SU570897A1 - Device for preparing tests for repcatless composite circuits - Google Patents
Device for preparing tests for repcatless composite circuitsInfo
- Publication number
- SU570897A1 SU570897A1 SU7502107802A SU2107802A SU570897A1 SU 570897 A1 SU570897 A1 SU 570897A1 SU 7502107802 A SU7502107802 A SU 7502107802A SU 2107802 A SU2107802 A SU 2107802A SU 570897 A1 SU570897 A1 SU 570897A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- variables
- switch
- indicator
- conjunctions
- inputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к вычислительной технике, а именно к устройствам контрол н поиска неисправностей в бесповторных комбинационных схемах.The invention relates to computing, namely, to devices for monitoring troubleshooting in non-repetitive combinational circuits.
Известно устройство дл получени тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок знравлени , коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элементарных конъюнкций и индикатор тестовых наборов. Блок управлени .соединен с коммутаторами переменных логической функции и переменных элементарных конъюкций , выходы коммутатора переменных логической функции подключены к одноименныг входам коммутатора переменных конъюнкций , Нагрузкой которого вл етс индикатор тестовых наборов 1.A device is known for obtaining tests of non-repetitive combinational circuits containing an evaluation unit, a switch of variables of a logic function, a switch of variables of elementary conjunctions, and an indicator of test sets. The control unit is connected to the commutators of variable logic functions and variable elementary conjunctions, the commutator outputs of the variable logic functions are connected to the same inputs of the variable conjunction commutator, whose load is the test case indicator 1.
Недостатком данного устройства вл етс необходимость вынолнени логических преобразований дл получени полного провер ющего теста, особенно минимального, когда приходитс решать комбинаторные задачи, св занные с перебором числа конъюнкций и нахождением минимальных покрытий матриц.The disadvantage of this device is that it is necessary to perform logical transformations in order to obtain a complete verification test, especially a minimal one, when it is necessary to solve combinatorial problems related to enumerating the number of conjunctions and finding the minimum matrix coverages.
Известно также наиболее близкое по техническому решению к изобретению устройство дл получени тестов бесповторных комбинационных схем, содерл ащее блок управлени , коммутатор переменных логической функции, коммутатор неременных элементарных конъюнкцни , коммутатор конъюнкций, инднкатор тестовых наборов, причем первый выход блока управлени подключен к управл ющим входам коммутатора переменных логической функции н коммутатора конъюнкций, выходы которого соединены с управл ющими входами коммутатора переменных элементарных конъюнкций , перва группа выходов коммутатора неременных элементарных конъюнкций подсоединена к первой группе входов индикатора тестовых наборов 2.It is also known the closest to the technical solution of the invention a device for obtaining tests of non-repetitive combinational circuits, comprising a control unit, a switch of variable logic functions, a switch of non-transitory elementary conjunctions, a switch of conjunctions, an indicator of test sets, the first output of the control unit connected to the control inputs of the switch variables of the logic function n of the conjunction commutator, the outputs of which are connected to the control inputs of the commutator of the variable elementary circuits nktsy, a first group of non-belt elementary conjunctions switch outputs connected to inputs of the first group indicator test kits 2.
Недостатком данного зстройства вл етс невозможность ползчени минимальных провер ющих тестов, вход щих в число диагностических .The disadvantage of this device is that it is not possible to creep into minimal diagnostic tests that are among the diagnostic ones.
При контроле комбинационных схем целесообразно реализовать наборы провер ющего теста, а при обнаружении факта неисправности - оставшиес наборы, которые в сумме с провер ющим составл ют полный диагностический тест. Это уменьшит врем контрол .When monitoring combinational circuits, it is advisable to implement sets of testing tests, and when a failure is detected, the remaining sets, which together with the testing personnel, constitute a complete diagnostic test. This will reduce the time control.
Цель изобретени - расширение функциональных возможностей устройства за счет получени полных провер ющих тестов, вход щих в получаемый диагностический тест и имеющих наименьшую длину.The purpose of the invention is to expand the functionality of the device by obtaining complete testing tests that are included in the diagnostic test and have the shortest length.
