SU1658829A3 - Способ оценки качества алмазов - Google Patents

Способ оценки качества алмазов Download PDF

Info

Publication number
SU1658829A3
SU1658829A3 SU874203279A SU4203279A SU1658829A3 SU 1658829 A3 SU1658829 A3 SU 1658829A3 SU 874203279 A SU874203279 A SU 874203279A SU 4203279 A SU4203279 A SU 4203279A SU 1658829 A3 SU1658829 A3 SU 1658829A3
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
diamonds
quality
diamond
radiation
intensity
Prior art date
Application number
SU874203279A
Other languages
English (en)
Inventor
Джейн Баули Хитер
Лесли Джеррард Дональд
Original Assignee
Дзе Бритиш Петролеум Компани, П.Л.С.(Фирма)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Дзе Бритиш Петролеум Компани, П.Л.С.(Фирма) filed Critical Дзе Бритиш Петролеум Компани, П.Л.С.(Фирма)
Application granted granted Critical
Publication of SU1658829A3 publication Critical patent/SU1658829A3/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/87Investigating jewels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65Raman scattering

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к оценке качества алмазов. Цель изобретени  - повышение качества оценки путем исключени  субъективного фактора. По способу дл  оценки алмазов различного качества лазерный спектрометр Рамана калибруетс  по алмазам известного качества, свойства которых оцениваютс  по типовой субъективной процедуре Затем алмазы неизвестного качества помещают в спектрометр и облучают лазерным излучением известной частоты. Интенсивность рассе нного сигнала Рамана от алмаза неизвестного качества контролируетс  дл  одной или нескольких ориентации алмаза, при этом результирующий сигнал св зан с качеством этого алмаза . 1 з.п.ф-лы, 2 табл, 1 ил. сл С

