SU424449A1 - Катод для реактивного распыления кремния - Google Patents

Катод для реактивного распыления кремния

Info

Publication number
SU424449A1
SU424449A1 SU1607659A SU1607659A SU424449A1 SU 424449 A1 SU424449 A1 SU 424449A1 SU 1607659 A SU1607659 A SU 1607659A SU 1607659 A SU1607659 A SU 1607659A SU 424449 A1 SU424449 A1 SU 424449A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
silicon
layer
cathode
reactive silicon
graphite
Prior art date
Application number
SU1607659A
Other languages
English (en)
Inventor
Э. С. Фалькевич Л. Я. Шварцман В. М. Школьников В. И. Кимарский Е. Г. Завь лец А. П. Кауфман А. Г. Петрик
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1607659A priority Critical patent/SU424449A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU424449A1 publication Critical patent/SU424449A1/ru

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

Изобретение относитс  к области технологии полупроводниковых материалов и приборов . Кремниевые катоды используютс  в (устаiHOBKax реактивного распылени  дл  получени  тонких слоев двуокиси кремии , нитрида кремни , легированных поликристаллнческих кремниевых слоев и пассивации поверхности полупроводниковых приборов. Известен катод дд  реактивного распылени , .представл ющий собой графитовую основу , покрытую слоем кремни . Однако вследствие различных коэффициентов линейного расшире1 и  кремни  и графита, а также различи  температурной зависимости этих коэффициентов , такие катоды имеют трещины на поверхности и малый срок службы. С целью увеличени  срока службы катода предлагают располагать между кремниевым слоем и графитовой основой промежуточный слой карбида кремни  толщиной в 100-600 раз мепьще толщины кремниевого сло . Обычно толщина сло  карбида кремни  составл ет 5-15 мкм. На чертеже показано устройство катода дл  .реактив ного распылеии . Он дредставл ет собой графитовлю основу /, промежуточный слой карбида кремни  2 и кремниевый слой .3. Образование промежуточного сло  карбида кре.мни  осу1дествл ют вплавлением тонкого сло  кремни  (50-100 мкм) в графит или нанесением карбида кремни  на графит из парогазовой фазы. Затем нанос т слой кремни  также из иарогазовой фазы. При расположении кремниевого сло  на промежуточпом слое карбида кремни  получают свободный от трещим и напр жений кремниевый слой. Вследствие того, что слой кремни  нанос т из газовой фазы, графитова  основа покрываетс  кремнием со всех сторон , что исключает необходимость маскировани  обратиой стороны кремниевого катода. Пснользование таких монолитных катодов в установках катодного распылени  позвол ет повысить их производительиость II выход годной продукции. Предмет изобретени  1.Катод дл  реактивного распылени  кремни  па графитовой основе, покрытой слоем кремни , отличающийс  тем, что, с целью увеличени  срока службы, между слоем кремни  и графитовой основой расположен промежуточный слой карбида кремни  толщиной в 100-600 раз меньше толщины сло  кремни . 2.Катод по п. 1, отличающийс  тем, что промежуточный слой карбида кремни  имеет толщину 5-15 мкм.
SU1607659A 1971-01-05 1971-01-05 Катод для реактивного распыления кремния SU424449A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1607659A SU424449A1 (ru) 1971-01-05 1971-01-05 Катод для реактивного распыления кремния

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1607659A SU424449A1 (ru) 1971-01-05 1971-01-05 Катод для реактивного распыления кремния

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU424449A1 true SU424449A1 (ru) 1974-05-15

Family

ID=20462875

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1607659A SU424449A1 (ru) 1971-01-05 1971-01-05 Катод для реактивного распыления кремния

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU424449A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4136006A (en) * 1976-10-20 1979-01-23 U.S. Philips Corporation Electrode for electrochemical machining
WO2006017070A3 (en) * 2004-07-07 2006-06-15 Gen Electric Protective cotaing on a substrate and method of making thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4136006A (en) * 1976-10-20 1979-01-23 U.S. Philips Corporation Electrode for electrochemical machining
WO2006017070A3 (en) * 2004-07-07 2006-06-15 Gen Electric Protective cotaing on a substrate and method of making thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910005397A (ko) 반도체 웨이퍼 상에 텅스텐 층을 cvd 증착시키는 방법
US4972251A (en) Multilayer glass passivation structure and method for forming the same
SU424449A1 (ru) Катод для реактивного распыления кремния
JPH08330421A (ja) 半導体装置の層間絶縁膜
GB1338193A (en) Metal-oxide-metal thin-film capacitors and method of making same
GB1459990A (en) Technique for fabricating high q mim capacitors
EP0193298A3 (en) Method for the formation of epitaxial layers for integrated circuits
US3331994A (en) Method of coating semiconductor with tungsten-containing glass and article
JP3184013B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
US4606936A (en) Stress free dielectric isolation technology
JPS6262460B2 (ru)
US3764507A (en) Method of making semiconductor layers on high purity alumina layers
JPS58135645A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS62193265A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0236549A (ja) 薄膜デバイス
Kroll et al. Formation of silica films on silicon using silane and carbon dioxide
JPH0414836A (ja) Si基板
JPS62247064A (ja) 金属被膜の成長方法
JP2687354B2 (ja) SiC被膜を有するポリシリコン部材の製造方法
JP3197545B2 (ja) 炭素被膜
KR100265837B1 (ko) 반도체장치의장벽금속막형성방법
JPS5878430A (ja) 絶縁性保護膜の形成方法
JPS57192017A (en) Epitaxial growing method
KR930015122A (ko) 강유전체 박막의 제조방법 및 박막 적외선 센서
JPS5948923A (ja) 半導体装置の製造方法