Это достигаетс , тем, что в устройство введены группа элементов И и индикатор переменных логической функцни, причем выход блока управлени соединен с управл ющимThis is achieved by the fact that a group of elements AND and an indicator of variables of a logical function are introduced into the device, the output of the control unit being connected to the control unit
33
входом индикатора переменных логической функции, втора груииа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций - с групиой входов индикатора переменных логической функции и с первыми входами группы элементов И, вторые входы которых св заны с выходами коммутатора переменных логической функции, выходы группы элементов И подключены к второй группе входов индикатора тестовых наборов.the input of the indicator of variables of the logical function, the second group of outputs of the switch of variable elementary conjunctions — with the group of inputs of the indicator of variables of the logical function and with the first inputs of the group of elements AND, the second inputs of which are connected to the outputs of the switch of variables of the logical function; the outputs of the group of elements AND are connected to the second group of inputs indicator test kits.
На фиг. 1 изображена структурна схема устройства; на фиг. 2 - принципиальна электрическа схема одного из возможных вариантов его технической реализации.FIG. 1 shows a block diagram of the device; in fig. 2 - the basic electrical circuit of one of the possible variants of its technical implementation.
Устройство содержит блок 1 управлени , коммутатор 2 конъюнкций, коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций, индикатор 4 переменных логической функции, коммутатор 5 переменных логической функции, группу элементов И 6, индикатор 7 тестовых наборов.The device contains a control unit 1, a switch of 2 conjunctions, a switchboard of 3 variable elementary conjunctions, an indicator of 4 variables of a logical function, a switchboard of 5 variables of a logical function, a group of elements And 6, an indicator of 7 test cases.
Коммутатор 2 конъюнкций и коммутатор 5 переменных логической функции подключены к одному из выходов блока 1 управлени , индикатор 4 переменных логической функции - к другому выходу блока управлени . Одна группа выходных шин коммутатора 3 переменных -элементарных конъюнкций подсоединена к одноименным входам индикатора 7 тестовых наборов, друга -к одноимевным входам индикатора 4 переменных логической функции, к входам группы элементов И 6, сто щих между выходами коммутатора 5 переменных логической функции и входами индикатора 7 тестовых наборов.The switch 2 of the conjunctions and the switch 5 of the variables of the logical function are connected to one of the outputs of the control unit 1, the indicator 4 of the variables of the logical function is connected to the other output of the control unit. One group of output buses of the switchboard 3 variable-elementary conjunctions are connected to the indicator inputs of the same name 7 test sets, the other — to the indicator inputs of the same name 4 variable logic functions, to the inputs of a group of elements And 6, standing between the outputs of the switch 5 variable logic functions and the inputs of the indicator 7 test kits.
Блок 1 управлени представл ет собой устройство , выполненное на коммутирующих элементах , с помощью которых осуществл ютс подача и сн тие напр жени источника питани на входы коммутатора 2 конъюнкций, коммутатора 5 переменных логической функции и индикатора 4 переменных логической функции. Один из выходов блока управлени , св занный с входами коммутатора конъюнкций и коммутатора переменных логической функции, служит дл подачи напр жени в устройство на врем считывани наборов теста, другой, св занный с индикатором переменных логической функции - дл сн ти напр жени при приведении устройства в исходное положение.Control unit 1 is a device made on switching elements, which are used to supply and relieve the voltage of the power source to the inputs of the switch 2, the switch 5 variable logic functions and the indicator 4 variable logic functions. One of the outputs of the control unit, connected to the inputs of the switch of the conjunctions and the switch of variables of the logic function, serves to supply voltage to the device for the duration of reading test sets, the other one connected to the indicator of variables of the logic function — to relieve the voltage when the device is brought into initial position.
Коммутатор 2 конъюнкций - это набор коммутирующих элементов, соответствующих элементарным конъюнкци м, с помощью которых осуществл етс подключение входа коммутатора 2 к соответствующему выходу.The switch 2 of conjunctions is a set of switching elements corresponding to the elementary conjunctions with which the input of the switch 2 is connected to the corresponding output.
Коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций выполнен матричным с двум группами выходных щин. Коммутирующие элементы, объединенные входными шинами, соответствуют переменным элементарным конъюнкций, а объединенные выходными ujiiнами - переменным логической функции. Выходные щины одной из групп, соединенные с входами индикатора 7 тестовых наборов, подключаютс к входным в положении коммутирующих элементов, соответствующем наличию переменных независимо от их логического. Выходные щины другой группы, соединенные с входами индикатора 4 переменных логической 5 функции, подключаютс к входным в положении тех же коммутирующих элементов, соответствующем переменным без инверсии.The switchboard of 3 variable elementary conjunctions is made matrix with two groups of output lines. The switching elements combined by the input buses correspond to the variable elementary conjunctions, and the combined output ujii-nami correspond to the variables of the logic function. Output wiring of one of the groups, connected to the inputs of the indicator 7 test sets, is connected to the inputs in the position of the switching elements, corresponding to the presence of variables regardless of their logic. The output wiring of another group connected to the indicator inputs 4 variables of the logic 5 function is connected to the inputs at the position of the same switching elements corresponding to the variables without inversion.
Индикатор 4 переменных логической функции изготовлен на индицирующих элементахThe indicator 4 variable logic function is made on the indicating elements
0 пам ти, сохран ющих информацию о переменных при получении всех наборов теста. Каждый индицирующий элемент соответствует переменной логической функции.0 memory storing variable information upon receipt of all test sets. Each indicating element corresponds to a variable of a logic function.
Коммутатор 5 переменных логической функции выполнен на коммутирующих элементах, соответствующих переменным логической функции. Во включенном положении коммутирующих элементов вход коммутатора подключаетс к соответствующему выходу.Switch 5 variables of the logic function is performed on the switching elements corresponding to the variables of the logic function. In the on position of the switching elements, the input of the switch is connected to the corresponding output.
0 Группа элементов И 6, число элементов И в которой соответствует количеству переменных логической функции, на которое рассчитано устройство, в исходном положении открыта и соедин ет собственные входы с выходами. При0 A group of elements And 6, the number of elements And in which corresponds to the number of variables of the logical function for which the device is designed, is open in the initial position and connects its own inputs to the outputs. With
5 подаче напр жени на первые входы элементы И закрываютс и разобщают выходы от входов.5, applying voltage to the first inputs, the elements AND close and separate the outputs from the inputs.
Индикатор 7 тестовых наборов представл ет собой набор индицирующих элементов, соот0 встствующих переменным в наборах теста, а состо ние элементов соответствует состо нию этих переменных в наборах.The test case indicator 7 is a set of indicative elements corresponding to variables in the test sets, and the state of the elements corresponds to the state of these variables in the sets.
Устройство работает следующим образом. В исходном положении устройства все коммутирующие элементы наход тс в выключенном состо нии. Дл приведени в исходное положение элементов пам ти индикатора переменных логической функции необходимо с помощью коммутирующих элементов блока управлени сн ть напр жение источника питани с входа индикатора переменных логической функции. Дл получени наборов разрыва с помощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций в устройство вводитс The device works as follows. In the initial position of the device, all switching elements are in the off state. To reset the memory elements of the indicator of variables of a logic function, it is necessary to remove the power supply voltage from the input of the indicator of variables of a logic function using the switching elements of the control unit. To obtain discontinuity sets using a switch, 3 variable elementary conjunctions are entered into the device.
5 логическа функци в дизъюнктивной нормальной форме, а с помощью коммутатора 5 набираютс переменные инверсной логической функции. Затем с помощью коммутатора 2 выбираетс одна из конъюнкций включением соответствующего коммутирующего элемента. При подаче напр жени с блока 1 управлени индикатор 7 тестовых наборов отображает информацию о состо нии переменных в наборе5 is a logical function in a disjunctive normal form, and with the help of switch 5, variables of an inverse logical function are dialed. Then, using switch 2, one of the conjunctions is selected by including the corresponding switching element. When voltage is applied from control block 1, test set indicator 7 displays information about the state of variables in the set
5 разрыва, а ннднкатор 4 переменных логической функции - информацию о контролируемых этим набором переменных. Далее последовательпо выбираютс включением соответствующих коммутирующих элементов коммутатора 2 следующие конъюнкции, все переменные которых или их часть не контролируютс получаемыми наборами. При последовательной подаче питани с блока управлени каждый раз считывают информацию с индикатора5 breaks, and the 4 variables of the logic function variables - information about the variables controlled by this set. Next, the following conjunctions are selected by switching on the corresponding switching elements of switch 2, all variables or part of them are not controlled by the resulting sets. When power is sequentially supplied, the control unit reads information from the indicator each time.
