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US7072042B2
(en)
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Apparatus for and method of measurement of aspheric surfaces using hologram and concave surface
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EP1397640B1
(de)
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Abtastinterferometer für aspherische oberflächen und wellenfronten
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EP0490956B1
(de)
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Optische messinstrumente
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JP5305732B2
(ja)
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干渉計
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JPH05322911A
(ja)
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ドップラー速度計及び変位情報検出装置
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US20130188195A1
(en)
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Optically Corrective Microprobe for White Light Interferometry
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US20190078870A1
(en)
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Device For Optically Measuring An Object
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SU203973A1
(de)
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CN105339779A
(zh)
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用于测量折射率的方法和装置及用于制造光学元件的方法
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CN114966724A
(zh)
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测距装置及测距方法
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JPH08271337A
(ja)
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分光器
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JPH116784A
(ja)
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非球面形状測定装置および測定方法
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CN107036789B
(zh)
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点衍射波像差检测干涉仪及其检测方法
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CN105841720B
(zh)
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使用两个平行反射面的光纤白光干涉解调仪
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JP3461566B2
(ja)
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円錐形状測定用干渉計
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JP2006284233A
(ja)
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システム誤差計測装置およびこれを備えた波面測定用干渉計装置
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RU2240503C1
(ru)
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Дифракционный интерферометр (варианты)
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EP0137976A2
(de)
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Interferometrische Messtechnik von Oberflächenformen
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US20240053143A1
(en)
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Interometric optical system
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JP3150761B2
(ja)
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簡易位相シフト干渉計
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CN117128850A
(zh)
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光谱干涉可调的测量装置以及测量方法
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SU339772A1
(ru)
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Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей
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SU203927A1
(ru)
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Интерференционный прибор, основанный на использовании полос равного наклона
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SU1619021A1
(ru)
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Устройство дл измерени углового отклонени объекта
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JP2000088513A
(ja)
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非球面波発生レンズ系組立調整装置
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