SU1762116A1 - Дифракционный интерферометр - Google Patents

Дифракционный интерферометр Download PDF

Info

Publication number
SU1762116A1
SU1762116A1 SU904853297A SU4853297A SU1762116A1 SU 1762116 A1 SU1762116 A1 SU 1762116A1 SU 904853297 A SU904853297 A SU 904853297A SU 4853297 A SU4853297 A SU 4853297A SU 1762116 A1 SU1762116 A1 SU 1762116A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plate
plane
lens
scattering plate
beam splitter
Prior art date
Application number
SU904853297A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Кондратьевич Ефимов
Владимир Иванович Подоба
Владимир Сергеевич Образцов
Original Assignee
Государственный оптический институт им.С.И.Вавилова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственный оптический институт им.С.И.Вавилова filed Critical Государственный оптический институт им.С.И.Вавилова
Priority to SU904853297A priority Critical patent/SU1762116A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1762116A1 publication Critical patent/SU1762116A1/ru

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при контроле качества вогнутых поверхностей и волновых фронтов, сформированных объективами, в широком спектральном диапазоне. Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерений и расширение ассортимента контролируемых оптических деталей. Пучок света после расширени  фокусируетс  на зеркальную отражательную пластинку. После отражени  от которой пучок попадает через первый объектив телескопической системы и рассеивающую пластинку, при прохождении через которую рассеиваетс , образу  рабочий пучок дифракционного происхождени , и проходит через нее, образу  опорный пучок в вершину контролируемой поверхности. Опорный пучок отражаетс  от поверхности и при повторном прохождении через рассеивающую пластинку образует опорную сферическую волну дифракционного происхождени , котора , интерфериру  с рабочим пучком, формирует изображение контролируемой поверхности, пересеченное интерференционными полосами, в плоскости чувствительной площадки фотоприемника . Дл  устранени   рких бликов в изображении рассеивающа  пластинка изготовлена из экспонированного сло  фотоэмульсии , нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой пластинки, при этом перед фотоприемным устройством размещен пол ризатор. Интерферометр обеспечивает повышение точности измерений при расширении спектрального диапазона его работы. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при создании интерферометра дл  контрол  качества вогнутых оптических поверхностей и волновых фронтов, сформированных объективами, в широком спектральном диапазоне.
В насто щее врем  в различных област х науки и техники наход т широкое применение высокоточные оптико-электронные приборы, работающие в различных спектральных диапазонах. Поэтому актуальной  вл етс  проблема создани  соответствующих контрольно-измерительных устройств . Ее решение позволит контролировать аберрации оптических систем на различных длинах волн излучени  и измен ть чувствительность интерферометрического контрол  в широких диапазонах.
Известны интерферометры с совмещенными ветв ми, которые могут быть использованы при работе на различных длинах волн. Например, дифракционный интерферометр с рассеивающей пластинкой, вклю -А
чающий последовательно установленные в пучке света фокусирующий объектив, полупрозрачную пластину, расположенную под углом 45° к оптической оси, рассеивающую пластинку, изделиедержатель и фотоприемное устройство. Основным недостатком интерферометра  вл етс  наличие в его схеме полупрозрачной пластины, из-за которой происход т большие световые потери. Кроме того, часть исходного пучка света дважды проходит ч.ерез рассеивающую пластинку без рассе ни  и образует на выходе интерферометра  ркое световое п тно в центре пол  зрени , что мешает визуальному наблюдению и фотографированию интерферограммы.
Эти недостатки в значительной степени устранены в интерферометре с дифракционной точкой. Он включает источник излучени , формирующую оптику, наклонную плоскопараллельную пластину с малым отражателем на оптической оси, обьектив, светоделитель с дифракционной точкой, изделиедержатель , второй обьектив и фотоприемную систему, Этот интерферометр обладает сравнительно невысокой точностью в широком спектральном диапазоне из-за нарушени  соосного расположени  оптических элементов вследствие переменного параллельного смещени  пучков света в наклонной плоскопараллельной пластине, возможного двоени  изображени  вследствие переотражений и наложени   рких бликов на интерферограмму.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности контрол  и расширение ассортимента контролируемых оптических деталей .
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в дифракционном интерферометре, содержащем последовательно установленные источник излучени , расширитель пучка, формирующий обьектив, светоделитель, де- . ржатель обьекта и фотоприемную систему, размещены за светоделителем первый обьектив, плоскопараллельна  пластина с отражателем, ориентированна  перпендикул рно оптической оси и выполненна  с выступом, на котором установлен отражатель , второй объектив, причем светоделитель выполнен в виде рассеивающей пластины,
Дополнительное повышение точности достигаетс  за счет того, что интерферометр снабжен пол ризатором, размещенным перед фотоприемной системой, источник излучени  выполнен в виде источника плоскопол ризованного излучени , а рассеивающа  пластина выполнена из экспонированного сло  фотоэмульсии, нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой пластины, и ориентирована таким образом, что главные оси
четвертьволновой фазовой пластины образуют угол 45° с плоскостью пол ризации излучени  источника.
На фигуре приведена оптическа  схема дифракционного интерферометра с рассеи0 вающей пластиной.
Интерферометр включает источник 1 излучени , формирующую оптику, состо щую из последовательно размещенных вдоль оптической оси расширител  2 пучка
5 и формирующего объектива 3. отражатель 4, закрепленный на выступе, ориентированном вдоль оптической оси контролируемой детали и жестко св занном с плоскопараллельной пластиной 5, котора  установлена
0 перпендикул рно оптической оси детали, первый обьектив 6 телескопической системы , рассеивающую пластину 7, котора  совмещаетс  с центром кривизны или фокусом контролируемой детали 8 в издели5 едержателе, второй объектив 9, расположенный по ходу луча за плоскопараллелыюй пластиной, пол ризатор 10, фотоприемное устройство, состо щее из объектива 11 и чувствительной площадки фотоприемника
0 12,
Дифракционный интерферометр работает следующим образом. Пучок света от источника 1 излучени  расшир етс  расширителем 2 и фокусируетс  формирующим
5 объективом 3 на отражатель 4, соединенный с прозрачной плоскопараллельной пластиной 5. После отражени  от отражател  4 пучок попадает на первый объектив 6 телескопической системы и фокусируетс  им че0 рез рассеивающую пластину 7 в вершину контролируемой детали 8. При прохождении через рассеивающую пластину 7 исходный пучок частично рассеиваетс , образу  рабочий пучок, а частично проходит через
5 нее без отклонений и образует узкий опорный пучок. Рабочий пучок после отражени  от контролируемой детали 8 проходит через рассеивающую пластину 7 без отклонений. Опорный пучок отражаетс  от детали 8 и при
0 повторном прохождении через рассеивающую пластину 7 рассеиваетс , образу  опорную сферическую волну в рассе нном излучении, котора  интерферирует с рабочим пучком, Первый и второй объективы б.
5 9 телескопической системы и обьектив 11 фотоприемной системы формируют изображение контролируемой детали 8, пересеченное интерференционными полосами, в плоскости чувствительной площадки 12 фотоприемника .
Если излучение источника 1 линейнопо- л ризовэно, а рассеивающа  пластина выполнена на подложке в виде ахроматической фазовой четвертьволновой пластины, то перед объективом 11 фотоприемной системы размещают пол ризатор 10. Пол ризатор ориентируют таким образом, чтобы излучение в бликах на выходе интерферометра было погашено. Рассеивающую пластину 7 поворачивают вокруг оптической оси до тех пор, пока  ркость интерферог- раммы не будет максимальной.

