SU1267193A1 - Device for checking quality of mirror surface - Google Patents

Device for checking quality of mirror surface Download PDF

Info

Publication number
SU1267193A1
SU1267193A1 SU853905069A SU3905069A SU1267193A1 SU 1267193 A1 SU1267193 A1 SU 1267193A1 SU 853905069 A SU853905069 A SU 853905069A SU 3905069 A SU3905069 A SU 3905069A SU 1267193 A1 SU1267193 A1 SU 1267193A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
mirror
test object
mirror surface
control
mirrors
Prior art date
Application number
SU853905069A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Сергеевич Дорофеюк
Владимир Семенович Корепанов
Original Assignee
Главная Астрономическая Обсерватория Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Главная Астрономическая Обсерватория Ан Ссср filed Critical Главная Астрономическая Обсерватория Ан Ссср
Priority to SU853905069A priority Critical patent/SU1267193A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1267193A1 publication Critical patent/SU1267193A1/en

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к произ- . водству зеркал и повьшает точность контрол  за счет исключени  вли ни  промьшшенных вибраций на результаты контрол . Устройство содержит оптический квантовый генератор 2, свет от которого микрообъекти1вом 3 фокусируетс  на диафрагму 4, формирующую эталонный тест-объект, и диагональным зеркалом 5 направл етс  на контролируемую зеркальную поверхность I. Отраженное от поверхности I изображение тест-объекта с помощью зеркал 6 и 7 попадает на вращающийс  случайный фазовый экран IО в виде волоконно-оптической шайбы и системой 8 повторного отклонени  лучей возвращаетс  на зеркальную поверхность I. Вторичное изображение тест-объекта наб- j людаетс  микроскопом 9. I з.п. ф-лы, (Л 1 ил.This invention relates to manuf. control mirrors and improves the control accuracy by eliminating the effect of industrial vibrations on the control results. The device contains an optical quantum generator 2, the light from which is focused by micro-object 3 on the diaphragm 4, which forms the reference test object, and by the diagonal mirror 5 is directed onto the controlled mirror surface I. Reflected from the surface I, the image of the test object is reflected by mirrors 6 and 7 on the rotating random phase screen IO in the form of a fiber-optic washer and the system 8 of the re-deflection of the rays is returned to the mirror surface I. The secondary image of the test object appears in the microscope Oops 9. I z.p. f-ly, (L 1 Il.

Description

Изобретение относитс  к производству зеркальных поверхностей и может быть использовано преимущественно дл  их контрол  и аттестации.The invention relates to the production of mirror surfaces and can be used primarily for their control and certification.

Целью изобретени   вл етс  повьше ние точности контрол  за счет исключени  вли ни  промьшленных вибраций на результаты контрол .The aim of the invention is to increase the control accuracy by eliminating the effect of industrial vibrations on the control results.

На чертеже представлено устройство контрол  качества поверхности зер кала.The drawing shows a device for quality control of a mirror surface.

Устройство дл  контрол  качества зеркальной поверхности 1 содержит оптический квантовый генератор 2, мик рообъектив 3, расположенный в фокусе микробъектива диафрагмы 4 и диагоналного зеркала 5, систему дл  отражени  лучей, состо щую из расположенньп под углом друг к другу принимающего 6, промежуточного 7 и возвращающегос  8 зеркал, а также измерительный микроскоп 9, вращающуюс  волоконнооптическую шайбу 10, расположенную в плоскости промежуточного изображени  между зеркалами 7 и 8.The device for controlling the quality of the mirror surface 1 contains an optical quantum generator 2, a micro-lens 3 located at the focus of the micro lens of the diaphragm 4 and the diagonal mirror 5, a system for reflecting rays consisting of the receiving 6 at an angle to each other, the intermediate 7 and returning 8 mirrors, as well as a measuring microscope 9, rotating fiber-optical washer 10, located in the plane of the intermediate image between the mirrors 7 and 8.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Свет от оптического квантового генератора 2 с помощью микрооб ектива 3 фокусируетс  на диафрагму 4, котора  формирует эталонный тест-объектив в виде свет щейс  точки, затем попадает на диагональ1ное зеркало 5, отражающее световой пучок на контролируемую зеркальную поверхность 1. Создаваемое контролируемой зеркальной поверхностью 1 изображение тест193The light from the optical quantum generator 2 is focused on the diaphragm 4, which forms the reference test lens as a light point, using the micro-lens 3, then hits the diagonal mirror 5, which reflects the light beam onto the controlled mirror surface 1. The image created by the controlled mirror surface 1 test193

объекта с помощью зеркал 6 и 7 попадает на входную торцовую поверхность вращающейс  волоконно-оптической щайбы 10. Изображение переноситс  на выходную торцовую поверхность щайбы 10 и с помощью зеркала 8 световой пучок снова направл етс  на контролируемую зеркальную поверхность 1. Созданное зеркальной поверхностью 1 вторичное изображение тест-объекта наблюдаетс  в измерительный микроскоп 9.the object using mirrors 6 and 7 hits the input end surface of the rotating fiber optic shchiba 10. The image is transferred to the output end surface of the shchiba 10 and with the help of mirror 8 the light beam is again directed onto the controlled mirror surface 1. The secondary image created by the mirrored surface 1 The object is observed in a measuring microscope 9.

