SU1667159A2 - Memory checking device - Google Patents
Memory checking device Download PDFInfo
- Publication number
- SU1667159A2 SU1667159A2 SU894745747A SU4745747A SU1667159A2 SU 1667159 A2 SU1667159 A2 SU 1667159A2 SU 894745747 A SU894745747 A SU 894745747A SU 4745747 A SU4745747 A SU 4745747A SU 1667159 A2 SU1667159 A2 SU 1667159A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- register
- address
- registers
- bits
- elements
- Prior art date
Links
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к запоминающим устройствам. Цель изобретени - повышение быстродействи устройства. Изобретение позвол ет проводить проверку запоминающих устройств путем формировани сокращенных контролирующих тестов. Поставленна цель достигаетс введением в устройство третьего и четвертого регистров и группы элементов ИЛИ. Использование изобретени приводит к снижению времени проверки блоков пам ти большой информационной емкости. 1 ил.This invention relates to memory devices. The purpose of the invention is to increase the speed of the device. The invention allows for the verification of storage devices by forming abbreviated monitoring tests. The goal is achieved by introducing into the device the third and fourth registers and the group of elements OR. The use of the invention leads to a decrease in the time of checking the memory blocks of large information capacity. 1 il.
Description
Изобретение относитс к запоминающим устройствам и вл етс усовершенствованием изобретени по авт. св. № 739658.The invention relates to storage devices and is an improvement of the invention according to the author. St. No. 739658.
Цель изобретени - повышение быстродействи устройства.The purpose of the invention is to increase the speed of the device.
На чертеже изображена блок-схема устройства дл контрол пам ти.The drawing shows a block diagram of a memory control device.
Устройство содержит регистры 1-4, группу элементов ИЛИ 5, коммутатор 6, блок управлени 7, блок формировани тестов 8, триггер 9, блок формировани импульсов записи-чтени 10, приемный регистр 11, блок сравнени 12, блок останова 13, блок местного управлени 14.The device contains registers 1-4, a group of elements OR 5, a switch 6, a control unit 7, a test generation unit 8, a trigger 9, a write-read pulse generation unit 10, a receiving register 11, a comparison unit 12, a stop unit 13, a local control unit 14.
Разр дность адреса Р провер емой пам ти состоит из разр дов регистра строк m и столбцов п в матрице пам тиThe address width P of the checked memory consists of bits of the register of rows m and columns n in the memory matrix.
Р т х п.R t x p.
Дл организации перебора адресов по кресту или-строке (столбцу) в провер ющем тесте необходимо обеспечить возможность автономного изменени соответствующейIn order to organize address iteration over a cross or a row (column) in a testing test, it is necessary to provide the ability to autonomously change the corresponding
части m или п разр дов регистра адреса провер емой пам ти.Part m or n bits of the register of the address of the memory being scanned.
Разр дность всех четырех регистров 1- 4, а также число элементов ИЛИ 5 и разр дность коммутатора 6 равны и соответствуют максимально возможному числу разр дов адреса дл провер емой пам ти.The size of all four registers 1-4, as well as the number of elements OR 5 and the width of the switch 6 are equal and correspond to the maximum possible number of address bits for the checked memory.