Description

Изобретение относитс  к области исследовани  качества алмазов оптическими методами и может быть применено в ювелирной промышленности.
Цель изобретени  - повышение качества оценки алмазов путем исключени  вли ни  субъективности эксперта.
На чертеже представлена схема устройства дл  реализации способа оценки качества алмазов.
Устройство, реализующее способ, включает источник 1 лазерного излучени  известной частоты, собирающую оптическую систему 2, монохроматор 3, диодный матричный детектор 4, держатель 5 алмаза и оцениваемый алмаз 6.
В основе изобретени  лежит то свойство алмаза, что сигнал Рамана от алмазов
значительно сильнее сигналов от других материалов по той причине, что в алмазе имеетс  только С-С-св зь, и его сигнал Рамана оказываетс  в месте, сильно отличающемс  от сигналов от других минералов. Поэтому сигнал Рамана дл  алмазов очень специфичен . Кроме того, благодар  наличию в алмазе лишь одного типа С-С-св зи существует лишь одиночный сигнал Рамана, легко отдел емый от сопутствующей широкополосной флуоресценции.
В устройстве дл  реализации способа имеетс  источник 1 лазерного излучени , действующий на одиночной частотной моде, т.е. обеспечивающий излучение одной частоты . Частоту излучени  выбирают в зависимости от цветового типа оцениваемого алмаза. Используют аргоновый ионный лао ел
00 00
го о
со
зер модели Spectra - Physics 2020 с длиной волны 514,5 нм. Лазер работает в режиме 50 мВт с поддержанием посто нного фотонного потока. При необходимости лазер может работать с другими длинами волн.
Анализ рассе нного лазерного излучени  проводитс  с помощью лазерного спектрометра Рамана Anspec-36, содержащего собирательную оптическую систему 2, мо- нохроматор 3 и диодный матричный детектор 4 типа Retlcon-S.
Алмазодержатель 5 приспособлен к удержанию алмаза 6 на пути света от лазера и может мен ть ориентацию алмаза относительно направлени  лазерного излучени .
До проведени  оценки качества неизвестного алмаза желательно определить, имеютс  ли в алмазе внутренние кристаллические дефекты вроде включений. Такие дефекты необходимо учитывать при оценке качества алмаза.
Изобретение может использоватьс  дл  оценки как ограненных, так и неограненных алмазов. Поэтому данный способ может быть приспособлен к групповому или непрерывному методу отделени  алмазов по группам известного качества от алмазоносного материала.
Желательно, чтобы алмазы неизвестного качества относились к одному цветовому типу, например белому, желтому, зеленому, кроме того, желательно определ ть цветовой тип алмаза до оценки его качества соот- ветствующим способом. Алмазы по большей части относ тс  к белому, желтому или зеленому цветовому типу, поэтому желательно предварительно классифицировать алмазы по цветовым типам с помощью соответствующих методов.
При осуществлении способа устройство калибруют на алмазах известного цветового класса от 1 до 7. По цветовым типам используют алмазы желтые и зеленые, причем класс 1 обозначает наивысшее качество, а класс 7 - наинизшее. Качество определ ют стандартной субъективной оценкой.
Каждый алмаз размещают в держателе 5 и устанавливают на пути света от лазера 1. Положение алмаза в держателе 5 оптимизируют дл  получени  максимального сигнала рассе нного излучени  Рамана на детекторе. Замер максимальной интенсивности сигнала Рамана проводитс  дл  нескольких ориентации каждого алмаза. Интенсивность выражают как число фотонов , подсчитанных за 1 с. Поскольку в каждом случае разброс результатов незначителен, дл  каждого алмаза рассчитывают среднюю величину интенсивности
сигнала Рамана. Суммарное врем  накоплени  (врем , потребное дл  подсчета числа фотонов в рассе нном излучении Рамана) пор дка 1 с, при этом в каждом классе исследуют по п ть алмазов (когда это возможно ). Врем  накоплени  зависит от частоты падающего лазерного излучени  и цветового типа алмаза.
Интенсивность излучени  Рамана измер ют с помощью диодного матричного детектора 4. В качестве детектора также возможно использование фотоумножителей .
В табл.1 представлены результаты дл 
желтых алмазов 1-7 кпассов (падающее излучение с длиной волны /Ц. 514,нм), а в табл.2 - дл  зеленых алмазов 1-6 классов (падающее излучение с длиной волны АО 514,5 нм).
Интенсивность Рамана дл  каждого качества определ ют по п ти алмазным образцам (при возможности) и дл  каждого камн  величину интенсивности Рамана рассчитывают дл  п ти различных ориентации
алмаза в держателе. Замечено, что в каждом случае интенсивность Рамана мало мен етс  от ориентации вследствие его тетраэдральной С-С валентной моды.
Из примеров спектров, полученных дл 
каждого цветового класса, видно, что даже в наиболее низшем цветовом классе не обнаруживаетс  существенного фона. Этот момент  вл етс  важным, так как сигнал при 1332 см можно считать сигналом Рамана от алмаза при остутствии флуоресценции . Следовательно, описанный метод может использоватьс  дл  оценки алмазов с различными цветовыми классами.
40

Claims (2)

1. Способ оценки качества алмазов, заключающийс  в том, что направл ют на алмаз электромагнитное излучение,
регистрируют рассе нное излучение и суд т о качестве алмазов, отличающийс  тем, что. с целью повышени  качества оценки , предварительно сортируют алмазы по их цветовым типам, на алмаз известного цвета
с неизвестными качественными характеристиками направл ют лазерное излучение известной частоты и интенсивности, регистрируют интенсивность рассе нного рама- новского излучени  и суд т о качестве
алмаза по интенсивности зарегистрированного излучени  путем сравнени  с интенсивностью рамановского излучени , рассе нного в аналогичных услови х алмазами известного цвета и качества.
2. Способ по п.1,отличающийс  тем, что алмазы неизвестного качества до
проведени  оценки раздел ют по размерным диапазонам.
Таблица 1
Таблица 2
SU874203279A 1985-12-19 1987-08-18 Способ оценки качества алмазов SU1658829A3 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB858531330A GB8531330D0 (en) 1985-12-19 1985-12-19 Differentiation process

