SU1428914A1 - Способ определени разориентировки среза кристалла - Google Patents

Description

(21)4044139/24-28

(22)19.02.86

(46) 07.10,88. Бюл. 37

(71)Ленинградский горный институт им. Г.В.Плеханова

(72)М.Д.Любалин, В«Н.Треть ков, А«Л.Кукуй и А.Н.Баранов

(53)531.743(088.8)

(56)Хейнман Р.Б. Растворение кристаллов .- Л.: Недра, 1979.

(54)СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗОРИЕНТИ- РОВКИ СРЕЗА КРИСТАЛЛА

(57)Изобретение относитс  к обработке кристаллов дл  изготовлени  приборов . Целью изобретени   вл етс  по- вьппение точности определени  раэори- ентиррвки за счет измерени  углового рассогласовани  между теоретическим

и фактическим углами отклонени  контролируемого среза кристалла от его спайной плоскости. Поворачивают источник света с экраном, расположенным перпендикул рно его оси, на заданный угол, равный теоретическому углу отклонени  нормали к его спайности от кристаллографической оси, направл ют излучение от источника света на часть препарированной поверхности кристалла и наблющают проекцию отраженного пучка иа экране, доворачивают источник света до совмещени  центра проекции пучка с центром экрана. Величину до- ворота источника измер ют по углоиз- мерительному узлу. Измеренное значение угла характеризует в ичину раз- ориентировки среза контролируемого кристалла. 1 ил.

В

(Л

to

оо со

Изобретение относитс  к измери- тейьной технике и может быть исполь- зо)вано в электронной промьпгшенности дл  определени  среза кристаллов от- носительно его кристаллографической

OCJH .

j Целью изобретени   вл етс  повыше- нЦе точности определени  разориенти- рбвки за счет измерени  углового рассогласовани  между теоретическим и фактическим углами отклонени  контролируемого среза кристалла от его сп|айностИс

; На чертеже представлена принципи- альна  схема определени  разориенти- рцвки среза кристалла.

На схеме показаны источник 1 света , формирующий коллимированный пучок , экран 2, расположенный по нормали к оси источника света, столик- 3, предназна енный дл  размещени  в нем контролируемого кристалла, углоизме- РЙтельный узел 4, на котором установлен источник света с возможностью по- вброта вокруг оси узла, направл юща  5, параллельна  опорной поверхности столика, с которой конструктивно св зан углоизмерительньй узел.

На чертеже также показана плоско- параллельна  пластинка 6, вьфезанна  параллельно срезу контролируемого кристалла, препарированна  поверхность 7 пластинки, на которой создают микрорельеф. На чертеже обозначена нормаль 8 к пластинке 6 и теоретический угол (ос) отклонени  нсрмали к препарированной части поверхности от кристаллографической оси.

Срез кристалла или вырезанную па- раллельно ему плоскопараллельную пластинку 6 располагают параллельно опорной пл оскости столика 3. На пластинке препарируют часть ее поверхности 7, создава  микрорельеф, характерный дл  каждого класса кристаллов.

Измерени  провод т следукщим образом .

Выставл ют источник 1 света пер- п гндикул рно контролируемой плоскости среза кристалла, наблюда  за положением отраженного светового пучка на экране 2. При вращении столика изображение светового пучк-а н а экране не входит с центра экрана.

Затем источник 1 света и экран 2 поворачивают на заданный угол (ot), равный теоретическому значению угла.

Зна  вещество, его симметрию и размещение осей симметрии в кристалле или символы кристаллографических направлений по справочникам или путем вычислени  получают угол ci между этими направлени ми. Если контролируемый срез не параллелен плоской сетке кристалла, то нормаль к нему не  вл етс  кристаллографическим направлением с рациональным символом. Тогда дл  получени  теоретического угла удобно пользоватьс  дополнительным углом или углом отклонени  от рациональных кристаллографических направлений.

Перемещают углоизмерительный у%ел 4 с источником 1.света вдоль направл ющей 5 до обеспечени  засветки пуч- ком света препарированной поверхности 7 кристалла.

Отраженный пучок света наблюдают на экране 2. Светова  проекци  на экране соответствует симметрии препарированной части.

Если симметри  световой проекции искривлена и ее ось симметрии не совпадает с центром экрана, значит ось светового пучка и нормаль к препарированной части кристалла не совпадают , что, в свою.очередь, свидетель- ствует о разориентировке провер емого среза.

I Величина разориентировки может быть найдена путем поворота источника света на угол uet по углоизмери- тельному узлу 4, когда центр световой проек1.;ии совместитс  с центром экрана.

Значение угла Д od определ ет угловое несовпадение нормали к поверхности среза кристалла и кристаллографической осью, что по существу указывает значение разориентировки среза кристалла.

Если светова  картина своим центром совместитс  с центром экрана, то контролируемьш срез не разориенти- рован.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ определени  разориентировки среза кристалла, заключающийс  в том, что предварительно размещают кристалл плоскостью среза на опорную поверхность , направл ют коллимированный пучок света по нормали к плоскости среза кристалла, проектируют отражен- ньш от нее пучок света на экран, который располагают перпендикул рно

   коллимированному пучку, и по изображению , получаемому на экране, суд т о разориентировке среза кристалла, отличающий с   тем, что, с целью повьшени  точности, перед посылкой на кристалл коллимированного пучка света создают микрорельеф на части его поверхности, совпадающей с плоскостью спайности, и определ ют теоретический угол отклонени  нормал к плоскости спайности от плоскости среза,.отклон ют ось коллимированно:i

   /// /// /// /// /// а

   АОС

   777 777

   го пучка от нормали к плоскости среза кристалла на угол, равный теоретическому , направл ют отклоненный пучок света на участок кристалла с микрорельефом на нем, наблюдают проекцию отраженного пучка на экране, поворачивают ось коллимированного пучка света до совмещени  центра проекции пучка с центром экрана и измер ют разность углов поворота оси пуч ка света, по которой определ ют величину разориентировки среза кристалла.

   /// //J