SU1046606A1 - Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей - Google Patents
Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей Download PDFInfo
- Publication number
- SU1046606A1 SU1046606A1 SU823484142A SU3484142A SU1046606A1 SU 1046606 A1 SU1046606 A1 SU 1046606A1 SU 823484142 A SU823484142 A SU 823484142A SU 3484142 A SU3484142 A SU 3484142A SU 1046606 A1 SU1046606 A1 SU 1046606A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- light beam
- information
- reflector
- interferometer
- optical
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
1. ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПЛОСКОСТНОСТИ И НЕПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащий последовательно расположенные на одной оптической оси монохроматический источник света, автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков и отражатель информационного светового пучка,о т л и ч а|Ю щ и и с тем,что,с целью повышени точности и производительности измерени ,он снабжен оптическим блоком отклонени светового пучка,расположенным между автоколлимационной телескопической системой и формирователем, который выполнен в виде стекл нной пластины с образцовой поверхностью, обращенной к, отражателю, выполненному в виде плоского зеркала, формирователь и отражатель установлены с возможностью наклона к оптической оси. 2. интерферометр по п. 1, о т л ич а ю щ и и с - тем, что оптический блок отклонени светового пучка выполнен в виде плоского зеркала, жестко св занного с формирователем и установленного под углом 45° к оптической оси. (/) . 3. Интерферометр по п. 1, отличающийс тем, что оптический блок отклонени светового пучка выполнен в виде двух вращающихс друг относительно друга оптических клиньев.
Description
f
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к приборам дл бесконтактного измерени неплоскостности и непр молинейности доведенных, шлифованных и шаброванных поверхностей как малой,«так и большой прот женностир и может быть использовано, например дл измерени Неплоскостности и непр моли- . нейности повероч-ных плит и линеек, направл ющих станков и т.д.
Известен интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей, содержащий монохроматический источник света, автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков , установленный перед контролируемой поверхностью, и отражатель информационного светового пучка, уста новлеиный за контролируемой поверхностью . В данном интерферометре формирователь и отражатель выполнены в виде соответственно прозрачной и отражательной дифракционных решеток с различными частотам f) .
Недостатками интерферонетра вл ютс сложность конструкции и больша сложность автоматизации процесса измерен 5 объектов с различной длиной контролируемой поверхности. Кроме того j дл обеспечени высокой точности измерени необходимо точное совмещение на отражателе оптических осей информационного и референтного световых ,пучков,
о Наиболее близким к изобретению по технической сущности вллетс интерфарометр дл измерени неплоскостно.сгк и непр молинейности поверхностей, содержащий последовательно расположенные на одной оптической оси монохроматический источник света,автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков к отражатель информационного светового пучка.Формиров а те ль и отражатель в нзвестнсж интерферометре выполнены в виде оп-, тического клина, у которого на, пе редннно по ходу светового пучка по- , верхность нанесено светоделительмое покрытие, а на задйюго поверхность отражающее покрытие Н «
Известный -интерферометр имеет низкую точность -и производительность измерени Это обусловлено тбм, что кажда пара оптических клиньев обеспечивает полное заполнение зрачка автоколлкмациоиной телескопической система при измерении поверхности только одной конкретной длины, В случае, если она меньше, уменьшаетс рабочий световой поток, а главное не будет обеспечиватьс полное заполнение зрачкао Вследствие этого размеры интерференционной картины
и ее освещенность будут различными, что приводит к снижению точности измерени . На точность измерени также вли ет погрешность при совмещении на отражателе оптических осей информационного и референтного световых пучков.
Кроме того, сложность- обработки интерферограмм не позвол ет получить высокую производительность измерени .
Цель изобретени - повышение точности и производительности измерени „
Поставленна цель достигаетс тем что интерферометр дл измерени неплоскрстности и непр молинейности поверхностей, содержащий последовательно расположенные на, одной оптической оси монохроматический источник света, автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков и отражатель информационного светового пучка, снабжен оптическим блоком отклонени светового пучка, расположенным между автоколлимационной телескопической системой и формирователем, который вьтолнеи в виде стекл нной пластины с образцово поверхностью, обращенной к отражателю, ВЕлюлненн.ому в вид плоского зеркала, формирователь и отражатель установлены с возможностью наклона к оптической оси. .
Кроме того, оптический блок отклонени светового пучка вьтолнен в вид плоского зеркала, жестко св занного с формирователем и установленного под углом 45 к оптической оси.
