SU1046606A1 - Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей - Google Patents

Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей Download PDF

Info

Publication number
SU1046606A1
SU1046606A1 SU823484142A SU3484142A SU1046606A1 SU 1046606 A1 SU1046606 A1 SU 1046606A1 SU 823484142 A SU823484142 A SU 823484142A SU 3484142 A SU3484142 A SU 3484142A SU 1046606 A1 SU1046606 A1 SU 1046606A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
light beam
information
reflector
interferometer
optical
Prior art date
Application number
SU823484142A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Сергеевич Скворцов
Александр Иванович Лысенко
Вячеслав Андреевич Сойту
Валентин Борисович Касаткин
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1705
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1705 filed Critical Предприятие П/Я А-1705
Priority to SU823484142A priority Critical patent/SU1046606A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1046606A1 publication Critical patent/SU1046606A1/ru

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

1. ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПЛОСКОСТНОСТИ И НЕПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащий последовательно расположенные на одной оптической оси монохроматический источник света, автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков и отражатель информационного светового пучка,о т л и ч а|Ю щ и и с   тем,что,с целью повышени  точности и производительности измерени ,он снабжен оптическим блоком отклонени  светового пучка,расположенным между автоколлимационной телескопической системой и формирователем, который выполнен в виде стекл нной пластины с образцовой поверхностью, обращенной к, отражателю, выполненному в виде плоского зеркала, формирователь и отражатель установлены с возможностью наклона к оптической оси. 2. интерферометр по п. 1, о т л ич а ю щ и и с -  тем, что оптический блок отклонени  светового пучка выполнен в виде плоского зеркала, жестко св занного с формирователем и установленного под углом 45° к оптической оси. (/) . 3. Интерферометр по п. 1, отличающийс  тем, что оптический блок отклонени  светового пучка выполнен в виде двух вращающихс  друг относительно друга оптических клиньев.

