SU736103A1 - Device for obtaining diagnostic tests of logic units - Google Patents
Device for obtaining diagnostic tests of logic units Download PDFInfo
- Publication number
- SU736103A1 SU736103A1 SU772549994A SU2549994A SU736103A1 SU 736103 A1 SU736103 A1 SU 736103A1 SU 772549994 A SU772549994 A SU 772549994A SU 2549994 A SU2549994 A SU 2549994A SU 736103 A1 SU736103 A1 SU 736103A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- switch
- inputs
- variable
- conjunctions
- outputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в автоматах контрол и поиска неисправностей, а также в спе- циализированньЕС устройствах дл получени тестов.The invention relates to automation and computing and can be used in control and troubleshooting machines, as well as in specialized devices for obtaining tests.
Известно устройство дл определени минимальных тестов контрол исправности релейных, структур, содержащее триг-. геры, переключатели и источник питани fl, ,дA device is known for determining minimum tests for monitoring the operability of relay structures containing trig. heres, switches and power supply fl,, d
Общими признак.ами дл аналога и предлагаемого изобретени вл етс наличие источника питани , общего переключател , триггеров, установочные входы которых подключаютс уерез замыкающие 5 контакты соответствующих переключателей к размыкающему контакту общего переключател .The common features of the analogue and the present invention are the presence of a power source, a common switch, and flip-flops, the installation inputs of which are connected via the make 5 contacts of the corresponding switches to the break contact of the common switch.
С помощью известного устройства можно получать диагностические тесты 20 которые в общем случае не вл ютс минимальными .Using a known device, it is possible to obtain diagnostic tests 20 which, in general, are not minimal.
Наиболее близким техническим решением к изобретению вл 1 тс устройствоThe closest technical solution to the invention of the device 1lc
ОЛЯ получени тестов б ее повторных ком- Зина ионных схем, содержащее блок управ- лени коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элемен- тарных конъюшсцнй, коммутатор конъюнк- циЙ8 индикатор тестовььх наборов, индикатор переменных логической функдии и группу элементов И 2j,OLYA of receiving tests of its repeated com- plexes of ionic circuits, containing a control unit, a switch of variables of a logic function, a switch of variables of elementary conjunctions, a switch of conjunctions, an indicator of test sets, an indicator of variables of logical function, and a group of elements And 2j,
Один из BbLxoaoB блока управлени подключен к KONDviyTaTopy конъюнкций, выходы которого соединены с аходами коммутатора переменных элементарньк конъюнкций а также к входу ком.1утатора переменных логической функ ииа Еьз.оды которого через элементы И соединены с ахо- дами индикатора тестовых наборов,, Одна группа въкодов коммутатора переменнъсх элементарных конъюнкций подключена к входам индикатора тестовых наборов, а друга к входам элементов И и входам индикатора переменных логической функ ции, к которому подключен дру1Х)й выход блока управлени 37 Общим дл прототипа и предлагаемого устройства вл етс наличие блока управлени 5 один из выходов которого подключен к ког смутатору переменных логической , фущщии к коммутатору коньюнк ЦИЙ9 выходы которого соединены с Еходами коммутатора переменных эпеменггарны Конъюнкций, индикатора тестовых наборов Известное устройство позвол ет попу- чать полные диагностические и минимальный провер ющий тест дл бесповторных логических схем Однако получаемые с номошью этого устройства полные диагностические тесты не вл ютс минимальными. Целью изобретени вл етс уменьшение длины получаемых полных диагкос ических тестов. Достигаетс это тем, что в устройст™ во дл получени диагностических тестов -логических блоков, содержащее блок пита ни а блок управлени , коммутатор кокьюнкциЙ8 коммутатор переменных логической функции Коммутатор переменных, элементарных конъюнкций переключател и блок индикации, причем выходы положи тельного и отрицательного полюсов бпока питани соединены соответственно с аходом блока управлени и с первым входом KONCvijTaTOpa конъюшодий, первый Bbt :ход блока управлени соединен с входом переключател , второй вькод блока управлени соединен с вторым входом коммутатора конъюнкций и с входом ком мутатораЧтеременных логической фушвдии выходы которого соединены с первой группой входов коммутатора переменных элементарных коньюнкцийл Е.КХ.ОД.Ы коммутатора конъюнкций соединены с второй группой входов коммутатора переменных элементарнъЕК конъюатаийг введен блок триггеров и элемент ИЛИ, причем перва группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюак ций соединена с входами элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом блока индикации, втора группа вы .