SU1520398A1 - Способ определени пористости твердых тел - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к методам контрол  качества твердых тел. Цель изобретени  - упрощение измерений при сохранении точности. Дл  этого измер ют фототермические отклики от испытуемого образца и эталонных образцов сравнени , которые изготовлены из материалов с известной пористостью. После измерени  фототермических откликов от эталонных образцов Фпэ с известной пористостью Θ_пэ стро т калибровочную зависимость Θ_пэ=АФ_пэ+ B, из которой наход т величины A и B. Пористость испытуемого образца Θ_пи наход т из отношени  Θ_пи=АФ_пи +B, где Ф_пи-фототермический отклик от испытуемого образца. В диапазоне пористости 0,05≤Θ_пи,Θ_пэ≤ 0,13 пористость определ ют из соотношени :Θ_пи=(Ф_пи/Ф_пэ ^.C, где C= Θ_пэ/(1-Θ00п_э).

Description

Изобретение относитс  к неразру- шающим методам определени  параметров твердых тел и может быть использовано в керамической, радиоэлектронной и других отрасл х промьипленности дл  контрол  качества твердотельных образцов, изготовленных с помощью порошковой технологии.

Целью изобретени   вл етс  упрощение измерений при сохранении точности.

На чертеже показана схема зависимости полной пористости образцов 0 от фототермической пористости в.

Способ осуществл ют следующим образок .

Исследуемый образец помещают в измерительнзто  чейку и облучают светом , модулированным по интенсивности.

При этом возникает фототермический эффект, т.е. нестационарный и неоднородный нагрев образца, привод щий к возбуждению и распространению в нем тепловых волн. Тепловые волны можно различным образом зарегистрировать. При этом полна  пористость образца б„ оказываетс  св занной с нормиро- ванньм фототермическим откликом преобразовател  Ф V/1-R, где V - элект- 1рическое напр жение преобразовател ; R - коэффициент оптического отражени  поверхности образца, следующей рбщ€й зависимостью

(1)

9„ (Ф, М, 3t ,рС, U) , К),

С

:о

эо

где М S - чувствительность г преобразовател ; 1р - интенсивность;

w кругова  частота модул ции опти ческого изучени ; х теплопроводность; f С - теплова  масса материала образца; К - коэффициент, учитьша ющий конструктивные особенности изме рительной  чейки.

В случае малых изменений велич-и- ны 0 выражение (1) существенно упрощаетс 

п В,

(2)

 чейку, дл  каждого из них определ - ют фототермический отклик , а также полную пористость 0 , полученную в результате обмера и взвешивани  образцов. Результаты измерений приведены на чертеже. Видно, что величины полной пористости образцов б и фототермической пористости б совпадают с точностью в среднем 10-15%.

Claims (1)

1.Способ определени  пористости твердых тел, основанный на сравнении физических характеристик эталонных образцов и испытуемого образца, о т- личающийс  тем, что, с целью упрощени  измерений при сохранении точности,, измер ют фототермические отклики от эталонных образцов Ф„5с известной «орнстоетью стро т калибровочную зависимость 6. ,3 с определением величин А и В, измер ют фототермический отклик от испытуемого образца Ф„, и его пористость 0 пи определ ют из отношени  0 В.

2,Способ по п. 1, отличающий с   тем,  то в диапазоне пористости 0,05 9пэ , 0„„ 0,13 измер ют фототермические ОТ1СЛИКИ от одного эталонного образца и испытуемого образца, пористость определ ют из отношени 

,

где С 0пз71 -в„з .

Подписное