SU1705425A1 - Способ получени эпитаксиальных слоев нитрида галли - Google Patents

Способ получени эпитаксиальных слоев нитрида галли Download PDF

Info

Publication number
SU1705425A1
SU1705425A1 SU894763382A SU4763382A SU1705425A1 SU 1705425 A1 SU1705425 A1 SU 1705425A1 SU 894763382 A SU894763382 A SU 894763382A SU 4763382 A SU4763382 A SU 4763382A SU 1705425 A1 SU1705425 A1 SU 1705425A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
layers
gallium nitride
growth rate
container
epitaxial layers
Prior art date
Application number
SU894763382A
Other languages
English (en)
Inventor
Хусайн Исрапилович Зелимханов
Лариса Алексеевна Марасина
Игорь Геннадьевич Пичугин
Original Assignee
Ленинградский электротехнический институт им.В.И.Ульянова (Ленина)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский электротехнический институт им.В.И.Ульянова (Ленина) filed Critical Ленинградский электротехнический институт им.В.И.Ульянова (Ленина)
Priority to SU894763382A priority Critical patent/SU1705425A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1705425A1 publication Critical patent/SU1705425A1/ru

Links

Landscapes

  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к технологии получени  полупроводниковых соединений А В и может быть использовано при производстве электролюминесцентных структур. Цель изобретени  - увеличение скорости роста слоев при сохранении их монокристалличности . Способ включает жидкофаз- ную эпитаксию слоев нитрида галли  в протоке водорода, содержащего аммиак, на сапфировой подложке из раствора-расплава , содержащего галлий, висмут индий, в графитовом контейнере. В зоне эпитаксии по высоте контейнера устанавливают градиент температуры величиной 2-4°С/см, направленный от поверхности раствора- рЗсплава к подложке. Скорость роста слоев составл ет 2-2,5 м.км/ч. 2 ил.

Description

Изобретение относитс  к технологии получени  полупроводниковых соединений А В и может быть использовано при создании электролюминесцентных структур.
Цель изобретени  - увеличение скорости роста слоев при сохранении их монокристалличности .
На фиг. 1 дана схема устройства дл  осуществлени  способа; на фиг. 2 - распределение температуры (Т) по высоте графитового контейнера (у).
Пример 1. В графитовый контейнер 1 слайдерного типа загружают металлы: галлий , висмут и индий, очищенные от окисных пленок в гор чей царской водке и промытые дистиллированной воде, в соотношении 10:30:60 мае. %, соответственно. Сапфировые подложки 2, на которые проводитс  осаждение нитрида галли , перед загрузкой отжигают в водороде при 1600°С дл  удалени  нарушенного поверхностного сло . Через кварцевый реактор 3 проточного типа , предварительно продутый аргоном, пропускаетс  водород, содержащий аммиак. Парциальное давление аммиака составл ет атм. Температура в реакторе поднимаетс  до 1080°С одновременно основной печью резистивного нагрева 4, в которой находитс  реактор, и дополнительным нагревателем резистивного типа 5, расположенным в верхней части реактора над зоной осаждени  и введенным дл  создани  вертикального градиента температуры . Заданна  температура поддерживаетс  двум  системами высокоточной регулировки температуры ВРТ-3. Величина температурного градиента регулируетс  током, протекающим через дополнительный нагреватель. Термопары 6 и 7 контролируют температуру в точках yi и уз по высоте контейнера (фиг. 1).
о ел
Јь SJ СЛ
При достижении температуры 1080°С ма поверхности расплава систему выдерживают при этой температуре в течение 2 ч дл  насыщени  раствора-расплава 8 нитридом галли  по реакции жидкого галли  с аммиа- ком и гомогенизации раствора-расплава. Затем раствор-расплав надвигают на сапфировые подложки и провод т процесс эпи- таксиального осаждени  нитрида галли  на сапфировые подложки в заданном градиен- те температуры, наложенном нормально к поверхности расплава. Врем  эпитаксиаль- ного осаждени  составл ет 3 ч и в течение этого времени поддерживают посто нный градиент температуры, равный 2°С/см. По- еле эксперимента подложки и раствор-расплав разобщают, подложки со слоем очищают от остатков металлов в гор чей царской водке и промывают в дистиллированной воде.
Морфологию поверхности слоев исследуют в оптическом и растровом электронном микроскопах при различных увеличени х. Структурные характеристики исследуют электронографическим и рентгендифракто- метрическим методами. Толщину слоев и однородность слоев ho толщине измер ют интерференционным микроскопом МИИ-4,
Выращенные эпитаксиальные слои нитрида галли  были монокристаллическими, с гладкой поверхностью. Толщина слоев составл ет около 10 мкм, что соответствует скорости роста 2 мкм/ч, а неоднородность по толщине не превышала 10%.
Пример 2. Процесс эпитаксиального наращивани  провод т аналогично, описанному в примере 1, но величина температурного градиента составл ет 3°С/см. Вырастали гладкие монокристаллические слои нитрида галли  по всей поверхности подложек. Толщина выращенных слоев была примерно 13 мкм, т.е. скорость роста составл ла 2,5 мкм/ч. Неоднородность слоев по толщине не превышала 10%.
Пример 3. Процесс эпитаксиального наращивани  провод т аналогично, описанному в примере 1, но величина температурного градиента составл ет 4°С/см. Результат исследований эпитаксиальных слоев нитрида галли  был аналогичен описанному в примере 2.
Пример 4. Процесс эпитаксиального наращивани  слоев нитрида галли  провод т аналогично описанному выше, но величина температурного градиента составл ет 5°С/см.
Выращенные эпитаксиальные слои были поликристаллические с отдельными монокристаллическими участками. Толщина слоев была примерно 15 мкм, т.е. скорость роста составл ла 3 мкм/ч. Неоднородность слоев по толщине не превышала 10%. Нужно отметить, что в этом случае скорость роста увеличиваетс , но нарушаетс  морфологи  и кристаллическое совершенство слоев нитрида галли .
Таким образом, предложенный способ получени  эпитаксиальных слоев нитрида галли  в вертикальном градиенте температуры величиной 2-4°С/см, направленном от поверхности расплава к поверхности подложки , позвол ет получать гладкие сплошные эпитаксиальные слои нитрида галли  высокого структурного совершенства со скоростью роста 2-2,5 мкм/ч и неоднородностью по толщине примерно 10%.
Если вертикальный градиент превышает 4°С/см, рост сло  становитс  нарушенным, ухудшаетс  морфологи  и кристаллическое совершенство слоев. Когда величина градиента меньше 2°С/см, „наблюдаетс  остро- вковый рост из-за малой скорости диффузии азота к поверхности роста.
Технико-экономическа  эффективность предложенного способа по сравнению с прототипом заключаетс  в получении монокристаллических слоев нитрида галли  с большой скоростью роста.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Способ получени  эпитаксиальных слоев , нитрида галли  на сапфировых подложках жидкофаэной эпитаксией из раствора-расплава , содержащего галлий, висмут, индий, в протоке водорода с аммиаком в графитовом контейнере, отличающийс  тем,что, с целью увеличени  скорости роста слоев при сохранении их монокристалличности, эпитаксию ведут при наличии по высоте контейнера температурного градиента величиной 2-4°С/см, направленного от поверхности раствора-расплава к подложке.
    ч
    Л
    У фиг1
    У,с
SU894763382A 1989-11-28 1989-11-28 Способ получени эпитаксиальных слоев нитрида галли SU1705425A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894763382A SU1705425A1 (ru) 1989-11-28 1989-11-28 Способ получени эпитаксиальных слоев нитрида галли