ходов коммутатора переменных элементарных кошзюшщий соединена с первой группой в,ходов блока триггеров вько- ды переключател соединены с второй группой входов блока триггеров, вы,коды которого соединены с входами индикации, На фиГв 1 приведена блок схема устройст-ва дл получени диагносл ическкх тестов логических бкоков| на фиг. 2 « принципиальна электрическа 3 ОДНОГО из возможных вариантов ее технического осуществлени Устройство содержит блок питани 1, блок управлени 2, KOMMjTaTop коньЮ1Жций 3s KONiKiyTaTop 4 переменных логической фущщии, KoiviMyTaTop 5 переменных элементарных конъюнхцийд saeMBiiT ИЛИ 65 переключатель 7д блок триггеров 8 и блок 1;тдика.дии 9. Блок управлени 2 подключен к положитeльнo Iy полюсу блока питани 1, один КЗ его выходов подключе1г к входам коммутатора 4 переменньос логической фушсции и к первой группе входов коксмутатора конъюнкций 3, втора группа входов которого соединена с отрицательным полюсом бпока питани 1 а выходы ко а-1утатора конъю 1кций 3 COGдинены с входами KoiviMyTaTopa 5 переменных . элеме 1тарны : копьюнкдий, другой BbtxoA блока упрсшлени 2 подключен к входам перехшючатал 7, а выходы комssiyTBTopa переменньк логическ их: фу11кций 4 соединены с входами коммутатора 5 переменных элементарных конъюнкций, причем выход элемента ИЛИ 6 подключен .к входу блока индикеции Qf а входы - к одной группе выходов коммутатора переменных элементаркьш конъюнкций 5 втора группа выходов которого подключена к счетным .Б.хода.м блок,а триггеров 8э установочные аходы которых соединены с выводами переключател 7, а выходы блока триггеров 8 под1шючены к аходам бпока индикации 9 Блок управлени 2 предназначен дл подачи положительного полюса блока питани 1 на Bxo,ai)i переключател 7э первую группу входов коМ1-лу7.-атора конъюнкций 3j ка входа к.омк{утатора 4 переменйых логической функздиио Коммутатор конъюнкций 3 предназначен дл элементарных конъюнкций .шгической фушонии (, F ) диагностируемой схеМЕ и ее инверсии (F ) в которые входат переменна логической функции f (F )s дл которой опредап етс набор разрыва (шунтировани ),, Он имеет Д1зе группы входов н выходов и осуществл ет под1«ючвние входов первой или второй группы к соответств:)Тошвм выходам, соединеншым с входами комк татора 5 переменных эламентарньЕ :- конъюнкций Коммутатор 4 переменных логической )ушаши предназначен дл выбора переенкой логической фуцкции F ли F « л которой определ етс набор разрыва лд шунтировани соответственно, ОЕ осущестЕьл ет коммутацию входов с выходами , подключенными к входа : коммутатора 5 переменных элементарных конъюнкций .One of the BbLxoaoB control units is connected to KONDviyTaTopy conjunctions, the outputs of which are connected to the commons of the variable switchboard elementary conjunctions as well as to the input of the 1st logic variable of logical functions and which are connected to the indicator sets of test sets, One group of variables the switchboard of the variable elementary conjunctions is connected to the inputs of the indicator of test sets, and the other to the inputs of the elements AND and the inputs of the indicator of variables of the logic function to which the other output of the control unit is connected 37 A common feature of the prototype and the proposed device is the presence of a control unit 5 one of the outputs of which is connected to a variable variable switch that is connected to the switch of switches CIUR9 whose outputs are connected to the Ends of the switch of epemengear Conjunctions indicator test sets The known device allows Full diagnostic and minimum verification test for non-repetitive logic circuits. However, complete diagnostic tests obtained with this device are not minimal. yy. The aim of the invention is to reduce the length of the complete diagnostic tests obtained. This is achieved by the fact that in the device for obtaining diagnostic tests, logical blocks containing a power supply and control unit, switching switch 8 switch of variable logic switch switch of variables, elementary conjunctions of the switch and display unit, the outputs of the positive and negative poles of the power supply connected to the control unit and, respectively, with the first KONCvijTaTOpa conjugal input, the first Bbt: the control unit stroke is connected to the switch input, the second control unit code connected with the second input of the switch of the conjunctions and with the input of the switch of the variable logical fushvdii whose outputs are connected to the first group of inputs of the switch of variable elementary conjunctions E.