SU520674A1 - Источник напр жени смещени - Google Patents

Источник напр жени смещени

Info

Publication number
SU520674A1
SU520674A1 SU2100061A SU2100061A SU520674A1 SU 520674 A1 SU520674 A1 SU 520674A1 SU 2100061 A SU2100061 A SU 2100061A SU 2100061 A SU2100061 A SU 2100061A SU 520674 A1 SU520674 A1 SU 520674A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
transistor
voltage
source
gate
transistors
Prior art date
Application number
SU2100061A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Петрович Деркач
Владимир Павлович Рева
Александр Михайлович Торчинский
Олег Сергеевич Фролов
Original Assignee
Предприятие П/Я Х-5737
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Х-5737 filed Critical Предприятие П/Я Х-5737
Priority to SU2100061A priority Critical patent/SU520674A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU520674A1 publication Critical patent/SU520674A1/ru

Links

Landscapes

  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

(54) ИСТОЧНИК НАПРЯЖЕНИЯ СМЕЩЕНИЯ
I
Изобретение относитс  к микроэлектроннике, в частности к устройствам, вырабатывающим задан- . нее посто нное напр жение; может найти применение дл  согласовани  по уровн м сигналов входных цепей высокопороговых МДП интегральных схем с выходными цеп ми интегральных схем на бипол рных транзисторах. Они включаютс  либо непосредственно во входную цепь МДП интегральных схем (выходное напр жение источника подаетс  на затвор МДП транзистора, который одновременно  вл етс  входом схемы); либо цепь смещени  и входна  цепь раздел ютс  (выходное напр жение источника подаетс  на затвор МДП транзистора, а входом служит исток МДП транзистора).
В качестве датчика напр жени  смещени  обычно используютс  резистивные делители и делители на МДП транзисторах с посто нным смещением на затворах.
Известен источник напр жени  смеще|ш  lia двух последовательно соединенных МДП транзисторах , в котором затвор   сток первого транзистора подсое;цш%ны к шиие источника напр жени  пнтаии , затвор второго транзистора соединен с истоком первого .
Цель изобретени  - расщирение пределов выходного напр жени  и повь1шеиие стаб1 льности напр жени  смещени .
В предлагаемом источнике напр жени  смещени  между затвором и стоком второго транзистора включена цепочка из последовательно соединенных в пр мом направлении полупроводниковых диодов; упом нута  цепочка может быть образована из р- п переходов эмиттер - база бипол рных транзисторов, коллекторы которых соединены с истоком второго транзистора.
Данное описание составлено иа примере р-канальной МДП интегральной схемы.
На фиг. I представлена принципиальна  электрическа  схема источника напр жени  смешени ; на фиг. 2 - модернизироваина  принципиальна  электрическа  схема.
Источник напр жени  смещени  содержит транзистор 1, цепочку из п диодов 2 .... 2
ta транп

Claims (2)

