SU1399644A1 - Apparatus for multiple reflection in double-beam interferometer - Google Patents
Apparatus for multiple reflection in double-beam interferometer Download PDFInfo
- Publication number
- SU1399644A1 SU1399644A1 SU864004058A SU4004058A SU1399644A1 SU 1399644 A1 SU1399644 A1 SU 1399644A1 SU 864004058 A SU864004058 A SU 864004058A SU 4004058 A SU4004058 A SU 4004058A SU 1399644 A1 SU1399644 A1 SU 1399644A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirror
- lens
- reflectors
- interferometer
- double
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в устройствах дл регистрации быстропротекающи.х процессов. Цель изобретени - повышение пространственного разрешени и виброустойчивости устройства, достигаемое благодар снабжению устройства собирающей линзой, установленной между зеркалом и системой отражателей так, что зеркало лежит в фокальной плоскости линзы. В измерительной ветви интерферометра между светоделителем 2 и плоским зеркалом 7, св занным с контролируемым объектом, установлены собирающа линза 4 и система уголковых отражателей 5, 6. Измерительный пучок после- дов.ательно отражаетс всеми уголковыми отражател ми системы, а затем возвращаетс к уголковому отражателю. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.The invention relates to a measurement technique and can be used in devices for registering fast processes. The purpose of the invention is to increase the spatial resolution and vibration resistance of the device, achieved by supplying the device with a collecting lens installed between the mirror and the system of reflectors so that the mirror lies in the focal plane of the lens. In the measuring branch of the interferometer between the beam splitter 2 and the flat mirror 7 associated with the object being monitored, a collecting lens 4 and a system of corner reflectors 5, 6 are installed. The measuring beam is successively reflected by all corner reflectors of the system, and then returns to the corner reflector . 1 hp f-ly, 2 ill.
Description
ii
С/WITH/
СWITH
Изобретение относитс к измерительной Технике и может быть использовано в устройствах дл регистрации быстропротекаю- |дих процессов, например ультразвуковых Колебаний, сигналов акустической эмиссии, ударных волн.The invention relates to a measuring technique and can be used in devices for registering fast processes, such as ultrasonic oscillations, acoustic emission signals, shock waves.
I Целью изобретени вл етс новышение фостранственного разрешени и виброустой- нивости устройства, достигаемое благодар Снабжению устройства собирающей линзой, Остановленной между зеркалом н системой от- ражателей так, что зеркало лежит в фо- | альной плоскости линзы.I The aim of the invention is to increase the focal resolution and the vibration resistance of the device, achieved by supplying the device with a collecting lens, stopped between the mirror and the reflector system so that the mirror lies in a photo frame. lens plane.
На фиг. 1 представлена схема интер- рерометра с устройством; на фиг. 2 - схе- via регулировки кратности числа отраже- в устройстве.FIG. 1 shows a diagram of an interreometer with a device; in fig. 2 - scheme of adjusting the multiplicity of the number of the reflection of the device.
Интерферометр содержит источник 1 мо- -юхроматического излучени , например ге- 1ий-11еоновый лазер, светоделитель 2, уст- )ойство 3 многократных отражений, содер- кащее линзу 4, два уголковых отража- ел 5 и 6 и зеркало 7, св занное с контролируемым объектом 8, уголковый от- )ажатель 9, фотоприемник 10 и блок 11 ре- истрации его выходного сигнала.The interferometer contains a source of 1 mono-chromatic radiation, for example, a geon-1-eleon laser, a beam splitter 2, a device for 3 multiple reflections containing a lens 4, two angular reflectors 5 and 6 and a mirror 7 associated with object to be monitored 8, angled ot- azhatel 9, photodetector 10, and block 11 for monitoring its output signal.
Излучение источника делитс светодели- е.лем на 2 пучка, один из которых падает на Уголковый отражатель 9, а другой - на линзу 4. Прошедший линзу луч отражаетс от зеркала 7 и после вторичного прохождени линзы 4 возвращаетс уголковым отражателем 5 на зеркало 7. После повтор: ного отражени уголковым отражателем 6 tiy40K третий раз отражаетс от зеркала 7 Н попадает на светоделитель 2, где совме- цаетс с опорным сигналом и образует на ходе фотоприемника 10 интерференционную картину, котора фиксируетс блоком 11 регистрации.The radiation of the source is divided by a beam-splitting into 2 beams, one of which falls on the Angle reflector 9, and the other on the lens 4. The beam that has passed the lens is reflected from mirror 7 and after the secondary passage of lens 4 returns to angular reflector 5 repeated: reflection by the corner reflector 6 tiy40K for the third time is reflected from the 7 N mirror and is transmitted to the beam splitter 2, where it is combined with the reference signal and forms an interference pattern on the course of the photoreceiver 10, which is detected by the registration unit 11.