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1658829A3 true SU1658829A3 (ru) 1991-06-23

Family

ID=10590022

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874203279A SU1658829A3 (ru) 1985-12-19 1987-08-18 Способ оценки качества алмазов

Country Status (13)

Country Link
US (1) US4875771A (ru)
EP (1) EP0250527A1 (ru)
JP (1) JPS63502052A (ru)
KR (1) KR880700932A (ru)
AU (1) AU591226B2 (ru)
BR (1) BR8607050A (ru)
CA (1) CA1276482C (ru)
DK (1) DK429987A (ru)
GB (1) GB8531330D0 (ru)
IN (1) IN168887B (ru)
SU (1) SU1658829A3 (ru)
WO (1) WO1987003963A1 (ru)
ZA (1) ZA869442B (ru)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4851376A (en) * 1986-03-08 1989-07-25 Ngk Insulators, Ltd. Cordierite ceramic body having low thermal expansion coefficient, process for producing the same, and method of evaluating cordierite composition
GB8706422D0 (en) * 1987-03-18 1987-04-23 British Petroleum Co Plc Identification method
US5206699A (en) * 1988-05-06 1993-04-27 Gersan Establishment Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones
US5835200A (en) * 1990-04-24 1998-11-10 Gersan Establishment Method and apparatus for examining an object
GB9103552D0 (en) * 1991-02-20 1991-04-10 Gersan Ets Classifying or sorting
GB9418050D0 (en) * 1994-09-07 1994-10-26 Gersan Ets Examining a diamond
US5932119A (en) * 1996-01-05 1999-08-03 Lazare Kaplan International, Inc. Laser marking system
US5717209A (en) * 1996-04-29 1998-02-10 Petrometrix Ltd. System for remote transmission of spectral information through communication optical fibers for real-time on-line hydrocarbons process analysis by near infra red spectroscopy
US5966673A (en) 1997-01-10 1999-10-12 Diamond Technologies, Inc. System and method for computerized evaluation of gemstones
US6980283B1 (en) 1997-12-18 2005-12-27 Imagestatistics, Inc. Method and associated apparatus for the standardized grading of gemstones
US6020954A (en) 1997-12-18 2000-02-01 Imagestatistics, Inc. Method and associated apparatus for the standardized grading of gemstones
US6473164B1 (en) 2000-02-16 2002-10-29 Gemological Institute Of America, Inc. Systems, apparatuses and methods for diamond color measurement and analysis
US7260544B1 (en) * 2000-10-12 2007-08-21 Gemological Institute Of America, Inc. System and methods for evaluating the appearance of a gemstone
CN1618257A (zh) * 2002-02-07 2005-05-18 丹尼尔·菲利皮尼 测试方法
US6786733B2 (en) * 2002-10-15 2004-09-07 Overseas Diamonds Inc. Computer-implemented method of and system for teaching an untrained observer to evaluate a gemstone
US7158240B2 (en) * 2004-06-16 2007-01-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Measurement device and method
US9262284B2 (en) * 2006-12-07 2016-02-16 Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. Single channel memory mirror
JP5222898B2 (ja) 2010-05-17 2013-06-26 株式会社日立エルジーデータストレージ 記録方法、再生方法、記録装置、および再生装置
JP5798244B2 (ja) * 2011-06-13 2015-10-21 プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ 固体状態のスピン系における効率的な蛍光検出
CN106198488B (zh) * 2016-07-27 2017-10-13 华中科技大学 一种基于拉曼光谱分析的煤质快速检测方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1799604A (en) * 1926-11-03 1931-04-07 Fayette F Read Method and apparatus for identifying crystals
US3414354A (en) * 1964-10-28 1968-12-03 Perkin Elmer Corp Raman spectrometers
ZA71900B (en) * 1971-02-12 1972-08-30 De Beers Cons Mines Ltd Separation of particles by electromagnetic radiation
GB1416568A (en) * 1972-10-20 1975-12-03 Wilson S S Method of and apparatus for evaluating registering and identifying gemstones
DE7418353U (de) * 1974-05-27 1974-10-17 Eickhorst M Vorrichtung zur spektroskopischen untersuchung von edelsteinen
GB2010474A (en) * 1977-10-19 1979-06-27 Horchler S Gem colour meter
DE2935812A1 (de) * 1979-09-05 1981-03-12 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Verfahren zur werkstoffpruefung
US4259011A (en) * 1979-11-05 1981-03-31 Crumm John C Optical gem analyzer
ZA813263B (en) * 1980-06-04 1982-06-30 De Beers Cons Mines Ltd The assessment of colour in diamonds and other gems
FR2496888A1 (fr) * 1980-12-22 1982-06-25 Gemological Lab Antwerp Ensemble de metrologie gemmologique pour la gradation automatique d'une gemme, en particulier le diamant et autres pierres precieuses
JPS57158544A (en) * 1981-03-25 1982-09-30 Ii R C:Kk Identifying method of jewel and ornament by measurement of quantity system and optical system, and its data processor
US4394580A (en) * 1981-07-27 1983-07-19 L.C.E. Ltd. Method and apparatus for analyzing gems
GB2140555B (en) * 1983-05-24 1987-03-25 British Petroleum Co Plc Diamond separation
US4620284A (en) * 1983-12-29 1986-10-28 Uop Inc. Qualitative and quantitative analysis using Raman scattering