. Кроме того, оптический блок отклонени светового пучка выполнен в виде двух вращакщихс друг относительно друга оптических клиньев.
На фиг. 1 изображена принципиальна схема интерферометра дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей; на фиг. 2 - принципиальна схема интерферометра в случае выполнени оптического блока отклонени светового пучка в виде плоского зеркала, жестко св занного с формирователем, вид сверху.
Интерферометр (фиг. 1) содержит монохроматический источник света, напрмер лазер 1, автрколлимадиоиную телескопическую систему, состо кнцую из микрообъектива 2, светоделител , выполненного, например, в виде светоделитель ной пластины 3, и коллиматорного объектива 4, оптический блок отклонени светового пучка, выполненный в виде двух вращающихс друг относительно друга- оптических клиньев 5 и б, формирователь ин 1юрмационного и реф.ентного световых пучков, вьтолненнь й в виде стекл нной пластины 7 с образцовой поверхностью А, отражатель информационного светового пучка, вьтолненный в виде плоского зеркала 8, углоизмери тельный датчик 9 формировател и уг лоизмерительный датчик 10 отражател Между формирователем и отражателем расположена контролируема поверхность 11, Интерферометр (фиг. 2) вместо оп тических клиньев 5 и 6 содержит плоское зеркало 12, которое посредством общего основани 13 жестко св зано со стекл нной пластиной 7. Интерферометр (фиг. 1) работает следующим образом. Лазер 1 направл ет световой луч в автоколлимационную телескопическу систему, формирующую расширенный и (рллимйрованный световрй пучок. Про д микроовъектив 2, светоделительную пластину 3 и коллиматорный объектив 4 автоколлимационной телескопической системы, световой пучок направл етс на оптические клинь 5 и 6, которые отклон ют его в сторону контролируемой поверхности 11 1 на угол . За оптическими клинь ми 15 и 6 перед контролируемой поверхностью 11 расположена стекл нна пластина 7, образцова поверхность которой перпендикул рна падающему на нее световому пучку. Пластина 7 формирует два световых пучка, один из которых отражаетс от образцовой поверхности А и образует референтный световой пучок, а второй проходит через пластину 7 и образует информационный световой пучок. Информационный световой пучок пгщает на контролируемую поверхность 11, отражаетс от нее и направл етс на плоское зеркало 8. Отражающа повер ность зеркала 8 расположена перпенд кул рно падающему на нее информационному световому пучку, благодар чему он,.отразившись, возвращаетс в строго обратном направлении снова на контролируемую поверхность 11, а затем на стекл нную пластину 7. На образцовой поверхности А стекл нной пластины 7 информационный световой пучок интерферирует с референтньш световым пучком и направл етс совместно с ним последовательно на оптические клинь 6 и 5, коллиматорны объектив 4 и сЬетоделительную пластину 3, отразившись от которой соби раетс в фокальной плоскости F коллиматорного объектива 4. При измерении неплоскостности и напр молинейности поверхностей про , исходит следующее. Плоский волновой фронт информаци онного светового пучка, вследствие его взаимодействи с контролируемой поверхностью 11 претерпевает дважди искажени , пропорциональные макрои микронеровност м контролируемой поверхности 11. Искажени волнового фронта информационного светового пучка визуализируютс в виде искривлени информационных полос интерференционной картины, при этом искривление полос.интерференционной картины на ширину одной интерференционной полосы соответствует непр молинейнрс А ти контролируемой поверхности -j-,, 154 пес где - длина волны источника света, а ot - угол между информационные световым пучком и контролируемой поверхностью . Перед началом измерени с целью обеспечени полно1 о заполнени зрачка автоколлимационной телескопической системы выполн ют следующие операции . Устанавливают все механизмы регулировки положени оптических клиньев 5 и 6, пластины 7 и зеркала 8 в нулевое положение. Определ ют по фо{ 1улеЫ.- arctg г- оптимальное значение угла oL , где D - диаметр светового пучка, а L - длина контролируемой поверхности. Наклон ют пластину 7 и зеркало 8 в сторону -контролируемой поверхности на уголо , контролиру его при помощи углоизмерительных датчиков 9 и 8. Разворачива друг относительно друга оптические клинь 5 и 6, добиваютс п-адени по нормали светового пучка на образцовую поверхность А пластины 7. Смеща в вертикальном направлении все оптические элементы, расположенные перед КОНТЕЮлируемой поверхностью 11, выставл ют требуемое превышение Н опт1 ческой оси интерферометра над контролируемой поверхностью 11, которюе пред-; варительно вычисл ют по формуле Н «:(в+ j} tgoC , где В-рассто ние от кра контролируемой поверхности 11 до образцовой поверхности А пластины 7. Тонкой регулировкой плоского зеркала 8 производ т окончательную настройку. Принцип действи интерферометра (фиг. 2) аналогичен вышеописаннсму. Отличием вл етс только отсутствие сложной операции направлени по нор-мали светового пучка на образцовую поверхность А пластины 7, так как эта операци при повороте основани 13 на угол с6 выполн етс автоматически . Таким образом, предлагаемый интерферометр обладает высокой точностью и производительностью измерени .