5 тестовых наборах.5 test kits.
Выбор конъюнкций и получение наборов разрыва происходит до тех пор, пока не останетс переменных, не контролируемых полученными наборами. Фнксиругот все наборы разрыва, которые в сумме контролируют все переменные логнческдй функции. Эти наборы войдут в провер юпдай тест. Затем устройство приводитс в исходное положение.The selection of conjunctions and the receipt of sets of discontinuity occurs until there are no variables that are not controlled by the sets obtained. Functions all sets of discontinuity, which together control all variables of logic functions. These kits will be included in the test test. The device is then reset.
Дл получени наборов шунтировани с помощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций в устройство вводитс ИНверсна логическа функци в дизъюнктивной нормальной форме, а с помош,ью коммутатора 5 переменных логической функции набираютс переменные логической функции. Затем с помощью коммутатора 2 выбираетс одна из конъюнкций инверсной логической функции включением соответствующего коммутирующего элемента.To obtain shunting sets using the switch 3 variable elementary conjunctions, the device introduces an inverse logic function in a disjunctive normal form, and with the switch 5 variable logic functions, variables of the logic function are dialed. Then, using switch 2, one of the conjunctions of the inverse logic function is selected by turning on the corresponding switching element.
При нодаче цаир жени с блока 1 управлени индикатор 7 тестовых наборов отображает информацию о состо нии переменных в наборе щунтировани , а иидикатор 4 переменных логической функции - информацию о контролируемых этим набором цеременных. Затем последовательно путем включени соответствующих коммутирующих элементов коммутатора 2 выбираютс следующие конъюнкции, все переменные которых или часть перемеиных е контролируютс получаемыми наборами . Эти не контролируемые наборами переменные считываютс с индикаторами 4 переменных логической функции. При последовательной подаче питани с блока 1 управлени каждый раз считываетс информаци с индикатора 7 о тестовых наборах.When presenting the control unit 1 of control, indicator 7 of test sets displays information about the state of variables in the bypass set, and the indicator 4 of the variables of the logic function presents information about the control variables controlled by this set. Then, by turning on the corresponding switching elements of the switch 2, the following conjunctions are selected, all the variables of which or part of the variables e are controlled by the resulting sets. These non-set-controlled variables are read with indicators of 4 variables of the logic function. In the case of a sequential power supply, control unit 1 reads information from indicator 7 about test sets each time.
Выбор конъюнкций и получение наборов разрыва провод тс до тех пор, пока не останетс переменных логической функции, не контролируемых полученными наборами щунтировани . Эти полученные наборы войдут в провер ющий тест.The selection of conjunctions and the collection of discontinuity sets are carried out until there are no variables of the logic function that are not controlled by the obtained bypass sets. These resulting kits will be included in the verification test.
Объедин все зафиксированные наборы разрыва и щунтировани , получают полный провер ющий тест. При переборе конъюнкций в различной иоследовательности можно получить различные полные провер ющие тесты.Combining all fixed sets of rupture and bypassing, get a complete verification test. When searching for conjunctions in different sequences, one can get various complete testing tests.
При переборе конъюнкций в указанной последовательности получают полный провер ющий тест наименьщей длины.When searching for conjunctions in the specified sequence, a complete testing test of the shortest length is obtained.
Дл ползчени наборов полного диагностического теста, содержащего в себе любой из провер ющих тестов, последовательно перебирают все имеющиес конъюнкции логической и инверсной логической функции.In order to crawl through the sets of a complete diagnostic test that contains any one of the testing tests, all the existing conjunctions of a logical and inverse logical function are sequentially searched.
На фиг. 2 представлен один из возможных вариантов технических реализаций устройства, расчитанного дл комбинационных схем, реализующих логические функции до трех переменных .FIG. 2 shows one of the possible variants of technical implementations of the device, designed for combinational circuits that implement logical functions in up to three variables.