Разр ды регистров 1 и 3 под воздействием выходов регистра 4 могут иметь два режима работы, счетный, если на их входы подаетс единичный потенциал с выхода соответствующего разр да регистра 4 или режим принудительного удержани в единичном состо нии, которое не вли ет на возможность работы в счетном режиме последующих разр дов данного регистра. Оба режима работы регистров 1 и 3 устанавливаютс выходными потенциалами регистра 4, первый единичным, второй нулевым. При этом обеспечиваетс возможность счета, начина с того разр да регистра, у которого первого имеетс соответствующее разрешение . Таким образом задав позиционныйThe bits of registers 1 and 3 under the influence of the outputs of register 4 can have two modes of operation, counting, if their inputs are supplied with a single potential from the output of the corresponding register bit 4 or the forced retention mode in a single state that does not affect the ability to work counting mode of the subsequent bits of this register. Both modes of operation of registers 1 and 3 are set by the output potentials of register 4, the first one and the second zero. In this case, it is possible to count, starting with the register bit, which has the first permission. Thus setting the positional
соwith
сwith
о о VIabout o VI
ел юate yu
юYu
код в регистре А, можно определить номер первого счетного разр да регистров 1 и 3.code in register A, you can determine the number of the first counting bits of registers 1 and 3.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
При формировании адресных перехо- дов типа крест из блока управлени 7 на блок формировани тестов 8 и регистр 4 поступают установочные сигналы. Регистр 4 выдает на разр ды регистров 1 и 3 единичные и нулевые уровни, например такие, как показано на чертежи: с пр мых выходов 0-4 разр дов - единичные и с 5-9 - нулевые (и наоборот, дл инверсных выходов). На выходе разр дов регистров 1 и 3, принудительно установленных регистром 4 в режим удержани единичного состо ни присутствует )акой уровень, который разрешает прохождение через соответствующий элемент ИЛИ 5 группы сигнапов того же разр да друго О регистра, работающего в счетном режиме.When forming cross-type address transitions from the control unit 7, the setup signals are sent to the test-forming unit 8 and the register 4. Register 4 provides unit and zero levels for bits 1 and 3, for example, as shown in the drawings: from the direct outputs 0–4 bits are single and from 5-9 zero (and vice versa, for inverse outputs). At the output of the bits of registers 1 and 3, forcibly set by register 4 to a single-state hold mode, there is a level that permits passing through the corresponding element OR 5 of the group of signals of the same bit to another O register, operating in counting mode.
Проверка пам ти начинаетс с исходного нулевого адреса, передаваемого коммутатором в регистр 2. На выходе элементов ИЛИ 5 группы установлен адрес нулевого столбца и первой строки. По сигналам из блоков управлени 7 и формировани тестов 8 запускаютс триггер 9 и блок Формировани импульсов записи-чтени 10, и по двум адресам, определ емым регистром 2, состо нием выходов элементов ИЛИ 5 группы и трип ером Ч, выполн етс обращзние, соответствующее данному тесгу. Далее добавл етс единица в ре(истр 1,увеличива адрес строки, и аналогичное обращение производитс по новой паре адресов.The memory check starts from the initial zero address transmitted by the switch to register 2. The output of the elements of OR 5 group is the address of the zero column and the first row. According to the signals from the control units 7 and the formation of tests 8, trigger 9 and the write-read pulse shaping unit 10 are started, and at two addresses determined by register 2, the output state of the elements of the OR 5 group and tripler H, the corresponding teggy Next, a unit is added to the pe (source 1, increasing the address of the string, and a similar treatment is performed on a new pair of addresses.
Аналогичным образом производитс обращение по остальным адресам нулевого столбца до достижени регистром 1 адреса, на единицу меньшего исходного, т.е. нуле- вого. Бпок управлени 7 прекращает добавление единицы в регистр 1 и начинаетс подача этих сигналоч п регистр 3, который устанавливаетс о состо ние адреса первого столбца. После обращени по данной но- вой паре адресов производитс обращение по другой паре адресов, отличающейс со- сто нцем регистра 3 (адрес второго столбца ), и т.д. до достижени регистром 3 исходного состо ни , равного состо нию регистра 1. Первый такт формировани адресных переходов оканчиваетс увеличением на единицу состо ни регистра 2 (происходит сдвиг, центра креста). Второй и последующее такты производ тс знало- гично с добавлением единицы а решстры 1 и 3 до достижени ими исходного состо ни , равного состо нию части п регистра 2 дл регистра 3 и части m регистра 2 дл регистра 1. Характер обращени по каждому из адресов в провер емой паре определ етс блоком формировани импульсов записи-чтени 10, а обращенные к тому или иному адресу в паре - триггером 9 в зависимости от типа теста.Similarly, the address is processed at the remaining addresses of the zero column before the register 1 reaches the address one less than the initial one, i.e. zero. Control block 7 stops adding units to register 1, and the signaling of these signals, register 3, which determines the address status of the first column, begins. After accessing this new pair of addresses, a call is made to a different address pair, which is part of register 3 (second column address), and so on. until the register 3 reaches the initial state equal to the register 1 state. The first step of forming the address transitions ends with an increase of register 2 state units (a shift occurs, the center of the cross). The second and subsequent cycles are performed meaningfully with the addition of one unit of Reshvres 1 and 3 until they reach the initial state equal to the state n of part n of register 2 for register 3 and part m of register 2 for register 1. The type of address for each of the addresses in The pair to be tested is determined by the write-read pulse-shaping unit 10, and those facing an address in the pair — by trigger 9, depending on the type of test.