КХ.OD. the first group of outputs of the switch of variable elementary conjugations is connected to the inputs of the OR element, the output of which is connected to the first input of the display unit, the second groups The switch of variable elementary kosher switch is connected to the first group in, the switch block triggers of the switch are connected to the second group of inputs of the trigger block, you, whose codes are connected to the display inputs, Figure 1 shows the block diagram of the device for obtaining diagrams logical side tests | in fig. 2 "basic electric 3 ONE of the possible variants of its technical implementation 9. Control unit 2 is connected to positively Iy pole of power supply unit 1, one short-circuit of its outputs is connected to the inputs of switch 4, the variable logic switch and to the first group of inputs of the conjunction switch 3, the second group of inputs to torogo connected to the negative pole of the power MAHB 1 and outputs to a-1utatora konyu 1ktsy 3 COGdineny with inputs KoiviMyTaTopa 5 variables. ale tare elements: copyunky, another BbtxoA control unit 2 is connected to interconnected inputs 7, and four TBTopa variable outputs are logical: functions 4 are connected to the inputs of the switch 5 variable element conjunctions, and the output of the OR 6 element is connected to the input of the indication block fct one group of switch outputs of variable element conjunctions 5 is the second group of outputs of which are connected to counting .B.mode.block, and flip-flops 8e whose installation inputs are connected to the pins of switch 7, and the outputs of flip-flop 8 are connected On the display side switches 9 Control unit 2 is intended to supply the positive pole of power supply 1 to Bxo, ai) i switch 7e first group of inputs KM1-Lu7. Conjunctor 3j and k.kom entrance (4 alternate logic functions) The switch of conjunctions 3 is intended for elementary conjunctions. of a fushonium (, F) of the circuit under diagnosis and its inversion (F) which includes a variable of the logic function f (F) s for which the discontinuity set is defined. It has a group of inputs and outputs and performs 1 "First entrance From the first or second group to the corresponding:) Toshvm outputs connected to the inputs of the switch 5 variable elements: - conjunctions 4 switch variables logical) ushshi is designed to select by changing the logical function F of which the shunting is determined, OE It performs switching of inputs with outputs connected to the input of: switch 5 variable elementary conjunctions.
Коммутатор 5 переменных элементарных конъюнкций предназначен дд ввода и запоминани переменных элементарных конъюнкций р ( F ) при определении наборов разрыва (шунтировани ) без учета И.Х знака, The switch 5 of variable elementary conjunctions is intended to input and store variable variable elementary conjugations p (F) when defining break sets (shunting) without considering the I.H sign,
Элемент ИЛИ 6 предназначен дл вььработки сигнала, подаваемого в блок 9 и запрещающего включение соответствующего набора разрыва (щунтировани ) в диагностический тест.The element OR 6 is designed to process the signal supplied to block 9 and prohibiting the inclusion of the corresponding set of discontinuity (bypass) in the diagnostic test.
Переключатель 7 предназначен дл ввода переменных логической функции F описывающей диагностируемую схему, и ее инверсии F при определении наборов шунтировани и разрьша соответствен но с учетом FLX знака. Он осуществл ет коммутацию входов с выходами, которые подключены к установочным входам триггеров блока 8,Switch 7 is designed to input the variables of the logic function F describing the diagnosed circuit, and its inversion F when defining the shunting sets and breaking, respectively, taking into account the FLX sign. It performs switching inputs with outputs that are connected to the setup inputs of the triggers of block 8,
Блок триггеров 8 предназначен дл формировани наборов разрыва (шунтировани ) и осуществл ет логическую обработку сигналов, поступающих на управл емые входы его триггеров.The trigger block 8 is designed to form sets of discontinuity (shunting) and performs the logical processing of signals arriving at the controlled inputs of its triggers.
Блок индикации 9 предназначен дл индикации наборов разрыва (шунтировани ), включаемых в диагностический тест.The display unit 9 is designed to indicate discontinuity sets (shunting) included in the diagnostic test.
На фиг. 2 изображена принципиальна электрическа схема одно из возможных вариантов тахнического осущестЕшени предлагаемого устройства, позвоп ющЭго получать минимальные диагностические тесты дл бесповторных схем описываемых функци ми от п ти аргументов , г дизъюнктивные нормальные фор мы F ( F ) которъос имеют до 3 элементарных конъюнкций. При увеличении числа переменных логической функции и элементернък конъюнкций F ( Р )FIG. Figure 2 shows a circuit diagram of one of the possible variants of the tachnichesky implementation of the proposed device, allowing it to obtain minimal diagnostic tests for repetitive schemes described by functions from five arguments, disjunctive normal forms F (F) which have up to 3 elementary conjunctions. With an increase in the number of variables of the logical function and element conjunctions F (P)
увеличиваетс только число элементов блоков устройства. Принцип построени и работъ устройства не мен етс .only the number of elements of the device blocks increases. The principle of construction and operation of the device does not change.