Description

f
Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к приборам дл  бесконтактного измерени  неплоскостности и непр молинейности доведенных, шлифованных и шаброванных поверхностей как малой,«так и большой прот женностир и может быть использовано, например дл  измерени  Неплоскостности и непр моли- . нейности повероч-ных плит и линеек, направл ющих станков и т.д.
Известен интерферометр дл  измерени  неплоскостности и непр молинейности поверхностей, содержащий монохроматический источник света, автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков , установленный перед контролируемой поверхностью, и отражатель информационного светового пучка, уста новлеиный за контролируемой поверхностью . В данном интерферометре формирователь и отражатель выполнены в виде соответственно прозрачной и отражательной дифракционных решеток с различными частотам f) .
Недостатками интерферонетра  вл ютс  сложность конструкции и больша  сложность автоматизации процесса измерен 5  объектов с различной длиной контролируемой поверхности. Кроме того j дл  обеспечени  высокой точности измерени  необходимо точное совмещение на отражателе оптических осей информационного и референтного световых ,пучков,
о Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вллетс  интерфарометр дл  измерени  неплоскостно.сгк и непр молинейности поверхностей, содержащий последовательно расположенные на одной оптической оси монохроматический источник света,автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков к отражатель информационного светового пучка.Формиров а те ль и отражатель в нзвестнсж интерферометре выполнены в виде оп-, тического клина, у которого на, пе редннно по ходу светового пучка по- , верхность нанесено светоделительмое покрытие, а на задйюго поверхность отражающее покрытие Н «
Известный -интерферометр имеет низкую точность -и производительность измерени  Это обусловлено тбм, что кажда  пара оптических клиньев обеспечивает полное заполнение зрачка автоколлкмациоиной телескопической система при измерении поверхности только одной конкретной длины, В случае, если она меньше, уменьшаетс  рабочий световой поток, а главное не будет обеспечиватьс  полное заполнение зрачкао Вследствие этого размеры интерференционной картины
и ее освещенность будут различными, что приводит к снижению точности измерени . На точность измерени  также вли ет погрешность при совмещении на отражателе оптических осей информационного и референтного световых пучков.
Кроме того, сложность- обработки интерферограмм не позвол ет получить высокую производительность измерени .
Цель изобретени  - повышение точности и производительности измерени  „
Поставленна  цель достигаетс  тем что интерферометр дл  измерени  неплоскрстности и непр молинейности поверхностей, содержащий последовательно расположенные на, одной оптической оси монохроматический источник света, автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков и отражатель информационного светового пучка, снабжен оптическим блоком отклонени  светового пучка, расположенным между автоколлимационной телескопической системой и формирователем, который вьтолнеи в виде стекл нной пластины с образцово поверхностью, обращенной к отражателю, ВЕлюлненн.ому в вид плоского зеркала, формирователь и отражатель установлены с возможностью наклона к оптической оси. .
Кроме того, оптический блок отклонени  светового пучка вьтолнен в вид плоского зеркала, жестко св занного с формирователем и установленного под углом 45 к оптической оси.
. Кроме того, оптический блок отклонени  светового пучка выполнен в виде двух вращакщихс  друг относительно друга оптических клиньев.
На фиг. 1 изображена принципиальна  схема интерферометра дл  измерени  неплоскостности и непр молинейности поверхностей; на фиг. 2 - принципиальна  схема интерферометра в случае выполнени  оптического блока отклонени  светового пучка в виде плоского зеркала, жестко св занного с формирователем, вид сверху.
Интерферометр (фиг. 1) содержит монохроматический источник света, напрмер лазер 1, автрколлимадиоиную телескопическую систему, состо кнцую из микрообъектива 2, светоделител , выполненного, например, в виде светоделитель ной пластины 3, и коллиматорного объектива 4, оптический блок отклонени  светового пучка, выполненный в виде двух вращающихс  друг относительно друга- оптических клиньев 5 и б, формирователь ин 1юрмационного и реф.ентного световых пучков, вьтолненнь й в виде стекл нной пластины 7 с образцовой поверхностью А, отражатель информационного светового пучка, вьтолненный в виде плоского зеркала 8, углоизмери тельный датчик 9 формировател  и уг лоизмерительный датчик 10 отражател Между формирователем и отражателем расположена контролируема  поверхность 11, Интерферометр (фиг. 2) вместо оп тических клиньев 5 и 6 содержит плоское зеркало 12, которое посредством общего основани  13 жестко св зано со стекл нной пластиной 7. Интерферометр (фиг. 1) работает следующим образом. Лазер 1 направл ет световой луч в автоколлимационную телескопическу систему, формирующую расширенный и (рллимйрованный световрй пучок. Про д  микроовъектив 2, светоделительную пластину 3 и коллиматорный объектив 4 автоколлимационной телескопической системы, световой пучок направл етс  на оптические клинь  5 и 6, которые отклон ют его в сторону контролируемой поверхности 11 1 на угол . За оптическими клинь ми 15 и 6 перед контролируемой поверхностью 11 расположена стекл нна  пластина 7, образцова  поверхность которой перпендикул рна падающему на нее световому пучку. Пластина 7 формирует два световых пучка, один из которых отражаетс  от образцовой поверхности А и образует референтный световой пучок, а второй проходит через пластину 7 и образует информационный световой пучок. Информационный световой пучок пгщает на контролируемую поверхность 11, отражаетс  от нее и направл етс  на плоское зеркало 8. Отражающа  повер ность зеркала 8 расположена перпенд кул рно падающему на нее информационному световому пучку, благодар  чему он,.отразившись, возвращаетс  в строго обратном направлении снова на контролируемую поверхность 11, а затем на стекл нную пластину 7. На образцовой поверхности А стекл нной пластины 7 информационный световой пучок интерферирует с референтньш световым пучком и направл етс  совместно с ним последовательно на оптические клинь  6 и 5, коллиматорны объектив 4 и сЬетоделительную пластину 3, отразившись от которой соби раетс  в фокальной плоскости F коллиматорного объектива 4. При измерении неплоскостности и напр молинейности поверхностей про , исходит следующее. Плоский волновой фронт информаци онного светового пучка, вследствие его взаимодействи  с контролируемой поверхностью 11 претерпевает дважди искажени , пропорциональные макрои микронеровност м контролируемой поверхности 11. Искажени  волнового фронта информационного светового пучка визуализируютс  в виде искривлени  информационных полос интерференционной картины, при этом искривление полос.интерференционной картины на ширину одной интерференционной полосы соответствует непр молинейнрс А ти контролируемой поверхности -j-,, 154 пес где - длина волны источника света, а ot - угол между информационные световым пучком и контролируемой поверхностью . Перед началом измерени  с целью обеспечени  полно1 о заполнени  зрачка автоколлимационной телескопической системы выполн ют следующие операции . Устанавливают все механизмы регулировки положени  оптических клиньев 5 и 6, пластины 7 и зеркала 8 в нулевое положение. Определ ют по фо{ 1улеЫ.- arctg г- оптимальное значение угла oL , где D - диаметр светового пучка, а L - длина контролируемой поверхности. Наклон ют пластину 7 и зеркало 8 в сторону -контролируемой поверхности на уголо , контролиру  его при помощи углоизмерительных датчиков 9 и 8. Разворачива  друг относительно друга оптические клинь  5 и 6, добиваютс  п-адени  по нормали светового пучка на образцовую поверхность А пластины 7. Смеща  в вертикальном направлении все оптические элементы, расположенные перед КОНТЕЮлируемой поверхностью 11, выставл ют требуемое превышение Н опт1 ческой оси интерферометра над контролируемой поверхностью 11, которюе пред-; варительно вычисл ют по формуле Н «:(в+ j} tgoC , где В-рассто ние от кра  контролируемой поверхности 11 до образцовой поверхности А пластины 7. Тонкой регулировкой плоского зеркала 8 производ т окончательную настройку. Принцип действи  интерферометра (фиг. 2) аналогичен вышеописаннсму. Отличием  вл етс  только отсутствие сложной операции направлени  по нор-мали светового пучка на образцовую поверхность А пластины 7, так как эта операци  при повороте основани  13 на угол с6 выполн етс  автоматически . Таким образом, предлагаемый интерферометр обладает высокой точностью и производительностью измерени .
т.
N
О)
«Nt