При необходимости изменени разр дности регистров из блока управлени 7 в регистр 4 поступают сигналы на изменение состо ни его разр дов.If it is necessary to change the size of the registers from the control unit 7, the register 4 receives signals to change the state of its bits.
Дл формировани адресных переходов внутри строки или столбца в такте обращени перебор адресов производитс только одним из регистров 1 или 3, второй же посто нно находитс в состо нии, равном состо нию соответствующей части m или п регистра 2.To form address transitions within a row or column in the reference cycle, addresses are searched only by one of registers 1 or 3, while the second is constantly in a state equal to the state of the corresponding part m or n of register 2.
При формировании адресных переходов дл шстов типа N2, где , разр ды регистра 4 из блока управлени 7 устанавливаютс в одинаковое состо ние и работает один из регистров 1 или 3 по полному объему адресов, образу адрес, парный адресу регистра 2. Добавление единицы производитс только в тот регистр 1 или 3, который работает в режиме счета.When forming address transitions for strings of type N2, where the bits of register 4 from control unit 7 are set to the same state and one of registers 1 or 3 is working on the full volume of addresses, forming an address paired with the address of register 2. Adding a unit is performed only in That register 1 or 3, which operates in the account mode.
Считанна из провер емого блока пам ти информаци принимаетс на регистр 11, сравниваетс с эталонной в блоке сравнени 12, который при наличии несовпадени запускает блок останова 13. Сигнал из блока останова 13 прекращает работу блока местного управлени 14.The information read from the checked memory block is received on the register 11, compared with the reference one in the comparison block 12, which, if there is a mismatch, starts the stop block 13. The signal from the stop block 13 stops the operation of the local control block 14.
Устройство позвол ет формировать более короткие тесты N3/2, что приводит к снижению времени проверки блоков пам ти большой информационной емкости.The device allows the formation of shorter N3 / 2 tests, which leads to a decrease in the time for checking large-capacity storage units.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894745747A SU1667159A2 (en) | 1989-08-24 | 1989-08-24 | Memory checking device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894745747A SU1667159A2 (en) | 1989-08-24 | 1989-08-24 | Memory checking device |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU739658 Addition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1667159A2 true SU1667159A2 (en) | 1991-07-30 |
Family
ID=21472870
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894745747A SU1667159A2 (en) | 1989-08-24 | 1989-08-24 | Memory checking device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1667159A2 (en) |
-
1989
- 1989-08-24 SU SU894745747A patent/SU1667159A2/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР Ne 739658. кл. G 11 С 29/00. 1977 * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1667159A2 (en) | Memory checking device | |
SU934553A2 (en) | Storage testing device | |
US4326268A (en) | Magnetic bubble memory device | |
KR950004796A (en) | Scanning programmable check matrix for system interconnect | |
SU1030854A1 (en) | Device for checking multidigit memory units | |
JPS59122972A (en) | Apparatus for testing logical circuit | |
SU1170513A1 (en) | Device for checking semiconductor memorv | |
SU1170458A1 (en) | Logical analyser | |
SU1317484A1 (en) | Storage with error correction | |
SU1166120A1 (en) | Device for checking digital units | |
SU1215134A1 (en) | Device for initial setting of dynamic storage | |
SU1751821A1 (en) | Device for testing working memory units | |
SU849215A1 (en) | Device for determining information parity | |
SU1129656A1 (en) | Device for checking storage | |
SU1485313A1 (en) | Memory block check unit | |
SU1161993A1 (en) | Device for checking internal memory blocks | |
SU1124331A2 (en) | System for automatic inspecting of large-scale-integrated circuits | |
SU1283859A1 (en) | Device for checking memory blocks | |
SU970481A1 (en) | Device for checking memory units | |
SU1040526A1 (en) | Memory having self-check | |
SU1260962A1 (en) | Device for test checking of time relations | |
SU1005189A1 (en) | Device for reading-out information from associative storage | |
SU824316A1 (en) | Fixed storage testing device | |
SU1160414A1 (en) | Device for checking logic units | |
SU1315965A1 (en) | Device for determining values of boolean functions |