SU1762116A1 - Дифракционный интерферометр - Google Patents
Дифракционный интерферометр Download PDFInfo
- Publication number
- SU1762116A1 SU1762116A1 SU904853297A SU4853297A SU1762116A1 SU 1762116 A1 SU1762116 A1 SU 1762116A1 SU 904853297 A SU904853297 A SU 904853297A SU 4853297 A SU4853297 A SU 4853297A SU 1762116 A1 SU1762116 A1 SU 1762116A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- plate
- plane
- lens
- scattering plate
- beam splitter
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при контроле качества вогнутых поверхностей и волновых фронтов, сформированных объективами, в широком спектральном диапазоне. Целью изобретени вл етс повышение точности измерений и расширение ассортимента контролируемых оптических деталей. Пучок света после расширени фокусируетс на зеркальную отражательную пластинку. После отражени от которой пучок попадает через первый объектив телескопической системы и рассеивающую пластинку, при прохождении через которую рассеиваетс , образу рабочий пучок дифракционного происхождени , и проходит через нее, образу опорный пучок в вершину контролируемой поверхности. Опорный пучок отражаетс от поверхности и при повторном прохождении через рассеивающую пластинку образует опорную сферическую волну дифракционного происхождени , котора , интерфериру с рабочим пучком, формирует изображение контролируемой поверхности, пересеченное интерференционными полосами, в плоскости чувствительной площадки фотоприемника . Дл устранени рких бликов в изображении рассеивающа пластинка изготовлена из экспонированного сло фотоэмульсии , нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой пластинки, при этом перед фотоприемным устройством размещен пол ризатор. Интерферометр обеспечивает повышение точности измерений при расширении спектрального диапазона его работы. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
Description
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при создании интерферометра дл контрол качества вогнутых оптических поверхностей и волновых фронтов, сформированных объективами, в широком спектральном диапазоне.
В насто щее врем в различных област х науки и техники наход т широкое применение высокоточные оптико-электронные приборы, работающие в различных спектральных диапазонах. Поэтому актуальной вл етс проблема создани соответствующих контрольно-измерительных устройств . Ее решение позволит контролировать аберрации оптических систем на различных длинах волн излучени и измен ть чувствительность интерферометрического контрол в широких диапазонах.
Известны интерферометры с совмещенными ветв ми, которые могут быть использованы при работе на различных длинах волн. Например, дифракционный интерферометр с рассеивающей пластинкой, вклю -А
чающий последовательно установленные в пучке света фокусирующий объектив, полупрозрачную пластину, расположенную под углом 45° к оптической оси, рассеивающую пластинку, изделиедержатель и фотоприемное устройство. Основным недостатком интерферометра вл етс наличие в его схеме полупрозрачной пластины, из-за которой происход т большие световые потери. Кроме того, часть исходного пучка света дважды проходит ч.ерез рассеивающую пластинку без рассе ни и образует на выходе интерферометра ркое световое п тно в центре пол зрени , что мешает визуальному наблюдению и фотографированию интерферограммы.
Эти недостатки в значительной степени устранены в интерферометре с дифракционной точкой. Он включает источник излучени , формирующую оптику, наклонную плоскопараллельную пластину с малым отражателем на оптической оси, обьектив, светоделитель с дифракционной точкой, изделиедержатель , второй обьектив и фотоприемную систему, Этот интерферометр обладает сравнительно невысокой точностью в широком спектральном диапазоне из-за нарушени соосного расположени оптических элементов вследствие переменного параллельного смещени пучков света в наклонной плоскопараллельной пластине, возможного двоени изображени вследствие переотражений и наложени рких бликов на интерферограмму.
Целью изобретени вл етс повышение точности контрол и расширение ассортимента контролируемых оптических деталей .
Поставленна цель достигаетс тем, что в дифракционном интерферометре, содержащем последовательно установленные источник излучени , расширитель пучка, формирующий обьектив, светоделитель, де- . ржатель обьекта и фотоприемную систему, размещены за светоделителем первый обьектив, плоскопараллельна пластина с отражателем, ориентированна перпендикул рно оптической оси и выполненна с выступом, на котором установлен отражатель , второй объектив, причем светоделитель выполнен в виде рассеивающей пластины,
Дополнительное повышение точности достигаетс за счет того, что интерферометр снабжен пол ризатором, размещенным перед фотоприемной системой, источник излучени выполнен в виде источника плоскопол ризованного излучени , а рассеивающа пластина выполнена из экспонированного сло фотоэмульсии, нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой пластины, и ориентирована таким образом, что главные оси
четвертьволновой фазовой пластины образуют угол 45° с плоскостью пол ризации излучени источника.
На фигуре приведена оптическа схема дифракционного интерферометра с рассеи0 вающей пластиной.