Изобретение позвол ет пространственное разрешение устройства, сюсколь КУ отражение всех лучей происходит от неThe invention allows the spatial resolution of the device, and the KU reflection of all the rays comes from not
5five
5 0 50
00
5five
большого участка поверхности зеркала 7. Одновременно повышаетс виброустойчивость устройства за счет того, что все лучи, отражаемые зеркалом 7, после прохождени линзы 4 оказываютс параллельными ее оптической оси, благодар чему уменьшаетс веро тность ухода интерферирующих лучей за пределы чувствительной площадки фотоприемника .a large portion of the surface of the mirror 7. At the same time, the vibration resistance of the device is increased due to the fact that all the rays reflected by the mirror 7, after passing the lens 4, are parallel to its optical axis, thereby reducing the likelihood of interfering rays leaving the sensitive area of the photodetector.
При установке одного из уголковых отражателей с возможностью перемещени в направлении, перпендикул рном оптической .линзы (фиг. 2), по вл етс возможность измен ть количество отражений в устройстве. Например, при перемещении уголкового отражател 5 в положение Б количество отражений равно двум, а в положении В - шести. При этом измен етс и чувствительность устройства.When one of the corner reflectors is mounted so that it can move in the direction perpendicular to the optical lens (Fig. 2), it becomes possible to change the number of reflections in the device. For example, when moving the corner reflector 5 to position B, the number of reflections is two, and in position B it is six. This also changes the sensitivity of the device.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU864004058A SU1399644A1 (en) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | Apparatus for multiple reflection in double-beam interferometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU864004058A SU1399644A1 (en) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | Apparatus for multiple reflection in double-beam interferometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1399644A1 true SU1399644A1 (en) | 1988-05-30 |
Family
ID=21215069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU864004058A SU1399644A1 (en) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | Apparatus for multiple reflection in double-beam interferometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1399644A1 (en) |
-
1986
- 1986-01-07 SU SU864004058A patent/SU1399644A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 188064, кл. G 01 В 9/02, 1968. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4022532A (en) | Sample point interferometric system for optical figure monitoring | |
| KR850000669A (en) | Distance measuring system | |
| JPH0426042B2 (en) | ||
| SU1399644A1 (en) | Apparatus for multiple reflection in double-beam interferometer | |
| US4115008A (en) | Displacement measuring apparatus | |
| US3002419A (en) | Alignment theodolite | |
| RU1789851C (en) | Device for checking whickness of flat objects | |
| JPH05500853A (en) | Method and apparatus for determining glass tube wall thickness | |
| SU1384942A1 (en) | Method of checking mirror surface of article | |
| SU1578456A1 (en) | Device for multiple reflections in double-reflecting interferometer | |
| SU1464046A1 (en) | Device for measuring amplitude of angular oscillations | |
| SU1364866A1 (en) | Interference device for measuring angular displacements | |
| SU1627829A1 (en) | Interferometer for checking aspherical surface of second order | |
| SU1413415A1 (en) | Method of determining diameter of holes | |
| SU1589059A1 (en) | Apparatus for adjusting the axis of radiator of optical unit relative to surfaces of the base | |
| SU1379610A1 (en) | Spherometer | |
| SU1241061A1 (en) | Device for checking vibration parameters of one-dimensional bodies | |
| SU1343242A1 (en) | Interferometer for checking shape of spherical surfaces | |
| SU1490463A1 (en) | Device for multiple reclections in two-beam interferometer | |
| SU1416865A1 (en) | Device for monitoring small angular displacements | |
| SU953451A2 (en) | Interferrometer for checking spherical surfaces | |
| SU1267193A1 (en) | Device for checking quality of mirror surface | |
| SU1054677A1 (en) | Interference device for gauging displacement | |
| RU1768967C (en) | Surface roughness tester | |
| SU1499109A1 (en) | Apparatus for recording interferograms |