  1. зистор 3. Затвор и стмс транзистора 1 соединены с :щииой питаии , затвор транзистора 3 соединен с исто;Ком транзистора 1. Между затвором и стоком транзистора 3 (выходом cxeMbi) в даниом случае включ« ;ио п диодов в пр мом направлении. Если крутизиа транзистора 3 во много раз больше крутизны траизистора 1, в истоке транзистора 1 напр жение примерно равно пороговому, а следовательно, на выходе источ ншса напр жение меньше порогового на суммарное падение напр жени  на пр мосмещенных диодах. Это напр жение позвол ет надежно согласовать бипол рные и МДП интегральные схемы. Таким образом, подбором соотношени  крутизны транзисторов и выбором числа последовательно включенных диодов выходное напр жение можно измен ть в широких пределах как выше, так и ниже порогового напр жешм МДП транзистора. i Колебани  выходного напр жени  такого источjmnca относительно порогового, обусловленные разбросом величины порогового напр жени , его зави-; симостью от температуры и нестабильностью, нестабильностью напр жешш питани , уменьшаютс  с росТОМ отношени  транзисторов. Поэтому повышение стабильности выходного напр жешш св занос вег. личением размеров одного или обоих транзисторов). Схема, приведешт  на фиг. 2, позвол ет получить высокую стабильность выходного напр жени  источника напр жени  смещени  при минимальн 1Х размерах транзисторов. Здесь вместо диодов иcпoль зованы бипол рные транзисторы. В зтом источнике напр жени  смешени  один или несколько бипол рных транзисторов 2 j ... чёны таким образом, что эмиттер первого соедакен о истоком первого МДП транзистора, эмиттер каждого последующего с базой предыдуи зго, база последнего  вл етс  стоком второго МДП транзистора, об-щим коллектором служит подложка. Ток, протека1ЮЩИЙ через МДП транзистор 3 - это базовый ток последаего бипол рного транзистора; он меньше тока , протекающего через МДП транзистор 1, - эмиттерного тока первого бипол рного транзистора, в 1.,5-----Рп.™е jb,g,,|bj...., - коэффициенты усилени  по току в схеме с общим коллектором соответственно первого, второгоп-ного бипол рных транзисторов. Если в источнике напр жени  смещени  применены два бипол рных транзистора (на выходе такого датчика напр жение ниже порогового на 1-1,5 в), обычно fi составл ет величину пор дка 50+100. Поэтому , если МДП - транзистор 1 выбрать единичным С /L 1) , то в схеме, изображенной на фиг. 2, размер МДП транзистора 3 может быть уменьшен в 250+1000 раз по сравнению с его размерами дл  схемы , изображенной на фиг. 1. Така  схема выполн етс  на одной полупроводниковой подложке и в общем технологическом щжле с МДП и интегральными схемами. Формула изобретени  1.Источник напр жени  смещени  на двух последовательно соединенных МДП транзисторах, в котором затвор и сток первого транзистрра:подсоединены к шине источника напр жени  питани , затвор второго транзистора соединен с истоком первого,; отличающийс  тем, что, с целью рарщирени  пределов выходного напр жени , между затвором и стоком второго транзистора включена цепочка последовательно соединенных в пр мом направлении ;полуп 5оводниковых диодов.
  2. 2. Источник напр жени  смещени  по п.1, о tличающи ,йс  тем, что, с целью повьппени  стабильности напр жени  смещени , упом нута  цепочка образована из соединенных между собой р - п - переходов экшттер - база бипол рных транзистсфов, .коллекторы которых соединены с истоком второго транзистора.
SU2100061A 1975-01-06 1975-01-06 Источник напр жени смещени SU520674A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2100061A SU520674A1 (ru) 1975-01-06 1975-01-06 Источник напр жени смещени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2100061A SU520674A1 (ru) 1975-01-06 1975-01-06 Источник напр жени смещени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU520674A1 true SU520674A1 (ru) 1976-07-05

Family

ID=20608464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2100061A SU520674A1 (ru) 1975-01-06 1975-01-06 Источник напр жени смещени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU520674A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4947056A (en) * 1988-04-12 1990-08-07 Nec Corporation MOSFET for producing a constant voltage

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4947056A (en) * 1988-04-12 1990-08-07 Nec Corporation MOSFET for producing a constant voltage

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6242937B1 (en) Hot carrier measuring circuit
KR890000959A (ko) 출력 인터페이스 회로
KR910007657B1 (ko) 반도체 온도검출회로
KR930005500B1 (ko) 반도체 집적회로
US4622476A (en) Temperature compensated active resistor
US20030174014A1 (en) Reference voltage circuit and electronic device
US5150188A (en) Reference voltage generating circuit device
JPS5384578A (en) Semiconductor integrated circuit
SU520674A1 (ru) Источник напр жени смещени
US6411133B1 (en) Semiconductor device
US3601630A (en) Mos circuit with bipolar emitter-follower output
US4160918A (en) Integrated logic circuit
JP4176152B2 (ja) 分圧器回路
US4577119A (en) Trimless bandgap reference voltage generator
US11199565B1 (en) Undervoltage detection circuit
US5585752A (en) Fully integrated, ramp generator with relatively long time constant
JPH06347337A (ja) 温度検出回路
JPS5534537A (en) Cascade type current division circuit
US4853559A (en) High voltage and power BiCMOS driving circuit
SU1422398A1 (ru) Устройство дл защиты МДП-интегральных схем от статического электричества
KR870002539A (ko) 신호처리회로
CN106933286B (zh) 基准电压模块
SU517085A1 (ru) Буферный каскад
JP3079518B2 (ja) 入出力回路
JPS6195605A (ja) 半導体集積回路装置