Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике, а именно к приборам дл измерени «еплрскостности и непр молинейности доведенных шлифованных и шаброванных поверхностей как малой, так и большой прот женности , и может быть использовано, например, дл измерени неплоскрстности и непр молинейности поверочных плит и линеек, направл ющих станков и т.д. Известен интерферометр дл измере ни неплоскостности и непр молинейнести поверхностей, содержащий источник света и расположенные по ходу светового луча расширитель светового луча, формирователь йнформационногсэ и референтного световых лучей, расположённый перед контролируемой поверхностью и выполненный в виде проз рачноЯ дифракционной решетки, смеситель информационного и референтного световых лучей, расположенный за контролируемой поверхностью и выполненный в виде прозрачной дифракционной решетки, и наблюдательную систему с отсчетйым устройством ClJ. . .-Недостатками этрго интерферометра вл ютс низка разрешающа способность и точность измерени и мала длина контролируемых поверхностей. Наиболее близким устройством по своей технической сущности к изобретению вл етс интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей, содержащий источник света и расположенные по ходу светового луча светоделительную пластину, дел щую световой луч на две ветки, расположенные в одной из ветвей формирователь информационного и референтного световых лучей и отражатель информационного и референтного световых лучей, и расположенную в другой из ветвей наблюдательную систему 2 . формирователь информационного и референтного световых лучей расположен перёд контролируемой поверхностью и выполнен в виде двух зеркгш. Отражатель информационного и референтного световых лучей расположен за контролируемой поверхностью и вьтолнен в виде двух зеркал. Недостаткс1ми известного устройства вл етс недостаточно высока точность измерени , вследствие прохождени информационного и референтного световых лучей на некотором удалении друг от друга, сложна оптическа сх ма совмещени информационного и рефе рентного световых лучей и мала шири на контролируемой поверхности из-за делени в формирователе сечени светового луча, вышедшего из расширител щополам. Цель изобретени - повышение точности измерений. Поставленна цель достигаетс тем что и формирователь и отражатель информационного и референтного световых лучей выполнены в виде оптического клина, у которого на переднюю п ходу светового луча поверхность нанесено светоделительное покрытие, а на заднюю поверхность - отражающее покрытие.. На чертеже изображена принципиаль на схема интерферометра дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей. Интерферометр содержит источник 1 света, диафрагму 2 и расположенные по ходу светового луча светоделитель ную пластину 3, дел щую световой луч на две ветви, расположенные в одной из ветвей расширитель 4 светового лу ча, выполненный в виде объектива, формирователь 5 информационного и ре ферентного световых лучей и отражатель 6 информационного и референтного световых .лучей и расположенную в другой из ветвей дис1фрагму 7 и наблюдательную систему 8. И формирователь и отражатель информационного и референтного световых лучей выполнены в виде оптического клина, у которого на переднюю по ходу светового луча поверхность нанесено светоделительное покрытие, а на заднюю поверхность - отражающее покрытие. Интерферометр работает следуиадим образом. Источник 1 света направл ет свето вой ,луч на диафрагму 2. Вышедший из диафрагмы 2 световой луч отклон етс светоделительной пластиной 3 и направл етс в расширитель 4 светового луча. Расширенный и ллимированный световой луч направл етс далее на формирователь 5 информационного и референтного световых лучей, выполненного в виде оптического клина. Часть светового луча отражаетс от передней поверхности оптического кли на и образу информационный светово луч,направл етс под углом oi- на контролируемую поверхность 9. Друга часть светового луча проходит в оптический клин, отражаетс от его згщней поверхности, выходит из оптическогО клина и, образу референтный световой луч, направл етс парал лельно контролируемой поверхности на отражатель б информационного и референтного световых лучей, выполненного в виде оптического клина. Отразившись от передней поверхности этого оптического клина референтный световой луч направл етс в строго обратном направлении в формирователь 5 информационного и референтного световых лучей, выполненных в виде оптического клина, проходит в него, отражаетс от его задней поверхности и выходит из клина через его переднюю поверхность. Информационный световой луч,отразившись от контролируемой по-веркности 9, направл етс в отражатель б информационного и референтного световых лучей, выполненных в виде оптического клина, входит в него, отражаетс от его задней поверхности и направл етс в строго обратном направлении снова на контролируемую поверхность 9, а затем на формирователь 5 информационного и референтного световых лучейi возвратившийс информационный световой луч отражаетс от передней поверхности этого формировател 5,интерферирует с возвратившимс референтным световым лучом и направл етс совместно с ним в расширитель 4 светового луча, пройд который интерферирующие световые лучи (информационный и референтный) направл ютс на диафрагму 7, а затем в наблюдательную систему 8. При измерении неплоскостности или непр молинейности поверхностей происходит следующее. Из расширител 4 светового луча выходит расширенный и коллимиро.ванный световой луч, имеющий плоский волновой фронт. После делени этого светового луча формирователем 5 на референтный и информационный световые лучи плоский волновой фронт в референтном луче сохран етс , а в информационном световом луче, вследствие его взаимодействи с контролируемой поверхностью 9, волновой фронт претерпевает дважды искажени , пропорциональные макрои микронеровност м контролируемой поверхности 9. Искажение волнового фронта информационного светового луча визуализируетс в наблюдательной системе 8 в виде искривлени полос интерференционной картины, при этом искривление полос интерференционной картины на ширину одной интерференционной полосы соответствует непр молинейности или неплоскостности контролируемой поверхности i,j . , л где Л--длина волны источника 1 света , а об- угол между информационным световым лучом и контролируемой поверхностью 9. Использование в качестве формировател 5 и отражател б информацион .ного и референтного световых лучей оптических клиньев позвол ет получить цену делени одной интерференционной полосы, кратную целому числу микрометров; уравн ть длину референтного