученные до и в момент включени индикатора , вход т в (провер ющий тест.When variables are displayed using (switch 3., block 5 of them remembers them. When all the variables of the logic function are entered, the indicator of sets of tests will turn on (see test 7). This indicates TOIM that all sets of discontinuity a received before and at the moment of turning on the indicator are included in the (verification test).
Перед получением наборов щу.нтировани с по мощью блока упра|Влени 1 снимаетс ианр жение И:сточника питани с блока пам тиBefore receiving sets of shchu.tirovani with the help of the control unit | Controls 1, the And the And:: power supply source is removed from the memory unit
5, в результате чего его элементы пам ти возвращаютс в исходное состо ние и обесточиваетс Ш1ди1каггор на.боров провер ЮЩегО теста . Дл 01П|ределени иаборов щуштировани с5, as a result of which its memory elements return to their original state and de-energize the battery on the test sets. For 01P | definition of shashtiyabori with
по мощью (коммутатор.а пдремевных ЛОГИЧРЛК-ОЙby means of (switchboard.a pdremevnyh LOGICHRLK-OY
фуикции 2 «.абИрают пе,рвмен ные логической фуекции, а с помощью коМ-мутатора переменных элементарных 1ко«ыо к1ций 3-переменные одной из элемента р ных коиъюткций дизъюнктивной нормальной формы инверсной лопичеокой футкции. С подачей «а1Н1р жени с блока управлени 1 «а коммутаторы 2 и 3 индикатор тестовых на бОров 4 ото бравит ИНформадию о состо иии переменных в даннол тестовом :набо1ре. Дл получени других Ha6oipOiB ШуштирОВани с помощью КОММчтатора 3 -ввод т переменные -других «онъюккций при неизменном положении коад-мутирующих элементов 1КО:М1мутато ра 2. При поочередно м вводе всех коныонкций по тучают все наборы шунтировани полного диагностического теста.Fuctions 2 ".abIre ne, identical to logical functions, and with the help of a coM mutator of variable elementary variables, 3-variables are one of the elements of co-ordinations of a disjunctive normal form of inverse choptic futures. With the supply of “A1H1p” from the control unit 1 “and the switches 2 and 3, the indicator of test signals for 4 shows a message about the state of variables in this test: set. To obtain other Ha6oipOiB Shunting using a Commator 3, enter variables — other onions with the constant position of 1 AT coad mutating elements: M1 switch. When alternately entering all the condi- tions, all sets of shunting a complete diagnostic test are alternated.
При вводе переменных с П10 мощыо ко М мутатора 3 блок пам ти 5 запо1минает их. При вводе всех nqpeMeHHbix иивероной логической ф такции включитс индикатор гаа боров провер ющего теста 7. Это говорит о том, что все наборы шунтировани , полученные до и в MOiMeHT включени индикато|ра, вход т в прове1р ющий тест.When inputting variables from P10, the Mutator M mutator 3 memory block 5 stores them. When you enter all nqpeMeHHbix and iveronic logic functions, the indicator of the test tester probes 7 turns on. This indicates that all shunting kits obtained before and in the MOiMeHT turn on the indicator are included in the test.
Объедин все полученные н:аборы раз ры-ва и щуНтировани , получают полный диа1гностический тест дл данной ком1бина ционлой схемы . О1бъедин все зафиисированные наборы разрыва и шунтировани , полученные до и в Моме т включ.ени индикатора 7, получают полный провер ющий тест, вход щий в получ енн ы и д и а гн остич еский.Combining all of the n: abortions that have been obtained and obtained, a complete diagnostic test is obtained for this combination scheme. All interleaved rupture and shunting kits, obtained before and at the moment of including the indicator 7, receive a complete testing test, which is included in the received and d and a nest.
В отдельных частных случа х 1П|ровер ющий тест Может вл тьс и диагностическим.In some particular cases, the 1P | rover test may be diagnostic.
Но всегда провер ющий тест будет полностьюBut always the testing test will be completely
входить -в ч ИаГНОСТИЧ6СК1 Й.enter -in H. YAGNOSTICH6SK1 Y.