Claims (2)

1.Устройство дл  контрол  качества поверхности зеркала, содержащее источник света и расположенные по ходу луча тест-объект, устройство дл  направлени  светового пучка на поверхность контролируемого зеркала и. измерительный микроскоп, о т л и ч а- ю щ е е с   тем, что, с целью повыщени  точности контрол  за счет исключени  вли ни  промышленных вибраций на результаты контрол , устройство снабжено системой повторного отклонени  лучей на контролируемую поверхность зеркала и случайным фазовым экраном с возможностью вращени , который расположен в плоскости промежуточного изображени  тест-объекта .1. A device for controlling the quality of the mirror surface, containing a light source and a test object along the beam, a device for directing a light beam to the surface of the monitored mirror and. measuring microscope, so that, in order to increase the control accuracy by eliminating the influence of industrial vibrations on the control results, the device is equipped with a system of re-deflection of beams on the controlled surface of the mirror and a random phase screen with the possibility of rotation, which is located in the plane of the intermediate image of the test object. 2.Устройство по п.I, о т л и ч аю щ е е с   тем, что случайньй фазовый зкран выполнен в виде волоконнооптической щайбы.2. The device according to Clause I., of which is due to the fact that the random phase screen is made in the form of a fiber-optic plate.
SU853905069A 1985-04-02 1985-04-02 Device for checking quality of mirror surface SU1267193A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853905069A SU1267193A1 (en) 1985-04-02 1985-04-02 Device for checking quality of mirror surface

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853905069A SU1267193A1 (en) 1985-04-02 1985-04-02 Device for checking quality of mirror surface

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1267193A1 true SU1267193A1 (en) 1986-10-30

Family

ID=21180637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853905069A SU1267193A1 (en) 1985-04-02 1985-04-02 Device for checking quality of mirror surface

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1267193A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104215430A (en) * 2014-08-26 2014-12-17 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 Optical efficiency detection method for reflecting surface of primary mirror of large-aperture photoelectric telescope

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 712721, кл. G 01 М И/02, 1978. Авторское свидетельство СССР № 637758, кл. GOI М 11/02, 1977. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104215430A (en) * 2014-08-26 2014-12-17 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 Optical efficiency detection method for reflecting surface of primary mirror of large-aperture photoelectric telescope
CN104215430B (en) * 2014-08-26 2016-12-07 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 A kind of heavy caliber photo-electric telescope primary mirror reflecting surface optical efficiency detection method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS59113407A (en) Apparatus for forming focus of light on surface
US4325638A (en) Electro-optical distance measuring apparatus
CN113189709A (en) Input optical signal generating device for optical fiber array and photoetching system
US4762417A (en) Fringe scanning point diffraction interferometer by polarization
JP2739632B2 (en) Optical switching device
SU1267193A1 (en) Device for checking quality of mirror surface
GB2058398A (en) Ring interferometers
RU2019143315A (en) METHODS AND DETECTION SYSTEMS USING LIDAR (LiDAR) WITH FIBER OPTICAL MATRIX
JP2950004B2 (en) Confocal laser microscope
SU1486785A1 (en) Device for monitoring misaligniment of holes
SU953451A2 (en) Interferrometer for checking spherical surfaces
RU1789851C (en) Device for checking whickness of flat objects
SU1758422A1 (en) Method of checking curvature radius of second-degree optic surfaces
SU1712780A1 (en) Device for centering object
SU1368623A1 (en) Interferometer for checking shape of concave optical aspherical surfaces
SU1441187A2 (en) Null-indicator
SU1394191A1 (en) Method of centering endoscope
SU1402868A1 (en) Device for checking textile fabric
SU1399644A1 (en) Apparatus for multiple reflection in double-beam interferometer
SU1352202A1 (en) Device for checking roughness of surface
SU894351A1 (en) Interferometer for checking concave parabolic surfaces
SU1627831A1 (en) Device for checking planeness of flat detail surface
SU1262283A1 (en) Device for checking transverse dimensions of extended object
SU1490463A1 (en) Device for multiple reclections in two-beam interferometer
SU1670413A1 (en) Device for alignment control of transmission channels of optoelectronic systems