SU245377A1 - Оптический прибор для проверки деталей - Google Patents

Оптический прибор для проверки деталей

Info

Publication number
SU245377A1
SU245377A1 SU1241719A SU1241719A SU245377A1 SU 245377 A1 SU245377 A1 SU 245377A1 SU 1241719 A SU1241719 A SU 1241719A SU 1241719 A SU1241719 A SU 1241719A SU 245377 A1 SU245377 A1 SU 245377A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
optical device
contact
checking details
sensors
interacting
Prior art date
Application number
SU1241719A
Other languages
English (en)
Original Assignee
И. В. Бернатонис
Publication of SU245377A1 publication Critical patent/SU245377A1/ru

Links

Description

По основному авт. св. № 207398 известен оптический ирибор дл  проверки деталей, например , шатунов двигателей, содержащий оптическую проекционную систему с зеркалами и экраном, неподвижные кронштейны, устройство дл  проверки асимметричности шатуна, выполненное в виде подпружиненного штифта с размещенной на нем обоймой, на нижней стороне которой закреплено зеркало , а с верхней стороны - палец. Предложенный прибор отличаетс  от известного тем, что он снабл ен электроконтактными датчиками, в электрическую схему которых включены сигнальные электролампы, каждый из которых содержит неподви кные контакты и взаимодействующий с ним подвил ной контакт, пустотелый рычаг, жестко скрепленный с подвижным контактом одного из датчиков, подпружиненный к обойме щуп, контактирующий одним концом с ней, а другим взаимодействующий с подвижным контактом второго датчика.
Такое выполнение прибора позвол ет контролировать межцентровое рассто ние отверстий головок щатуна и его асимметричность.
На чертеже дана схема описываемого прибора .
неподвижными контактами 3 и 4, щуп 5, подпружиненный к обойме 6 и контактирующий одним концом с пей, а другим св занный с подвижным коптактом 7 второго электроконтактного датчика. Контакт 7 взаимодействует с неподвижными контактами 8 w. 9.
В электрическую схему электроконтактных датчиков включены контрольные 10, 11, 12 и 13 и сигпальпые 14, 15, 16 и 17 электролампы .
Предмет изобретени 
Оптический прибор дл  проверки деталей, например, шатунов двигателей, но авт. св. Ло 207398, отличающийс  тем, что, с целью контрол  межцентрового рассто ни  отверстий головок шатуна и его асимметричности,
он снабжен электроконтактными датчиками, в электрическую схему которых включены сигнальные электролампы, каждый из которых содержит неподвижные контакты и взаимодействующий с ним подвижной контакт,
пустотелый рычаг, жестко скрепленный с подвижным контактом одного из датчиков; подпружиненный к обойме щуп, контактирующий одним концом с ней, а другим взаимодействующий с подвижным контактом второ1/4 /
4xMg j-0HE
SU1241719A Оптический прибор для проверки деталей SU245377A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU245377A1 true SU245377A1 (ru)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7015711B2 (en) Apparatus and method for the testing of circuit boards, and test probe for this apparatus and this method
JPS601364Y2 (ja) 測定探子
KR940027121A (ko) 프로우브장치에 있어서의 침위치 동일위치 설정방법 및 프로우브방법
KR940006232A (ko) 프로우브 장치
US20020085208A1 (en) Interferometer system and interferometric method
CN112098435A (zh) 一种自动检测设备及视觉校准检测方法
JPS5961761A (ja) レ−ザ−/熱検査のための光フアイバ−走査システム
KR910017165A (ko) 형상측정장치
SU245377A1 (ru) Оптический прибор для проверки деталей
JP6084140B2 (ja) 電気検査装置
KR20050063790A (ko) 좌표 측정 디바이스와 물체의 위치 측정 방법
KR930020629A (ko) 프로우브 장치
KR20100029035A (ko) 기판검사용 검사치구
JPH05503991A (ja) 共平面性検査機
JPH0429344A (ja) 半導体集積回路用試験装置および該装置のプローブ位置制御方法
JP3129935B2 (ja) ウェーハ検査装置
JPS6137561B2 (ru)
JP2720703B2 (ja) 接触式温度検出器
JP3187208B2 (ja) 回路基板検査機の部品有無検出プローブ
JPH09503305A (ja) 検出プローブを備えた走査プローブ顕微鏡
JP2735048B2 (ja) 電子部品の半田接続検査方法及び検査装置
JPH05215692A (ja) 外観検査装置
SU274366A1 (ru) Электроконтактный датчик индикаторного типа для измерения линейной величины детали
JP3238225B2 (ja) 回路基板検査機の部品有無検出プローブ
JP3327491B2 (ja) 部品有無検出プローブ