SU1413415A1 - Method of determining diameter of holes - Google Patents
Method of determining diameter of holes Download PDFInfo
- Publication number
- SU1413415A1 SU1413415A1 SU874220648A SU4220648A SU1413415A1 SU 1413415 A1 SU1413415 A1 SU 1413415A1 SU 874220648 A SU874220648 A SU 874220648A SU 4220648 A SU4220648 A SU 4220648A SU 1413415 A1 SU1413415 A1 SU 1413415A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- diameter
- hole
- holes
- coordinates
- intensity
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике, в частг нести к фетоэлектрическим способам контрол диаметра отверстий. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени диаметра за счет исключени вли ни на точные измерени . величины диаметра. Дл этого освещают объект с контролируемым отверстием коллимированным пучком монохроматического излучени и за отверстием по оси распространени пучка фиксируют координаты вдоль этой .оси трех последовательных центральных минимумов ин- тенсивнести в дифракционной картине, получаемой при дифракции света на отверстии. На основе зафиксированных значений координат рассчитывают диаметр контролируемого отверсти . 1 ил. (/)The invention relates to instrumentation engineering, in particular, to carry out fetoelectric methods for controlling the diameter of the holes. The aim of the invention is to improve the accuracy of the measurement of the diameter by eliminating the effect on accurate measurements. diameter values. To do this, illuminate the object with a controlled hole by a collimated monochromatic radiation beam and behind the hole along the beam propagation axis, coordinates are fixed along this axis of three consecutive central minima to the intensity in the diffraction pattern obtained by diffraction of light on the hole. Based on the recorded values of the coordinates, the diameter of the test hole is calculated. 1 il. (/)
Description
0000
4ib4ib
Изобретение относитс к контрольн измерительной технике, в частности к фотоэлектрическим способам контрол диаметра и формы отверстий The invention relates to a control measurement technique, in particular to photoelectric methods for controlling the diameter and shape of the holes.
Цель изобретени - повышение точности измерени диаметра путем исключени вли ни на точность измерени величины ;щаметра отверстий (обеспечение инвариантности способа к вели - чине диаметра отверстий) ,The purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the diameter by eliminating the influence on the accuracy of measuring the magnitude of the diameter of the holes (ensuring the invariance of the method to the size of the diameter of the holes)
На чертеже изображена оптическа схема устройства дл осуществлени способа,.The drawing shows the optical layout of the device for carrying out the method.
Оптическа схема содержит лазер 1, первый светоделитель 2, первый коллиматор 3, узел 4 креплени объекта с контролируемым отверстием, объектив 5, первую диафрагму 6, первьй фотоэлемент 7, призму 8, второй колли- матор 9, второй светоделитель 10 отражатель 11 опорный, отражатель 12 измерительный, каретку 13, вторую 14 и третью 15 диафрагмы, второй 16 и третий 17 фотоэлементы и электронный блок 18.The optical scheme contains a laser 1, a first beam splitter 2, a first collimator 3, an object mounting unit 4 with a controlled aperture, a lens 5, a first diaphragm 6, a first photocell 7, a prism 8, a second collimator 9, a second beam splitter 10 a reflector 11 a reference, a reflector 12 measuring, the carriage 13, the second 14 and the third 15 of the diaphragm, the second 16 and the third 17 of the photocells and the electronic unit 18.
Способ осуществл ют следующим образом оThe method is carried out as follows.
Световой луч от источника когерентного монохроматического источни- ка - лазера 1 направл ют на первый светоделитель 2, который раздел ет вход щий луч на два вторичных взаимно перпендикул рных луча равной интенсивности . Затем один из вторичных пучков направл ют в первьй коллиматор 3, получают расширенный параллельный пучок света, в ходе которого в узле креплени устанавливают объект контрол (деталь с отверстием При этом в результате дифракции лазерного пучка на отверстии последовательно одно за другим по его оси формируютс дифракционные изображени измер емого объекта с минимумами интенсивности в центре. Эти дифракционные изображени увеличиваютс объективом 5 и проецируютс на плоскость первой круглой диафрагмы 6 котора вырезает центральную зону„ Первьй фотоэлемент 7 регистрирует освещенность центральной зоны каждого дифракционного изображени отверсти на диафрагме 6.The light beam from the coherent monochromatic source - laser 1 is directed to the first beam splitter 2, which divides the incoming beam into two secondary mutually perpendicular beams of equal intensity. Then one of the secondary beams is directed to the first collimator 3, an expanded parallel beam of light is obtained, during which an object of control is installed in the attachment unit (a part with an aperture. As a result of diffraction of the laser beam on the aperture, diffraction images are formed one after the other on its axis object with minimum intensity in the center. These diffraction images are enlarged by lens 5 and projected onto the plane of the first circular aperture 6 which cuts the center the zone “First photocell 7 registers the illumination of the central zone of each diffraction image of the aperture on the diaphragm 6.
Другой вторичный пучок света, которому посредством призмы 8 задаетс направление, перпендикул рное первому, расшир етс вторым коллиматором 9 и поступает в интерферометр.Another secondary beam of light, to which the direction perpendicular to the first is specified by means of a prism 8, is expanded by a second collimator 9 and enters the interferometer.
. .