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент US № 4527895, кл. G 01 N21/87, 1985. За вка GB № 1384813, кл. G01 N21/52. 1975. *

Also Published As

Publication number Publication date
KR880700932A (ko) 1988-04-13
AU591226B2 (en) 1989-11-30
WO1987003963A1 (en) 1987-07-02
CA1276482C (en) 1990-11-20
BR8607050A (pt) 1988-02-23
EP0250527A1 (en) 1988-01-07
AU6778987A (en) 1987-07-15
GB8531330D0 (en) 1986-01-29
ZA869442B (en) 1988-07-27
US4875771A (en) 1989-10-24
DK429987D0 (da) 1987-08-18
IN168887B (ru) 1991-07-06
DK429987A (da) 1987-08-18
JPS63502052A (ja) 1988-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1658829A3 (ru) Способ оценки качества алмазов
US4907875A (en) Diamond separation process
CA1138218A (en) Material-testing method and apparatus
US10823680B2 (en) Device for identifying a diamond
US4799786A (en) Method of diamond identification
JPS58728A (ja) ダイヤモンドカラ−測定装置
US6331708B2 (en) Examining a diamond
RU2679928C1 (ru) Устройство для идентификации алмаза
AU660413B2 (en) Method and apparatus for examining an object
US5835200A (en) Method and apparatus for examining an object
KR930700838A (ko) 물체 검사 방법 및 장치
WO1999057544A1 (en) Examining diamonds
SU1651170A1 (ru) Способ оценки типа хлопкового волокна
SU1262349A1 (ru) Способ исследовани материала
JPS5796241A (en) Method and device for measuring density of impurity in semiconductor
RU1787589C (ru) Способ контрол и сортировки кристаллов синтетического алмаза
GB2274165A (en) Method and apparatus for examining an object
SU1048379A1 (ru) Способ оценки качества льносырь
IL108513A (en) Bone test method and device
JPS5788348A (en) Method and device for spectral fluorescence
BG62304B1 (bg) Метод и фотометрична камера за неразрушаващо класифициранеи/или сортиране на плодове и зеленчуци според вътрешното имкачество, независимо от качеството на кората
GB2273559A (en) Method and apparatus for examining an object
JPS62238426A (ja) 吸光・螢光多波長光度計
JPS60187847A (ja) 赤外発光分光分析法及びその装置