т.
N
О)
«Nt
Claims (3)
1. ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПЛОСКОСТНОСТИ И НЕПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащий последовательно расположенные на од-j ной оптической оси монохроматический источник света, автоколлимационную телескопическую систему, формирователь информационного и референтного световых пучков и отражатель информационного светового пучка,о т л и чаюющий с я тем,что,с целью повышения точности производительности измерения, он снабжен оптическим блоком отклонения светового пучка,расположенным между автоколлимационной телескопической системой и формирователем, который выполнен в виде стеклянной пластины с образцовой поверхностью, обращенной к, отражателю, выполненному в виде плоского зеркала, формирователь и отражатель установлены с возможностью наклона к оптической оси.
2. Интерферометр по π. 1, отличающийся тем, что оптический блок отклонения светового пучка выполнен в виде плоского зеркала, жестко связанного с формирователем и установленного под углом 45° к ческой оси.
3. Интерферометр по п. 1, л и ч а ю щ и й с я тем, что ческий блок отклонения светового пучка выполнен в виде двух вращающихся друг относительно друга тических клиньев.
оптио т оптиопCi £ £
О) №
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823484142A SU1046606A1 (ru) | 1982-06-16 | 1982-06-16 | Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823484142A SU1046606A1 (ru) | 1982-06-16 | 1982-06-16 | Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1046606A1 true SU1046606A1 (ru) | 1983-10-07 |
Family
ID=21026858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823484142A SU1046606A1 (ru) | 1982-06-16 | 1982-06-16 | Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1046606A1 (ru) |
-
1982
- 1982-06-16 SU SU823484142A patent/SU1046606A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Авторское свидетельство СССР 756192, кл. G 01 В 11/27, 1980. 2. Авторское свидетельство СССР 875209, кл. G 01 В 11/24, 1981 (прототип). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4022532A (en) | Sample point interferometric system for optical figure monitoring | |
EP0676629B1 (en) | Refractive index measurement of spectacle lenses | |
US4872756A (en) | Dual path interferometer with varying difference in path length | |
US4436424A (en) | Interferometer using transverse deviation of test beam | |
JPH03505374A (ja) | 変位及び角度の測定方法 | |
JP4040944B2 (ja) | ホログラムを使用した光学系整列方法及び装置 | |
JPH01284704A (ja) | 表面の微細構造を測定する方法とその装置 | |
US4072422A (en) | Apparatus for interferometrically measuring the physical properties of test object | |
EP0561178B1 (en) | Improvements in or relating to surface curvature measurement | |
SU1046606A1 (ru) | Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей | |
US5033855A (en) | Fizeau interference measuring method and apparatus therefor | |
US4115008A (en) | Displacement measuring apparatus | |
US5438412A (en) | Phase conjugate interferometer for testing paraboloidal mirror surfaces | |
US3832063A (en) | Lens axis detection using an interferometer | |
JPS60253945A (ja) | 形状測定装置 | |
US3820902A (en) | Measuring method and apparatus which compensate for abbe s error | |
JPH05500853A (ja) | ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置 | |
JP2001056213A (ja) | 面形状測定装置および測定方法 | |
SU1672206A1 (ru) | Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени | |
JP2891715B2 (ja) | 縞走査型干渉測定装置 | |
SU1762118A1 (ru) | Интерферометрический способ контрол детали | |
SU1582039A1 (ru) | Устройство дл определени положени фокальной плоскости объектива | |
JP3289865B2 (ja) | 双方向光ビームによる部品の設置状態測定方法及び装置 | |
SU875209A1 (ru) | Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей | |
SU1226195A1 (ru) | Устройство дл измерени градиента показател преломлени |