Q Q
5 0 5 5 0 5
О 0 O 0
5five
00
собранный по схеме Майкельсона из следующих оптических элементов: второго светоделител 10, отражател 11 опорного, отражател 12 измерительного , установленного на каретке 13, второй 14 и третьей 15 щелевых диафрагм , сдвинутых одна относительно The following optical elements assembled according to the Michelson scheme: the second beam splitter 10, the reflector 11 of the reference beam, the reflector 12 of the measuring element mounted on the carriage 13, the second 14 and the third 15 of the slit diaphragms shifted one relative to
другой по пространственной фазе инanother in spatial phase in
. „II . „II
терференционнои картины на --- ;thermostatic pictures on ---;
второго 16 и третьего 17 фотоэлементов , электрически св занных с электронным блоком 18, Перемеща каретку 13 и установленные на ней объектив 5, диафрагму 6 и фотоэлемент 7, с помощью бесконтактного электромагнитного привода в направлении контролируемого отверсти 4 получают периодическое изменение интенсивности света центральной зоны дифракционного изобра;жени отверсти , проецируемого объективом 3 на плоскость первой диаф- фрагмы 6, которое регистрируетс первым фотоэлементом 7, электрически св занным с электронным блоком 18. Одновременно в электронный блок поступают электрические сигнаоы с второго 16 и третьего 17 фотоэлементов интерферо- метрического преобразовател линейных перемещений, по которым в моменты регистрации первым фотоэлементом 7 минимумов интенсивности дифракционных картин в электронном блоке определ ют рассто ние лх , и 4xi, пройденное кареткой 13, что адекватно линейному рассто нию ме щу первым, вторым и третьим дифракционными изображени ми отверсти с минимумами интенсивности .в центре. Затем вычисл ют диаметр d отверсти по формулеThe second 16 and third 17 photocells electrically connected to the electronic unit 18 By moving the carriage 13 and the lens 5, the diaphragm 6 and the photocell 7 mounted on it, using a non-contact electromagnetic actuator in the direction of the hole 4 that is monitored the hole projected by lens 3 onto the plane of the first aperture 6, which is recorded by the first photocell 7 electrically connected to the electronic unit 18. At the same time Electrical signals from the second 16 and third 17 photoelectric interferometric transducer of linear displacements arrive at the electronic unit, at which the distance lx is measured by the first photocell 7 intensity minima of the diffraction patterns in the electronic unit and 4xi passed by the carriage 13, that adequate to the linear distance between the first, second, and third diffraction images of the aperture with intensity minima at the center. Then calculate the diameter d of the hole by the formula
d 2 .l-2J.5lil5jlJ.2jL д М (Лх,- /1x)2 d 2 .l-2J.5lil5jlJ.2jL d M (Lx, - / 1x) 2
где Д - длина волны лазерного излучени .where D is the wavelength of the laser radiation.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874220648A SU1413415A1 (en) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | Method of determining diameter of holes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874220648A SU1413415A1 (en) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | Method of determining diameter of holes |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1413415A1 true SU1413415A1 (en) | 1988-07-30 |
Family
ID=21294887
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874220648A SU1413415A1 (en) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | Method of determining diameter of holes |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1413415A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2580333C1 (en) * | 2015-01-19 | 2016-04-10 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Method for initiation of light-sensitive explosive with light pulse of laser radiation |
-
1987
- 1987-04-02 SU SU874220648A patent/SU1413415A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Koedam Н. Determination of small dimension by difraction of laser beam. - Philips Technical Rew, V.27, 1966, (P 7, p.208-210. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2580333C1 (en) * | 2015-01-19 | 2016-04-10 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Method for initiation of light-sensitive explosive with light pulse of laser radiation |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4022532A (en) | Sample point interferometric system for optical figure monitoring | |
US5206704A (en) | Position measuring apparatus and method of use thereof | |
JPS61271431A (en) | Interferometer for detecting wave front state | |
SU1413415A1 (en) | Method of determining diameter of holes | |
US4395123A (en) | Interferometric angle monitor | |
US4115008A (en) | Displacement measuring apparatus | |
RU2092787C1 (en) | Method determining short distances to diffusion-reflecting objects and gear for its realization | |
SU1364866A1 (en) | Interference device for measuring angular displacements | |
US4808807A (en) | Optical focus sensor system | |
SU1343242A1 (en) | Interferometer for checking shape of spherical surfaces | |
SU1652809A1 (en) | Linear displacement measuring device | |
RU1770739C (en) | Device for measuring angular displacements of objects | |
SU1278576A1 (en) | Interference method for measuring displacements | |
SU1241062A1 (en) | Laser meter of linear shifts of surface | |
SU1696854A1 (en) | Device for object displacement measurement | |
SU1138642A1 (en) | Interference device for remote measuring of small displacements | |
SU1620826A1 (en) | Method and apparatus for determining diameter of holes | |
RU2159406C2 (en) | Multiple-beam interferometer to measure parameters of parameters of spherical shell | |
SU1464046A1 (en) | Device for measuring amplitude of angular oscillations | |
SU1383128A1 (en) | Method of determining position of focal plane of optical systems | |
SU1471065A1 (en) | Spectrointerferometer | |
SU1441190A1 (en) | Interference device for measuring small displacements | |
SU1054677A1 (en) | Interference device for gauging displacement | |
SU1073567A1 (en) | Interferention device for measuring displacement | |
SU1696930A1 (en) | Method for determining focal distance of optical system |