SU1536194A1 - Интерферометр - Google Patents

Интерферометр Download PDF

Info

Publication number
SU1536194A1
SU1536194A1 SU884382180A SU4382180A SU1536194A1 SU 1536194 A1 SU1536194 A1 SU 1536194A1 SU 884382180 A SU884382180 A SU 884382180A SU 4382180 A SU4382180 A SU 4382180A SU 1536194 A1 SU1536194 A1 SU 1536194A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
propagation
beams
diffraction grating
mirror
Prior art date
Application number
SU884382180A
Other languages
English (en)
Inventor
Вадим Юрьевич Гусейнов
Анатолий Викторович Попков
Original Assignee
Куйбышевский авиационный институт им.акад.С.П.Королева
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Куйбышевский авиационный институт им.акад.С.П.Королева filed Critical Куйбышевский авиационный институт им.акад.С.П.Королева
Priority to SU884382180A priority Critical patent/SU1536194A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1536194A1 publication Critical patent/SU1536194A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  определени  деформаций твердых тел. Целью изобретени   вл етс  расширение функциональных возможностей за счет измерени  деформаций объекта. Дл  этого отражатель, укрепленный в интерферометре Найкельсона на объекте, выполнен в виде отражающей дифракционной решетки, а полупрозрачный экран, на котором наблюдают интерференционную картину, установлен в направлении одного из ненулевых максимумов решетки. При деформации объекта измен етс  период дифракционной решетки и, следовательно, направление дифрагированных пучков, что приводит к изменению интерференционной картины, по которой суд т о величине деформации объекта в плоскости на его поверхности. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  определени  деформаций твердых тел.
Целью изобретени   вл етс  расширение функциональных возможностей за счет обеспечени  возможности измерени  деформации в плоскости на поверхности объекта.
На чертеже представлена схема интерферометра .
Интерферометр содержит источник 1 когерентного излучени  (лазер), коллиматор 2, светоделитель 3, плоское зеркало 4, полупрозрачное зеркало 5, регистра юр интерференционной картины, включающий матовый рассеивающий зкран 6 и набчюд дельный микроскоп 7, и огр1 ающую дифракционную решетку 8, закретпенную на исследуемом объект 9. Л прр 1, коллиматор 2, светоделитель 3 и исследуемый объект 9 расположены вдоль одной оптической оси, перпендикул рной отражательной решетке 8, а полупрозрачное зеркало 5, матовый экран 6 и наблюдательный микроскоп 7 установлены в направлении одного из ненулевых максимумов дифракционной решетки 8.
Интерферометр работает следующим образом.
Луч от источника когерентного излучени , пройд  череэ коллиматор 2, попадает на светоделитель 3 и делитс  на два пучка: 10 и II. Световой пучок 10, огр«,1 гь oi зеркала 4 и полупрозрачно о зеркала 5, попадает нз экран 6, выполненный из матового стекла, с и пи iепной на него координа run,- гет ш . петовой пучок 11 падает и м i ра гопг.то дифсл
со о
СО 4ь
рлкционную решетку 8, закрепленную на исследуемом объекте 9. Первый (или один из следующих) дифракционный максимум 12 отраженного от ре- шетки 8 пучка 11 проходит через полупрозрачное зеркало 5 и попадает на экран 6, где в результате интерференции световых пучков 10 и 12 образуетс  интерференционна  картина, на блюдаема  через микроскоп 7. С помощью зеркал 4 и 5 оптическа  схема юстируетс  таким образом, чтобы угол между пучками 10 и 12 был близок нул
Направление распространени  дифра ционных максимумов излучени , отраженного от решетки 8, или углы дифракции ср ц (где N 1,2,3...) определ ютс  из услови :
sin NH/Ъ f
где N - номер дифракционного максимума ;
Л - длина волны излучени  лазера;25 Ъ - период дифракционной решетки .
При интерференции двух коллимиро- ванных световых пучков 10 и 12, на- JQ правленных под углом друг к другу, на экране 6 возникает интеренферен- ционна  картина, ширина полос интерференции на экране 6 определ етс  выражением .
В Ъ/2СО
где В - ширина интерференционной полосы , СО - угол между интерферирующими о
пучками.
При деформировании объекта 9 совместно с ним деформируетс  отражательна  дифракционна  решетка 8, так как измен етс  период Ъ дифракционной ре- д5 шетки. Это приводит к изменению -углов дифракции Ср N и интерференции СО.
Вследствие зтого измен етс  ширина интерференционных полог на экра не 6 .
Таким образом, по изменению ширины полос интерференции суд т о величине деформации исследуемого объекта.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Интерферометр, содержащий источник когерентного изпучени , расположенные по ходу излучени  коллиматор и светоделитель, размещенное по ходу одного из разделенных пучков плоское зеркало, расположенный по ходу другого из разделенных пучков отражатель, предназначенный дл  креплени  на объекте, и установленный в выходном пучке интерферометра регистратор интерференционной картины, отличающийс  тем, что, с целью расширени  функциональных возможностей за счет измерени  также и деформации объекта, отражатель выполнен в виде отражающей дифракпион- ной решетки на эластично подлтжке, плоское зеркало ориентировано так, что нормаль к его поверхности лежит в плоскости распространени  пучков и составл ет отличный от нул  угол с направлением распространени  падающего на зеркало пучка, а интерферометр снабжен полупрозрачным зеркалом , предназначенным дл  формировани  выходного пучка, ра мещенным в направлении распространени  одного из ненулевых максимумов дифракционной решетки в точке пересечени  с пучком, отраженным от плоского зеркала , и ориентированным так, что нормаль к его поверхности лежит в плоскости распространени  пучков и совпадает с биссектрисой угл  между направлени ми распространени  пучков отраженного от плоского черкала и дифрагированного на дифрпкционной решетке соответственно.
SU884382180A 1988-02-22 1988-02-22 Интерферометр SU1536194A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884382180A SU1536194A1 (ru) 1988-02-22 1988-02-22 Интерферометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884382180A SU1536194A1 (ru) 1988-02-22 1988-02-22 Интерферометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1536194A1 true SU1536194A1 (ru) 1990-01-15