Блок управлени 2 предсташт ет собой кнопку с одним замъшающим и одним размыкающим контактом.The control unit 2 is a button with one push and one break contact.
Коммутатор конъюнкций 3 представл ет собой набор переключателей 3,1-3, имеющих замъшающие и размыкающие контакты..The conjuncture switch 3 is a set of 3.1-3 switches that have short and break contacts.
Коммутатор 4 переменных логической функции представл ет собой набор выключателей 4,1-4,5, имеющих размъшающие контакты.The switch 4 of the variables of the logic function is a set of switches 4,1-4,5 having interrupting contacts.
Коммутатор 5 переклейных элемен-гарных конъюнкций представл ет собой матричное запоминающее устройство, состо щее из двух матричных коммутаторов , имеющих обище коммутирующие элементы 5-ij (где i 1,2...5, j 1,2,3), В качестве коммутирующих элементов используютс пере1спючатели с замыкающими контактами, Латричные коммутаторы содерл ат группу горизонтальных и вертикальных шин.The switchboard 5 of the adhesive elementary conjunctions is a matrix storage device consisting of two matrix switches having an array of switching elements 5-ij (where i 1,2 ... 5, j 1,2,3). elements are used switches with closure contacts, Latemic switches contain a group of horizontal and vertical tires.
Элемент ИЛИ 6 представл ет собой диодную сборку.Element OR 6 is a diode assembly.
Переключатель 7 представл ет собой переключатель на три положени (третье положение нейтральное) с контактами 7.1-7.5.Switch 7 is a three position switch (the third position is neutral) with contacts 7.1-7.5.
Блок триггеров 8 представл ет собой набор S-T-R триггеров 8.1-8.5,Trigger block 8 is a set of S-T-R triggers 8.1-8.5,
Ешок индикаций 9 содержит набор лампочек индикации ,6, два реле 9,7 и 9,8.The display indication 9 contains a set of indication lamps, 6, two relays 9.7 and 9.8.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772549994A SU736103A1 (en) | 1977-12-05 | 1977-12-05 | Device for obtaining diagnostic tests of logic units |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772549994A SU736103A1 (en) | 1977-12-05 | 1977-12-05 | Device for obtaining diagnostic tests of logic units |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU736103A1 true SU736103A1 (en) | 1980-05-25 |
Family
ID=20735850
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772549994A SU736103A1 (en) | 1977-12-05 | 1977-12-05 | Device for obtaining diagnostic tests of logic units |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU736103A1 (en) |
-
1977
- 1977-12-05 SU SU772549994A patent/SU736103A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU736103A1 (en) | Device for obtaining diagnostic tests of logic units | |
SU607220A1 (en) | Arrangement for shaping tests of repetition-less combination circuits | |
SU734694A1 (en) | Device for testing logic units | |
US3587093A (en) | Indicating arrangement with digit total from addition or subtraction | |
SU526895A1 (en) | A device for obtaining tests of irrevocable combinational circuits | |
JPS56110160A (en) | Test diagnostic system of information processing system | |
SU423152A1 (en) | DEVICE FOR SIGNALING | |
SU570897A1 (en) | Device for preparing tests for repcatless composite circuits | |
SU388261A1 (en) | Y1IOTEKA | |
SE8804438L (en) | ELECTRICAL CONNECTOR | |
SU503189A1 (en) | Device to verify the electrical installation | |
SU1001472A1 (en) | Change-over switch | |
SU864302A1 (en) | Resistive network model unit | |
RU2011230C1 (en) | Device for teaching computer engineering principles | |
KR960010313Y1 (en) | A circuit for testing lamps of control panel | |
SU622125A1 (en) | Image recognition device | |
SU881823A2 (en) | Indication device | |
SU458830A1 (en) | A device for obtaining minimal diagnostic tests of non-repetitive combinational circuits | |
SU480078A2 (en) | System for automatic control of electronic circuit parameters | |
SU642711A1 (en) | Arrangement for shaping tests of discrete automatic apparatus | |
SU1472936A1 (en) | Operatorъs fitness tester | |
RU2214628C2 (en) | Facility for teaching digital electronics fundamentals | |
SU947852A1 (en) | One-digit code comparing device | |
SU1287053A1 (en) | Device for automatic checking of correctness of wiring and insulation resistance of cable assemblies | |
SU1078665A1 (en) | Device for checking switching modules |