Фор м у л а п 3 о б р е т е « и Form m u l a p 3 o b e e e
Устройство дл получени тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управлени , 1КОММутатор переменных логической функции, соединенный входом с первым выходом блока управлени , ,и коммутатор переменных элементарных конъюнкций, вход которого подключен к выход ком1мутатора переменных логической функции, управл ющийA device for receiving tests of non-repetitive combinational circuits containing a control unit, a 1COMMutator of variables of a logical function connected to an input with a first output of a control unit, and a switchboard of variable elementary conjunctions whose input is connected to an output of a switch of variables of a logic function that controls
вход-к первому выходу блока управлени , первый выход соединен со входом индикатора тестовых наборов, отличающеес тем, что, с целью по1вышени эффективности работы устройства, оно содержит блок пам ти, подключенный уп1равл ющим входом ко вторО1му выходу блока управлени и входом ко второму выходу коммутатора переменных эл ементарных конъюн1кций, элемент И и индикатор наборов провер ющего теста., вход которогоinput to the first output of the control unit; the first output is connected to the input of the test set indicator, characterized in that, in order to increase the efficiency of the device, it contains a memory unit connected by a control input to the second output of the control unit and an input to the second output of the switch variables of the elementary conjunctions, the element And and the indicator of the sets of the checking test., whose input
через элемент И подключен к выходу блока пам ти.through the AND element is connected to the output of the memory block.
Источники информации, щрин тые во внимание при экспертизе: 1. Патент США N° 3614608, 32473R, 19.10.72.Sources of information taken into account in the examination: 1. US Patent N ° 3614608, 32473R, 19.10.72.
2. Описание изобретени по за вке ЛЬ 1914008/18-24 от 03.05.73, по которой вынесено решение о выдаче авторского свидетельства .2. Description of the invention according to the application LJ 1914008 / 18-24 dated 03.05.73, according to which the decision to issue the author's certificate was made.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2061964A SU526895A1 (en) | 1974-09-25 | 1974-09-25 | A device for obtaining tests of irrevocable combinational circuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2061964A SU526895A1 (en) | 1974-09-25 | 1974-09-25 | A device for obtaining tests of irrevocable combinational circuits |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU526895A1 true SU526895A1 (en) | 1976-08-30 |
Family
ID=20596645
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU2061964A SU526895A1 (en) | 1974-09-25 | 1974-09-25 | A device for obtaining tests of irrevocable combinational circuits |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU526895A1 (en) |
-
1974
- 1974-09-25 SU SU2061964A patent/SU526895A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU526895A1 (en) | A device for obtaining tests of irrevocable combinational circuits | |
US2776405A (en) | Electrical circuit analyzer | |
US3253134A (en) | Digit by digit series high-low limit comparator having means for completing an electrical path through a logic circuit | |
US2315649A (en) | Selective circuit metering device | |
SU570897A1 (en) | Device for preparing tests for repcatless composite circuits | |
SU748420A1 (en) | Device for shaping diagnostical test and diagnosis of combination circuits | |
SU607220A1 (en) | Arrangement for shaping tests of repetition-less combination circuits | |
SU595683A1 (en) | Device for measuring electrical circuit insulation resistance | |
SU746525A1 (en) | Device for testing magnetic matrix change-over switches | |
SU388261A1 (en) | Y1IOTEKA | |
SU767674A1 (en) | Device for automatically testing integrated circuits | |
SU736103A1 (en) | Device for obtaining diagnostic tests of logic units | |
SU748424A1 (en) | Device for diagnosis of faults | |
SU775732A1 (en) | Device for check test design and diagnosis of combination circuits | |
JPS5912626Y2 (en) | input multiplexer | |
SU652726A2 (en) | Device for testing sealed contact-based switching matrices | |
SU579674A2 (en) | Device for checking operating state of discrete automatic apparatus | |
SU788077A1 (en) | Device for testing digital circuits | |
SU847322A1 (en) | Three-channel majority device | |
SU1023397A1 (en) | Device for memory check | |
SU909672A1 (en) | Electroconductive liquid leakage indicator | |
JPS57105053A (en) | Integrated circuit which has incorporated testing circuit for fault detecting circuit | |
SU1084804A2 (en) | Device for debugging tests | |
SU458830A1 (en) | A device for obtaining minimal diagnostic tests of non-repetitive combinational circuits | |
SU913282A1 (en) | Device for checking electric ciruits |