SU374552A1 - Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем - Google Patents

Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем

Info

Publication number
SU374552A1
SU374552A1 SU1470026A SU1470026A SU374552A1 SU 374552 A1 SU374552 A1 SU 374552A1 SU 1470026 A SU1470026 A SU 1470026A SU 1470026 A SU1470026 A SU 1470026A SU 374552 A1 SU374552 A1 SU 374552A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
specific resistance
microchants
layer
resistive film
electrodes
Prior art date
Application number
SU1470026A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1470026A priority Critical patent/SU374552A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU374552A1 publication Critical patent/SU374552A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к электроизмерительной технике и может йыть использовано дл  контрол  удельного сопротивлени  сло  материала на изолирующей подложке, покрытото слоем значительно оолее провод щего материала, например в производстве рез-иСТ1ИВЯЫХ  леночных микросхем способом двойной литографии (гравировки).
Известен способ измерени  удельного сопротивлени  сло  материала па изолирующей подложке, согласно которому измерение провод т до локрыти  его слоем более провод щего материала.
Утот способ зпачительно усложн ет как процесс измерени , так и технологию изготовлени  резистивпых -пленочных микросхем.
Предлагаемый способ повышает точность и упрощает процесс измерени  удельного сопротивлени . Дл  этого в качестве образцового резистора используют рабочую плату микросхемы , а электроды резистора изготовл ют одновременно с рисунком сло  коммутации данной схемы.
На фиг. 1 показан разрез участ1ка подложки , на котором создан измер емый образец резистора с электродами в виде двухсв зной области; на фиг. 2 - тот же участок подложки , вид сверху.
На изолирующую подложку 1 нанесен слой материала 2, удельное сопротивление которого требуетс  определить. Он покрыт сверху слоем значительно более провод щего материала .
Ь слое последнего с помощью того или другого способа гравировки, например спосооом фотолитографии, может быть удалена часть материала в виде .кольца, благодар  чему образуетс  резистор 1кольцевой формы с электродами в виде двухсв зной области (;внещНИИ электрод , внутренний электрод 4). Сопротивление данного резистора пропорционально удельному сопротивлению исследуемого сло  PS, а коэффициент пропорциональности определ етс  формой кольцевой области и характеризующими ее геометрическими параметрами. Например, дл  резистора с электродами в виде кругового кольца, с внещним радиусом ri и внутренним радиусом Га сопротивление К определ етс  как
20
. 2к Г1
Так как проводимость электродов .предполагаетс  значительно более высокой, чем дл 
исследуемого материала, то сопротивлением электродов можно пренебречь. Измерив с помощью зондов, поставленных на электроды 3 и 4, сопротивление R и зна  коэффициент пропорциональности дл  заданной формы
электродов, можно опоел-елить величину ps.
Предмет изобретени 
Способ определени  удельного сопротивлени  резистивных лленоч ых микросхем, представл ющих собой слой материала «а изолирующей подложке, шокрытого слоем з-начительно более провод щего материала, основанный на контактном методе измерени  электродами iB виде двухсв зной области (например , 1В 1виде кругового кольца), отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности и упрощени  процесса измерени , в качестве образцового резистора используют рабочую плату микросхемы, а электроды резистора изтотовл ют одновременно с рисунком сло  коммутации схемы.
42
Л
J
SU1470026A 1970-08-25 1970-08-25 Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем SU374552A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1470026A SU374552A1 (ru) 1970-08-25 1970-08-25 Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1470026A SU374552A1 (ru) 1970-08-25 1970-08-25 Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU374552A1 true SU374552A1 (ru) 1973-03-20

Family

ID=20456546

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1470026A SU374552A1 (ru) 1970-08-25 1970-08-25 Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU374552A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4143177A (en) Absolute humidity sensors and methods of manufacturing humidity sensors
US4763534A (en) Pressure sensing device
US4203087A (en) Absolute humidity sensors and methods of manufacturing humidity sensors
US7934430B2 (en) Die scale strain gauge
US3680028A (en) Vertical resistor
SU374552A1 (ru) Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем
JP2000269293A (ja) 半導体装置
DK173364B1 (da) Termistor, fortrinsvis beregnet til temperaturmåling, samt fremgangsmåde til fremstilling af en sådan termistor
US3489980A (en) Resistive device
JPS5775438A (en) Semiconductor element
JPS63296260A (ja) 混成集積回路の印刷基板
JPS5713745A (en) Detecting method for ion etching finishing point
JPS6216009B2 (ru)
JPS61147544A (ja) 電気特性測定用ステ−ジ
JPS61229302A (ja) 並置型抵抗体装置
SU669430A1 (ru) Зондова головка
SU144313A1 (ru) Способ исследовани магнитострикции ферритов
JP3608998B2 (ja) 回路装置、パッケージ部材、回路試験方法および装置
JPS6148927A (ja) 半導体装置
JP2015201489A (ja) チップ抵抗器の抵抗値測定方法
SU723382A1 (ru) Датчик толщины пленки жидкости
SU1388704A1 (ru) Датчик дл регистрации параметров развити поверхностных трещин
SU1127013A1 (ru) Планочный резистор
JPH0319302A (ja) 薄膜抵抗体の製造方法
JP2004288999A (ja) 半導体装置及びその製造方法