Интерферометр включает источник 1 излучени , формирующую оптику, состо щую из последовательно размещенных вдоль оптической оси расширител 2 пучка
5 и формирующего объектива 3. отражатель 4, закрепленный на выступе, ориентированном вдоль оптической оси контролируемой детали и жестко св занном с плоскопараллельной пластиной 5, котора установлена
0 перпендикул рно оптической оси детали, первый обьектив 6 телескопической системы , рассеивающую пластину 7, котора совмещаетс с центром кривизны или фокусом контролируемой детали 8 в издели5 едержателе, второй объектив 9, расположенный по ходу луча за плоскопараллелыюй пластиной, пол ризатор 10, фотоприемное устройство, состо щее из объектива 11 и чувствительной площадки фотоприемника
0 12,
Дифракционный интерферометр работает следующим образом. Пучок света от источника 1 излучени расшир етс расширителем 2 и фокусируетс формирующим
5 объективом 3 на отражатель 4, соединенный с прозрачной плоскопараллельной пластиной 5. После отражени от отражател 4 пучок попадает на первый объектив 6 телескопической системы и фокусируетс им че0 рез рассеивающую пластину 7 в вершину контролируемой детали 8. При прохождении через рассеивающую пластину 7 исходный пучок частично рассеиваетс , образу рабочий пучок, а частично проходит через
5 нее без отклонений и образует узкий опорный пучок. Рабочий пучок после отражени от контролируемой детали 8 проходит через рассеивающую пластину 7 без отклонений. Опорный пучок отражаетс от детали 8 и при
0 повторном прохождении через рассеивающую пластину 7 рассеиваетс , образу опорную сферическую волну в рассе нном излучении, котора интерферирует с рабочим пучком, Первый и второй объективы б.
5 9 телескопической системы и обьектив 11 фотоприемной системы формируют изображение контролируемой детали 8, пересеченное интерференционными полосами, в плоскости чувствительной площадки 12 фотоприемника .
Если излучение источника 1 линейнопо- л ризовэно, а рассеивающа пластина выполнена на подложке в виде ахроматической фазовой четвертьволновой пластины, то перед объективом 11 фотоприемной системы размещают пол ризатор 10. Пол ризатор ориентируют таким образом, чтобы излучение в бликах на выходе интерферометра было погашено. Рассеивающую пластину 7 поворачивают вокруг оптической оси до тех пор, пока ркость интерферог- раммы не будет максимальной.
Claims (2)
- Формула изобретени 1. Дифракционный интерферометр, содержащий последовательно установленные источник излучени , расширитель пучка излучени , формирующий объектив, светоделитель , держатель объекта и фотоприемную систему, отличающийс тем, что, с целью повышени точности и расширени ассортимента контролируемых оптическихдеталей, он снабжен последовательно установленными по ходу излучени за светоделителем первым объективом плоскопараллельной пластиной с отражателем.ориентированной перпендикул рно оптической оси и выполненной с выступом, на котором установлен отражатель, и вторым объективом, а светоделитель выполнен в виде рассеивающей пластины.0
- 2. Интерферометр по п. 1,отличающий с тем, что он снабжен пол ризатором , размешенным перед фотоприемной системой, источник излучени выполнен в виде источника плоскопол ризовэнного5 излучени , а рассеивающа пластина выполнена из экспонированного сло фотоэмульсии , нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой пластины, и ориентирована таким образом.0 что главные оси четвертьволновой фазовой пластины составл ют угол 45е с плоскостью пол ризации излучени источника.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904853297A SU1762116A1 (ru) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Дифракционный интерферометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904853297A SU1762116A1 (ru) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Дифракционный интерферометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1762116A1 true SU1762116A1 (ru) | 1992-09-15 |
Family
ID=21528788
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU904853297A SU1762116A1 (ru) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Дифракционный интерферометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1762116A1 (ru) |
-
1990
- 1990-07-24 SU SU904853297A patent/SU1762116A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Scott R. Applied Optics 1969, 8, № 3, р.531. Коломийцов Ю.В. Интерферометры. Л.: Машиностроение, Ленинградское отделение 1976, с. 247, рис. 117. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5548403A (en) | Phase shifting diffraction interferometer | |
US5671050A (en) | Method and apparatus for profiling surfaces using diffracative optics | |
US5526116A (en) | Method and apparatus for profiling surfaces using diffractive optics which impinges the beams at two different incident angles | |
US4201473A (en) | Optical interferometer system with CCTV camera for measuring a wide range of aperture sizes | |
Kimbrough et al. | Low-coherence vibration insensitive Fizeau interferometer | |
JP3499214B2 (ja) | 透明な面平行プレートを測定するためのすれすれ入射の干渉測定 | |
Malacara | Twyman–green interferometer | |
US5909282A (en) | Interferometer for measuring thickness variations of semiconductor wafers | |
JPH0552540A (ja) | 干渉計レーザ表面粗さ計 | |
EP1405030A1 (en) | Scanning interferometer for aspheric surfaces and wavefronts | |
US3614235A (en) | Diffraction grating interferometer | |
US5737081A (en) | Extended-source low coherence interferometer for flatness testing | |
SU1762116A1 (ru) | Дифракционный интерферометр | |
US6525824B1 (en) | Dual beam optical interferometer | |
JP2873962B1 (ja) | 白色光のヘテロダイン干渉法 | |
CN112781727A (zh) | 一种基于棱镜的横向剪切干涉光谱成像仪及成像方法 | |
RU2186336C1 (ru) | Интерферометр для измерения формы поверхности оптических изделий | |
US20240053143A1 (en) | Interometric optical system | |
JP3150761B2 (ja) | 簡易位相シフト干渉計 | |
RU2075063C1 (ru) | Двухлучевой интерферометр | |
RU2615717C1 (ru) | Интерферометр для многоцелевых оптических измерений | |
SU339772A1 (ru) | Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей | |
SU1619014A1 (ru) | Интерферометр | |
JPS646705A (en) | Displacement quantity and speed measuring apparatus | |
Comastri et al. | Two-beam interferometers: a classification which takes into account multiple localizations |