При увеличении числа переменных логической функции увеличиваетс только число элементов устройства. Пр1-нцип построени и работа устройства не мен ютс .As the number of variables of a logic function increases, only the number of elements of the device increases. The design and operation of the device does not change.
Блок 1 управлени выполнен на двух кнопках 8 и 9. При включении кнопки 8 снимаетс напр жение источника питани с устройства дл его приведени в исходиое состо ние. При включеиии кнопки 9 подаетс питание источника на устройство на врем считывани наборов теста.The control unit 1 is made on two buttons 8 and 9. When the button 8 is turned on, the voltage of the power source is removed from the device to bring it to its initial state. When the button 9 is turned on, the source is energized on the device while the test sets are being read.
Коммутатор 2 конъюнкций имеет нереключатели 0, 11 и 12, во включенном состо нииThe switch 2 conjunction has non-switches 0, 11, and 12, in the enabled state
которых к входу подключаетс соответствующий выход.which connects to the input of the corresponding output.
Комлтутатор 3 переменных элементарных конъюнкций изготовлен матричным. В качестве коммутирующих элементов выбраны переключатели 13-21 с фиксированиым нейтральным поло кепием. В одном из включенных положений к входным щинам подключаютс обе группы выходных щин, а в другом включенном положении - только щины, соединенныеThe switch 3 variable elementary conjunctions is made matrix. Switches 13–21 with fixed neutral rectum were selected as switching elements. In one of the included positions, both groups of outlet women are connected to the input wands, and in the other switched on position only wrinkles connected
с входами индикатора 7 тестовых наборов.with indicator inputs 7 test cases.
Индикатор 4 переменных логической функции состоит из электромагнитных реле 22-24, включенных по схеме с самоблокировкой, и комбинационных электрических лампочек,Indicator 4 variable logic function consists of electromagnetic relays 22-24, included in the scheme with self-locking, and combinational electric lights,
включенных в цепь самоблокировки.included in the chain of self-locking.
Коммутатор 5 переменных логической функции выполнен на переключател х 25, 26 и 27, во включенном состо нии которых соответствующие выходы подключаютс к входу коммутатора .The switch 5 of the variables of the logic function is executed on the switches 25, 26 and 27, in the on state of which the corresponding outputs are connected to the input of the switch.
В качестве элементов И б применены электромагнитные реле с нормально замкнутыми и нормально разомкнзтыми контактами.As elements And b used electromagnetic relays with normally closed and normally open contacts.
Индикатор 7 тестовых наборов иредставл етThe indicator 7 test cases and the
собой световое табло на электрических коммутационных лампочках 28, 29 и 30, соответствующ .их переменным в наборах теста.a light panel on electric switching lamps 28, 29 and 30, corresponding to their variables in the test sets.
Преимуществом предлагаемого устройства перед известным вл етс то, что оно позвол ет получить наименьшие провер ющие тесты, вход щие составной частью в диагностические, а также наборы полных провер ющих тестов, в том числе и наименьщей длины, упор дочениыо по количеству обнаруживаемых ими иеисправностей . При контроле схеме это приведет к сокращению времени контрол .The advantage of the proposed device over the known one is that it allows to obtain the smallest testing tests, which are an integral part of diagnostic tests, as well as sets of complete testing tests, including the shortest length, ordered by the number of malfunctions that they detect. When controlling the circuit, this will reduce the control time.