Claims (2)

  1. Формула изобретени  1. Дифракционный интерферометр, содержащий последовательно установленные источник излучени , расширитель пучка излучени , формирующий объектив, светоделитель , держатель объекта и фотоприемную систему, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности и расширени  ассортимента контролируемых оптических
    деталей, он снабжен последовательно установленными по ходу излучени  за светоделителем первым объективом плоскопараллельной пластиной с отражателем.
    ориентированной перпендикул рно оптической оси и выполненной с выступом, на котором установлен отражатель, и вторым объективом, а светоделитель выполнен в виде рассеивающей пластины.
    0
  2. 2. Интерферометр по п. 1,отличающий с   тем, что он снабжен пол ризатором , размешенным перед фотоприемной системой, источник излучени  выполнен в виде источника плоскопол ризовэнного
    5 излучени , а рассеивающа  пластина выполнена из экспонированного сло  фотоэмульсии , нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой пластины, и ориентирована таким образом.
    0 что главные оси четвертьволновой фазовой пластины составл ют угол 45е с плоскостью пол ризации излучени  источника.
SU904853297A 1990-07-24 1990-07-24 Дифракционный интерферометр SU1762116A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904853297A SU1762116A1 (ru) 1990-07-24 1990-07-24 Дифракционный интерферометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904853297A SU1762116A1 (ru) 1990-07-24 1990-07-24 Дифракционный интерферометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1762116A1 true SU1762116A1 (ru) 1992-09-15

Family

ID=21528788

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904853297A SU1762116A1 (ru) 1990-07-24 1990-07-24 Дифракционный интерферометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1762116A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Scott R. Applied Optics 1969, 8, № 3, р.531. Коломийцов Ю.В. Интерферометры. Л.: Машиностроение, Ленинградское отделение 1976, с. 247, рис. 117. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5548403A (en) Phase shifting diffraction interferometer
US5671050A (en) Method and apparatus for profiling surfaces using diffracative optics
US5526116A (en) Method and apparatus for profiling surfaces using diffractive optics which impinges the beams at two different incident angles
US4201473A (en) Optical interferometer system with CCTV camera for measuring a wide range of aperture sizes
Kimbrough et al. Low-coherence vibration insensitive Fizeau interferometer
JP3499214B2 (ja) 透明な面平行プレートを測定するためのすれすれ入射の干渉測定
Malacara Twyman–green interferometer
US5909282A (en) Interferometer for measuring thickness variations of semiconductor wafers
JPH0552540A (ja) 干渉計レーザ表面粗さ計
EP1405030A1 (en) Scanning interferometer for aspheric surfaces and wavefronts
US3614235A (en) Diffraction grating interferometer
US5737081A (en) Extended-source low coherence interferometer for flatness testing
SU1762116A1 (ru) Дифракционный интерферометр
US6525824B1 (en) Dual beam optical interferometer
JP2873962B1 (ja) 白色光のヘテロダイン干渉法
CN112781727A (zh) 一种基于棱镜的横向剪切干涉光谱成像仪及成像方法
RU2186336C1 (ru) Интерферометр для измерения формы поверхности оптических изделий
US20240053143A1 (en) Interometric optical system
JP3150761B2 (ja) 簡易位相シフト干渉計
RU2075063C1 (ru) Двухлучевой интерферометр
RU2615717C1 (ru) Интерферометр для многоцелевых оптических измерений
SU339772A1 (ru) Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей
SU1619014A1 (ru) Интерферометр
JPS646705A (en) Displacement quantity and speed measuring apparatus
Comastri et al. Two-beam interferometers: a classification which takes into account multiple localizations