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894763382A SU1705425A1 (ru) 1989-11-28 1989-11-28 Способ получени эпитаксиальных слоев нитрида галли

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1705425A1 true SU1705425A1 (ru) 1992-01-15

Family

ID=21481720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894763382A SU1705425A1 (ru) 1989-11-28 1989-11-28 Способ получени эпитаксиальных слоев нитрида галли

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1705425A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Пичугин И. Г.. Панек М. О некоторых особенност х кристаллизации нитрида галли из жидкой фазы: В сб. Получение и свойства тонких пленок. Киев. 1982, с. 49-51. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1988109B (zh) 生产自支撑iii-n层和自支撑iii-n基底的方法
EP0200766B1 (en) Method of growing crystalline layers by vapour phase epitaxy
US4835116A (en) Annealing method for III-V deposition
US3809584A (en) Method for continuously growing epitaxial layers of semiconductors from liquid phase
US4419179A (en) Method of vapor phase growth
US4389273A (en) Method of manufacturing a semiconductor device
SU1705425A1 (ru) Способ получени эпитаксиальных слоев нитрида галли
US4487640A (en) Method for the preparation of epitaxial films of mercury cadmium telluride
EP0667638B1 (en) Method of etching a compound semiconductor
DE3002671C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Siliciumcarbidsubstrats
US4238252A (en) Process for growing indium phosphide of controlled purity
JPH01149483A (ja) 太陽電池
JPS61198789A (ja) 光半導体素子の連続製造方法
JPS5922319A (ja) 3−5族半導体の気相成長方法
JPH03236219A (ja) 半導体基板の表面処理方法
JPH10261813A (ja) 長波長受光素子用基板及びエピタキシャルウエハ
JPS63222420A (ja) ▲iii▼−▲v▼族化合物半導体の原子層エピタキシヤル成長方法
JP3106526B2 (ja) 化合物半導体の成長方法
JPH06196430A (ja) InP単結晶のアニール方法
JPH03201428A (ja) 3―v族半導体薄膜の作製法
JPH02296791A (ja) 液相エピタキシャル成長方法
JPS6020509A (ja) 液相エピタキシヤル成長方法
JPS63304614A (ja) 半導体エピタキシャル成長方法
JPS6110099A (ja) 薄膜結晶の連続的成長方法
Dorogan et al. Method of GaAs Growth on Single Crystal Si Substrate