SU1384218A3 - Способ сравнени оптических свойств двух образцов - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к оптическим измерени м и может быть ис- польз вано дл  измерени  разницы оптических свойств двух образцов. Цель-изобретени  - повьшение точности . Используют один или несколько источников светового излучени  3-6, а также один приемник светового излучени  7. От обоих образцов 1,2 световые лучи одновременно поступают на приемник све.тового излучени  7. Измер емые световые лучи от образцов 1,2 имеют различные направлени  относительно образца. Направлени  измер емых световых лучей от образцов 1,2 попеременно чередуютс  с соответствующей частотой, например с частотой 1-10 000 Гц. По сигналу переменного тока, вырабатьшаемому приемником светового излучени  7, суд т о разнице оптических свойств образцов , например отражающей или пропускающей способност х поверхности или пленки как функции от направлени  светового луча. 2 ил. § О)

Description

СМ

Фиг г

Изобретение относитс  к оптическим измерени м и может быть использовано дл  измерени  разницы в оптических свойствах двух образцов.

- Целью изобретени   вл етс  повьше ние точности измерений.

На фиг.1 приведен пример реализации способа дл  измерени  неровностей кожи, св занной с местной прьща- востью кожи вследствие аллергических реакций; на фиг.2 - пример реализа ции способа дл  Измерени  разницы в мутности двух жидких образцов.

Исследуемые образцы ( участки кожи ) 1 и 2 (фиг.1), один из которых  вл етс  эталонным,освещаютс  источниками 3-6света,в качестве которых используютс  четыре светоизлу- чающих диода (СИД) одинакового цвета . Источники 3 и 4 света освещают кожу перпендикул рно, а 5 и 6 - наклонно. В качестве приемника светового излучени  используетс  один фототранзистор ,7, на который подают световые лучи, отраженные от двух исследуемых участков кожи 1 и 2. Элемент 8 управлени  работает таким образом, что каждый исследуемый участок освещаетс  одним СИД перпендикул рно и одним СИД наклонно, так, что, когда один СИД освещает один исследуемый участок перпендикул рно , другой исследуемый участок освещаетс  СИДом наклонно. Сигнал переменного тока с фототранзистора 7 поступает на усилитель 9, вьтр мл - етс  вьтр мителем 10 и измер етс  измерителем 11.

Коэффициенты отражени  исследуемых участков при перпендикул рных световых лучах обозначены D и В„

при наклонных S . и S

2Сигнал R переменного тока приемика светового излучени  пропорхщона- j света, ен равенству

Спо свойст с  в н лучей что, с образц имеющи разцов образц руют о лучени емых с той 1 менног лучени свойст

(D,.

S,)-(D,

S,

или

( S)-(D2- Sg)

Использу  обозначени 

Н. D,- S.

D,HIз

Н

3

Величины Н

2

и Н

определ ют схе

1.0

15

20

25

30

5

0

j света,

0

5

мы направлений отражени  лучей от образцов. Если схемы направлений отражени  лучей от образцов различны, то вырабатьшаетс  сигнал, который тем больше, чем больше разница в неровности поверхностей.

В примере реализации на фиг.2 исследуютс  два жидких образца и измер етс  мутность. Устройство, таким образом, представл ет собой дифференциальный нефелометр. Луч света от одного, двух или четьфех источников света направл етс  на образцы . Часть светового луча падает на приемник светового излучени , в отношении сигнала переменного тока которого методика соответствует описанной . I

Когда используютс  два или четыре источника света, балансова  регулировка может быть осуществлена автоматически с помощью второго приемника светового излучени . На этот второй приемник оба световых луча различного направлени  падают попере- меннно с соответствующей частотой с одного образца в каждый момент времени , и получаемый сигнал переменного тока используетс  дл  регулировки соотношени  между световыми интенсивност ми источников света, таким образом, что указанный сигнал переменного тока становитс  равным нулю.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ сравнени  оптических свойств двух образцов, заключающийс  в направлении на образцы световых лучей и измерении отраженного от них отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности, на образцы направл ют световые лучи, имеющие различные относительно образцов направлени , отраженный от образцов свет одновременно регистрируют одним приемником светового излучени , при этом направлени  измер емых световых лучей чередуют с частотой 1 - 10000 Гц и по сигналу переменного тока приемника светового излучени  суд т о разнице оптических свойств образцов.

   CM

   INS