Family

ID=21357155

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884382180A SU1536194A1 (ru) 1988-02-22 1988-02-22 Интерферометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1536194A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Годжаев Н.М. Оптика.-М.: Высша школа, 1977, с. 109-113. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0785010B2 (ja) 位置測定装置
SU1536194A1 (ru) Интерферометр
SU1099097A1 (ru) Сканирующий интерферометр
SU1186940A1 (ru) Голографический интерферометр дл измерени формы сферических оптических поверхностей
SU1364866A1 (ru) Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений
SU1518663A1 (ru) Интерферометр дл измерени поперечных перемещений
SU1260674A1 (ru) Интерферометр дл измерени линейных и угловых перемещений объекта
SU947636A1 (ru) Интерферометр дл измерени перемещени
SU949336A1 (ru) Устройство дл измерени пр молинейности поверхностей
SU1046606A1 (ru) Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей
SU1744452A1 (ru) Интерферометр дл контрол плоскостности отражающих поверхностей
SU1106984A2 (ru) Интерферометр
SU1613849A2 (ru) Интерферометр дл контрол прогибов квазиплоских поверхностей деталей
SU578562A1 (ru) Интерферометр дл контрол прогибов кваз плоских поверхностей деталей
SU1657947A1 (ru) Интерферометр дл контрол асферических поверхностей второго пор дка
SU1384936A1 (ru) Интерферометр дл измерени линейных перемещений
SU1672214A1 (ru) Устройство дл измерени рассто ни до поверхности
SU1649262A1 (ru) Интерференционный преобразователь угла
SU1578457A1 (ru) Интерферометр дл измерени линейных перемещений
SU1415052A1 (ru) Способ определени линейных перемещений объекта
SU657240A1 (ru) Устройство дл контрол формы вогнутых асферических поверхностей
SU1397718A1 (ru) Интерферометр дл измерени линейных величин и показател преломлени
SU1582039A1 (ru) Устройство дл определени положени фокальной плоскости объектива
SU1506269A1 (ru) Интерферометр дл измерени углового и линейного положени объекта
JPS5722538A (en) Retroreflector