Ф о р м } л а изобретени F o rm} l and inventions
Устройство дл получени тестов бесповторных комбинационных схем, содержащее блок управлени , коммутатор переменных логической функции, коммутатор переменных элементарных конъюнкций, коммутатор конъюнкПИЙ , индикатор тестовых наборов, причем первый выход блока управлени соединен с управл ющими входами коммутатора переменных логической функции и коммутатора конъюнкций , выходы которого соединены с управл ющими входами коммутатора переменных элементарных конъюнкций, перва группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций соединена с первой группой входов индикатора тестовых наборов, отличающеес тем, что, с целью расщирени функциональных возможностей, в устройство введены грз-ппа элементов И и индикатор переменных логической функции, причем выход блока управлени соединен с управл ющим входом индикатора переменных логической функции, втора группа выходов коммутатора переменных элементарных конъюнкций соединена с группой входов индикатора переменных логической функции и с первыми входами группы элементов И, вторые входы которых соединены с выходами коммутатора переменных логической функции, выходы группы элементов И соединены с второй группой входов индикатора тестовых наборов.A device for receiving tests of non-repetitive combinational circuits containing a control unit, a switch of variable logic functions, a switch of variable elementary conjunctions, a switch of conjunctions, an indicator of test sets, the first output of the control unit connected to the control inputs of the switch of variable logical functions and a switch of conjunctions whose outputs are connected with the control inputs of the commutator of variable elementary conjunctions, the first group of the commutator output of variable elementary Onjunction is connected to the first group of inputs of the test set indicator, characterized in that, in order to extend the functionality, the device includes CI elements and And an indicator of variables of the logic function, the output of the control unit is connected to the control input of the indicator of the variables of the logic function, the second the group of outputs of the switch of variable elementary conjunctions is connected with the group of inputs of the indicator of variables of a logic function and with the first inputs of the group of elements AND, the second inputs of which are connected The switches with the switch outputs of the variables of the logic function, the outputs of the group of elements And are connected to the second group of inputs of the indicator of test sets.
Р1сточники информации, прин тые во внимание при экспертизеP1 sources of information taken into account in the examination
1.Авторское свидетельство СССР №458830, кл. G 06F 11/00. 1974.1. USSR author's certificate No. 458830, cl. G 06F 11/00. 1974.
2.Авторское свидетельство СССР № 388261 G 06F 11/00, 1971.2. USSR author's certificate No. 388261 G 06F 11/00, 1971.
ПP
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7502107802A SU570897A1 (en) | 1975-02-18 | 1975-02-18 | Device for preparing tests for repcatless composite circuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7502107802A SU570897A1 (en) | 1975-02-18 | 1975-02-18 | Device for preparing tests for repcatless composite circuits |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU570897A1 true SU570897A1 (en) | 1977-08-30 |
Family
ID=20610940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU7502107802A SU570897A1 (en) | 1975-02-18 | 1975-02-18 | Device for preparing tests for repcatless composite circuits |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU570897A1 (en) |
-
1975
- 1975-02-18 SU SU7502107802A patent/SU570897A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4392107A (en) | Switching equipment for testing apparatus | |
SU570897A1 (en) | Device for preparing tests for repcatless composite circuits | |
US3156868A (en) | Phase sequence indicator including double throw switching means | |
SU607220A1 (en) | Arrangement for shaping tests of repetition-less combination circuits | |
SU748420A1 (en) | Device for shaping diagnostical test and diagnosis of combination circuits | |
SU458830A1 (en) | A device for obtaining minimal diagnostic tests of non-repetitive combinational circuits | |
SU550639A1 (en) | Device for obtaining diagnostic tests of non-repetitive combinational circuits | |
SU526834A1 (en) | Device for troubleshooting irrevocable combinational circuits | |
SU553552A1 (en) | Device for checking electrical circuit parameters | |
SU526895A1 (en) | A device for obtaining tests of irrevocable combinational circuits | |
SU423152A1 (en) | DEVICE FOR SIGNALING | |
SU534704A1 (en) | Method and device for monitoring the integrity of the electrical circuit | |
JPS61133727A (en) | Counter fault separating circuit | |
JPS56110160A (en) | Test diagnostic system of information processing system | |
SU960668A1 (en) | Device for checking electric wiring | |
US2609424A (en) | Capacitor control | |
SU536539A1 (en) | Switching device | |
JPS6050306B2 (en) | Analog input device diagnostic device | |
SU480078A2 (en) | System for automatic control of electronic circuit parameters | |
SU734694A1 (en) | Device for testing logic units | |
RU2027979C1 (en) | Indicator of loading of motor | |
SU737886A1 (en) | Device for automatic monitoring of the resistance of dc supply source bus-bar insulation | |
SU947871A1 (en) | Device for solving standardization optimization problems | |
JPS6378695A (en) | Line connecting device | |
SU736103A1 (en) | Device for obtaining diagnostic tests of logic units |