Claims (3)

1. ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПЛОСКОСТНОСТИ И НЕПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащий последовательно расположенные на од-j ной оптической оси монохроматический источник света, автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков и отражатель информационного светового пучка,о т л и чаюющий с я тем,что,с целью повышения точности производительности измерения, он снабжен оптическим блоком отклонения светового пучка,расположенным между автоколлимационной телескопической системой и формирователем, который выполнен в виде стеклянной пластины с образцовой поверхностью, обращенной к, отражателю, выполненному в виде плоского зеркала, формирователь и отражатель установлены с возможностью наклона к оптической оси.
2. Интерферометр по π. 1, отличающийся тем, что оптический блок отклонения светового пучка выполнен в виде плоского зеркала, жестко связанного с формирователем и установленного под углом 45° к ческой оси.
3. Интерферометр по п. 1, л и ч а ю щ и й с я тем, что ческий блок отклонения светового пучка выполнен в виде двух вращающихся друг относительно друга тических клиньев.
оптио т оптиопCi £ £
О) №
SU823484142A 1982-06-16 1982-06-16 Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей SU1046606A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823484142A SU1046606A1 (ru) 1982-06-16 1982-06-16 Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823484142A SU1046606A1 (ru) 1982-06-16 1982-06-16 Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1046606A1 true SU1046606A1 (ru) 1983-10-07

Family

ID=21026858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823484142A SU1046606A1 (ru) 1982-06-16 1982-06-16 Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1046606A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР 756192, кл. G 01 В 11/27, 1980. 2. Авторское свидетельство СССР 875209, кл. G 01 В 11/24, 1981 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4022532A (en) Sample point interferometric system for optical figure monitoring
EP0676629B1 (en) Refractive index measurement of spectacle lenses
US4872756A (en) Dual path interferometer with varying difference in path length
US4436424A (en) Interferometer using transverse deviation of test beam
JPH03505374A (ja) 変位及び角度の測定方法
JP4040944B2 (ja) ホログラムを使用した光学系整列方法及び装置
JPH01284704A (ja) 表面の微細構造を測定する方法とその装置
US4072422A (en) Apparatus for interferometrically measuring the physical properties of test object
EP0561178B1 (en) Improvements in or relating to surface curvature measurement
SU1046606A1 (ru) Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей
US5033855A (en) Fizeau interference measuring method and apparatus therefor
US4115008A (en) Displacement measuring apparatus
US5438412A (en) Phase conjugate interferometer for testing paraboloidal mirror surfaces
US3832063A (en) Lens axis detection using an interferometer
JPS60253945A (ja) 形状測定装置
US3820902A (en) Measuring method and apparatus which compensate for abbe s error
JPH05500853A (ja) ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置
JP2001056213A (ja) 面形状測定装置および測定方法
SU1672206A1 (ru) Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени
JP2891715B2 (ja) 縞走査型干渉測定装置
SU1762118A1 (ru) Интерферометрический способ контрол детали
SU1582039A1 (ru) Устройство дл определени положени фокальной плоскости объектива
JP3289865B2 (ja) 双方向光ビームによる部品の設置状態測定方法及び装置
SU875209A1 (ru) Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей
SU1226195A1 (ru) Устройство дл измерени градиента показател преломлени